JPS5939686B2 - 多重波長分光計及び多重波長放射線分析器 - Google Patents
多重波長分光計及び多重波長放射線分析器Info
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- JPS5939686B2 JPS5939686B2 JP49012341A JP1234174A JPS5939686B2 JP S5939686 B2 JPS5939686 B2 JP S5939686B2 JP 49012341 A JP49012341 A JP 49012341A JP 1234174 A JP1234174 A JP 1234174A JP S5939686 B2 JPS5939686 B2 JP S5939686B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
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- G—PHYSICS
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- G01J3/0232—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using shutters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J2003/1213—Filters in general, e.g. dichroic, band
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、分光計の分野に、より具体的には、単一ビー
ムにより標本材料の多重波長分析を行なう装置に関する
。
ムにより標本材料の多重波長分析を行なう装置に関する
。
一個以上の周波数でその吸収を測定することにより標本
体を分析することが、しばしば望まれる。
体を分析することが、しばしば望まれる。
そのような分析は、定量的にも定性的にも、非常に重要
な情報を与えることができる。更に、それは極めて融通
性に富む。例えば、標本体の吸収領域において一個以上
の波長を選択し、吸収領域外でもう一つの波長を選択す
ることができる。その様な分析は、ダブル・ビームによ
る分析法と極めて近似しているが、より簡単な装置で行
なえる。また、二個以上の波長における吸収を比較する
ことも可能であり、従つて、他の方法であれば困難さを
伴つてしか得られないような、標本体についての重要な
情報を知ることができる。現在入手可能な市販の分光分
析器は、不透明ブレードと該不透明ブレードの間に設け
たフィルタとを具備するチョッパーを有している。
な情報を与えることができる。更に、それは極めて融通
性に富む。例えば、標本体の吸収領域において一個以上
の波長を選択し、吸収領域外でもう一つの波長を選択す
ることができる。その様な分析は、ダブル・ビームによ
る分析法と極めて近似しているが、より簡単な装置で行
なえる。また、二個以上の波長における吸収を比較する
ことも可能であり、従つて、他の方法であれば困難さを
伴つてしか得られないような、標本体についての重要な
情報を知ることができる。現在入手可能な市販の分光分
析器は、不透明ブレードと該不透明ブレードの間に設け
たフィルタとを具備するチョッパーを有している。
そのような装置の検知器は、2つ(又はそれ以上)の波
長の交互に分離されたパルスを感知し、パルスの高さが
放射線強度に対応する電気信号を形成する。その後復調
器がこのパルスを分離し、強度の比をとる。そのような
装置では、フィルタは観察周期の間動いている。これは
、安定性の問題を惹起し、また、広い面積のフィルタ材
料を必要とする。通・ 常干渉フィルタを用いるが、干
渉フィルタは非常に高価である。また、異なる波長の数
は、チョッパーの大きさによつて制限される。良好なS
/N比を得るためには、高いチヨツピング周波数が望ま
れるが、測定の間フイルタを急速に移動させることは、
望ましくない。また、そのような装置におけるチヨツパ
一・フイルタは、希望よりも可成り大きい。従つて、本
発明の第1の目的は、公知技術において得られるよりも
可成りサイズの小さい多重波長放射線分析器を提供する
ことにある。
長の交互に分離されたパルスを感知し、パルスの高さが
放射線強度に対応する電気信号を形成する。その後復調
器がこのパルスを分離し、強度の比をとる。そのような
装置では、フィルタは観察周期の間動いている。これは
、安定性の問題を惹起し、また、広い面積のフィルタ材
料を必要とする。通・ 常干渉フィルタを用いるが、干
