JPS5946540A - 濁度計 - Google Patents
濁度計Info
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- JPS5946540A JPS5946540A JP15593082A JP15593082A JPS5946540A JP S5946540 A JPS5946540 A JP S5946540A JP 15593082 A JP15593082 A JP 15593082A JP 15593082 A JP15593082 A JP 15593082A JP S5946540 A JPS5946540 A JP S5946540A
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- light
- turbidity
- amount
- light source
- divider
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、光学的に濁度を測定する濁度針に関し、特に
透過光−散乱光比較方式の濁度計に関するものである。
透過光−散乱光比較方式の濁度計に関するものである。
光学的な濁度測定は、一般的には透明な測定セルに採取
した被測定水、すなわち試料水に一定の光源から光を当
て、透過光か、懸濁粒子による散乱光のいずれか、まだ
は両方を検出して測・定を行う。
した被測定水、すなわち試料水に一定の光源から光を当
て、透過光か、懸濁粒子による散乱光のいずれか、まだ
は両方を検出して測・定を行う。
このような光学式濁度計の原理構成図を示す第１図にお
いて、ガラス等透明な材料で形成した円筒状の測定セル
６の一側部側の光源１から受光するか、または懸濁粒子
２ａで散乱する散拓 乱充３ｂを受光器５で受光するかの何れか一方または双
方を行い、その受光量から被測定水中の懸濁粒子の濃度
、すなわち濁度を測定して、いる。
いて、ガラス等透明な材料で形成した円筒状の測定セル
６の一側部側の光源１から受光するか、または懸濁粒子
２ａで散乱する散拓 乱充３ｂを受光器５で受光するかの何れか一方または双
方を行い、その受光量から被測定水中の懸濁粒子の濃度
、すなわち濁度を測定して、いる。
このような光学式の濁度ｆｆｔにおいては、光源の光量
変動や被測定水の色の影響が測定誤差となってあられれ
る。したがって、これらの影響をなくシ、高精度な測定
を行うためには透過光と散乱光の両方を検出し、（散乱
光量）／（透過光量）を演算して濁度に対応させる透過
光−散乱光比較方式が用いられている。
変動や被測定水の色の影響が測定誤差となってあられれ
る。したがって、これらの影響をなくシ、高精度な測定
を行うためには透過光と散乱光の両方を検出し、（散乱
光量）／（透過光量）を演算して濁度に対応させる透過
光−散乱光比較方式が用いられている。
第２図（ａ）に濁度対透過光量および散乱光量の関係を
示す。透過光量は濁度の増大とともに減少して行き、散
乱光量はある濁度（数千ｐ陣程度）！では濁度の増大と
ともに増大して行くが、それ以上の濁度になると逆に減
少して行く。
示す。透過光量は濁度の増大とともに減少して行き、散
乱光量はある濁度（数千ｐ陣程度）！では濁度の増大と
ともに増大して行くが、それ以上の濁度になると逆に減
少して行く。
一般的には透過光−散乱光比較方式の濁度計は散乱光量
が濁度の増大とともに増大して行く範囲（数千ｐｐｍ以
下）において用いられる。第２図（１））に前記範囲に
おける濁度対（散乱光量）／（透過光量）の関係を示す
。
が濁度の増大とともに増大して行く範囲（数千ｐｐｍ以
下）において用いられる。第２図（１））に前記範囲に
おける濁度対（散乱光量）／（透過光量）の関係を示す
。
以上光学式濁度計の測定原理について説明してきたが、
実用上は濁度計の正常な稼動を維持して行く上でメイン
テナンスが必要である。メインテナンスとしては、α〕
消耗部品（光源用ランプなど）の交換、［２，ｌ測定セ
ルの洗浄、［３〕ゼロ点やスパンの校正まだは感度チェ
