JPS5946550A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
- Publication number
- JPS5946550A JPS5946550A JP57157587A JP15758782A JPS5946550A JP S5946550 A JPS5946550 A JP S5946550A JP 57157587 A JP57157587 A JP 57157587A JP 15758782 A JP15758782 A JP 15758782A JP S5946550 A JPS5946550 A JP S5946550A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- ions
- analysis system
- magnetic field
- mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は質量分析装置に関し、特に二重収束質量分析系
の後段に第2の電場を付加した所謂MS/MS装置に関
する。
の後段に第2の電場を付加した所謂MS/MS装置に関
する。
近時、電場と磁場を組合わせた二重収束質量分析系の後
段に、更に質量分析系を配置した所謂MS/MS装置が
提案されている。このMS/MS装置では、第1の質量
分析系によって精度良く選別した特定の前駆イオンを2
つの分析系の間に配置した衝突室へ導入して、***解離
させ、生成した娘イオンを第2の分析系へ導入し、該分
析系の掃引により娘イオンの質量スペクトルを得るもの
であり、第1の分析系によって前駆イオンを高精度に選
別できるため、得られたスペクトルは前駆イオンに対す
る分解能が極めて高いという特徴を有している。特に第
2の分析系として電場を用いると、構成がそれ程複雑に
ならず価格的にも有利なことから、この電場を付加する
方式のMS/MS装置が着目されている。
段に、更に質量分析系を配置した所謂MS/MS装置が
提案されている。このMS/MS装置では、第1の質量
分析系によって精度良く選別した特定の前駆イオンを2
つの分析系の間に配置した衝突室へ導入して、***解離
させ、生成した娘イオンを第2の分析系へ導入し、該分
析系の掃引により娘イオンの質量スペクトルを得るもの
であり、第1の分析系によって前駆イオンを高精度に選
別できるため、得られたスペクトルは前駆イオンに対す
る分解能が極めて高いという特徴を有している。特に第
2の分析系として電場を用いると、構成がそれ程複雑に
ならず価格的にも有利なことから、この電場を付加する
方式のMS/MS装置が着目されている。
ところが、この方式のMS/MS装置では、上述の如く
得られるスペクトルは前駆イオンに対する分解能は高い
ものの娘イオンに対する分解能は高くなく、シャープな
スペクトルが得られないという欠点を有している。
得られるスペクトルは前駆イオンに対する分解能は高い
ものの娘イオンに対する分解能は高くなく、シャープな
スペクトルが得られないという欠点を有している。
本発明はこの点に鑑みてなされたものであり、第1の質
量分析系の電場及び磁場そして第2の電場を、夫々の強
度の比を一定に保った状態で掃引することにより、MS
/MS装置においてもシャープなスペク1〜ルを得るこ
とを可能としている。
量分析系の電場及び磁場そして第2の電場を、夫々の強
度の比を一定に保った状態で掃引することにより、MS
/MS装置においてもシャープなスペク1〜ルを得るこ
とを可能としている。
以下、図面を用いて本発明を詳説する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示し、図中1はイオ
ン化箱、スリン1−等より成るイオン源、2は主スリッ
ト、3はイオン源1と主スリット2との間に配置される
第1vfJ突室である。主スリット2から取出されたイ
オンは、同心円筒電極4゜4′間に形成される電場「1
及びIi磁極、5′(磁極5′は図示せず)間に形成さ
れる磁場Bから成る二重収束質量分析系6に入射した後
、中間スリット7の位置へ収束される。該中間スリンI
〜7の近傍には第2衝突室8が配置されており、該衝突
室8を通過したイオンは、その後方に配置された同心円
筒電極9,9′間に形成される電場[2を通過し、イオ
ン検出器10へ入射して検出される。該検出器10から
得られた検出信号は、増幅器11を介して記録計12へ
供給され、記録される。該記録削12には掃引信号発生
器13からの掃引信号が供給されており、該掃引信号は
前記円筒電極/l、 71’及び9,9′間に電圧を印
加するための電場電源14.15.及び磁極5,5′を
励磁するだめのコイルに電流を供給する磁場型′m16
にも送られる。17は該掃引信号を分圧して磁場電源1
6へ送るためのポテンショメータである。
ン化箱、スリン1−等より成るイオン源、2は主スリッ
ト、3はイオン源1と主スリット2との間に配置される
第1vfJ突室である。主スリット2から取出されたイ
オンは、同心円筒電極4゜4′間に形成される電場「1
及びIi磁極、5′(磁極5′は図示せず)間に形成さ
れる磁場Bから成る二重収束質量分析系6に入射した後
、中間スリット7の位置へ収束される。該中間スリンI