渉フィルタは非常に高価である。また、異なる波長の数
は、チョッパーの大きさによつて制限される。良好なS
/N比を得るためには、高いチヨツピング周波数が望ま
れるが、測定の間フイルタを急速に移動させることは、
望ましくない。また、そのような装置におけるチヨツパ
一・フイルタは、希望よりも可成り大きい。従つて、本
発明の第1の目的は、公知技術において得られるよりも
可成りサイズの小さい多重波長放射線分析器を提供する
ことにある。
別の目的は、比較的安価であること、非常に小さいフイ
ルタ素子を使うこと、良好な安定性を示すこと、2波長
から数波長までに範囲を拡げ得ること、及び良好なS/
N比を示すことを特徴とする放射線分析器を提供するこ
とにある。その他の目的、特徴及び利点は、以下の説明
から明らかとなろう。本発明に係る多重波長放射線分析
器は、電磁放射源と、分析されるべき標本体を通るよう
に放射線を指向させる部材とを含む。標本体を出た放射
線を受信する検知器を配置してある。放射線源と検知器
との間には、放射線を第1の周波数で断続(チヨツプ)
する部材を設けてある。複数のフイルタを用意し、チヨ
ツピングの周期よりも長い時間に亘つて放射線の通路に
各フイルタを周期的且つ交互に挿入する部材を設けてあ
る。第1図には、赤外線源10と、該赤外線源10の像
1を形成すべく位置決めした結像用ミラー12を図示し
てある。
ルタ素子を使うこと、良好な安定性を示すこと、2波長
から数波長までに範囲を拡げ得ること、及び良好なS/
N比を示すことを特徴とする放射線分析器を提供するこ
とにある。その他の目的、特徴及び利点は、以下の説明
から明らかとなろう。本発明に係る多重波長放射線分析
器は、電磁放射源と、分析されるべき標本体を通るよう
に放射線を指向させる部材とを含む。標本体を出た放射
線を受信する検知器を配置してある。放射線源と検知器
との間には、放射線を第1の周波数で断続(チヨツプ)
する部材を設けてある。複数のフイルタを用意し、チヨ
ツピングの周期よりも長い時間に亘つて放射線の通路に
各フイルタを周期的且つ交互に挿入する部材を設けてあ
る。第1図には、赤外線源10と、該赤外線源10の像
1を形成すべく位置決めした結像用ミラー12を図示し
てある。
像1のところには回転チヨツパ一14及びフイルタ選択
部材16を配置してあり、この両者については、後で詳
述する。チヨツパ一14及びフイルタ選択部材16を出
た赤外線は、コリメート用レンズ18、標本セル20及
び結像レンズ22を通り、赤外線源は、赤外線検知器2
4土に再結像する。検知器24は、入射赤外線の強度に
比例した電気出力を発生する。検知器24の出力は、交
流増幅器26に印加され、該交流増幅器26の出力は、
電界効果型スイツチングトランジスタ28に直接供給さ
れると共に、インバータ30を介して第2の電界効果型
スイツチングトランジスタ32に供給される。両スイツ
チングトランジスタ28,32の出力は対数変換器34
の入力に接続し、該対数変換器34の出力は、2つの電
界効果型スイツチングトランジスタ36,38に接続す
る。トランジスタ36の出力は、コンデンサ40及び増
幅器42に接続し、他方、トランジスタ38の出力は、
コンデンサ44及び増幅器46に接続する。両増幅器4
2,46の出力は、差動増幅器48に供給され、該差動
増幅器48は、定電圧源50から適当なバイアスを受け
る。チヨツパ一14には光学式ピツタアツプ52を連係
させてあり、該光学式ピツクアツプ52は、該チヨツパ
一14の両側に取付けた発光ダイオード及びホトトラン
ジスタ54によつて位置参照信号を形成する。
部材16を配置してあり、この両者については、後で詳
述する。チヨツパ一14及びフイルタ選択部材16を出
た赤外線は、コリメート用レンズ18、標本セル20及
び結像レンズ22を通り、赤外線源は、赤外線検知器2
4土に再結像する。検知器24は、入射赤外線の強度に
比例した電気出力を発生する。検知器24の出力は、交
流増幅器26に印加され、該交流増幅器26の出力は、
電界効果型スイツチングトランジスタ28に直接供給さ
れると共に、インバータ30を介して第2の電界効果型
スイツチングトランジスタ32に供給される。両スイツ
チングトランジスタ28,32の出力は対数変換器34
の入力に接続し、該対数変換器34の出力は、2つの電
界効果型スイツチングトランジスタ36,38に接続す
る。トランジスタ36の出力は、コンデンサ40及び増
幅器42に接続し、他方、トランジスタ38の出力は、
コンデンサ44及び増幅器46に接続する。両増幅器4
2,46の出力は、差動増幅器48に供給され、該差動
増幅器48は、定電圧源50から適当なバイアスを受け
る。チヨツパ一14には光学式ピツタアツプ52を連係
