JPS5943861A - ル−バ−式化学的蒸着装置 - Google Patents
ル−バ−式化学的蒸着装置Info
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- JPS5943861A JPS5943861A JP15269982A JP15269982A JPS5943861A JP S5943861 A JPS5943861 A JP S5943861A JP 15269982 A JP15269982 A JP 15269982A JP 15269982 A JP15269982 A JP 15269982A JP S5943861 A JPS5943861 A JP S5943861A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- substrates
- reaction
- vapor deposition
- chemical vapor
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はルーツモ一式化学的蒸着(CVD)装置に係り
、本発明におけるOVD装置はプラズマ0VD装置及び
減圧OVD装置の両者を包含するものである。
、本発明におけるOVD装置はプラズマ0VD装置及び
減圧OVD装置の両者を包含するものである。
OVD方式では生成物(又は蒸着物質)とともに無用の
、場合によっては有害な副生物が生成され、広い面積又
は範囲の被覆すべき基体上に一様に蒸着することができ
ず、装置を大型化してもこれらの欠点は解消できず、有
効な面積としては反応ガスの流量、流速等によシ若干の
差異はあるもはtAOOtnm−φであることは当業者
によく知られているところである。
、場合によっては有害な副生物が生成され、広い面積又
は範囲の被覆すべき基体上に一様に蒸着することができ
ず、装置を大型化してもこれらの欠点は解消できず、有
効な面積としては反応ガスの流量、流速等によシ若干の
差異はあるもはtAOOtnm−φであることは当業者
によく知られているところである。
本発明者は上記の如き従来方式による蒸着有効面積を拡
大することを検討した結果、被覆すべき基体群をルーツ
マー状(すだれ状)に保持し、反応ガスがルーツマー状
に配設した基体間の隙間から後方に流れるような反応ガ
ス流とすることにより解決し得ることを知見したもので
あり、本発明の要旨とするところは前記特許請求の範囲
各項に明記したとおりの構成からなるものである。
大することを検討した結果、被覆すべき基体群をルーツ
マー状(すだれ状)に保持し、反応ガスがルーツマー状
に配設した基体間の隙間から後方に流れるような反応ガ
ス流とすることにより解決し得ることを知見したもので
あり、本発明の要旨とするところは前記特許請求の範囲
各項に明記したとおりの構成からなるものである。
本発明の構成並びに作用効果を従来方式と対比して以下
に詳述する。
に詳述する。
第1図は従来方式のOVD装置の一例であり、lは反応
室であり、被覆すべき基体2はホルダー3に担持されて
矢印り方向九移動する機構としである。グは反応ガス噴
出機構(プラズマ0VD装置の場合は電極も兼ねる)で
あり、前記基体λに対向する面に多数の反応ガス噴出孔
を図示の如く設けである。jは反応済ガスの排出孔であ
り、tは基体λ用のヒーターである。この種従来方式で
は反応ガス(JG)が反応ガス噴出機構弘から矢印Gの
如く噴出し、基体λ上に蒸着層を生成するが、その際に
反応副生物が当然生成され、反応領域周辺に流れる反応
ガスにはこの副生物が含有されることになり、従って反
応有効領域は前述の如く#1ソロ00簡φ1呈度に限定
され、装置自体を大型化してもこの有効領域を拡大する
ことは不可能である。
室であり、被覆すべき基体2はホルダー3に担持されて
矢印り方向九移動する機構としである。グは反応ガス噴
出機構(プラズマ0VD装置の場合は電極も兼ねる)で
あり、前記基体λに対向する面に多数の反応ガス噴出孔
を図示の如く設けである。jは反応済ガスの排出孔であ
り、tは基体λ用のヒーターである。この種従来方式で
は反応ガス(JG)が反応ガス噴出機構弘から矢印Gの
如く噴出し、基体λ上に蒸着層を生成するが、その際に
反応副生物が当然生成され、反応領域周辺に流れる反応
ガスにはこの副生物が含有されることになり、従って反
応有効領域は前述の如く#1ソロ00簡φ1呈度に限定
され、装置自体を大型化してもこの有効領域を拡大する
ことは不可能である。
第λ図〜第グ図は本発明装置の概略図金示す数例であり
、以下本発明装置の具体例f図示に基いて説明する。
、以下本発明装置の具体例f図示に基いて説明する。
