JPS5946079A - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents
磁気抵抗効果素子Info
- Publication number
- JPS5946079A JPS5946079A JP57156975A JP15697582A JPS5946079A JP S5946079 A JPS5946079 A JP S5946079A JP 57156975 A JP57156975 A JP 57156975A JP 15697582 A JP15697582 A JP 15697582A JP S5946079 A JPS5946079 A JP S5946079A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- circuit
- patterns
- turn
- film circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発+++lII、イ)1(気IJt;抗特性がより
安定して設定ネれる。Lつ改良しまた磁気抵抗う;内果
素子に関する7、 磁電変1(ハ素−rの中で、磁気抵抗効果を利用した磁
気抵抗効果素子は、比較的安定した磁気−電気変換する
ことで知られている。この磁気抵抗効果素子は、磁界を
印加することで電気抵抗が変化する固体素子で構成する
ものであり、その材料とし又はN1−Co系あるいはN
1−Fe糸の強磁性材料が用いられる。
安定して設定ネれる。Lつ改良しまた磁気抵抗う;内果
素子に関する7、 磁電変1(ハ素−rの中で、磁気抵抗効果を利用した磁
気抵抗効果素子は、比較的安定した磁気−電気変換する
ことで知られている。この磁気抵抗効果素子は、磁界を
印加することで電気抵抗が変化する固体素子で構成する
ものであり、その材料とし又はN1−Co系あるいはN
1−Fe糸の強磁性材料が用いられる。
すなわち、絶縁性基板の主面に対して、」二記強磁性材
料でなる薄膜を蒸着等により形成し、この蒸着薄膜をホ
トレゾストとエツチング技法を利用して、llr定の磁
界に交差する直線部を有する回路・やターンを形成する
ことに7しって構成される。この回路i9ターンd1、
印加された磁界の強さに対応して抵抗値の変化する磁気
抵抗効果を有するものであり、その抵抗回路の両端に対
応して形成される電流取り出し用電極を介して、磁界方
向に感知した電気的用カイi<号を++Vり出すように
なるものである。
料でなる薄膜を蒸着等により形成し、この蒸着薄膜をホ
トレゾストとエツチング技法を利用して、llr定の磁
界に交差する直線部を有する回路・やターンを形成する
ことに7しって構成される。この回路i9ターンd1、
印加された磁界の強さに対応して抵抗値の変化する磁気
抵抗効果を有するものであり、その抵抗回路の両端に対
応して形成される電流取り出し用電極を介して、磁界方
向に感知した電気的用カイi<号を++Vり出すように
なるものである。
この場合、」二記電流取り出し用の電極は、磁気抵抗体
となる強磁性材料でなる薄膜回路・Pターンと同様に、
絶縁性基板の主面上に蒸着によシ形成されるものであり
、電(版と回路パターンとの接続部は、薄膜回路・やタ
ーン蒸着層と、電極蒸着層とが積層形成される状態とな
る。ここで、電極材料としては、例えにじアルミニウム
が使用されるものであり、したがってオーミック性改善
の7に−めに回路・やターンと電本恢との積層部が熱処
理づれた場合、その積層部においてN1−A/= 系金
属間化合物が生成される。このため、磁気抵抗3回路・
ぞターンとツバ。出f+3.4仮との接続部分は脆くな
るものであp1凍だこの部分の抵抗値が増大して磁気抵
抗効果特性の低下現象を起すようになる1、 この発明tよ上記のような点に鑑みなされたもので、オ
ーミック性改善等のだめに熱処理を施した場合でも、猶
に磁気抵抗回路/’Pクーンと電イ報材料との間に不要
な合金あるいは金属間化合物が生ずることなく、磁気]
1(抗効里上CJ:もとより機械的強匣においても不帰
な間h′■が発生しないようにする、安定した磁気[1
(抗!1’!J’性の設定し得る磁気抵抗効果素子を提
供しようとするものである。
となる強磁性材料でなる薄膜回路・Pターンと同様に、
絶縁性基板の主面上に蒸着によシ形成されるものであり
、電(版と回路パターンとの接続部は、薄膜回路・やタ
ーン蒸着層と、電極蒸着層とが積層形成される状態とな
る。ここで、電極材料としては、例えにじアルミニウム
が使用されるものであり、したがってオーミック性改善
