JPS5946745A - 荷電粒子線装置における自動焦点合わせ装置 - Google Patents
荷電粒子線装置における自動焦点合わせ装置Info
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- JPS5946745A JPS5946745A JP57157927A JP15792782A JPS5946745A JP S5946745 A JPS5946745 A JP S5946745A JP 57157927 A JP57157927 A JP 57157927A JP 15792782 A JP15792782 A JP 15792782A JP S5946745 A JPS5946745 A JP S5946745A
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- focusing lens
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/21—Means for adjusting the focus
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は走査電子顕微鏡等の荷電粒子線装防に用いられ
る自動焦点合わせ装置の改良に関する。
る自動焦点合わせ装置の改良に関する。
走査電子顕微鏡においては第1図に示?lにうに電子銃
1から発生Jる電子線2を集中レンズ3゜4にJ、っ゛
C試石5の表面上で微小イ「断面径を形成づるように集
束し、それど同時に該電子線2を偏向二1イル6X、6
Yに供給されるf^仁YJにJ、って試料面1−に走査
し、該走査と間開したブラウン9′;7に試オ′≧1か
ら検出器8にJ:って検出され、増幅器9で゛増幅され
た映像信号を輝度変調信号として供給りることにJ、っ
C試料走査像を表示している。
1から発生Jる電子線2を集中レンズ3゜4にJ、っ゛
C試石5の表面上で微小イ「断面径を形成づるように集
束し、それど同時に該電子線2を偏向二1イル6X、6
Yに供給されるf^仁YJにJ、って試料面1−に走査
し、該走査と間開したブラウン9′;7に試オ′≧1か
ら検出器8にJ:って検出され、増幅器9で゛増幅され
た映像信号を輝度変調信号として供給りることにJ、っ
C試料走査像を表示している。
この試N′+1走音像の像倍率は前記偏向コイル6X。
6 Yどノノウン管の偏向:1イル10X; IOYに
水1(走査信号1−1ど垂直走査信号Vと供給づる走査
電源11の出力端子と前記偏向」イル6X、6”Yどの
間(こ挿入されたiiJ変増変器幅器12幅度を変化さ
けることによ−〕(切り換えられる。即ち、試料面トに
お【)る電子線走査領域と該領域に相似なブラウン管画
面の面積比を変えることによって像倍率が調整される。
水1(走査信号1−1ど垂直走査信号Vと供給づる走査
電源11の出力端子と前記偏向」イル6X、6”Yどの
間(こ挿入されたiiJ変増変器幅器12幅度を変化さ
けることによ−〕(切り換えられる。即ち、試料面トに
お【)る電子線走査領域と該領域に相似なブラウン管画
面の面積比を変えることによって像倍率が調整される。
ブラウン管画面に表示される走査像の焦点合わせは集束
レンズの特に最終段集束レンズ(対物レンズ)4の励磁
電源13の出力を調整して試料面上にお(プる電子線の
断面径を最小になることを確認覆ることによ7) −U
<jiつれるが、この調整は試料走査像の肉眼観察に
基づくものであるため、最近この調整を自動化りるため
の自動焦点合′わけ゛装置が実用化されている。第1図
中、1/Iで示リブロックはこのような自動焦点、含わ
Uを行うための自動焦点合わせ回路C′あり、走査電源
11からの垂直走査信号をトリガー信号どじ−C励磁電
源13の出力を順次変化さけると共に、増幅器9の出ツ
ノをモニターした結果に41づ′い−(励磁電源13の
適正な出力電流を決定覆る。
レンズの特に最終段集束レンズ(対物レンズ)4の励磁
電源13の出力を調整して試料面上にお(プる電子線の
断面径を最小になることを確認覆ることによ7) −U
<jiつれるが、この調整は試料走査像の肉眼観察に
基づくものであるため、最近この調整を自動化りるため
の自動焦点合′わけ゛装置が実用化されている。第1図
中、1/Iで示リブロックはこのような自動焦点、含わ
Uを行うための自動焦点合わせ回路C′あり、走査電源
11からの垂直走査信号をトリガー信号どじ−C励磁電
源13の出力を順次変化さけると共に、増幅器9の出ツ
ノをモニターした結果に41づ′い−(励磁電源13の
適正な出力電流を決定覆る。