ックなどがある。１〕については信頼性もあがり１年間
程度は交換不要となってきている。（２）については自
動洗浄機構などが具えられ改善が進んでいる。ところが
２口〕については、定期的あるいは測定値に異常が発見
されたとき計器の運転を止め、清水（水道水または純水
）でゼロ点を、濁度標準液でスパンの校正を行わなけれ
ばならない。
実用上は濁度計の正常な稼動を維持して行く上でメイン
テナンスが必要である。メインテナンスとしては、α〕
消耗部品（光源用ランプなど）の交換、［２，ｌ測定セ
ルの洗浄、［３〕ゼロ点やスパンの校正まだは感度チェ
ックなどがある。１〕については信頼性もあがり１年間
程度は交換不要となってきている。（２）については自
動洗浄機構などが具えられ改善が進んでいる。ところが
２口〕については、定期的あるいは測定値に異常が発見
されたとき計器の運転を止め、清水（水道水または純水
）でゼロ点を、濁度標準液でスパンの校正を行わなけれ
ばならない。
特に、下水処理場などの汚水流路や処理槽に比
設置して濁度の連続監視に用いる浸漬形濁度計にあって
は、使用環境上汚物付着等に上る測定誤差が発生し、や
すいため、測定精度を維持するためには校正作業を欠か
すことができない。従来の計器では校正作業にあたって
、 ｉｔ器をその都度設置場所から取りはずして地上引
揚げ、別に用意した清水（ゼロ点校正用）および濁度偉
準液（スパン校正用）に浸漬する必要があった。
は、使用環境上汚物付着等に上る測定誤差が発生し、や
すいため、測定精度を維持するためには校正作業を欠か
すことができない。従来の計器では校正作業にあたって
、 ｉｔ器をその都度設置場所から取りはずして地上引
揚げ、別に用意した清水（ゼロ点校正用）および濁度偉
準液（スパン校正用）に浸漬する必要があった。
この作業自体煩わしいものである上、この間゛本来の測
定が長時間中断されてしまべ□という問題があった。ま
た、濁度標準液は試薬（ホルマジン。
定が長時間中断されてしまべ□という問題があった。ま
た、濁度標準液は試薬（ホルマジン。
ン、カオリンなど）を調合して作るので、これも非常に
煩しい作業であった。
煩しい作業であった。
したがって、計器を設置状態のま＼で、しかも濁度標準
液を用いずに簡便にスパン校正または感度チェックがで
きる方法が望まれるところである。
液を用いずに簡便にスパン校正または感度チェックがで
きる方法が望まれるところである。
従って２本発明の目的は、透過光−散乱光比較方式の濁
度計において、濁度標準液を用いずに簡便にスパン校正
（相当のチェック）を行えるようにした濁度計を提供す
ることにある。
度計において、濁度標準液を用いずに簡便にスパン校正
（相当のチェック）を行えるようにした濁度計を提供す
ることにある。
甲
〔発明の概春〕
本発明は、光源により測定セル内の被測定液を照射し、
その透過光量および散乱光量を検出し、除算器により（
散乱光量）／（透過光量）を演算して濁度を求める濁度
計において、散乱光出力が所定の濁度相当値になるよう
に光源光量を増大させる光源光量切換器、および、除算
器への透過光量信号を所定の濁度相当値になるように調
整するスパンチェック回路を設けるか。
その透過光量および散乱光量を検出し、除算器により（
散乱光量）／（透過光量）を演算して濁度を求める濁度
計において、散乱光出力が所定の濁度相当値になるよう
に光源光量を増大させる光源光量切換器、および、除算
器への透過光量信号を所定の濁度相当値になるように調
整するスパンチェック回路を設けるか。
または、透過光出力が所定の濁度相当値になるように光
源光量を減少させる光源光量切換器。
源光量を減少させる光源光量切換器。
および、除算器への散乱光量信号を所定濁度相当値にな
るように調整するスパンチェック回路を設けた濁度計に
ある。
るように調整するスパンチェック回路を設けた濁度計に
ある。
第３図に示す本発明の一実施例において、１は光源ラン
プ、６は透明ガラス等でできた筒状の測定セル、２は測
定セル６内に採取された被測定水、４は透過光を電気信
号に変換する受光器、５は、散乱光を電気信号に変換す