の7に−めに回路・やターンと電本恢との積層部が熱処
理づれた場合、その積層部においてN1−A/= 系金
属間化合物が生成される。このため、磁気抵抗3回路・
ぞターンとツバ。出f+3.4仮との接続部分は脆くな
るものであp1凍だこの部分の抵抗値が増大して磁気抵
抗効果特性の低下現象を起すようになる1、 この発明tよ上記のような点に鑑みなされたもので、オ
ーミック性改善等のだめに熱処理を施した場合でも、猶
に磁気抵抗回路/’Pクーンと電イ報材料との間に不要
な合金あるいは金属間化合物が生ずることなく、磁気]
1(抗効里上CJ:もとより機械的強匣においても不帰
な間h′■が発生しないようにする、安定した磁気[1
(抗!1’!J’性の設定し得る磁気抵抗効果素子を提
供しようとするものである。
すなわち、この発明に係る磁気抵抗効果素子は、絶縁性
基板上に形成される強磁性月別でなる薄膜回路・9ター
ンと、この回路・2ターンに対応して形成される”アル
ミニウム基金4でなる導電体回路パターンとの間に、両
回路・ギターンの材料相互で合金あるいは金属間化合物
を生成し離い高融点金属薄膜層を介在形成゛する1うに
したものでるる。
基板上に形成される強磁性月別でなる薄膜回路・9ター
ンと、この回路・2ターンに対応して形成される”アル
ミニウム基金4でなる導電体回路パターンとの間に、両
回路・ギターンの材料相互で合金あるいは金属間化合物
を生成し離い高融点金属薄膜層を介在形成゛する1うに
したものでるる。
以下図面を参照してこの発明の一実施例を酸、明する。
第1図は磁気抵抗効果素子の(rr<気抵抗効果を有す
る回路・ぞターンの状態余水すもので、それぞれ直交す
る第1および第2の方向に延びる複数の直線部を折り返
し接続する構造の第1および第2の回路]9ターンIl
a、Ilbが基板12上に平面的に配置されるように設
定される。そして、この第1および第2の回路ノPター
ン111L、11bの一端部は、電極13aで共通に接
続され、寸だ回路パターンlla、llbのそれぞれ他
端部には電4& J 3 b 、 13cが接続形成さ
れるようになっている2、 第2図は第1図のA −A +Ii!およびn−n紳に
対応する断面構法を示゛1ものび、シリコンウ′「−バ
ーでなる基板12の一方の−1:而には、rR化シリコ
ン(S 102)による絶縁層14を全面にわたり形成
J−る。そして、この絶縁層I4」にr)I・ミニラム
蒸着によって導電体回路・Pターン1 、li 6形成
する。この回路ノ4ターン75 it:第1図(1−示
した電w1.13a〜13Cに対I、)1、し7、さC
)に第1および第2の回路・ぞターンIla、llbの
、それぞれ斜線で示す折り返し+’il(にit IF
、、[7てμシ′Iト′される。そして、この導電体回
111′マ・Pターン75上に、高融点の例えシ1:チ
タン(Ti)による金属薄膜M16を形成4°る。そし
て、この金属薄膜層I6を含む絶縁層14上に、イ1,
1図に第11−・よび第2の回路・!ターンII^、I
lbとして示しだように、N1−Cof¥金による強磁
性体でなる簿l1g回路・ぞターン17ケ蒸着形11ν
する。−ア: l、、 f 。
る回路・ぞターンの状態余水すもので、それぞれ直交す
る第1および第2の方向に延びる複数の直線部を折り返
し接続する構造の第1および第2の回路]9ターンIl
a、Ilbが基板12上に平面的に配置されるように設
定される。そして、この第1および第2の回路ノPター
ン111L、11bの一端部は、電極13aで共通に接
続され、寸だ回路パターンlla、llbのそれぞれ他
端部には電4& J 3 b 、 13cが接続形成さ
れるようになっている2、 第2図は第1図のA −A +Ii!およびn−n紳に
対応する断面構法を示゛1ものび、シリコンウ′「−バ
ーでなる基板12の一方の−1:而には、rR化シリコ
ン(S 102)による絶縁層14を全面にわたり形成
J−る。そして、この絶縁層I4」にr)I・ミニラム
蒸着によって導電体回路・Pターン1 、li 6形成
する。この回路ノ4ターン75 it:第1図(1−示
した電w1.13a〜13Cに対I、)1、し7、さC
)に第1および第2の回路・ぞターンIla、llbの
、それぞれ斜線で示す折り返し+’il(にit IF
、、[7てμシ′Iト′される。そして、この導電体回
111′マ・Pターン75上に、高融点の例えシ1:チ
タン(Ti)による金属薄膜M16を形成4°る。そし
て、この金属薄膜層I6を含む絶縁層14上に、イ1,
1図に第11−・よび第2の回路・!ターンII^、I