第2図及び第3図は自動焦点合わU回路1 /Iの原理
を説明づるためのもので、第2図(a)は光軸方向から
眺めた試料面上にある幅を持ったIM i青15と該構
造を横切る矢印16の方向へ図(こ示す断面形状の電r
l!i! 17を水平走査する様子を表わしく il
iす、このJ、うな電子線走査にJ:って試料から検出
される侶j゛)波形を示づものが第2図(b )(:’
dうろ0.第、′3図(Jl)は第2図(a )ど同
じ試旧庄杏を異4i、−,た1(j1而径をイ]りる電
子線′1ε3で行うもの(゛、この走査にJ、って得ら
れる信号波形を示しl、:ものが第33図(1))であ
る。これらの図から、試1’ilを走I″ICJる電子
線断面が小さい稈、信号波形の高さが高く、ピーク波形
の幅す狭い鋭い波形になることが分る。従来の自動焦5
気含t〕iJ装買はこ、のようイ1現象を利用りるもの
で、電f“線の試利走゛白によつ−C検出される信号を
微分回路Aゝ)フィルター回路を用いて高周波成分のみ
を取り出()、高周波成分のビーク伯又はその梢(9飴
を電子線の断面径に対応りる信号とみなし、これらのピ
ーク値又は梢n l+rJが最大ど4Tるように対物レ
ンズの励(鮭を設定づ−るものが大部分である。
を説明づるためのもので、第2図(a)は光軸方向から
眺めた試料面上にある幅を持ったIM i青15と該構
造を横切る矢印16の方向へ図(こ示す断面形状の電r
l!i! 17を水平走査する様子を表わしく il
iす、このJ、うな電子線走査にJ:って試料から検出
される侶j゛)波形を示づものが第2図(b )(:’
dうろ0.第、′3図(Jl)は第2図(a )ど同
じ試旧庄杏を異4i、−,た1(j1而径をイ]りる電
子線′1ε3で行うもの(゛、この走査にJ、って得ら
れる信号波形を示しl、:ものが第33図(1))であ
る。これらの図から、試1’ilを走I″ICJる電子
線断面が小さい稈、信号波形の高さが高く、ピーク波形
の幅す狭い鋭い波形になることが分る。従来の自動焦5
気含t〕iJ装買はこ、のようイ1現象を利用りるもの
で、電f“線の試利走゛白によつ−C検出される信号を
微分回路Aゝ)フィルター回路を用いて高周波成分のみ
を取り出()、高周波成分のビーク伯又はその梢(9飴
を電子線の断面径に対応りる信号とみなし、これらのピ
ーク値又は梢n l+rJが最大ど4Tるように対物レ
ンズの励(鮭を設定づ−るものが大部分である。
第4図+31え1物レンズ電流の変化に対応さけて電子
線の断面径を表わづ前記ピーク1n又は積算値どうの変
換信号の変化覆る様子を示す1〕ので、このような典型
的な関係が111られる弱含に【、L、変換111号が
最大1直を示づ対物レンズ電流舶にJ3いてj[シい焦
点合ねけが行なわれる。
線の断面径を表わづ前記ピーク1n又は積算値どうの変
換信号の変化覆る様子を示す1〕ので、このような典型
的な関係が111られる弱含に【、L、変換111号が
最大1直を示づ対物レンズ電流舶にJ3いてj[シい焦
点合ねけが行なわれる。
ところで、走査電子顕微鏡の電子〉に学系(ごは一般に
非点収差が存右りるのC1この、月点収X苓抽正ηる〕
こめのxy 3’、j非Jj1補正駅百が相み込J:れ
でいる。この非点補正装置を正しく調”J+ρしく:1
1貞収差の影響を取り除かないと対物レンズ電流と変換
信号どの関係は第55図に示りJ、うなものとなってし
まい、図中1−Pl、 L、I’)2に示す二つの対物
電流値のいずれかにd3いη変換信号の最大lil′t
/+’:牛り゛ることになる。しかしながら、このI
+)1.11)2のいずれかに設定しても正しい焦点は
11ノられず、従来の自動焦点合わU゛装四d’5いて
(ま市しい非点収差補正が行われてい41いと+I−L
/ < tit!能し/、fい傷合がしばしばあった。
非点収差が存右りるのC1この、月点収X苓抽正ηる〕
こめのxy 3’、j非Jj1補正駅百が相み込J:れ
でいる。この非点補正装置を正しく調”J+ρしく:1
1貞収差の影響を取り除かないと対物レンズ電流と変換
信号どの関係は第55図に示りJ、うなものとなってし
まい、図中1−Pl、 L、I’)2に示す二つの対物
電流値のいずれかにd3いη変換信号の最大lil′t
/+’:牛り゛ることになる。しかしながら、このI
+)1.11)2のいずれかに設定しても正しい焦点は
11ノられず、従来の自動焦点合わU゛装四d’5いて
(ま市しい非点収差補正が行われてい41いと+I−L
/ < tit!能し/、fい傷合がしばしばあった。
本発明は非点収差補正が正(イ「に補11され(いない
状態においても、正しい焦点合、P) L!をiJうこ
と、更には対物レンズ以外にステイグメータを(J4>