る受光器である。７は受光器４からの信号を増幅する透
過光ヘッドアンプ、８は受光器５からの信号を増幅す散
乱光ヘッドアンプである。９は、スパン校正相当のチェ
ック時に使用するスパンチェック回路で、ヘッドアンプ
７からの信号を受けてその出力レベルをスパン校正相当
のチェックに合うレベルに調整する増幅回路を有してい
る。
プ、６は透明ガラス等でできた筒状の測定セル、２は測
定セル６内に採取された被測定水、４は透過光を電気信
号に変換する受光器、５は、散乱光を電気信号に変換す
る受光器である。７は受光器４からの信号を増幅する透
過光ヘッドアンプ、８は受光器５からの信号を増幅す散
乱光ヘッドアンプである。９は、スパン校正相当のチェ
ック時に使用するスパンチェック回路で、ヘッドアンプ
７からの信号を受けてその出力レベルをスパン校正相当
のチェックに合うレベルに調整する増幅回路を有してい
る。
１０は（散乱光量）／（透過光りの演算を行う除算器で
ある。１１は除算器１ｏからの信号を受けて、濁度に、
対応した出力に変換するための変換器で、信号ホールド
回路、リニアライズ回路、レンジ設定回路、Ｖ／Ｉ変換
回路、零点およびスパン調整回路などが含まれている。
ある。１１は除算器１ｏからの信号を受けて、濁度に、
対応した出力に変換するための変換器で、信号ホールド
回路、リニアライズ回路、レンジ設定回路、Ｖ／Ｉ変換
回路、零点およびスパン調整回路などが含まれている。
零点およびスパン調整回路は１例えば、アンプ２］。
このアンプの入力信号にバイアスを与えるバイアス回路
２２．および、このアンプのゲインを調節するゲイン調
節回路を含む。１２ａ、ｂは連動して動作する切換スイ
ッチで９Ｍ側は通常測定２よびゼロ点校正時に、Ｃ側は
スパン校正相当のチェック時に使用するものである。１
３は光源ランプ用の電源で１Ｍ側には通常測定およびゼ
ロ点校正時に使用する光源の明るさを設定する電圧ＶＭ
が、Ｃ側にはスパン校正相当のチェック時に使用する光
源の明るさを設定する電圧Ｖｃが出力されるようになっ
ている。
２２．および、このアンプのゲインを調節するゲイン調
節回路を含む。１２ａ、ｂは連動して動作する切換スイ
ッチで９Ｍ側は通常測定２よびゼロ点校正時に、Ｃ側は
スパン校正相当のチェック時に使用するものである。１
３は光源ランプ用の電源で１Ｍ側には通常測定およびゼ
ロ点校正時に使用する光源の明るさを設定する電圧ＶＭ
が、Ｃ側にはスパン校正相当のチェック時に使用する光
源の明るさを設定する電圧Ｖｃが出力されるようになっ
ている。
次に第４図に浸漬形濁度計の検出器機構の一例を示す。
１７は検出器外筒で、被測定液２の中に浸漬されている
。また、外筒１７の内部には、光源ランプ１． 透過光
受光器４．散乱光受光器５．測定セル６、上下駆動され
るピストン１５の先端に取り付けられたワイパー１４が
設けられる。ワイパー１４は、測定セル６内への試料水
の吸入および測定後の試料水の排出、測定セル６の内壁
の汚れを洗浄するだめのものである。」６は校正時に測
定セル６内へ清水を導入するだめの清水導入管である。
。また、外筒１７の内部には、光源ランプ１． 透過光
受光器４．散乱光受光器５．測定セル６、上下駆動され
るピストン１５の先端に取り付けられたワイパー１４が
設けられる。ワイパー１４は、測定セル６内への試料水
の吸入および測定後の試料水の排出、測定セル６の内壁
の汚れを洗浄するだめのものである。」６は校正時に測
定セル６内へ清水を導入するだめの清水導入管である。
以下、この実施例の動作を説明するに、測定を開始する
前に、清水および濁度標準液を用いた校正、ならびに１
本発明によるチェックを行うだめの調整を行う。校正は
零点とスパンとの双方について行う。すなわち、先ず、
測定セル６内を清水で満たし、測定指針が零を示すよう
に変換器１１のバイアス回路２２を調整する。
前に、清水および濁度標準液を用いた校正、ならびに１
本発明によるチェックを行うだめの調整を行う。校正は
零点とスパンとの双方について行う。すなわち、先ず、
測定セル６内を清水で満たし、測定指針が零を示すよう
に変換器１１のバイアス回路２２を調整する。