〜7の近傍には第2衝突室8が配置されており、該衝突
室8を通過したイオンは、その後方に配置された同心円
筒電極9,9′間に形成される電場[2を通過し、イオ
ン検出器10へ入射して検出される。該検出器10から
得られた検出信号は、増幅器11を介して記録計12へ
供給され、記録される。該記録削12には掃引信号発生
器13からの掃引信号が供給されており、該掃引信号は
前記円筒電極/l、 71’及び9,9′間に電圧を印
加するための電場電源14.15.及び磁極5,5′を
励磁するだめのコイルに電流を供給する磁場型′m16
にも送られる。17は該掃引信号を分圧して磁場電源1
6へ送るためのポテンショメータである。
斯かる構成において、第2衝突室8は本発明に直接必要
ではないので、イオン通路から外すか、又は衝突ガスを
充満させずイオンがそのまま通過できるようにしておか
れる。ここで、イオン源1で生成されたイオンをm(、
十とすれば、該イオンは衝突室3内に適宜な圧力で存在
するアルゴン等の衝突ガス分子と衝突し、次式に従って
解離して娘イオンm1+が生成される。
ではないので、イオン通路から外すか、又は衝突ガスを
充満させずイオンがそのまま通過できるようにしておか
れる。ここで、イオン源1で生成されたイオンをm(、
十とすれば、該イオンは衝突室3内に適宜な圧力で存在
するアルゴン等の衝突ガス分子と衝突し、次式に従って
解離して娘イオンm1+が生成される。
1+10 +−) m、 ++ (m(、−m+ )−
(1)この娘イオンm1+は前駆イオンmo+がVaな
るエネルギーを持っていたどすれば、VaX(m+ /
mQ )のエネルギーを有する。この様にmlなる質
量を持ち、VaX(lIl+/ mo )なる3− エネルギーを持つ娘イオンが電場E1を通過し得るEl
の強度E+dは次式で表わされる。
(1)この娘イオンm1+は前駆イオンmo+がVaな
るエネルギーを持っていたどすれば、VaX(m+ /
mQ )のエネルギーを有する。この様にmlなる質
量を持ち、VaX(lIl+/ mo )なる3− エネルギーを持つ娘イオンが電場E1を通過し得るEl
の強度E+dは次式で表わされる。
E+d=E+oX(m+/mo) −・・(2)ここ
でEgoは前駆イオン1Ilo+が電場E1を通過し得
る強度である。
でEgoは前駆イオン1Ilo+が電場E1を通過し得
る強度である。
次に、娘イオンが磁場Bを通過し得る磁場Bの強1ir
3dは次式で視わされる。
3dは次式で視わされる。
Bd2=Bo2X(IIl+/ mo)2−(3)ここ
でBoは前駆イオンmQ+が磁場Bを通過し得る強度で
ある。
でBoは前駆イオンmQ+が磁場Bを通過し得る強度で
ある。
更に、娘イオンが電場E2を通過し得るF2の強度E2
dはE+と同様に次式で表わされる。
dはE+と同様に次式で表わされる。
E2d−[2oX(m+/mo)・・(4)ここでF2
0は前駆イオンIIIQ+が電場E2を通過し得る強度
である。
0は前駆イオンIIIQ+が電場E2を通過し得る強度
である。
上記(2)、(3)、、(4)式より次式が得られる。
E+o2/Bo2=E+d2/Bd2=(5)E2o2
/Bo2=E2d2/Bd2=(6)(5)、(6)式
かられかる様に、前駆イオン4− m(、十を通過さゼるための2つの電場強度と磁場強度
の比の値と、娘イオンを通過させるための2つの電場強
度と磁場強度の比の値は等しい。逆に言えば、Fl
:B:F2の化を一定に保ってBを(従って[+ 、F
2も)掃引すれば、前駆イオンm、十から派生したすべ
ての娘イオンを取出して検出することができることにな
る。
/Bo2=E2d2/Bd2=(6)(5)、(6)式
かられかる様に、前駆イオン4− m(、十を通過さゼるための2つの電場強度と磁場強度
の比の値と、娘イオンを通過させるための2つの電場強
度と磁場強度の比の値は等しい。逆に言えば、Fl
:B:F2の化を一定に保ってBを(従って[+ 、F
2も)掃引すれば、前駆イオンm、十から派生したすべ
ての娘イオンを取出して検出することができることにな
る。
その測定手順は、先ず最初に衝突室3に衝突ガスを入れ
ない状態で前駆イオンll1o+を分析系へ導入し、該
イオンl1lo+が分析系を通過することができ検出器
10へ入射し得るようなE+ 、B。
ない状態で前駆イオンll1o+を分析系へ導入し、該
イオンl1lo+が分析系を通過することができ検出器
10へ入射し得るようなE+ 、B。
F2の強度EIO,BO,E20を、例えば手動にて電
源14.16.15及びポテンショメータ17を操作す
ることにより求め、E+ 、B、F2の初期値が夫々F
IO,BOIE20に設定されるように各電源14,1
6.15及びポテンショメータ17をセットしておく。
源14.16.15及びポテンショメータ17を操作す
ることにより求め、E+ 、B、F2の初期値が夫々F
IO,BOIE20に設定されるように各電源14,1
6.15及びポテンショメータ17をセットしておく。
次に掃引回路13を作動させると、該掃引回路は第2図
(a )に示される様な掃引信号を発生する。各電源1
4.,16.15は該掃引信号に基づぎE+ 、B、F
2を第2図(b )、 (c )、 (d )に示
す様に初期値Ego 、Be 、F20から零へ向1.