めた厳密な意味での焦点合4つI!を自動的に11つこ
とをI]的とづるちのC゛、前電粒子線汎;から発生す
る粒子線を東栄レンズにより試わ1面一1c微小なビー
ム径が形成されるように照射し、偏向手段によっ(試オ
″11面」−の一定領域を走査し、該走査と同期して前
記集束レンズのレンズ強度を変化ざUると共に試料から
15)られる映像信号より前記粒子線の試料面上にお(
)るじ−ム径に対応覆る変換信号を検出し、該変換信号
の最大値よりも所定量イ](い値の変換信号に対応する
二つのレンズ強度(1,−1,1−の饋に設定づること
を特徴どづる()の(゛ある。
状態においても、正しい焦点合、P) L!をiJうこ
と、更には対物レンズ以外にステイグメータを(J4>
めた厳密な意味での焦点合4つI!を自動的に11つこ
とをI]的とづるちのC゛、前電粒子線汎;から発生す
る粒子線を東栄レンズにより試わ1面一1c微小なビー
ム径が形成されるように照射し、偏向手段によっ(試オ
″11面」−の一定領域を走査し、該走査と同期して前
記集束レンズのレンズ強度を変化ざUると共に試料から
15)られる映像信号より前記粒子線の試料面上にお(
)るじ−ム径に対応覆る変換信号を検出し、該変換信号
の最大値よりも所定量イ](い値の変換信号に対応する
二つのレンズ強度(1,−1,1−の饋に設定づること
を特徴どづる()の(゛ある。
以下、本発明の161理と実施例・技Flを図面に基づ
いC1説りる。
いC1説りる。
非点収Jイの1要<E原因は第6図に小り如く電工レン
ズの焦1j:(距li1.Itが直交する方向v′−′
Ii/、1イ)たメチある。同図に(13いで、×、y
軸の交」j3【にレンズ主面が通っているどηるとX方
向の焦点面に焦線Cが又y方向の焦点面に焦線1三が人
々形成され、C2[の中間に最小!j1乱円1)が形成
される。このD点が非点収差が補jlされたどきの焦点
位置に相当する。C[の間隔はいわゆる非点隔〉イへ「
である。
ズの焦1j:(距li1.Itが直交する方向v′−′
Ii/、1イ)たメチある。同図に(13いで、×、y
軸の交」j3【にレンズ主面が通っているどηるとX方
向の焦点面に焦線Cが又y方向の焦点面に焦線1三が人
々形成され、C2[の中間に最小!j1乱円1)が形成
される。このD点が非点収差が補jlされたどきの焦点
位置に相当する。C[の間隔はいわゆる非点隔〉イへ「
である。
いま、第7図(a )に示り−ように、x軸と角度αを
なリベク1ヘルΔ1:で表されるレンズ非点収差を4極
2対型の電磁非点補正装置(いわゆる×y型′Jl魚補
正装置)ににつて補IFづることを考える。図中SXは
○印で示される×輔及びyIIll上に位置する4極レ
ンズにj:つて牛ヂる非魚補i[ベタ1〜ルを表し、S
yはX軸及びy軸と45°回転さUた・二!(・示され
る位置に設【〕られた他の/l 0ルンス゛にJ、って
生ずる非点補正ベタ1〜ルを表1..こJで、これらの
ベタ1〜ル関係の考察を容易にでするため各ベクトルが
X軸となす角度を全て2倍にして第7図(1))に示り
如く Δ[−1S×、Syとりる、。
なリベク1ヘルΔ1:で表されるレンズ非点収差を4極
2対型の電磁非点補正装置(いわゆる×y型′Jl魚補
正装置)ににつて補IFづることを考える。図中SXは
○印で示される×輔及びyIIll上に位置する4極レ
ンズにj:つて牛ヂる非魚補i[ベタ1〜ルを表し、S
yはX軸及びy軸と45°回転さUた・二!(・示され
る位置に設【〕られた他の/l 0ルンス゛にJ、って
生ずる非点補正ベタ1〜ルを表1..こJで、これらの
ベタ1〜ル関係の考察を容易にでするため各ベクトルが
X軸となす角度を全て2倍にして第7図(1))に示り
如く Δ[−1S×、Syとりる、。
第7図(1))においてΔFはΔ)二×とΔ「yとの×
y軸方向へり]ヘルに分割され、△「は次式6表される
。
y軸方向へり]ヘルに分割され、△「は次式6表される
。
AF =J醪T弓
又、最小1(1乱円の直径δは非点隔差△1−に比例し
、5;k・ΔF −−〜−−・−一−・−−−−(1)
どなる。こ(ニーて゛、Kは電子線の試料に対する聞き
角αに関りる係数である。
、5;k・ΔF −−〜−−・−一−・−−−−(1)
どなる。こ(ニーて゛、Kは電子線の試料に対する聞き
角αに関りる係数である。
第7図(C)中△[′は非点補正装置を動作さけたと2
′!の合成、i11点ベクトルを示し、△「′に対応り
るJ[点隔差へF−’4ま次式で表される。
′!の合成、i11点ベクトルを示し、△「′に対応り
るJ[点隔差へF−’4ま次式で表される。
ΔL′・F肩;N百−叡−・・−・−(すしたがり−U
(1)式からこのときの最小錯乱円の1径は次のよう
(ごなる。