第2図は本発明装置の一例を示す平面略図、第3図は第
2図1[[−111線に沿った断面略図であって、IO
は反応室を示し、該反応室ioの一方に反応ガス噴出機
構l/を配設する。該反応室IOの他方側には反応済ガ
ス(副生物を含有する)年収室7.2がスリット等を設
けた隔壁13を介しで設けてあり、該年収室/コは排ガ
ス排出孔lグを設けである。被覆すべきノ、に体/jは
保持具1lKa数個保持してあり、図示の如く適当な間
隔の間隙17をあけてルーツモー状に多数個でかつ枚数
列配設しである。
2図1[[−111線に沿った断面略図であって、IO
は反応室を示し、該反応室ioの一方に反応ガス噴出機
構l/を配設する。該反応室IOの他方側には反応済ガ
ス(副生物を含有する)年収室7.2がスリット等を設
けた隔壁13を介しで設けてあり、該年収室/コは排ガ
ス排出孔lグを設けである。被覆すべきノ、に体/jは
保持具1lKa数個保持してあり、図示の如く適当な間
隔の間隙17をあけてルーツモー状に多数個でかつ枚数
列配設しである。
上記の如き機構した本発明装置では1反応ガス(R,G
、 )がガス噴出機構l/の噴出孔から矢印Gの如く噴
出され、第1列の基体11表面に蒸着膜を生成し、反応
副生物と共に間隙17を通過して前進し、第2列の基体
is表面上に蒸着膜を生成し、しかる後筒コ列の隙間/
7を通過し、隔壁/3のスリットを通って排ガス年収室
12に集められ、排出孔l≠を経て排出される。
、 )がガス噴出機構l/の噴出孔から矢印Gの如く噴
出され、第1列の基体11表面に蒸着膜を生成し、反応
副生物と共に間隙17を通過して前進し、第2列の基体
is表面上に蒸着膜を生成し、しかる後筒コ列の隙間/
7を通過し、隔壁/3のスリットを通って排ガス年収室
12に集められ、排出孔l≠を経て排出される。
従って、本発明装置によれば、装置内に配設した基体l
!の被蒸着面には常に新鮮な反応ガスが到達することと
なり、ルーツ々−全体として見れば広い範囲の領域に配
設された基体/!全全体亘って一様かつ均一な蒸着膜を
生成することが可能である。
!の被蒸着面には常に新鮮な反応ガスが到達することと
なり、ルーツ々−全体として見れば広い範囲の領域に配
設された基体/!全全体亘って一様かつ均一な蒸着膜を
生成することが可能である。
第≠図はルーツモー状に配設する基体群を反応ガス流に
対して一定角度に傾斜して配設する例を示す略図である
。
対して一定角度に傾斜して配設する例を示す略図である
。
上記具体例はノ々ツチ式操作を説明したが、基体群はそ
れらの相互関係(間隔及び傾斜角度)を保持し、反応ガ
スの流れに対向しながら該ガス流の直角方向に移動方式
とすることによりインライン(INLINE)方式とし
得ることは当業者に容易に理解し得るところである。
れらの相互関係(間隔及び傾斜角度)を保持し、反応ガ
スの流れに対向しながら該ガス流の直角方向に移動方式
とすることによりインライン(INLINE)方式とし
得ることは当業者に容易に理解し得るところである。
第5図に本発明の竪型インライン方式の断面略図を示す
。この方式では図示の如く1反応室10の中央部に反応
ガス噴出孔/2を設け、例えば図示の如く排ガスは排ガ
ス排出孔/4’より下方え排出する。尚、排ガスは上方
に吸引してもよい。
。この方式では図示の如く1反応室10の中央部に反応
ガス噴出孔/2を設け、例えば図示の如く排ガスは排ガ
ス排出孔/4’より下方え排出する。尚、排ガスは上方
に吸引してもよい。
被覆すべき基体/!は紙面に垂直方向に移動可能とした
保持具16上に担持しである。該保持具16は所望によ
り反応ガス流方向に対向して復数列重複して配置しても
よい。
保持具16上に担持しである。該保持具16は所望によ
り反応ガス流方向に対向して復数列重複して配置しても
よい。
本発明装置は以上詳述した如き4tζ成に基づき、均一
に被覆し・潜る領域を拡大することが可能となり%従米
0OVD方式の作業性を向」ニし得る秀れた作用効果f
、発揮し得るものである。
に被覆し・潜る領域を拡大することが可能となり%従米
0OVD方式の作業性を向」ニし得る秀れた作用効果f
、発揮し得るものである。
第1図は従来方式のOVD装置の一例を示す概略断面図
、第2図は本発明装置の−yIJ e示す断面略図、第
3図は第2図のIN−nr線に沿った被蒸着基体と保持
具のみを示す略図、第参図は被蒸着基体を反応ガス流に
対し傾斜して配設した略図、第3図は本発明装置の竪型
インライン方式を示す略図であり1図中、i、ioは反
応室、2./よは被蒸着基体、J、/lは保持具、≠、
11は反応ガス喰出機構、j、/弘はガス排出孔、/3
は開孔隔壁、/7は間隙、Gはガス流方向を示す矢印、
几、Gは反応ガスを夫々示す。 第2図 、」 第3図 5 b 第4図 /−− \− /−
