JPS5964022A - 屈折度測定装置 - Google Patents
屈折度測定装置Info
- Publication number
- JPS5964022A JPS5964022A JP57175847A JP17584782A JPS5964022A JP S5964022 A JPS5964022 A JP S5964022A JP 57175847 A JP57175847 A JP 57175847A JP 17584782 A JP17584782 A JP 17584782A JP S5964022 A JPS5964022 A JP S5964022A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refractive power
- lens
- light
- detection element
- radial direction
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- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は屈折度測定方法及び測定装置に関し、特に可動
部を持たず自動的に屈折度測定が可能なものに関する。
部を持たず自動的に屈折度測定が可能なものに関する。
従来、市場に供されているレンズメータ、ケラトメータ
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかシ又、煩維性がある。
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかシ又、煩維性がある。
一方、測定を自動的に行なう自動レンズメー（２）
タ、自動ケラトメータが知られているが、これには可動
部があって装置の複雑化、耐久性といった問題点がある
。
部があって装置の複雑化、耐久性といった問題点がある
。
本発明は如上の点に鑑み、測定を自動的に且つ可動部な
く行表う新規な屈折度測定方法及び測定装置を提供する
ととを目的とする。
く行表う新規な屈折度測定方法及び測定装置を提供する
ととを目的とする。
とれを達成するため、本発明では、少なくとも３本のエ
ネルギーと一ムを被測定要素の異なる位置に照射し、該
被測定要素を経たエネルギービームを光軸方向所定位置
に設けられた２次元位置検出素子に受は偏位ベクトル和
をゼロとするよう被測定要素のアライメントを行ない、
前記偏位ベクトルの所定径線方向のベクトル成分より各
径線方向の屈折度を算出することを特以下、本発明の実
施例を示すが、第１図に諺発明の詳細な説明を行々う。
ネルギーと一ムを被測定要素の異なる位置に照射し、該
被測定要素を経たエネルギービームを光軸方向所定位置
に設けられた２次元位置検出素子に受は偏位ベクトル和
をゼロとするよう被測定要素のアライメントを行ない、
前記偏位ベクトルの所定径線方向のベクトル成分より各
径線方向の屈折度を算出することを特以下、本発明の実
施例を示すが、第１図に諺発明の詳細な説明を行々う。
第１図において、１人、１Ｂ、１Ｃは３箇のＬＥＤ等の
光源であ）、これらを順次点灯する。
光源であ）、これらを順次点灯する。
絞シ板２には光源１ム、１Ｂ、ｊＣに対応した光軸上（
３） の点を中心とした円周上の３箇の穴２Ａ、２Ｂ、２Ｃ被
検レンズ３で屈折した後、２次元光位置検出素子４に入
る。検出素子４は、アナログ信号の出る半導体装置検出
器の如き単一素子でも曳く、またＣＣＤの如きアレイ素
子でも良い。
３） の点を中心とした円周上の３箇の穴２Ａ、２Ｂ、２Ｃ被
検レンズ３で屈折した後、２次元光位置検出素子４に入
る。検出素子４は、アナログ信号の出る半導体装置検出
器の如き単一素子でも曳く、またＣＣＤの如きアレイ素
子でも良い。
光源１人、ＩＢ、ＩＣは光軸８から等距離にあシ光源か
ら光軸に下した足は互いに１２０°を為す。
ら光軸に下した足は互いに１２０°を為す。
絞シ板２の穴２人、 ２Ｂ 、 ２Ｃも同様の関係にあ
シ、従って３本の光ビームは互いに平行かつ光軸８に平