これが零点の校正である。次に、測定セル６内を濁度標
準液で満たし、指針がフルスケールを示すように変換器
１１のゲイン調節回路を調整する。これがスパン校正で
ある。
準液で満たし、指針がフルスケールを示すように変換器
１１のゲイン調節回路を調整する。これがスパン校正で
ある。
その後１本発明によるスパン校正相当（Ｄｆニックを行
うだめの調整を行う。先ず、切換スイッチ１２ａ、１２
ｂがＭ側（ランプ電圧ＶＭ側）であることを確認する。
うだめの調整を行う。先ず、切換スイッチ１２ａ、１２
ｂがＭ側（ランプ電圧ＶＭ側）であることを確認する。
次に、濁度標準液を用いて、その濁度計の測定範囲フル
スケールにおける透過光ヘッドアンプ７の出力電圧ＶＴ
および散乱光ヘッドアンプ８の出力電圧ＶＳを測定する
。すなわちＶＴ。
スケールにおける透過光ヘッドアンプ７の出力電圧ＶＴ
および散乱光ヘッドアンプ８の出力電圧ＶＳを測定する
。すなわちＶＴ。
Ｖｓはスパン校正時の除算器１０の入力信号である。
更に、切換スイッチ１２ａ、１２ｂをＣ側に切換えて、
測定セル６内を清水で満たし、散乱光ヘッドアンプ８の
出力電圧が先はど測定したフルスケール相当値Ｖｓにな
るよう光源ランプ電源１３の光量を増してＣ側の電圧Ｖ
ｃを設定する。
測定セル６内を清水で満たし、散乱光ヘッドアンプ８の
出力電圧が先はど測定したフルスケール相当値Ｖｓにな
るよう光源ランプ電源１３の光量を増してＣ側の電圧Ｖ
ｃを設定する。
ＶＣ〉７Ｍである。測定セル６内を清水に置換したから
、光源光量が同一であれば散乱光量は減少するが、光源
光量を増大させ散乱光量を清水に置換する以前・と同等
になるようにしたのである。
、光源光量が同一であれば散乱光量は減少するが、光源
光量を増大させ散乱光量を清水に置換する以前・と同等
になるようにしたのである。
ソノ後、スハンチェック回路９の出力電圧がフルスケー
ル相当値ＶＴと在るように９内部の増幅器のゲインを設
定する。このゲインは１以下である。これは、清水状態
において散乱光出力がフルスクール相当値になるよう光
源ランプを明るくしたのであるから、そのま＼では透過
光出力は大きくなってし１うので、除算器１０に入力さ
れる透過光出力もフルスケール相当値になるようレベル
を下げるためである。
ル相当値ＶＴと在るように９内部の増幅器のゲインを設
定する。このゲインは１以下である。これは、清水状態
において散乱光出力がフルスクール相当値になるよう光
源ランプを明るくしたのであるから、そのま＼では透過
光出力は大きくなってし１うので、除算器１０に入力さ
れる透過光出力もフルスケール相当値になるようレベル
を下げるためである。
このようにして、切換スイッチ１２ａ、１２ｂをＣ側に
切り換え、かつ、測定セル６内の濁度標準板を清水に置
換した状態で、除算器の入力信号はスノ５ン校正時の除
算器（１０）の入力信号と同一となり、湯度指示値はフ
ルスケ−・・ルとなる。
切り換え、かつ、測定セル６内の濁度標準板を清水に置
換した状態で、除算器の入力信号はスノ５ン校正時の除
算器（１０）の入力信号と同一となり、湯度指示値はフ
ルスケ−・・ルとなる。
以上で測定を開始する前の調整は終りである。
以後は切換スイッチ１２ａ、ｂをＩν１側にしておき、
測定セル６内に被測定水を採取してその濁度を測定する
。定期的めるいは測定異常時の計器校正に際しては、先
ず測定セル６内を清水で満たしてゼロ点校正を行い、さ
らに切換スイッチ１２ａ、ｂをＣ側にして濁度指示値を
チェックし１．フルスケールからずれている場合には変
換器］１内のスパン調整器によりフルスケールに合せれ
ばよい。
測定セル６内に被測定水を採取してその濁度を測定する
。定期的めるいは測定異常時の計器校正に際しては、先
ず測定セル６内を清水で満たしてゼロ点校正を行い、さ
らに切換スイッチ１２ａ、ｂをＣ側にして濁度指示値を
チェックし１．フルスケールからずれている場合には変
換器］１内のスパン調整器によりフルスケールに合せれ
ばよい。
上記の例では、Ｃ側の光源の明るさおよびスパンチェッ
ク回路のゲインをそれぞれ散乱光および透過光の１フル