、第2図は本発明装置の−yIJ e示す断面略図、第
3図は第2図のIN−nr線に沿った被蒸着基体と保持
具のみを示す略図、第参図は被蒸着基体を反応ガス流に
対し傾斜して配設した略図、第3図は本発明装置の竪型
インライン方式を示す略図であり1図中、i、ioは反
応室、2./よは被蒸着基体、J、/lは保持具、≠、
11は反応ガス喰出機構、j、/弘はガス排出孔、/3
は開孔隔壁、/7は間隙、Gはガス流方向を示す矢印、
几、Gは反応ガスを夫々示す。 第2図 、」 第3図 5 b 第4図 /−− \− /−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)一方から反応ガスを装入し、他方から排ガスを排
出する構造からなる反応室内に、被覆すべき基体を該反
応ガスの流れに対してルーツマー状に保持することを特
徴とするルーツク一式化学的蒸着装置。 (2) 被覆すべき基体表面を反応ガス流に対して垂
直又は一定角度に保持する特If/[請求の範囲第1項
記載のルーツク一式化学的蒸着装置!L0(3)被覆す
べき基体を反応ガスの流れ方向に対して複数列配列する
特許請求の範囲第1項記載のルーツク一式化学的蒸着装
置。 (4)被覆すべき基体を反応室内の反応ガス流方向を横
切って移動させる機構とする特許請求の範囲第1項記載
のルーツク一式化学的蒸着装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15269982A JPS5943861A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | ル−バ−式化学的蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15269982A JPS5943861A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | ル−バ−式化学的蒸着装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5943861A true JPS5943861A (ja) | 1984-03-12 |
JPS619389B2 JPS619389B2 (ja) | 1986-03-22 |
Family
ID=15546206
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15269982A Granted JPS5943861A (ja) | 1982-09-03 | 1982-09-03 | ル−バ−式化学的蒸着装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5943861A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1991014798A1 (en) * | 1990-03-20 | 1991-10-03 | Diamonex, Incorporated | An improved hot filament chemical vapor deposition reactor |
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US6173672B1 (en) | 1997-06-06 | 2001-01-16 | Celestech, Inc. | Diamond film deposition on substrate arrays |
JP2002168530A (ja) * | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Daiwa House Ind Co Ltd | 太陽熱温水器付き屋根パネル及び太陽熱温水器の施工方法 |
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JP2020100877A (ja) * | 2018-12-21 | 2020-07-02 | 富士ゼロックス株式会社 | 膜形成装置、および膜形成方法 |
-
1982
- 1982-09-03 JP JP15269982A patent/JPS5943861A/ja active Granted
Cited By (22)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS619389B2 (ja) | 1986-03-22 |
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