JPS597968B2 - 複数デジタル回路の同期方法 - Google Patents

複数デジタル回路の同期方法

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JPS597968B2
JPS597968B2 JP50069291A JP6929175A JPS597968B2 JP S597968 B2 JPS597968 B2 JP S597968B2 JP 50069291 A JP50069291 A JP 50069291A JP 6929175 A JP6929175 A JP 6929175A JP S597968 B2 JPS597968 B2 JP S597968B2
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JP
Japan
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clock signal
output
frequency
circuit
circuit device
Prior art date
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JP50069291A
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English (en)
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JPS51144539A (en
Inventor
良武 長島
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、クロック信号に応じて動作するデジタル回路
装置の測定方法に関する。
〔発明の技術的背景〕
デジタルIC(集積回路装置)の良品、不良品選別を行
なうには、第1図に示す如く良品サンプル(REFとす
る)1と被測定サンプル(DUTとする)2にデータ信
号発生回路3から同時に同じデータを入れ、出力に同じ
結果が出てくるかどうかをコンパレータ4を使つてチェ
ックすれぱよい。
この場合REFIとDUT2は同期し、全ての時点で全
く同じ状態にしなければならないが、REFI及びDU
T2がスタティック型ICである場合は、これらのうち
の一方の動作を一時的に止め、他方の動作に一致させる
ことにより比較することができる。〔背景技術の問題点
〕 ところが従来の方法においてはREFI及びDUT2が
、電子式時計用ICのようなダイナミック型ICである
場合には、これらICを動作させるためのクロック信号
を止めることができず、かつクロック信号の一定のクロ
ック数毎に出力期間を有する場合、同一周波数のクロッ
ク信号で駆動しても出力期間にズレを生じることがあり
、画1C間の動作を同期させ同時に出力期間とするのは
困難である。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情に鑑みなされたもので、上記のような
各ICの動作を効果的に同期させることにより、効率的
にデジタル回路装置の測定が可能な測定方法を提供する
ことを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明においては基準クロック信号で動作する良品サン
プルと、基準クロック信号の周波数よりも高い周波数の
補助クロック信号で動作する被測定サンプルが用意され
、両サンプルが同期した後に、両サンプルを基準クロッ
ク信号で動作させ測定を行なう。
〔発明の実施例〕
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
第2図は本発明を説明するための論理回路の一例を示す
。図中11は周波数F,なる基準クロツク信号の発生源
、12は周波数がF2なる補助クロツク信号の発生源で
あり、上記各周波数Fl,f2間にはf1くF2なる関
係がある。13はナンド回路14,15,16及びイン
バータ17よりなるクロツク信号切換回路、18はデジ
タルICの良品サンプル(REFとする)、19はデジ
タルICの被測定サンプル(DUTとする)である。
REFl8及びDUTl9は共にクロツク信号で動作し
かつ対応する構成を有したもので、これらREFl8及
びDUTl9の一例としては、フリツプフロツプ回路を
多段接続した分周器(カウンタ)で、たとえば1/10
分周器で、クロツク信号10サイクル毎に出力が現われ
るものである。REFl8及びDUTl9がこのような
分周器である場合、電源投入時点では分周器を構成する
各フリツプフロツプ回路がどのような状態で安定するか
は不定であるから、当然REFl8及びDUTl9間で
は同期がとれていないのが通常である。また図中20は
、REFl8の出力Aが60゛,DUTl9の出力Bが
″0″の時に出力Qを80゛とするR−Sフリツプフロ
ツプ回路であり、このフリツプフロツプ回路20におい
て、21はナンド回路22,23を相互にたすきがけ接
続したR−Sフリツプフロツプ回路本体、24はナンド
回路25,26よりなりナンド回路26の出力A−B−
B(5DUT19の出力Bとが同時に″O″にならない
ようにし、R−Sフリツプフロツプが不定になることを
防ぐ回路、27はこの不定防止回路24を通つたことに
よる信号A−B−Bの遅れに合わせるためにナンド回路
23への信号Bの到達も対応して遅らせる積分回路であ
る。R一Sフリツプフロツプ回路20の動作は、Bが8
「”,Aが”O″の場合にQが″1゛となり、Aが61
