JPS5963545A - 単一モ−ド光フアイバの波長分散測定方式 - Google Patents
単一モ−ド光フアイバの波長分散測定方式Info
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- JPS5963545A JPS5963545A JP9734282A JP9734282A JPS5963545A JP S5963545 A JPS5963545 A JP S5963545A JP 9734282 A JP9734282 A JP 9734282A JP 9734282 A JP9734282 A JP 9734282A JP S5963545 A JPS5963545 A JP S5963545A
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- wavelength dispersion
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- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は庁−モード光ファイバの波長分散を高精度に測
定する方式に関するものである。
定する方式に関するものである。
従来、この種の測定は、/ことえは波長が異なる数種角
のパルス状の狭スベクi・ル幅の光が単−七一ド光ファ
イバ内を通過するのに要する時間から伝搬速度をipH
定し、おのおのの波長における伝搬速度の差から波長分
散を測定していた。また、他の例では正弦波などで強度
変zrs シた数種如の波長の狭スペクトル幅の光を単
−モード光ファイバ内を伝搬させ、該単一モート光フア
イバの入射端と出射端における変調信号の位相差から伝
搬速度を求め、各波長における伝搬速度の差から該単一
モード光ファイバの波長分散を測定していた。
のパルス状の狭スベクi・ル幅の光が単−七一ド光ファ
イバ内を通過するのに要する時間から伝搬速度をipH
定し、おのおのの波長における伝搬速度の差から波長分
散を測定していた。また、他の例では正弦波などで強度
変zrs シた数種如の波長の狭スペクトル幅の光を単
−モード光ファイバ内を伝搬させ、該単一モート光フア
イバの入射端と出射端における変調信号の位相差から伝
搬速度を求め、各波長における伝搬速度の差から該単一
モード光ファイバの波長分散を測定していた。
上述のように従来の方法では、光の伝搬時間や、変調信
号の位相差から伝搬速度を求めていたため、そのi+l
I定請度には限界があり、高精度で噴−モート光ファイ
・・の波長分散を測定するのは困難であった。
号の位相差から伝搬速度を求めていたため、そのi+l
I定請度には限界があり、高精度で噴−モート光ファイ
・・の波長分散を測定するのは困難であった。
本発明は、上述した従来技術の欠点に鑑みなされたもの
で、単−モード光ファイバの波長分散を高精度に測定て
きる方式を提供することを目的とするもので、その特徴
は、被測定物である単一モード光ファイバを遅延線とし
て用いる発振器もし〈は共振器を構成し、その発振周波
数もしくは共振周波数と波J(の関係から前記部−モー
ト光ファイバのdU長分散を1llll定することにあ
る。
で、単−モード光ファイバの波長分散を高精度に測定て
きる方式を提供することを目的とするもので、その特徴
は、被測定物である単一モード光ファイバを遅延線とし
て用いる発振器もし〈は共振器を構成し、その発振周波
数もしくは共振周波数と波J(の関係から前記部−モー
ト光ファイバのdU長分散を1llll定することにあ
る。
以1・゛図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は不発明の一実施例を示す図面てあり、2は半導
体レー°す、4a〜4cは′1″−導体レーザ2からの
出射光’、 6a 、 6bは凸レンズ、8は被測定物
である弔−モード光ファイバ、10a id: 14”
−モート光ファイバ8の入射端、10bは彫−モート光
ファイバ8の出射端、12は光検知器、14は帯域通過
フィルタ、16は増幅器、18はコイル’+ 20はコ
/デノサ、22は電池、24は恒温槽、26は温度制御
器、28は振幅制限器、30はビームスプリッタ、32
(I′i分光器、34は周波数カウンタである。
体レー°す、4a〜4cは′1″−導体レーザ2からの
出射光’、 6a 、 6bは凸レンズ、8は被測定物
である弔−モード光ファイバ、10a id: 14”