(1)式からこのときの最小錯乱円の1径は次のよう
(ごなる。
c’=yJ7ヱ罷野−J母ヱー・−−・・(3):J
ν jス−1から、最小111乱円の状態で非点収Z補11
−装四の2絹の/I局レンズを夫々独1°fに走査しδ
′が順次最小hit lごイ「ろまうに制御りれば△l
”)0即ちδ′ ンOに/jしiq、非点収差不完全に
浦11(・さることがう)る、。
ν jス−1から、最小111乱円の状態で非点収Z補11
−装四の2絹の/I局レンズを夫々独1°fに走査しδ
′が順次最小hit lごイ「ろまうに制御りれば△l
”)0即ちδ′ ンOに/jしiq、非点収差不完全に
浦11(・さることがう)る、。
所で゛、第0レロJお【ノる対物電流1+1i +−1
)l 、 1. P2は夫ノZ盲′16図【に、1ハノ
る焦線C,l−にス・1応しくおり、iIジノい焦点合
4つμ即ら最小111乱円1)が形成されるようにりる
ためには対物1ノンズ電流の値をL1ヤし2 λ に設定りれぽJ、いが、この最適値の求め方を第
8図に承り本発明の実施例装置に阜づいて説明する。
)l 、 1. P2は夫ノZ盲′16図【に、1ハノ
る焦線C,l−にス・1応しくおり、iIジノい焦点合
4つμ即ら最小111乱円1)が形成されるようにりる
ためには対物1ノンズ電流の値をL1ヤし2 λ に設定りれぽJ、いが、この最適値の求め方を第
8図に承り本発明の実施例装置に阜づいて説明する。
第8図中第1図と同一71号を付したものは同一構成要
素を表わしている。第8図の装面には2対の4極レンズ
15x、15y及びイれらへ励磁電流を供給する非点補
正電源゛1Gからなる×y型非点補正装置が絹み込まれ
てJ3す、各44fiレンズへの電流値は電流制御回路
17の出力によって調整される。又、対物レンズの励磁
電源13も電流制御回路18の出力によって調整される
。これらの電流制御回路17.18はスデッゾぎり変則
路19の出力によっ−Cfli制御される。試料5から
発生りる2次電子等の(、′;号は検出器8により映像
イハ弓どしC検出された後増幅器9を介して自8に]1
度二1ン1−ラス1〜調整回路20に供給され、該回路
におい(映像信号の信号レベルが所定の藺に又映像信号
の:1ン1〜ンス1〜が所定範囲に収;LるJ、うに自
動調整さける。自動輝度コン1〜ラスト調整回路2oの
出力の一部はブラ「クン管7の輝度変調信′:Jどしく
用いられると同時に前記スデッf可変回路′19にらI
(給される。スデップ可変回路゛19は入力2Sれた1
194像化5−)に早づいCその高周波成分の強度信号
に対応りる電子線ttJi面径を表づ変換信号を発生し
、該変換イトラが最大11r1と4【るJ:うにぞの出
力制御信号をステップ状に増減さlる。中央制御回路2
1は垂直ルPi It”i号をタイミング信)シどして
2つの電流調整回路17,1ε3.ステップ角変回路1
9及びスイッチSi’、S2.33に制御信号を供給り
る。
素を表わしている。第8図の装面には2対の4極レンズ
15x、15y及びイれらへ励磁電流を供給する非点補
正電源゛1Gからなる×y型非点補正装置が絹み込まれ
てJ3す、各44fiレンズへの電流値は電流制御回路
17の出力によって調整される。又、対物レンズの励磁
電源13も電流制御回路18の出力によって調整される
。これらの電流制御回路17.18はスデッゾぎり変則
路19の出力によっ−Cfli制御される。試料5から
発生りる2次電子等の(、′;号は検出器8により映像
イハ弓どしC検出された後増幅器9を介して自8に]1
度二1ン1−ラス1〜調整回路20に供給され、該回路
におい(映像信号の信号レベルが所定の藺に又映像信号
の:1ン1〜ンス1〜が所定範囲に収;LるJ、うに自
動調整さける。自動輝度コン1〜ラスト調整回路2oの
出力の一部はブラ「クン管7の輝度変調信′:Jどしく
用いられると同時に前記スデッf可変回路′19にらI
(給される。スデップ可変回路゛19は入力2Sれた1
194像化5−)に早づいCその高周波成分の強度信号
に対応りる電子線ttJi面径を表づ変換信号を発生し
、該変換イトラが最大11r1と4【るJ:うにぞの出
力制御信号をステップ状に増減さlる。中央制御回路2
1は垂直ルPi It”i号をタイミング信)シどして
2つの電流調整回路17,1ε3.ステップ角変回路1
9及びスイッチSi’、S2.33に制御信号を供給り
る。
今、仮に非点補正装置を使用Uず対物レンズ電流ど変換
化6の関係が非点収差の影響で第0図に示1ような波形
で表されるものとづる。この場合に第8図の装置にi1
5 LJる自動焦点合わせ装置を作動さlるど、先ず中
央制御回路21がスイッチS1、S2をAンの状態どし