スケール」相当値になるよう設定したが、これに限らず
測定レンジ内の「一定の濁度」に対応させるように設定
してもよい。たソ校正の精度を上げるためにはできるだ
けフルスケールに近い値の方がよい。
ク回路のゲインをそれぞれ散乱光および透過光の１フル
スケール」相当値になるよう設定したが、これに限らず
測定レンジ内の「一定の濁度」に対応させるように設定
してもよい。たソ校正の精度を上げるためにはできるだ
けフルスケールに近い値の方がよい。
次に本考案を第４図に示すような浸漬形濁度計に適用し
た場合の動作について説明する。通常の濁度測定時にお
いてはピストン１５の先端に取り付けられたワイパー１
４は測定セル６の先端近くと清水導入管１６より下側の
位置の間を往復運動して試料水の吸入、測定、排出およ
び測定セル６の内壁の洗浄を゛行って被測定水２の濁度
を連続的に測定している。
た場合の動作について説明する。通常の濁度測定時にお
いてはピストン１５の先端に取り付けられたワイパー１
４は測定セル６の先端近くと清水導入管１６より下側の
位置の間を往復運動して試料水の吸入、測定、排出およ
び測定セル６の内壁の洗浄を゛行って被測定水２の濁度
を連続的に測定している。
校正に際しては、ワイパー１４が清水導入管１６よシも
上側の位ｉまで上げて停止しておき。
上側の位ｉまで上げて停止しておき。
清水導入管を通して地上のポンプ（図示してない）等に
より清水を送り込み測定セル６内を清水で満たしてゼロ
点校正および前記簡便な方法によるスパン校正を行うこ
とができる。
より清水を送り込み測定セル６内を清水で満たしてゼロ
点校正および前記簡便な方法によるスパン校正を行うこ
とができる。
次に、他の実施例について第５図を参照して説明する。
第３図に示す実施例においては、スパンチェック回路９
を透過光側に設けたが、スパンチェック回路９′を散乱
元側に設けるものでおる。
を透過光側に設けたが、スパンチェック回路９′を散乱
元側に設けるものでおる。
この場合には、測定セル６内を清水で満たしたとき、透
過光ヘッドアンプ出力がフルスクール相当値ＶＴとなる
よう光源ランプ電源１３のＣ側の′ｔ（ｆＶＣを設定し
ておく。ＶＣ＜ＶＭである。さらにスパンチェック回路
９Ｉの出力電田がフルスケール相当値Ｖｓとなるように
９１内部の増幅器のゲインを設定しておく。このゲイン
は１以上である。これは、清水状態において透過光出力
がフルスケール相当値になるよう光源ランプを暗くした
のであるから、そのま＼では散乱光出力は小さくなって
しまうので、除算器１０に入力される散乱光出力もフル
スケール相当値になるよう１７ベルを上げるためである
。
過光ヘッドアンプ出力がフルスクール相当値ＶＴとなる
よう光源ランプ電源１３のＣ側の′ｔ（ｆＶＣを設定し
ておく。ＶＣ＜ＶＭである。さらにスパンチェック回路
９Ｉの出力電田がフルスケール相当値Ｖｓとなるように
９１内部の増幅器のゲインを設定しておく。このゲイン
は１以上である。これは、清水状態において透過光出力
がフルスケール相当値になるよう光源ランプを暗くした
のであるから、そのま＼では散乱光出力は小さくなって
しまうので、除算器１０に入力される散乱光出力もフル
スケール相当値になるよう１７ベルを上げるためである
。
また、前記実施例においてはいずれもスパン校正相当の
チェック時に測定セル内を清水で満たすことにしたが、
もちろん濁度一定の水得られるならばそれを用いてもよ
い。
チェック時に測定セル内を清水で満たすことにしたが、
もちろん濁度一定の水得られるならばそれを用いてもよ
い。
本発明によれば、透過光−散乱光比較方式の濁度計にお
いて、測度標準液を用いるスパン校正時の濁度標準液を
清水に置換しても、除算器の入力信号として、スパン校
正の基準濁底相尚の信号が得られるようにすることによ
り、簡易的スパン校正を濁度標準液を用いることなく簡
便に行うことができ、メインテナンス作業が容易になる
。例えば、ワイパー１４の部分的摩耗などによシ、受光
器４および５の片方に面する測定セルの部分のみがよご
れるなどしたために一方の受光量が減少したような場合
２作業容易な簡易的スパン校正によシ正しい測定が出来