−モート光ファイバ8の入射端、10bは彫−モート光
ファイバ8の出射端、12は光検知器、14は帯域通過
フィルタ、16は増幅器、18はコイル’+ 20はコ
/デノサ、22は電池、24は恒温槽、26は温度制御
器、28は振幅制限器、30はビームスプリッタ、32
(I′i分光器、34は周波数カウンタである。
半導体レーザ2からの出射光4aは凸レンズ6aによっ
て平行光とされ、ビームスプリッタ3oによってレーザ
光4bと4cの2つに分岐される。レーザ光4cは分光
器32に入射し、その波長が1ljlj定される。
て平行光とされ、ビームスプリッタ3oによってレーザ
光4bと4cの2つに分岐される。レーザ光4cは分光
器32に入射し、その波長が1ljlj定される。
レーザ光4bは凸レンズ6bによって集光され、即−モ
ード光ファイバ8の入射端10aから単一モード光ファ
イバ8に入射し、出射端10bから出射して光検知器1
2により検知され、光の強度に比例した電気信号に変換
され、さらに帯域通過フィルタ14を介して増幅器16
により増幅され、振幅制限器28とコ/デ/ザ20を介
して半導体レーザ2に帰還され、発振器を4f’;成す
る。
ード光ファイバ8の入射端10aから単一モード光ファ
イバ8に入射し、出射端10bから出射して光検知器1
2により検知され、光の強度に比例した電気信号に変換
され、さらに帯域通過フィルタ14を介して増幅器16
により増幅され、振幅制限器28とコ/デ/ザ20を介
して半導体レーザ2に帰還され、発振器を4f’;成す
る。
半導体レーザ2にはコイル18を介して電池22により
直流バイアス電流が流され、恒温槽24と温度開側1器
26によりその温度が一定に保たれている。
直流バイアス電流が流され、恒温槽24と温度開側1器
26によりその温度が一定に保たれている。
ここで、真空中における光の速度をC1単一モート光フ
ァイバ8の実長をt1波長λに対する等測的Jtr2折
率をn1電子回路お・よびレーザ光の空間伝搬部分など
の遅延時間をτ1とし、帯域通過フィルタ14の通過帯
域と増幅器16の増幅率と振幅制限器蔀の振幅制限値と
を適当に設定すると、前記発振器は次式で表わされる周
波数11で発振する。
ァイバ8の実長をt1波長λに対する等測的Jtr2折
率をn1電子回路お・よびレーザ光の空間伝搬部分など
の遅延時間をτ1とし、帯域通過フィルタ14の通過帯
域と増幅器16の増幅率と振幅制限器蔀の振幅制限値と
を適当に設定すると、前記発振器は次式で表わされる周
波数11で発振する。
この発振周波数f1は周波数カウンタ34により測定さ
tする。例えば、t=100m、n二15とし、τ1を
10−85と仮定すると、f ”: 2Ml−1zとな
る。
tする。例えば、t=100m、n二15とし、τ1を
10−85と仮定すると、f ”: 2Ml−1zとな
る。
半導体レーリ゛2の出JJ波長は温度により3〜5A/
C稈度変動する。そこで、恒温’VV 24と温度制研
器26((よって半導体レーザ2の波長をλ+Δλに変
換し、b7トの判定を繰り返し、発振周波数f2を測定
する。波長λ+Δλに71する即−モート光ファイバ8
の等洒的屈折率をn+Δnとすると、発撮彼長f2は次
式のように表わされる。
C稈度変動する。そこで、恒温’VV 24と温度制研
器26((よって半導体レーザ2の波長をλ+Δλに変
換し、b7トの判定を繰り返し、発振周波数f2を測定
する。波長λ+Δλに71する即−モート光ファイバ8
の等洒的屈折率をn+Δnとすると、発撮彼長f2は次
式のように表わされる。
(])式と(2)式から、単一モード光ファイバ8の等
測的屈折率の変動Δnによる発振周波数の変動計Δfは
、Δf”=f+ h と表わされる。従って、発振周波数の変動量Δfを測定
すれば、(3)式を用いて単一モード光ファイバ8の等
測的屈折率の変動;δΔn1すなわち、波長分散を求め
ることができる。fllえばΔn二3X10’。
測的屈折率の変動Δnによる発振周波数の変動計Δfは
、Δf”=f+ h と表わされる。従って、発振周波数の変動量Δfを測定
すれば、(3)式を用いて単一モード光ファイバ8の等
測的屈折率の変動;δΔn1すなわち、波長分散を求め
ることができる。fllえばΔn二3X10’。
1= 1.00 m 、 τ1 ”” 1O−8sとす
ると、Δf = 4 Hzとなり、通常の周波数カウン
タてilll付定である。
ると、Δf = 4 Hzとなり、通常の周波数カウン
タてilll付定である。
本実施例では光Wとして半導体レーザを用いているが、