、電流調整回路17の出力によって41モレンズ15x
、15yへの励磁電流を零に設定りる。次にスイッチ5
う3が端子a側にIJJり換えられてステップ可変回路
・19の出力が電流調整回路18へ供給され、ス・1物
1ノンズ電流が第10図に示1如く低い電流レベルh目
うステップ状に順次増加りる。このスデッノ用変の時間
幅t(,1垂直走査の周期と一致しく(13す、電流の
変化幅Δ11.Δ■2は調整段階に応じC切り白λられ
るが初めの段階では大きい可変幅に設定される。
化6の関係が非点収差の影響で第0図に示1ような波形
で表されるものとづる。この場合に第8図の装置にi1
5 LJる自動焦点合わせ装置を作動さlるど、先ず中
央制御回路21がスイッチS1、S2をAンの状態どし
、電流調整回路17の出力によって41モレンズ15x
、15yへの励磁電流を零に設定りる。次にスイッチ5
う3が端子a側にIJJり換えられてステップ可変回路
・19の出力が電流調整回路18へ供給され、ス・1物
1ノンズ電流が第10図に示1如く低い電流レベルh目
うステップ状に順次増加りる。このスデッノ用変の時間
幅t(,1垂直走査の周期と一致しく(13す、電流の
変化幅Δ11.Δ■2は調整段階に応じC切り白λられ
るが初めの段階では大きい可変幅に設定される。
第10図の場合には対物1ノンズ電流の11「iが初め
の低い値から大ぎな変化幅Δ■1で増加し、変(β信号
が予め定められたLレベルを越えるとルベルに電流値を
設定し、新たに小さな変化幅△I2で電流を増加さUつ
つ常に19られた変操信号の最大値を求めそれよりも2
0%減の値Sを51怖しく記憶し、値Sど等しい変換信
号が19られるまで電流のスーアップ増加を行う(第9
図には変換信号が実際の最大値Pに達した後のPどSの
1直が示されている。〉このようにしてレベルSに対応
りるレンズ電流L 2に達Jると、ステップ可変回路′
19tまレンズ電流1.、2 (又は−ぞれに対応Jる
信号)を記憶覆ると同時に、再びレンズ電流をl sに
戻してSの変換(i号が得られるまで微小スj−ツゾ幅
の電流増加を行ないレンズ電流(1(又はぞれにヌ・1
応する信号)の値を求める。次にスi゛ツゾiiJ変回
路1−1 +L乙 Ll−)L219は
一丁一の値を演算し、 2 の出力゛電流が得られ
るような制御信号を電流÷11J整回路18へ供給りる
1、従っ°η第8図の装置j’?に、13い−4は非点
収差が存白りる状態であってb最小錯乱円の状態に電f
−線を集束さUることがぐさるのC・、従来J、すb信
頼度の高い自動焦点合わUを行うことができる。
の低い値から大ぎな変化幅Δ■1で増加し、変(β信号
が予め定められたLレベルを越えるとルベルに電流値を
設定し、新たに小さな変化幅△I2で電流を増加さUつ
つ常に19られた変操信号の最大値を求めそれよりも2
0%減の値Sを51怖しく記憶し、値Sど等しい変換信
号が19られるまで電流のスーアップ増加を行う(第9
図には変換信号が実際の最大値Pに達した後のPどSの
1直が示されている。〉このようにしてレベルSに対応
りるレンズ電流L 2に達Jると、ステップ可変回路′
19tまレンズ電流1.、2 (又は−ぞれに対応Jる
信号)を記憶覆ると同時に、再びレンズ電流をl sに
戻してSの変換(i号が得られるまで微小スj−ツゾ幅
の電流増加を行ないレンズ電流(1(又はぞれにヌ・1
応する信号)の値を求める。次にスi゛ツゾiiJ変回
路1−1 +L乙 Ll−)L219は
一丁一の値を演算し、 2 の出力゛電流が得られ
るような制御信号を電流÷11J整回路18へ供給りる
1、従っ°η第8図の装置j’?に、13い−4は非点
収差が存白りる状態であってb最小錯乱円の状態に電f
−線を集束さUることがぐさるのC・、従来J、すb信
頼度の高い自動焦点合わUを行うことができる。
以にのように1ノで第ε3図の装置−にお()る一応の
焦点合わlが完了づると、中央制御回路21はスインS
3を1)側端子へ、又スイッチS1をAン状態どしU
/l極レンズ15xへの最適励磁電流強度を求める動作
を開始さ1!る。/I極レンズ15×又G;L 15
yへのIjlIIii&電流を連続的に可変させた場合
の変換伏目変化は第4図に類似の波形を承りので、ステ
ップiiJ変回路10は4極レンズ15×への励磁電流
をIF; ILL tl+’+ /J曹ら順次ス′jツ
ブ状に微小幅で増加さけ、8スフ−ツブにおいて検出さ
れる変換信号が最大(「1承り励磁用流値の値(又はこ
・れに対応する信号)を検出1ノ、この値を記憶1ノて
l〜1ノンズ15×への励磁電流をこの顧に固定りる1
1次に中火制御回路19からの制御信号がスイッチ$2
をAン状(71にし−U /l iijレンズ16yl