行となる。ここで被検レンズ３が無い時は、ビームは検
出素子４上の点４Ａ 、 ４Ｂ 、 ４Ｇに至る。
シ、従って３本の光ビームは互いに平行かつ光軸８に平
行となる。ここで被検レンズ３が無い時は、ビームは検
出素子４上の点４Ａ 、 ４Ｂ 、 ４Ｇに至る。
被検レンズ３が入るとビームは屈折され、点４八′。
４Ｂ／、４Ｃ／にくる。とこで各点４Ａ 、 ４Ｂ 、
４Ｇから屈折後の点４ムｆ、 ４ＢＺ ４ＣＩに至る
偏位ベクトルＡ、Ｂ、Ｃが被検レンズ３の屈折度、即ち
球面度数、乱視度数、乱視角及び光軸８からの被検レン
ズ中心のずれに関する位置情報を与える。ここで光ビー
ムの被検レンズ５によυ屈折される角度は近軸（４） 的に考えると被検レンズの屈折力と諷ル、たるビームと
レンズ中心０との距離に比例する。ベクトルＡ、Ｂ、Ｃ
の大きさは、この角度の他、更に被検レンズ５と検出素
子４の距離にも比例する。
４Ｇから屈折後の点４ムｆ、 ４ＢＺ ４ＣＩに至る
偏位ベクトルＡ、Ｂ、Ｃが被検レンズ３の屈折度、即ち
球面度数、乱視度数、乱視角及び光軸８からの被検レン
ズ中心のずれに関する位置情報を与える。ここで光ビー
ムの被検レンズ５によυ屈折される角度は近軸（４） 的に考えると被検レンズの屈折力と諷ル、たるビームと
レンズ中心０との距離に比例する。ベクトルＡ、Ｂ、Ｃ
の大きさは、この角度の他、更に被検レンズ５と検出素
子４の距離にも比例する。
なおレンズ面を回転放物面と近似すれば、レンズ上の２
点に入射したビームの２点を結ぶ方向の収れん、発散の
度合は２点の間隔が一定なら入射位置には無関係である
。これによって、アライメントは三つの偏位ベクトルＡ
、Ｂ、Ｃのベクトル和がゼロと表るととによって求まる
。
点に入射したビームの２点を結ぶ方向の収れん、発散の
度合は２点の間隔が一定なら入射位置には無関係である
。これによって、アライメントは三つの偏位ベクトルＡ
、Ｂ、Ｃのベクトル和がゼロと表るととによって求まる
。
すなわち次のようＩｃ３つのベクトルの１方向成分、Ｙ
方向成分が共にゼｐとなるようにする。
方向成分が共にゼｐとなるようにする。
ム、 ＋ Ｂｘ＋ Ｃｘ＝ Ｏ（１）
ム、 ＋ ＢＹ十ＣＹ＝ Ｏ（２）
ここでＡＩ、Ｂｘ、ＣＸはベクトルム、Ｂ、Ｃ（７）
！成分、ムア、 ＢＹ、 ＣＹはベクトルム、Ｂ、Ｃの
Ｙ成分である。
！成分、ムア、 ＢＹ、 ＣＹはベクトルム、Ｂ、Ｃの
Ｙ成分である。
とのようにアライメントを行なうととによって次の屈折
度測定が精確になされる。なお被検レンズ３がプリズム
作用を含む場合又はレンズを偏心させて用い故意にプリ
ズム効果を出す場（５） 合は（１）（２）式の左辺の値がその位置でのプリズム
度数を与える。
度測定が精確になされる。なお被検レンズ３がプリズム
作用を含む場合又はレンズを偏心させて用い故意にプリ
ズム効果を出す場（５） 合は（１）（２）式の左辺の値がその位置でのプリズム
度数を与える。
さて、被検レンズは一般に乱視を含んでいるが、各径線
方向の屈折力を求め石には少なくとも三極線方向の屈折
力を求めれば喪い。
方向の屈折力を求め石には少なくとも三極線方向の屈折
力を求めれば喪い。
すなわち、０を基準径線方向からの円周方向の角度とす
ると、対応する屈折力りは０の関数として Ｄ（θ）＝α５ｉｎ２（θ＋β）＋γ （５）と表
わされる。
ると、対応する屈折力りは０の関数として Ｄ（θ）＝α５ｉｎ２（θ＋β）＋γ （５）と表
わされる。
ここでα、β、γは定数であシ、各々乱視度、乱視角、
球面度数を表わす。第１図で被検レンズ３のレンズ面が
回転放物面に近似しているとし、且つ屈折に関するスネ
ルの法則に関し近似式を用いると、レンズの２点に一定
間隔で照たったビームの屈折後の偏位度合は、その２点
間を結ぶ方向に平行な如何なる２点間における場合につ
き同様となる。
球面度数を表わす。第１図で被検レンズ３のレンズ面が
回転放物面に近似しているとし、且つ屈折に関するスネ
ルの法則に関し近似式を用いると、レンズの２点に一定
間隔で照たったビームの屈折後の偏位度合は、その２点