させてあり、該光学式ピツクアツプ52は、該チヨツパ
一14の両側に取付けた発光ダイオード及びホトトラン
ジスタ54によつて位置参照信号を形成する。
ホトトランジスタ54の出力は、分離論理ゲート56に
よつてライン58又は同60のどちらかのゲート信号に
変換される。該ライン58,60はそれぞれ、ダイオー
ド59,61を介してスイツチングトランジスタ28,
32のゲートに接続する。フイルタ選択部材16にもま
た位置参照用のピツクアツプ62を連係させてあり、該
ピツクアツプ62は同様に、ホトトランジスタ64,6
6を介してライン68又は同70のどちらかにゲート信
号を供給すべく動作する。該ライン68,70は、ダイ
オード69,71を介してスイツチングトランジスタ3
6,38のゲートに接続する。本発明のアセンブリのフ
イルタ及びチヨツパ一の具体的構成を、第2図及び第3
図を参照して以下に説明する。
よつてライン58又は同60のどちらかのゲート信号に
変換される。該ライン58,60はそれぞれ、ダイオー
ド59,61を介してスイツチングトランジスタ28,
32のゲートに接続する。フイルタ選択部材16にもま
た位置参照用のピツクアツプ62を連係させてあり、該
ピツクアツプ62は同様に、ホトトランジスタ64,6
6を介してライン68又は同70のどちらかにゲート信
号を供給すべく動作する。該ライン68,70は、ダイ
オード69,71を介してスイツチングトランジスタ3
6,38のゲートに接続する。本発明のアセンブリのフ
イルタ及びチヨツパ一の具体的構成を、第2図及び第3
図を参照して以下に説明する。
ベース・プレート72は、結像用ミラー12から標本セ
ルに至る放射線のための開口74を具備する。適当なブ
ラケツト76により、バツク・プレート78をベース・
プレート72とほとんど平行で離隔した状態に支持する
。ベアリング80,80によつてその間に支持されるピ
ボツト・ピン82(ま、振子状アーム84を支持し、該
振子状アーム84から後方にカム・ピン86が延びてい
る。該振子状アーム84の下端からは、比較的薄いフラ
グ状のフイルタ選択部材16が延びている。該フラグ状
フイルタ選択部材16には、該選択部材16がピボツト
・ピン82を中心に回動したときに、それぞれが像1と
整列すべく位置決めされた複数の孔88を設けてある。
1個又はそれ以上の孔88には干渉フイルタ90を配置
してある。
ルに至る放射線のための開口74を具備する。適当なブ
ラケツト76により、バツク・プレート78をベース・
プレート72とほとんど平行で離隔した状態に支持する
。ベアリング80,80によつてその間に支持されるピ
ボツト・ピン82(ま、振子状アーム84を支持し、該
振子状アーム84から後方にカム・ピン86が延びてい
る。該振子状アーム84の下端からは、比較的薄いフラ
グ状のフイルタ選択部材16が延びている。該フラグ状
フイルタ選択部材16には、該選択部材16がピボツト
・ピン82を中心に回動したときに、それぞれが像1と
整列すべく位置決めされた複数の孔88を設けてある。
1個又はそれ以上の孔88には干渉フイルタ90を配置
してある。
一端を固定停止部に、他端をアーム84上のピン93に
支えさせて捻りばね91をピボツト・ピン82に担持さ
せてあるので、第2図においてアーム84は、反時計方
向に回動付勢される。駆動シヤフト92は、ベアリング
94,94内で回転可能に取付けてあり、内部駆動歯車
96及び外部ハブ98を支持する。一体に回動可能にハ
ブ98に取付けたチヨツパ一14は、間に開孔を規定す
る不透明ブレード102を支持するカツプ状中心部10
0を具備する。ベアリング104の間に取付けたカム歯
車106には、カム・ピン86と係合するカム108を
固定してある。フイルタ位置用ピツクアツプ62はベー
ス・プレート72に取付けてあり、該ピツクアツプ62
は、フラグ状フイルタ選択部材16の基準開口114を
感知すべく配置した、1個以上の発光ダイオード110
及び対応する個数のホトトランジスタ112を支持する
。チヨツパ一14のピツタアツプ52も同様に構成され
、単一の発光ダイオード(図示せず。)及び単一のホト
トランジスタ116を、その間をチヨツパ一14のブレ
ード102が通過するように支持する。次に、動作につ
いて説明する。
支えさせて捻りばね91をピボツト・ピン82に担持さ
せてあるので、第2図においてアーム84は、反時計方
向に回動付勢される。駆動シヤフト92は、ベアリング
94,94内で回転可能に取付けてあり、内部駆動歯車
96及び外部ハブ98を支持する。一体に回動可能にハ
ブ98に取付けたチヨツパ一14は、間に開孔を規定す
る不透明ブレード102を支持するカツプ状中心部10
0を具備する。ベアリング104の間に取付けたカム歯