Nの励磁電流を4極レンズ15×の場合と同様にして順
次スアーツブ状に増加させて変換化fJが最大値を示J
励磁電流を検出して、その値を保持り−る。
焦点合わlが完了づると、中央制御回路21はスインS
3を1)側端子へ、又スイッチS1をAン状態どしU
/l極レンズ15xへの最適励磁電流強度を求める動作
を開始さ1!る。/I極レンズ15×又G;L 15
yへのIjlIIii&電流を連続的に可変させた場合
の変換伏目変化は第4図に類似の波形を承りので、ステ
ップiiJ変回路10は4極レンズ15×への励磁電流
をIF; ILL tl+’+ /J曹ら順次ス′jツ
ブ状に微小幅で増加さけ、8スフ−ツブにおいて検出さ
れる変換信号が最大(「1承り励磁用流値の値(又はこ
・れに対応する信号)を検出1ノ、この値を記憶1ノて
l〜1ノンズ15×への励磁電流をこの顧に固定りる1
1次に中火制御回路19からの制御信号がスイッチ$2
をAン状(71にし−U /l iijレンズ16yl
Nの励磁電流を4極レンズ15×の場合と同様にして順
次スアーツブ状に増加させて変換化fJが最大値を示J
励磁電流を検出して、その値を保持り−る。
このにうにして、電子線を最小錯乱円に保−)だ状態で
×y型型態点収差補正装置調整されるので、対物レンズ
その他の光学系に起因する非点収差の正確な補正が行わ
れる。又この状態′c4;L対物レンズ電流値と変換信
号どの関係が第5図のJ:うに二つのピーク値を右りる
波形から第4図のよう41甲−のピーク値を有する波形
に変化し−(いるので、中火制御回路21はスイッチS
3をFUび”a 111+1端了に接続して、ステップ
可変回路1つにJ、る2回目の焦点合わし調整を行う。
×y型型態点収差補正装置調整されるので、対物レンズ
その他の光学系に起因する非点収差の正確な補正が行わ
れる。又この状態′c4;L対物レンズ電流値と変換信
号どの関係が第5図のJ:うに二つのピーク値を右りる
波形から第4図のよう41甲−のピーク値を有する波形
に変化し−(いるので、中火制御回路21はスイッチS
3をFUび”a 111+1端了に接続して、ステップ
可変回路1つにJ、る2回目の焦点合わし調整を行う。
この2回ト1の焦点合わl調整は前述した1回目の方式
にJ、る焦点合わUであって−bよいが、従来の方式即
ら変換イバン)がJrA人値を示すときの3・1物レン
ズ電流tlご設定りる方式のものであっCも差し支えな
い。
にJ、る焦点合わUであって−bよいが、従来の方式即
ら変換イバン)がJrA人値を示すときの3・1物レン
ズ電流tlご設定りる方式のものであっCも差し支えな
い。
以十のようにしく第8図の実施例装置によれば非点収差
の補正をも含めたi’a%儒41が、味にお()る自動
焦点合わμが行われるので、走査電子粕微鏡を最適系1
′1で使用りるために必要’:i: ;IL!J整1@
flが従来に比較しC′著しく軒減される。
の補正をも含めたi’a%儒41が、味にお()る自動
焦点合わμが行われるので、走査電子粕微鏡を最適系1
′1で使用りるために必要’:i: ;IL!J整1@
flが従来に比較しC′著しく軒減される。
尚、本発明は第83図の実施例’A flJに限定され
るものr t、Lなく、例えば土)ホし/、−21i’
i+ 11の焦点合わけ調整が完了したtνに再度非点
収差補正の調整を打つ(もJ、く、逆に2回目の焦点合
わt!調整を省略したり、自動輝度コン1ヘラス]〜調
整回路20を設置ノずに省略したりりることも1り能で
ある。成るいは非J:a収差補jl−装買に夕・jする
調整I幾構を設【ノずλ・j物しンスに対する調整機構
のみを設けた装置であっても従来の焦点合わせ装動上す
し正確な焦点合わI!を行うく二とが′C′さる。又、
実メ廟例装詔の変換信号どして映15!信号に含Jjれ
るl:li周波成分の最大値又LL梢梓110を用いた
が、jl−シい焦点では映像信号のピーク圃が高くなる
ことに着目して、映像イn@の1極1ノ1又は負イセ性
への変化分を一定時間にねたっ゛(積算した1111を
用いることもできる。更にスアップ可変回V819は対
物レンズ又t;L 4極レンズへの励磁電流をステップ
状に増減させているが、連続的に増減さl!る方式のも
のを採用−りることも容易である。
るものr t、Lなく、例えば土)ホし/、−21i’
i+ 11の焦点合わけ調整が完了したtνに再度非点
収差補正の調整を打つ(もJ、く、逆に2回目の焦点合
わt!調整を省略したり、自動輝度コン1ヘラス]〜調
整回路20を設置ノずに省略したりりることも1り能で
ある。成るいは非J:a収差補jl−装買に夕・jする
調整I幾構を設【ノずλ・j物しンスに対する調整機構
のみを設けた装置であっても従来の焦点合わせ装動上す