″となつても前の状態を保持する。またBが10′”,
Aが8「”の場合にQが60゛となり、Bが”1゛にな
つても前の状態を保持する。このフリツプフロツプ回路
20の動作は第3図の真理値表に示される。また第2図
における28は上記信号Qをフイードバツクしてクロツ
ク信号切換回路13の切換え制御を行なう回路である。
しかしてREFl8,DUTl9をダイナミツク型の分
周器とし、かつ出力の″0゛レベルの間を出力期間とす
ると、電源投入直後で各分周段のフリツプフロツプの状
態がバラバラになつていると、REFl8,DUTl9
間の動作は同期しないことになる。したがつてREFl
8には基準クロツクf1が与えられ、それによつて第4
図aに示すような出力が得られる。一方DUTl9には
REFl8の出力AとDUTl9自身の出力Bとの組合
せによりR−Sフリツプフロツプ20の出力Qの第3図
に示す真理値表による変化に応じて基準クロツクf1、
補助クロツクF2が交互に与えられる。ここでR−Sフ
リツプフロツプ20の出力Qの”1゛レベルの期間は補
助クロツク信号F2、゛0゛レベルの期間は基準クロツ
ク信号f1がクロツク信号切換回路13の出力となりD
UTl9へ与えられる。したがつて、基準クロツク信号
f1に比して補助クロツク信号F2の周波数を高く設定
しているので、基準クロツク信号f1のみを与えられる
場合に比して補助クロツタ信号F2を与えられる期間に
応じてDUTl9の動作周期は早くなり出力Bは早く出
力されることになる。したがつて、REFl8の出力A
にDUTl9の出力Bが追いついた時点、つまり信号B
が信号Aに追いついた時点でQが゛O゛となると切換ヌ
イツチ回路13から、周派数f1のクロツク信号が継続
して出力される。したがつてREFl8とDUTl9は
共に周波数f1のクロツク信号で動作することになり、
これら両1Cの内部動作は同期し、出力も同期すること
になる。この場合、両1Cの位相誤差は論理素子の最高
土限周波数で決まり、TTLを用いた場合50nsec
以下になる。〔発明の効果] 以上説明した如く本発明によれば、周波数がf1なるク
ロツク信号と、これより周波数の高いF2なるクロツク
信号を用いて各デジタル回路間の動作を合わせ、同期が
とれたら周波数f1のクロツク信号に切換えるようにし
たので、時計用分周器のようなダイナミツクIC間を効
果的に同期させた状態で被測定サンプルの測定、試験を
行なうことができる。
すなわち、F,くF2になるように周波数を設定してい
るので両サンプルを同期させるに要する時間は短縮され
ることになる。
また本発明は上記ダイナミツクICのみならずスタテイ
ツク型1C分周器等にも使用が可能で、(F,−F2)
を適当に選ぶことにより、そのICの動作可能周波数範
囲で使用できるものである。
【図面の簡単な説明】 第1図は従来の比較方式を用いたCチエツカーを示すプ
ロツク図、第2図は本発明の一実施例を説明するための
回路プロツク図、第3図はその動作を説明するための真
理値表、第4図は同動作波形図である。 11,12・・・・・・クロツク信号発生源、13・・
・・・・切換スイツチ回路、18・・・・・・良品サン
プル、19・・・・・・被測定サンプル、20・・・・
・・R−Sフリツプフロツプ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 クロック信号に応じて動作する被測定用デジタル回
    路装置を、前記被測定用デジタル回路装置に対応した構
    成を有する基準デジタル回路装置と比較して測定するデ
    ジタル回路装置の測定方法において、前記基準デジタル
    回路装置を基準クロック信号で動作させると共に、前記
    被測定用デジタル回路装置を前記基準クロック信号より
    周波数の高い補助クロック信号で動作させ、前記両デジ
    タル回路装置間の動作が同期した後、前記被測定用デジ
    タル回路装置へのクロック信号を基準クロック信号に切
    換えることを特徴とするデジタル回路装置の測定方法。
JP50069291A 1975-06-09 1975-06-09 複数デジタル回路の同期方法 Expired JPS597968B2 (ja)

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JPS51144539A JPS51144539A (en) 1976-12-11
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0473037B2 (ja) * 1984-07-20 1992-11-19 Hatsukoo Kk

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JPS56158965A (en) * 1980-05-13 1981-12-08 Matsushita Electronics Corp Measuring method for polyphase clock element

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JPS4960448A (ja) * 1972-10-11 1974-06-12
JPS4995550A (ja) * 1973-01-12 1974-09-10
JPS49111558A (ja) * 1973-02-22 1974-10-24

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