るようになる。
いて、測度標準液を用いるスパン校正時の濁度標準液を
清水に置換しても、除算器の入力信号として、スパン校
正の基準濁底相尚の信号が得られるようにすることによ
り、簡易的スパン校正を濁度標準液を用いることなく簡
便に行うことができ、メインテナンス作業が容易になる
。例えば、ワイパー１４の部分的摩耗などによシ、受光
器４および５の片方に面する測定セルの部分のみがよご
れるなどしたために一方の受光量が減少したような場合
２作業容易な簡易的スパン校正によシ正しい測定が出来
るようになる。
さらに２本考案を第４図に示すような浸漬形濁度側に適
用すれば、検出器を設置場所から取シはすし引き揚げる
ことなしに校正作業ができるのでメインテナンス作業が
非常に容易になる。
用すれば、検出器を設置場所から取シはすし引き揚げる
ことなしに校正作業ができるのでメインテナンス作業が
非常に容易になる。
第１図は光学式濁度計の測定原理を説明する図、第２図
（ａｌ（１）ｌは濁度対透過光量・散乱光量ならびに濁
度対（（散乱光り／（透過光量））の関係を示す図、第
３図は本発明の一実施例を示す図、第４図は同実施例を
適用するに好適な浸漬形濁贋計の一例を示す図、第５図
は他の実施例を示す図である。 １・・・・・・・・・ 光源 ２・・・・・・・・・ 被測定水 ４・・・・・・・・・ 透過光受光器 ５・・・・・・・・・ 散乱光受光器 ６・・・・・・・・・ 測定セル ７・・・・・・・・透過光信号ヘッドアンプ８・・・・
・・・・・散乱光信号ヘッドアンプ９．９／ ・・・
・・・・・ スパンチェック回路１０・・・・・・・・
・除勢器 １１・・・・・・・・・変換器 １２ａ、 １２ｂ・・・・・・・・・・ 切換スイッチ
１３・・・・・・・・・電源 代理人 弁理士 則近憲佑（ほか１名）（ｌぷ） 第１図 第２図 濁度 濁度
（ａｌ（１）ｌは濁度対透過光量・散乱光量ならびに濁
度対（（散乱光り／（透過光量））の関係を示す図、第
３図は本発明の一実施例を示す図、第４図は同実施例を
適用するに好適な浸漬形濁贋計の一例を示す図、第５図
は他の実施例を示す図である。 １・・・・・・・・・ 光源 ２・・・・・・・・・ 被測定水 ４・・・・・・・・・ 透過光受光器 ５・・・・・・・・・ 散乱光受光器 ６・・・・・・・・・ 測定セル ７・・・・・・・・透過光信号ヘッドアンプ８・・・・
・・・・・散乱光信号ヘッドアンプ９．９／ ・・・
・・・・・ スパンチェック回路１０・・・・・・・・
・除勢器 １１・・・・・・・・・変換器 １２ａ、 １２ｂ・・・・・・・・・・ 切換スイッチ
１３・・・・・・・・・電源 代理人 弁理士 則近憲佑（ほか１名）（ｌぷ） 第１図 第２図 濁度 濁度
Claims (2)
- （１） 光源により測定セル内の被測定液を照射し。 憧 その透過光量および散乱光量を検出し、除算器によシ（
散乱光量）／（透過光１−）を演算して濁度を求めるも
のにおいて、散乱光出力が所定の濁度相当値になるよう
に光源光景を増大させるかまたは透過光出力が所定の濁
度相当値になるように光源光量を減少させる光源光量切
換器を設け、光源光量を増大させるときは繭記除算器へ
の透過光量信号を所定の濁度相当値になるように調整す
るスパンチェック回路を設け、光源、光量を減少させる
ときは前記除算器への散乱光出力信号を所定の濁度相当
値になるように調整するスパンチェック回路を設けた濁
度計。 - （２）測定セルに清水導入管が設けられている特許請求
の範囲第１項記載の濁度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15593082A JPS5946540A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 濁度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15593082A JPS5946540A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 濁度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5946540A true JPS5946540A (ja) | 1984-03-15 |