し正確な焦点合わI!を行うく二とが′C′さる。又、
実メ廟例装詔の変換信号どして映15!信号に含Jjれ
るl:li周波成分の最大値又LL梢梓110を用いた
が、jl−シい焦点では映像信号のピーク圃が高くなる
ことに着目して、映像イn@の1極1ノ1又は負イセ性
への変化分を一定時間にねたっ゛(積算した1111を
用いることもできる。更にスアップ可変回V819は対
物レンズ又t;L 4極レンズへの励磁電流をステップ
状に増減させているが、連続的に増減さl!る方式のも
のを採用−りることも容易である。
以十のJ、うに、本発明にJ、れば、ル杏電子顕微鏡、
イAンマイクロアノーライ1アー、電子ビーム露光装置
装防のように荷電粒子線を細く集束さUだ状態で使用す
る荷電粒子線装置の焦点合わ(!操作を高い信頼度で自
動化することが可能と41す、荷電粒子線装置の操作上
の白土に大きな効果が151られる。
イAンマイクロアノーライ1アー、電子ビーム露光装置
装防のように荷電粒子線を細く集束さUだ状態で使用す
る荷電粒子線装置の焦点合わ(!操作を高い信頼度で自
動化することが可能と41す、荷電粒子線装置の操作上
の白土に大きな効果が151られる。
第1゛図は従来の自動焦点合わi!装置を1品えたン[
査電子顕微鏡を示す略図、第2図乃至第1図は自動焦点
合わUの原理を説明するだめの略図、第5図乃至第7図
は非点収差の影響とその補正方法を説明するだめの略図
、第8図は本発明の一実施例装動を示J略図、第9図及
び第10図は第8図の装置の動作を説明覆るIこめの略
図である。 1:電子銃、3,4:集束レンズ、8:検出j!:S、
11:走査電源、12:可変増幅器、13:励{公電源
、14:自動焦点合わけ回路、1!iX,’15y:l
141レンズ、16:非点補■回路、17.1E3=電
流1.■整回路、19:スデップ用変回路、20:自動
輝石−1ン1・ラス{・調整回路、21:中央制御回路
。 特γ1出願人 株式会着1二1電子デクニクス 代表者 太 [Tl 進 f)灸イ言号
査電子顕微鏡を示す略図、第2図乃至第1図は自動焦点
合わUの原理を説明するだめの略図、第5図乃至第7図
は非点収差の影響とその補正方法を説明するだめの略図
、第8図は本発明の一実施例装動を示J略図、第9図及
び第10図は第8図の装置の動作を説明覆るIこめの略
図である。 1:電子銃、3,4:集束レンズ、8:検出j!:S、
11:走査電源、12:可変増幅器、13:励{公電源
、14:自動焦点合わけ回路、1!iX,’15y:l
141レンズ、16:非点補■回路、17.1E3=電
流1.■整回路、19:スデップ用変回路、20:自動
輝石−1ン1・ラス{・調整回路、21:中央制御回路
。 特γ1出願人 株式会着1二1電子デクニクス 代表者 太 [Tl 進 f)灸イ言号
Claims (1)
- 1.4Xl電粒子線源から発生する粒子線を集束レンズ
により試Fi1面十で微小なビーム径が形成されるよう
に無口・1りると共に試料面」を走査し、該走査と同期
した像表示手段に試料か[)検出された映像信号を用い
た走査像を表示づる装置にd3いで、前記粒子線の試1
′+1面十におけるビーム径に対応する変換信号を前記
映像信号に基づいて1りる手段と、前記集束1ノンズの
レンズ強度を順次変化させたとさに1りlうれる前記変
換信号の最大伯、しりも所定帛低い変換信号が1qられ
る前記集束レンズのレンズ強11J−(+−1,12)
を求める手段と、前記集束レンズのレンズ強度を L’
l±L2 に設、ヒ゛リ−る手段を具備りる荷電粒子
線装置にお(プる自動焦点合わ、l装置。 2、前記粒子線の試料面一ににJ3tJるビーム径に対
応りる変換信号を前記映像信号に基づいて得る手段に、
前記映像信号のレベルとコントラスト定のqし回内に自
動設定りる回路を組み込Δ,だ’17+ a’1請求の
範囲第′1項記載の前電粒子線装巨にJ3 1Jる自動
焦点合わt!装置。 3、荷電粒子線源から発生する粒子線を集束レンズ及び
xy型非点補正装貿にj、り試料面.1で微小4「ビー
ム径が形成されるように照Q’l するど共に、該粒子
線ににって試料面上を走査し、該走査と同期した像表示
手段に試litから検出され・l、二映像悄′;5を供
給して走査像を表示Jる装置に(1′)いて、前記粒子
線の試料面上におりるビーム径にス・j応りる変換信号
を前記映像信号に基づい′C得る手段ど、前記集束レン
ズのレンス′強度を順次変化さLIIJときに得られる
前記変換信号の最大値より一t)所定G1少い変換信号
が得られる前記集束レンズのレンズ強度(L.1.12
)を求める手段と、前記集束レンズのレンズ強度を L