JてEl : B : [2の比を一定に保ち一斉に掃
引する。そのため、掃引開始時には衝突室3で解離しな
かった前駆イオンが分析系を通過して検出され、以後解
離により派生した娘イオンが質量数の大きい順に順次分
析系を通過して検出される。
(a )に示される様な掃引信号を発生する。各電源1
4.,16.15は該掃引信号に基づぎE+ 、B、F
2を第2図(b )、 (c )、 (d )に示
す様に初期値Ego 、Be 、F20から零へ向1.
JてEl : B : [2の比を一定に保ち一斉に掃
引する。そのため、掃引開始時には衝突室3で解離しな
かった前駆イオンが分析系を通過して検出され、以後解
離により派生した娘イオンが質量数の大きい順に順次分
析系を通過して検出される。
櫂、Lつて掃引信号に」:って掃引される記録計12へ
その検出信号を導入して記録すれば、前駆イオンに始ま
って順次娘イオンのピークが描かれた質量スペク1〜ル
が得られる。この質量スペクトルは、娘イオンが二重収
束条件の成り立つ電場E+、磁場Bにより分析されるた
め、該娘イオンの質量に対する分解能が高く、シャープ
なスペク1〜ルどなる。
その検出信号を導入して記録すれば、前駆イオンに始ま
って順次娘イオンのピークが描かれた質量スペク1〜ル
が得られる。この質量スペクトルは、娘イオンが二重収
束条件の成り立つ電場E+、磁場Bにより分析されるた
め、該娘イオンの質量に対する分解能が高く、シャープ
なスペク1〜ルどなる。
尚、上記例では衝突室3にて前駆イオンをガス分子に衝
突させて解離させたが、試わ1によっては前駆イオンの
寿命が短く、イオン源を出てから分析系までの自由空間
内で自然に解離するものもある。その場合には衝突室3
は不要であり、イオン通路から外すが又はガスを充満さ
せないでイオンをそのまま通過させるようにすれば良い
。
突させて解離させたが、試わ1によっては前駆イオンの
寿命が短く、イオン源を出てから分析系までの自由空間
内で自然に解離するものもある。その場合には衝突室3
は不要であり、イオン通路から外すが又はガスを充満さ
せないでイオンをそのまま通過させるようにすれば良い
。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す図、第2図はそ
の動作を説明するための図である。 1:イオン源、3:衝突室、 4.4’、9.9’:同心円筒電極、 5.5’ :lil極、1o:イオン検出器、12:
記録計、13:掃引回路、 14.15:電場is、16 :Fam’Rm、特許出
願人 日本電子株式合着 代表者 伊藤 −夫
の動作を説明するための図である。 1:イオン源、3:衝突室、 4.4’、9.9’:同心円筒電極、 5.5’ :lil極、1o:イオン検出器、12:
記録計、13:掃引回路、 14.15:電場is、16 :Fam’Rm、特許出
願人 日本電子株式合着 代表者 伊藤 −夫
Claims (1)
- イオン源と、該イオン源で生成されたイオンが導入され
る電場と磁場を有する二重収束質量分析系と、該二重収
束質量分析系を通過したイオンを検出するためのイオン
検出器と、該イオン検出器と前記二重収束質量分析系と
の間に配置される第2の電場とを備え、前記二重収束質
量分析系を構成する電場と磁場及び前記第2の電場の夫
々の強度の比を一定に保って該電場及び磁場の強度を掃
引する手段を設けたことを特徴とする質量分析装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57157587A JPS5946550A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57157587A JPS5946550A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5946550A true JPS5946550A (ja) | 1984-03-15 |
JPH0317093B2 JPH0317093B2 (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=15652959
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57157587A Granted JPS5946550A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5946550A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62274544A (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-28 | フィソンス・ピーエルシー | 二重集中質量分析計 |
JPH0227650A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Jeol Ltd | Ms/ms装置 |
JP4750782B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2011-08-17 | フェマシス インコーポレイテッド | 導管を閉塞させるための方法及び装置 |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP57157587A patent/JPS5946550A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62274544A (ja) * | 1986-05-15 | 1987-11-28 | フィソンス・ピーエルシー | 二重集中質量分析計 |
JPH0227650A (ja) * | 1988-07-15 | 1990-01-30 | Jeol Ltd | Ms/ms装置 |
JP4750782B2 (ja) * | 2004-02-25 | 2011-08-17 | フェマシス インコーポレイテッド | 導管を閉塞させるための方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0317093B2 (ja) | 1991-03-07 |
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