| JPS646407B2 JPS646407B2 (ja) | 1989-02-03 |
Family
ID=15616615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15593082A Granted JPS5946540A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 濁度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5946540A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6719933B2 (en) | 1999-12-20 | 2004-04-13 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing seamless capsule |
| US7112292B2 (en) | 2000-08-17 | 2006-09-26 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing seamless capsule |
| JP2008286659A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Yokogawa Electric Corp | 濁色度計 |
| JP2009531659A (ja) * | 2006-03-23 | 2009-09-03 | ハック・カンパニー | ２重機能の測定システム |
| US10874135B2 (en) | 2015-08-06 | 2020-12-29 | Kt & G Corporation | Method and apparatus for manufacturing flavor capsule of tobacco |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53162786U (ja) * | 1977-05-26 | 1978-12-20 | ||
| JPS54106281A (en) * | 1978-02-08 | 1979-08-21 | Horiba Ltd | Simple corrector for analyzer |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP15593082A patent/JPS5946540A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53162786U (ja) * | 1977-05-26 | 1978-12-20 | ||
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| JP2009531659A (ja) * | 2006-03-23 | 2009-09-03 | ハック・カンパニー | ２重機能の測定システム |
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| US10874135B2 (en) | 2015-08-06 | 2020-12-29 | Kt & G Corporation | Method and apparatus for manufacturing flavor capsule of tobacco |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS646407B2 (ja) | 1989-02-03 |
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