lbとして示しだように、N1−Cof¥金による強磁
性体でなる簿l1g回路・ぞターン17ケ蒸着形11ν
する。−ア: l、、 f 。
回路ノPり・−ン17」−を、酸化シリコン(Sir)
2)による保護層18で被覆して、磁気抵抗効果素子を
完成する。
2)による保護層18で被覆して、磁気抵抗効果素子を
完成する。
この場合、第2図の(R)に取り出して示すように、導
出電極1 、? a〜13bに対応する部分においては
、アルミニウムによる回路ノ9ターン15を他の回路・
母ターン部から突出Hψ定するノー共に、保獲層18に
回路パターン15を露出1イ)開口19を形成して、電
極導出部とする。
出電極1 、? a〜13bに対応する部分においては
、アルミニウムによる回路ノ9ターン15を他の回路・
母ターン部から突出Hψ定するノー共に、保獲層18に
回路パターン15を露出1イ)開口19を形成して、電
極導出部とする。
すなわち、E Feのように構成される磁気抵抗効果素
子におい−G、?71.電休回路・Pターン1.51r
よ強磁性薄膜回路17の導出電極として作用−するもの
であり、また強磁性体薄膜回路・Pり・−ン17の直線
部分を接続する折り返し7部な短A’ii シで、直線
部Qて交差する磁界の検1]冒時性が効果的に設定され
るようにし、−1いる。
子におい−G、?71.電休回路・Pターン1.51r
よ強磁性薄膜回路17の導出電極として作用−するもの
であり、また強磁性体薄膜回路・Pり・−ン17の直線
部分を接続する折り返し7部な短A’ii シで、直線
部Qて交差する磁界の検1]冒時性が効果的に設定され
るようにし、−1いる。
そして、金属薄膜層16C」1、Ni−Co合金でなる
強磁性薄膜回路・やターフ17と、アルミニウムでなる
導電体回路/Pターン15との間に、N1−At金属間
化合物生成防止用の薄膜回路・ぐターンとして作用する
ものである。
強磁性薄膜回路・やターフ17と、アルミニウムでなる
導電体回路/Pターン15との間に、N1−At金属間
化合物生成防止用の薄膜回路・ぐターンとして作用する
ものである。
上記実施例では、基板12の絶縁H4141・に導電体
・やターン15を寸ず形成するように(/ンが、第3図
に示すように絶れ層14七に寸ず強磁性薄膜回H,v、
、e 、p 7171)t’、;I+’j L−1
と(1) 回路・?ターン17の′[1イ、掩形成部、
式ら(r−折り1反(71σ絡部に対応してpHhff
−の金属t’q膜層16を形成(2て、この金属′R膜
層16+にiI、伜を含むフff γ打5体回路ノやタ
ーン15を形成する、1.う(・〆二し7てもよl、/
1 、、この場合、これら回路・Pり・−ンWけ、ホト
17.ノストとエツヂング技ン井を・1史Iff j、
て形成ずtl(1よいもので、その他このような化学エ
ツチング(i化工て、デラズマドライエツチノグト〃て
等適n使用できるものである。
・やターン15を寸ず形成するように(/ンが、第3図
に示すように絶れ層14七に寸ず強磁性薄膜回H,v、
、e 、p 7171)t’、;I+’j L−1
と(1) 回路・?ターン17の′[1イ、掩形成部、
式ら(r−折り1反(71σ絡部に対応してpHhff
−の金属t’q膜層16を形成(2て、この金属′R膜
層16+にiI、伜を含むフff γ打5体回路ノやタ
ーン15を形成する、1.う(・〆二し7てもよl、/
1 、、この場合、これら回路・Pり・−ンWけ、ホト
17.ノストとエツヂング技ン井を・1史Iff j、
て形成ずtl(1よいもので、その他このような化学エ
ツチング(i化工て、デラズマドライエツチノグト〃て
等適n使用できるものである。
尚、この第3図では保8隻層t1、省略しで示している
もので、2P、2図で示l−たと回(〕′;にr(lo
g等による保時層で波榎することQlも1.ろんで才・
ろ。
もので、2P、2図で示l−たと回(〕′;にr(lo
g等による保時層で波榎することQlも1.ろんで才・
ろ。
ここで、N1−八を金属間化含物牛成防11一層として
作用する全屈薄膜層15とし−て111−1′−ζ/l
ii gllで示したT1の仙に、タンタノi(’「r
tl、モリグフ゛ン(11:+ )タングステン(4)
等のニラ々I1. (LJi )とアルミ7ウノ、(A
Z)との合金あるいは金1・+(間化合!吻を生1i!
、 l−。
作用する全屈薄膜層15とし−て111−1′−ζ/l
ii gllで示したT1の仙に、タンタノi(’「r
tl、モリグフ゛ン(11:+ )タングステン(4)
等のニラ々I1. (LJi )とアルミ7ウノ、(A
Z)との合金あるいは金1・+(間化合!吻を生1i!