発光グイオートや波長可変の色素レーザなどの狭スペク
トル幅の光計を用いることも可能である。
発光グイオートや波長可変の色素レーザなどの狭スペク
トル幅の光計を用いることも可能である。
第2図は本発明の他の実施例である。図中36a。
36bはスイッチであり、他の番号は第1図と共通であ
る。本実施例では、波長が異なる2つの半導体レーザ2
aと2bを用い、スイッチ36aと36bにより交互に
発光させている。凸レンズ6aと6bを介して半導体レ
ーザ2a 、 2bから出射する出射光4a 、 4b
は、ビームスプリッタ30により2つの光4c 、 4
dに分割され、一方のレーザ光4cは分光器32に入射
し、他方のレーザ光4dは単一モード光ファイバ8に入
射し、第1図の実施例と同様な方法で、半導体レーザ2
aを用いた場合の波長λ1と発振周波数11および半導
体レーザ2bを用いた場合の波長λ2と発振周波数12
を測定し、(3)式を用いて単一モート光ファイバ8の
波長分散を求めるととがてきる。本実施例では、2つの
半導体レーザ2aと2bを用いているので、波長の差Δ
λ二λ1−λ2を大きぐすることができ、寸フこ、半導
体レーザ2a 、 2bの波長が既知で、温度変動なと
によって生じる波長変動が2つの半導体1/ −−IJ
の波長の差に比較して無視できる場合には、分光器32
を用いる必要はない。捷だ、本実施例で1−.1.2個
の半導体レーザを用いているが、3個以1−の光源を用
いることもii工能である。
る。本実施例では、波長が異なる2つの半導体レーザ2
aと2bを用い、スイッチ36aと36bにより交互に
発光させている。凸レンズ6aと6bを介して半導体レ
ーザ2a 、 2bから出射する出射光4a 、 4b
は、ビームスプリッタ30により2つの光4c 、 4
dに分割され、一方のレーザ光4cは分光器32に入射
し、他方のレーザ光4dは単一モード光ファイバ8に入
射し、第1図の実施例と同様な方法で、半導体レーザ2
aを用いた場合の波長λ1と発振周波数11および半導
体レーザ2bを用いた場合の波長λ2と発振周波数12
を測定し、(3)式を用いて単一モート光ファイバ8の
波長分散を求めるととがてきる。本実施例では、2つの
半導体レーザ2aと2bを用いているので、波長の差Δ
λ二λ1−λ2を大きぐすることができ、寸フこ、半導
体レーザ2a 、 2bの波長が既知で、温度変動なと
によって生じる波長変動が2つの半導体1/ −−IJ
の波長の差に比較して無視できる場合には、分光器32
を用いる必要はない。捷だ、本実施例で1−.1.2個
の半導体レーザを用いているが、3個以1−の光源を用
いることもii工能である。
第;3図は本発明の他の実施例を示す図面であり、10
2は周波数可変発振器、104は加算器、106は電圧
語である。本実施列では、半導体レーザ′2゜栄−モー
ト光ファイバ8.光検知器12.帯域通過フィルタ14
.増幅器165合成器104などで構成される閉回路は
、増幅器16の増幅度が小さければ発振は起きずに、共
振器を構成する。すなわち、周波数可変発振器102の
出力を合成器104を介して前記の閉回路に印加し、電
圧計106によって増幅器16の出力電圧を測定すると
1、前記閉回路の共振周波数11と周波数d1変発振器
102の発振周波数が一致した時に、電圧計106によ
って測定される増幅器16の出力が最大となる。すなわ
ち、電圧計106の指示が最大となる周波数を求めるこ
とにより、前記閉回路の共振周波数f1を求めることが
できる。ここて、この共振周波数ftは(1)式で表わ
すことができる。従って、第1図に示した実施例の場合
と同じように、温度制御器26と恒温槽24によって半
導体レーザの温度と波長λを変化させ、該閉回路の共振
周波数f+の変動を測走丙−れば、(3)式により、栄
−モード光ファイ・・8の波長分散を測定することがで
きる。
2は周波数可変発振器、104は加算器、106は電圧
語である。本実施列では、半導体レーザ′2゜栄−モー
ト光ファイバ8.光検知器12.帯域通過フィルタ14
.増幅器165合成器104などで構成される閉回路は
、増幅器16の増幅度が小さければ発振は起きずに、共
振器を構成する。すなわち、周波数可変発振器102の
出力を合成器104を介して前記の閉回路に印加し、電
圧計106によって増幅器16の出力電圧を測定すると
1、前記閉回路の共振周波数11と周波数d1変発振器
102の発振周波数が一致した時に、電圧計106によ
って測定される増幅器16の出力が最大となる。すなわ
ち、電圧計106の指示が最大となる周波数を求めるこ