間を結ぶ方向に平行な如何なる２点間における場合につ
き同様となる。
従って、被検レンズ３０３ムＳＢ方向と平行な径線方向
の屈折力をＤＡＢとし、３Ｉｊ５Ｃ方向、（６） ３Ｃ３ム方向と平行な径線方向の屈折力を各々ＤＢＯＩ
ＤＯｈ とすると各々の屈折力は対応するベクトルム、
Ｂ、Ｃの対応する径線方向成分の和で表わされる。すカ
わち、 Ｄ、３＝Ａ□Ｂ ＋ＢＢＡ （４）”Ｂ
Ｏ：Ｂ ＋Ｃ（５） ＢＯＣＢ ”ＯＡ”ＣＯＡ十ム、。（ｔ５） ここでＡ□３はベクトルムの３ム３Ｂ方向成分の大きさ
を表わし、３人から５Ｂに向かうときプラス、３Ｂから
３ムに向かうときマイナスとする。他の符号についても
これに準する。
の屈折力をＤＡＢとし、３Ｉｊ５Ｃ方向、（６） ３Ｃ３ム方向と平行な径線方向の屈折力を各々ＤＢＯＩ
ＤＯｈ とすると各々の屈折力は対応するベクトルム、
Ｂ、Ｃの対応する径線方向成分の和で表わされる。すカ
わち、 Ｄ、３＝Ａ□Ｂ ＋ＢＢＡ （４）”Ｂ
Ｏ：Ｂ ＋Ｃ（５） ＢＯＣＢ ”ＯＡ”ＣＯＡ十ム、。（ｔ５） ここでＡ□３はベクトルムの３ム３Ｂ方向成分の大きさ
を表わし、３人から５Ｂに向かうときプラス、３Ｂから
３ムに向かうときマイナスとする。他の符号についても
これに準する。
上述の３式によシ求まった二径線方向の各屈折力Ｄ□］
ａｌ”ＢＯＩＤＯＡを（３）式に代入すれば連立方程式
よシ乱視度α、乱視角β、球面度数γが求まる。
ａｌ”ＢＯＩＤＯＡを（３）式に代入すれば連立方程式
よシ乱視度α、乱視角β、球面度数γが求まる。
因みに、３Ａ、３Ｂ、！ｉＣを円周上、１２０°毎の点
とし、３ム３Ｂ方向に平行表径線方向を基準径線方向と
すると、次のようになる。
とし、３ム３Ｂ方向に平行表径線方向を基準径線方向と
すると、次のようになる。
ＤＡＢ”ムＡＢ＋ＢＢＡ＝””２β＋γＤＢＯ” ”Ｂ
Ｏ＋ＣＯＢ ”α５ｉｎ２（１２０°＋β）＋γ（７） ＤｏＡ＝ＣｏＡ＋ＡＡｏ＝α５ｉｎ２（２４０°＋β）
十γ々お（４）乃至（６）式を（３）式に代入し、連立
方程式を解いて未知数α、β、γを求めるのには公知の
自動演算手段が用いられる。
Ｏ＋ＣＯＢ ”α５ｉｎ２（１２０°＋β）＋γ（７） ＤｏＡ＝ＣｏＡ＋ＡＡｏ＝α５ｉｎ２（２４０°＋β）
十γ々お（４）乃至（６）式を（３）式に代入し、連立
方程式を解いて未知数α、β、γを求めるのには公知の
自動演算手段が用いられる。
ところで２次元光位置検出素子４として、アナ四グ信号
の出るポジションディテクターを用いる場合、各ビーム
が照射する位置を検出するため３本のビームを順次被検
レンズに入射し々ければならない。
の出るポジションディテクターを用いる場合、各ビーム
が照射する位置を検出するため３本のビームを順次被検
レンズに入射し々ければならない。
ポジションディテクターに複数のビームが同時に照射す
ると、照射位置が求まらず、単に平均化された照射位置
しか求まらないからである。
ると、照射位置が求まらず、単に平均化された照射位置
しか求まらないからである。
但し検出素子４としてＣＯＤ等のプレイ型の素子を用い
る場合は、３本のビームを同時に照射することが可能で
あシ、この場合光源は３箇でまく１箇で足シる。
る場合は、３本のビームを同時に照射することが可能で
あシ、この場合光源は３箇でまく１箇で足シる。
次に第２図は本発明に係わる屈折度測定装置の第一の実
施例を示す。
施例を示す。
１１、ＩＢ、ＩＣは３箇の光源であシ、ＩＢ、１Ｃは紙
面上で重なって見えるが第１図と同様に紙面に（８） 対し対称に位置する。
面上で重なって見えるが第１図と同様に紙面に（８） 対し対称に位置する。
絞り板５は光軸８上に開口をもち、ことから出た光は細
いビームで入射レンズ６に入ヤ、ことで平行光束となシ
、被検レンズ３に入る。その後、被検レンズ３で屈折さ
れ受光レンズ７を通シ２次元光位置検出素子４に至る。
いビームで入射レンズ６に入ヤ、ことで平行光束となシ
、被検レンズ３に入る。その後、被検レンズ３で屈折さ
れ受光レンズ７を通シ２次元光位置検出素子４に至る。
第２図において、破線は被検レンズ３の無いときの光ビ
ームの光路を示す。