1+L2 に設定するJ一段ど、前乙 記×y型非点補正装勧にお(プる二つの補正信号弾11
を順次変化させて前記変換信号が最大どなるように設定
する非点補正制御手段を具備したことを9″1徴どする
侑7fi fl’l r−線負買にお【ノる自動焦点合
わせ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57157927A JPS5946745A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 荷電粒子線装置における自動焦点合わせ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57157927A JPS5946745A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 荷電粒子線装置における自動焦点合わせ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5946745A true JPS5946745A (ja) | 1984-03-16 |
JPH0255899B2 JPH0255899B2 (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=15660507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57157927A Granted JPS5946745A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 荷電粒子線装置における自動焦点合わせ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5946745A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61191866U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-29 | ||
JPH01220351A (ja) * | 1988-02-27 | 1989-09-04 | Jeol Ltd | 走査型電子顕微鏡等の自動焦点合わせ方法 |
JPH01231251A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-14 | Hitachi Ltd | 電子顕微鏡の焦点合わせ装置 |
JPH01239742A (ja) * | 1988-03-17 | 1989-09-25 | Nichidenshi Tekunikusu:Kk | 走査電子顕微鏡の自動焦点制御装置 |
WO2004030056A1 (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-08 | Nikon Corporation | 荷電粒子線露光装置における非点収差補正方法、非点感度の決定方法、及び露光方法 |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP57157927A patent/JPS5946745A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61191866U (ja) * | 1985-05-20 | 1986-11-29 | ||
JPH01220351A (ja) * | 1988-02-27 | 1989-09-04 | Jeol Ltd | 走査型電子顕微鏡等の自動焦点合わせ方法 |
JPH01231251A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-14 | Hitachi Ltd | 電子顕微鏡の焦点合わせ装置 |
JPH01239742A (ja) * | 1988-03-17 | 1989-09-25 | Nichidenshi Tekunikusu:Kk | 走査電子顕微鏡の自動焦点制御装置 |
WO2004030056A1 (ja) * | 2002-09-24 | 2004-04-08 | Nikon Corporation | 荷電粒子線露光装置における非点収差補正方法、非点感度の決定方法、及び露光方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0255899B2 (ja) | 1990-11-28 |
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