とにより、前記閉回路の共振周波数f1を求めることが
できる。ここて、この共振周波数ftは(1)式で表わ
すことができる。従って、第1図に示した実施例の場合
と同じように、温度制御器26と恒温槽24によって半
導体レーザの温度と波長λを変化させ、該閉回路の共振
周波数f+の変動を測走丙−れば、(3)式により、栄
−モード光ファイ・・8の波長分散を測定することがで
きる。
第4図は本発明のさらに他の実施例であり、図中の番号
は第1図〜第3図と共通である。本実施例では第3図に
示しだ実施例と同様に、増幅器16の増幅率が小さくて
発振は起きず、半導体レーザ2a 、 2b 、単一モ
ード光ファイバ8、光検知器12、帯域通過フィルタ1
4、増幅器16などで構成する閉回路は共振器を構成す
る。1だ、本実施例では、第2図に示した実施例と同様
に波長が異なる2つの半導体レー!j’2a、2bを切
り替えスイッチ36により切り1−!−えて用いている
。従って第3図に示した実施例と同様に、2つの異なる
波長に利するMi+記閉回路の共振周波数の差を1ll
l定することにより、ノ11−モート九ノーfイバ8の
波長分11Jy、を知るこ2がてきる。
は第1図〜第3図と共通である。本実施例では第3図に
示しだ実施例と同様に、増幅器16の増幅率が小さくて
発振は起きず、半導体レーザ2a 、 2b 、単一モ
ード光ファイバ8、光検知器12、帯域通過フィルタ1
4、増幅器16などで構成する閉回路は共振器を構成す
る。1だ、本実施例では、第2図に示した実施例と同様
に波長が異なる2つの半導体レー!j’2a、2bを切
り替えスイッチ36により切り1−!−えて用いている
。従って第3図に示した実施例と同様に、2つの異なる
波長に利するMi+記閉回路の共振周波数の差を1ll
l定することにより、ノ11−モート九ノーfイバ8の
波長分11Jy、を知るこ2がてきる。
以」−説明したように、本発明によれば jp−モート
光ファイバを遅延線として用いる発振器あるいは共振器
の発振周波数あるいは共振周波数から卯−モード光ファ
イバの波長分散を測定するため、従来の方法と比較して
高精度の測定を行なうことが可能となる。
光ファイバを遅延線として用いる発振器あるいは共振器
の発振周波数あるいは共振周波数から卯−モード光ファ
イバの波長分散を測定するため、従来の方法と比較して
高精度の測定を行なうことが可能となる。
第1図は本発明の一実施例を示す系統図、第2図、第3
図及び第4図は本発明の他の実施例を示す系統図である
。 2.2a、2b・・半導体レーザ、 4 a + 4 b + 4 c + 4 d + 4
e レーザ光、6a 、 6b 、 6c・凸レン
ズ、8・・1ヤーモード光フアイバ、1oa・・・8の
入力端、10b−8の出力端、12・光検知器、14
・偶成通過フィルタ、16・・増幅器、18 、1.8
a 、 18b −:lイル、20 、20a 、 2
0b −:’ :/デノザ、、 22 、22a 、
22b・電池、24 恒盟槽、26・温度制御器、
28・・振幅制限器、30・・ビーム・スゲリッタ、3
2 分光器、34・周波数カウンタ、数 36 、36a 、 36b・・・スイッチ、102・
・周波可変発儂器、 1へ 104 ・合成器、106・・・電圧計。 特許出願人 国際電信電話株式会社 代 理 人 犬 塚 学外1名 手糾;補正和(方式) 昭和58年11月2日 特許庁長官 若杉和夫 殿 1 事件の表示 特願昭57−97342号 2 発明の名称 単−毛゛−ド光ファイバの波長 分散測定方式 3 補正をする者 事件との関係 出願人 (121) 国際電信電話株式会社 4、代理人 東京都新宿区西新宿1−23−1 7、補正の内容 発明の名称〔単一モード光ファイバ波長分散測定方式〕
とあるな〔単一モード光ファイバの波長分散測定方式〕
と訂正する。
図及び第4図は本発明の他の実施例を示す系統図である
。 2.2a、2b・・半導体レーザ、 4 a + 4 b + 4 c + 4 d + 4
e レーザ光、6a 、 6b 、 6c・凸レン
ズ、8・・1ヤーモード光フアイバ、1oa・・・8の
入力端、10b−8の出力端、12・光検知器、14
・偶成通過フィルタ、16・・増幅器、18 、1.8
a 、 18b −:lイル、20 、20a 、 2
0b −:’ :/デノザ、、 22 、22a 、
22b・電池、24 恒盟槽、26・温度制御器、
28・・振幅制限器、30・・ビーム・スゲリッタ、3
2 分光器、34・周波数カウンタ、数 36 、36a 、 36b・・・スイッチ、102・