ームの光路を示す。
検出素子４は受光レンズ７の後側焦点位置に設けられる
ため、被検レンズ３の光軸上の位置に拘らず、焦点面上
、偏位ベクトルの大きさが一定となり、屈折度が安定し
て検出される。
ため、被検レンズ３の光軸上の位置に拘らず、焦点面上
、偏位ベクトルの大きさが一定となり、屈折度が安定し
て検出される。
ここで前述した如く、光源１ム、ＩＢ、１Ｇを順次点灯
し、ベクトルＡ、Ｂ、Ｃを（１）（２）式によって被検
レンズ３の軸ずれを検出してアライメントを行ない、（
３）乃至（６）式で各径線方向の屈折度を測定できる。
し、ベクトルＡ、Ｂ、Ｃを（１）（２）式によって被検
レンズ３の軸ずれを検出してアライメントを行ない、（
３）乃至（６）式で各径線方向の屈折度を測定できる。
第３図は、本発明の第二の実施例で、被検眼角膜の屈折
度を測定する自動ケラトメータに応用した亀のである。
度を測定する自動ケラトメータに応用した亀のである。
光源１人から出た光は第４図（９）
Ｋ示す絞シ板２の穴２Ａを通シ光軸８と平行に被検眼角
膜Ｃに照たる。角膜Ｃでの反射光は受光レンズ９ムに入
シ、ミラー１０Ａによυ反射された後、受光レンズ９ム
の後側焦点位置に設けられた２次元光位置検出素子４に
至る。
膜Ｃに照たる。角膜Ｃでの反射光は受光レンズ９ムに入
シ、ミラー１０Ａによυ反射された後、受光レンズ９ム
の後側焦点位置に設けられた２次元光位置検出素子４に
至る。
ここで角膜曲率によって反射角度が異なり、それに応じ
て検出素子４上の光ビーム位置が異なる。検出素子４は
受光レンズ９ムの後側焦点位置に設けられ、また絞如板
２．からくる光は光軸８に平行であるため、角膜Ｃが光
軸上で動いても反射角度は一定となる。
て検出素子４上の光ビーム位置が異なる。検出素子４は
受光レンズ９ムの後側焦点位置に設けられ、また絞如板
２．からくる光は光軸８に平行であるため、角膜Ｃが光
軸上で動いても反射角度は一定となる。
角膜乱視が偏位ベクトルからの算出によシ求まるのは、
前述の実施例で述べたのと同様である。なお受光レンズ
、ミラーは第５図に示されるように３つの径線方向に３
次元的に配置され受光レンズ９ム、 ９Ｂ 、 ９Ｃの
各々がミラー１０ム、１０Ｂ。
前述の実施例で述べたのと同様である。なお受光レンズ
、ミラーは第５図に示されるように３つの径線方向に３
次元的に配置され受光レンズ９ム、 ９Ｂ 、 ９Ｃの
各々がミラー１０ム、１０Ｂ。
１０Ｃと組に表って光軸方向の所定位置に設けられる２
次元光位置検出素子４へ光ビームを向ける。
次元光位置検出素子４へ光ビームを向ける。
第６図は本発明に係わる測定装置の第三の実（１０）
施例で、自動眼屈折計に応用したものである。
光源１人から出た光はレンズ１６、絞シ１１、レンズ１
５を通り、穴あきミラー１２の周辺反射部で反射され、
対物レンズ１５を通って光軸８に平行になシ、第７図に
示されるように被検眼Ｅの瞳Ｋｐの周辺部から入射して
眼底Ｅｒに至る。
５を通り、穴あきミラー１２の周辺反射部で反射され、
対物レンズ１５を通って光軸８に平行になシ、第７図に
示されるように被検眼Ｅの瞳Ｋｐの周辺部から入射して
眼底Ｅｒに至る。
眼底Ｂｒから反射した光は瞳Ｋｐの中心部１！！Ｏを通
シ穴あきミラー１２の穴を抜け、レンズ１４を介して２
次元光位置検出素子４に至る。
シ穴あきミラー１２の穴を抜け、レンズ１４を介して２
次元光位置検出素子４に至る。
とこで光源１人、１Ｂ、１Ｃと穴あきミラー１２と瞳Ｅ
ｐは光学的に共役でアシ、一方絞シ１１と対物レンズ１
５の右側焦点位置と正視眼眼底１１ｉｒと検出素子４は
光学的に共役である。すなわち、検出素子４は対物レン
ズ１５の右側焦点位置と共役な位置に設けられる。被検
眼が正視なら入射光は眼底で光軸上に至り、反射光は光
軸８上を戻シ検出素子４の中心に至る。
ｐは光学的に共役でアシ、一方絞シ１１と対物レンズ１
５の右側焦点位置と正視眼眼底１１ｉｒと検出素子４は
光学的に共役である。すなわち、検出素子４は対物レン
ズ１５の右側焦点位置と共役な位置に設けられる。被検
眼が正視なら入射光は眼底で光軸上に至り、反射光は光