、 l−。
難い高融点金属が適宜選定される0、
すなわち、Nl系の強磁性ドI膜回路・Pターン17と
At系の導電体回路・マター715との間に、′「l、
Ta、 Mo、 W等の高融点金属薄膜層を介在させる
ことによって、オーミック性改善の熱処理に際してNi
−At系金属間化合物11!成を71θ゛実に防1Fで
きるものであり、回路・Pターン17と15との接合部
における強度、磁気抵抗効果4..11性が効果的に改
善できる。第1表tまNi−Co合金とAtとを直接積
層した場合と、N1−Co、 T”l、AtのE層構造
とした場合を対比して示−す。
At系の導電体回路・マター715との間に、′「l、
Ta、 Mo、 W等の高融点金属薄膜層を介在させる
ことによって、オーミック性改善の熱処理に際してNi
−At系金属間化合物11!成を71θ゛実に防1Fで
きるものであり、回路・Pターン17と15との接合部
における強度、磁気抵抗効果4..11性が効果的に改
善できる。第1表tまNi−Co合金とAtとを直接積
層した場合と、N1−Co、 T”l、AtのE層構造
とした場合を対比して示−す。
以」二のようにこの発明によれば、I[¥に強磁性薄膜
回路・やターンと、電極を含むAt導電体薄膜回路・k
ターンとの接合部において、その強度を約5倍にも高め
ることができ、まだ磁気抵抗効果を30チ程度も向上さ
せ/、?−とのできるイ、のであり、非常に安51!シ
たlh’ PIのイ1゛6【気、 [11,抗グ11甲
、卓子を構成うることの′CきるもT71−0で17)
2.
回路・やターンと、電極を含むAt導電体薄膜回路・k
ターンとの接合部において、その強度を約5倍にも高め
ることができ、まだ磁気抵抗効果を30チ程度も向上さ
せ/、?−とのできるイ、のであり、非常に安51!シ
たlh’ PIのイ1゛6【気、 [11,抗グ11甲
、卓子を構成うることの′CきるもT71−0で17)
2.
第1図はこの発明の=TノIIi I’ll iτ−(
、Yる(1(2気坤4′1″1効果素子を示4゛1′向
図、第21・7つ−2)(^) m)Ir1、ぞ江そ′
れtP、1図のA−A糾およびB−B純にri’、1つ
断面図、第3図t」、この発jj11の他の′J′bj
噸1イク115−示す1111而図である。
、Yる(1(2気坤4′1″1効果素子を示4゛1′向
図、第21・7つ−2)(^) m)Ir1、ぞ江そ′
れtP、1図のA−A糾およびB−B純にri’、1つ
断面図、第3図t」、この発jj11の他の′J′bj
噸1イク115−示す1111而図である。
Claims (1)
- 絶縁性基板の主面に形成される磁気抵抗効果を有する強
磁性材料でなる薄膜回路パターンと、この回路・Pター
ンの一部に対応して形成され導出電極としても使用しイ
(jるように形成したアルミニウム系導電体薄膜回路パ
ターンと、この導電体簿膜回路・?ターンと」ユ記強磁
性薄膜回路・!ターンとの間にA−(層する状態で介在
して形成された上記磁性側石および導115月料と0合
金あるいOよ金属間化合物が形成し幡い高融点金石薄膜
とを具(Ii++ L /rことを特徴とする磁気抵抗
効!′f:素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57156975A JPS5946079A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 磁気抵抗効果素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57156975A JPS5946079A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 磁気抵抗効果素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5946079A true JPS5946079A (ja) | 1984-03-15 |
Family
ID=15639417
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57156975A Pending JPS5946079A (ja) | 1982-09-09 | 1982-09-09 | 磁気抵抗効果素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5946079A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6377370U (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-23 | ||
JPH01125882A (ja) * | 1987-08-21 | 1989-05-18 | Nippon Denso Co Ltd | 磁気検出装置 |
US5262666A (en) * | 1989-05-15 | 1993-11-16 | Nippondenso Co., Ltd. | Semiconductor device with a nickel alloy protective resistor |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57126187A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-05 | Hitachi Ltd | Reluctance element |
-
1982
- 1982-09-09 JP JP57156975A patent/JPS5946079A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57126187A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-05 | Hitachi Ltd | Reluctance element |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6377370U (ja) * | 1986-11-07 | 1988-05-23 | ||
JPH0445263Y2 (ja) * | 1986-11-07 | 1992-10-23 | ||
JPH01125882A (ja) * | 1987-08-21 | 1989-05-18 | Nippon Denso Co Ltd | 磁気検出装置 |
US5262666A (en) * | 1989-05-15 | 1993-11-16 | Nippondenso Co., Ltd. | Semiconductor device with a nickel alloy protective resistor |
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