・周波可変発儂器、 1へ 104 ・合成器、106・・・電圧計。 特許出願人 国際電信電話株式会社 代 理 人 犬 塚 学外1名 手糾;補正和(方式) 昭和58年11月2日 特許庁長官 若杉和夫 殿 1 事件の表示 特願昭57−97342号 2 発明の名称 単−毛゛−ド光ファイバの波長 分散測定方式 3 補正をする者 事件との関係 出願人 (121) 国際電信電話株式会社 4、代理人 東京都新宿区西新宿1−23−1 7、補正の内容 発明の名称〔単一モード光ファイバ波長分散測定方式〕
とあるな〔単一モード光ファイバの波長分散測定方式〕
と訂正する。
Claims (1)
- 狭スペクトル幅の光dヤがら出射する光をキーモード光
ファイバに入射し、該単一モート光フアイバから出射す
る光を光電変換し、該光電変換出力を前記光源の励振電
流に帰還するようにして1%’l 1回路を構成しAi
l記光源の波長を変化させた場合の前記閉回路の発振周
波数もしくは共振周波数の変化から11J記が一モード
光ファイバの波長分散を求めるように構成されたことを
特徴とする即〜モード光ファイバ波長分散1t111定
方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9734282A JPH0233971B2 (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | Tanitsumoodohikarifuaibanohachobunsansokuteihoshiki |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9734282A JPH0233971B2 (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | Tanitsumoodohikarifuaibanohachobunsansokuteihoshiki |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5963545A true JPS5963545A (ja) | 1984-04-11 |
JPH0233971B2 JPH0233971B2 (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=14189800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9734282A Expired - Lifetime JPH0233971B2 (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | Tanitsumoodohikarifuaibanohachobunsansokuteihoshiki |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0233971B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5357333A (en) * | 1991-12-23 | 1994-10-18 | Cselt-Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni Spa | Apparatus for measuring the effective refractive index in optical fibers |
-
1982
- 1982-06-07 JP JP9734282A patent/JPH0233971B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5357333A (en) * | 1991-12-23 | 1994-10-18 | Cselt-Centro Studi E Laboratori Telecomunicazioni Spa | Apparatus for measuring the effective refractive index in optical fibers |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0233971B2 (ja) | 1990-07-31 |
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