軸８上を戻シ検出素子４の中心に至る。
被検眼が非正視眼であると図に実線で示される如く光軸
８と傾いた方向に反射され、検出素子４の中心から外れ
た点に至る。
８と傾いた方向に反射され、検出素子４の中心から外れ
た点に至る。
（１１）
この検出素子４上の照射位置の偏位を光源ｉＡ。
１Ｂ、１Ｃに対応する３径線方向で算出することによシ
、既述したようにアライメントが行なわれ更に被検眼Ｅ
の眼屈折力が求まる。
、既述したようにアライメントが行なわれ更に被検眼Ｅ
の眼屈折力が求まる。
なお本実施例では光束を瞳中心ＥＯから取シ出している
が、入射点の瞳中心対称点から取り出しても良い。その
場合には、穴あきミラー１２は３つの光透過部を設ける
必要がある。
が、入射点の瞳中心対称点から取り出しても良い。その
場合には、穴あきミラー１２は３つの光透過部を設ける
必要がある。
以上、述べた如く、本発明によれば全く可動部が無く、
また検出素子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定
が可能となる。なお本発明で測定方向は３方向に限定さ
れず、それ以上の方向で測定するととによシ、よシ多く
の情報による測定精度の向上が期待される。
また検出素子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定
が可能となる。なお本発明で測定方向は３方向に限定さ
れず、それ以上の方向で測定するととによシ、よシ多く
の情報による測定精度の向上が期待される。
また上述の実施例では、可視光ビームについて述べたが
、これに限定されず紫外光、赤外光、電子ビーム等、一
般のエネルギービームが用いられ、例えば電子レンズの
屈折度測定も可能である。
、これに限定されず紫外光、赤外光、電子ビーム等、一
般のエネルギービームが用いられ、例えば電子レンズの
屈折度測定も可能である。
（１２）
第１図は、本発明の詳細な説明図、
第２図は、本発明に係わる屈折度測定装置の第一実施例
の図、 第３図は第二実施例で自動ケラトメータに応用した図、 第４図は絞シ板の図、 第５図は、光軸方向から眺めた空間配置図、第６図は、
第三実施例で自動屈折計に応用した図、 第７図は光軸方向から眺めた被検眼へのビーム照射位置
の説明図、 図中 ＩＡ、１Ｂ、１Ｃ・・・光源 ２・・・絞ヤ板 ２Ａ、２Ｂ、２Ｇ・・・開口 ３・・・被検レンズ ４・・・２次元光位置検出素子 ５・・・絞シ板 ６・・・入射レンズ ７．９ム、９Ｂ、９Ｇ・・・受光レンズ（１３） １０Ａ １０Ｂ １０Ｃ・・・（ツー １２・・・穴あきミラー １５・・・対物レンズ 出願人 キャノン株式会社 （１４） マ ー１３５− ｄく
の図、 第３図は第二実施例で自動ケラトメータに応用した図、 第４図は絞シ板の図、 第５図は、光軸方向から眺めた空間配置図、第６図は、
第三実施例で自動屈折計に応用した図、 第７図は光軸方向から眺めた被検眼へのビーム照射位置
の説明図、 図中 ＩＡ、１Ｂ、１Ｃ・・・光源 ２・・・絞ヤ板 ２Ａ、２Ｂ、２Ｇ・・・開口 ３・・・被検レンズ ４・・・２次元光位置検出素子 ５・・・絞シ板 ６・・・入射レンズ ７．９ム、９Ｂ、９Ｇ・・・受光レンズ（１３） １０Ａ １０Ｂ １０Ｃ・・・（ツー １２・・・穴あきミラー １５・・・対物レンズ 出願人 キャノン株式会社 （１４） マ ー１３５− ｄく
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 素を経て来る前記エネルギービームを２次元位置検出素
子に受け、偏位ベクトル和をゼｐとするととによシアラ
イメントを行なう段階と、 偏位ベクトルの所定径線方向のベクトル成分よシ、各径
線方向の屈折度を算出する段階を有することを特徴とす
る屈折度測定方法。 る特許請求の範囲第１項記載の屈折度測定方法。 ＆ 平行な少なくとも３本のエネルギービームを被測定
要素に照射する手段と、被測定要素を経たエネルギービ
ームを受ける受光レンズと、 （１） 該受光レンズの後側焦点位置又はその共役位置に設けら
れる２次元位置検出手段と、偏位ベクトルの所定径線方
向のベクトル成分より各径線方向の屈折度を算出する手
段を有するととを特徴とする屈折度測定装置。 ４、 被検レンズの屈折度を測定する特許請求の範囲第
３項記載の屈折度測定装置。 ５、被検眼角膜の屈折度を測定す石特許請求の範囲第３
項記載の屈折度測定装置。 ６ 被検眼の屈折度を測定する特許請求の範囲第３項記
載の屈折度測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175847A JPS5964022A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 屈折度測定装置 |
| US06/503,234 US4609287A (en) | 1982-10-05 | 1983-06-10 | Method of and apparatus for measuring refractive characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57175847A JPS5964022A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 屈折度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5964022A true JPS5964022A (ja) | 1984-04-11 |
| JPH0355125B2 JPH0355125B2 (ja) | 1991-08-22 |
Family
ID=16003246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57175847A Granted JPS5964022A (ja) | 1982-10-05 | 1982-10-05 | 屈折度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5964022A (ja) |
Cited By (9)
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|---|---|---|---|---|
| JPS628731A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-16 | キヤノン株式会社 | 眼屈折力測定装置 |
| JPS62122629A (ja) * | 1985-11-25 | 1987-06-03 | キヤノン株式会社 | 眼屈折計 |
| JPS63242219A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-07 | キヤノン株式会社 | 眼測定装置 |
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| JPH03172729A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-26 | Essilor Internatl (Cie Gen Opt) | レンズのパワーを含むレンズ特性を決定する方法および装置 |
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1982
- 1982-10-05 JP JP57175847A patent/JPS5964022A/ja active Granted
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Also Published As
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| JPH0355125B2 (ja) | 1991-08-22 |
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