車106には、カム・ピン86と係合するカム108を
固定してある。フイルタ位置用ピツクアツプ62はベー
ス・プレート72に取付けてあり、該ピツクアツプ62
は、フラグ状フイルタ選択部材16の基準開口114を
感知すべく配置した、1個以上の発光ダイオード110
及び対応する個数のホトトランジスタ112を支持する
。チヨツパ一14のピツタアツプ52も同様に構成され
、単一の発光ダイオード(図示せず。)及び単一のホト
トランジスタ116を、その間をチヨツパ一14のブレ
ード102が通過するように支持する。次に、動作につ
いて説明する。
駆動シヤフト92は外部の駆動源(図示せず。)によつ
て駆動され、所望のチヨツピング周波数でチヨツパ一1
4を回転する。カム108は、2位置カムであることに
留意されたい。第2図に示した位置にあるときには、捻
りばね91は、孔88の最も左側のものとその対応する
フイルタとが像1の位置にあるように第2図で右側にフ
ラグ状フイルタ選択部材16を保持する。このフイルタ
は、カム108の休止部分がカム・ピン86を左側に押
す位置までに該カム108が駆動シヤフト92及び歯車
96,106によつて回転され、もつて、フイルタ選択
部材16を一点鎖線で示した位置に持ち来たすまで放射
線中に在る。この位置において、最も右側の孔88及び
その対応するフイルタは、像Iのところに位置する。こ
こに説明した実施例では、唯2個の孔88を利用するが
、また、カム108を、5個その他の所望の数の休止部
分を具備するものに交換することによつて、全部で5個
又はその他の所望の個数のフイルタを採用することがで
きる。
て駆動され、所望のチヨツピング周波数でチヨツパ一1
4を回転する。カム108は、2位置カムであることに
留意されたい。第2図に示した位置にあるときには、捻
りばね91は、孔88の最も左側のものとその対応する
フイルタとが像1の位置にあるように第2図で右側にフ
ラグ状フイルタ選択部材16を保持する。このフイルタ
は、カム108の休止部分がカム・ピン86を左側に押
す位置までに該カム108が駆動シヤフト92及び歯車
96,106によつて回転され、もつて、フイルタ選択
部材16を一点鎖線で示した位置に持ち来たすまで放射
線中に在る。この位置において、最も右側の孔88及び
その対応するフイルタは、像Iのところに位置する。こ
こに説明した実施例では、唯2個の孔88を利用するが
、また、カム108を、5個その他の所望の数の休止部
分を具備するものに交換することによつて、全部で5個
又はその他の所望の個数のフイルタを採用することがで
きる。
上述の構成によれば、フイルタ及びチヨツパ一の両方が
ほとんど放射線源の像のところに位置し得ることは明ら
かである。
ほとんど放射線源の像のところに位置し得ることは明ら
かである。
更に、フイルタは固定状態に維持され、カムは、像がチ
ヨツパ一の不透明ブレード上に入射する時点で該フイル
タを交換するように位置決めされ、時間制御される。そ
の結果、フイルタは極めて小さくすることができ、実際
、多数のそのようなフイルタは、単一の干渉フイルタ板
から切り出すことができる。籾て、第4図には、本発明
装置において検知器24に入射する放射線によつて作り
出される波形を示す。
ヨツパ一の不透明ブレード上に入射する時点で該フイル
タを交換するように位置決めされ、時間制御される。そ
の結果、フイルタは極めて小さくすることができ、実際
、多数のそのようなフイルタは、単一の干渉フイルタ板
から切り出すことができる。籾て、第4図には、本発明
装置において検知器24に入射する放射線によつて作り
出される波形を示す。
検知器24の出力波形は、2つのフイルタ(AとBで示
す。)の位置に従つて強度の変化する一連の断続パルス
からなる。第1図から判るように、これらの信号は交流
増幅器26によつて増幅され、電界効果型スイツチング
トランジスタ28に供給されると共に、インバータ30
を通つて電界効果型スイツチングトランジスタ32に供
給される。これらのトランジスタ28,32は、チヨツ
パ一位置参照のピツクアツプ52によつてゲート開閉さ
れ、これにより、トランジスタ28,32の一方は放射
線が通過するときに導通させられ、他方は、放射線が遮
断されるときに導通させられる。即ち、これらのトラン
ジスタは、復調器を構成し、この復調された出力は、対
数変換器34を通過する。対数変換器34の出力は、ス
イツチングトランジスタ36,38に供給される。
す。)の位置に従つて強度の変化する一連の断続パルス
からなる。第1図から判るように、これらの信号は交流
増幅器26によつて増幅され、電界効果型スイツチング
トランジスタ28に供給されると共に、インバータ30
を通つて電界効果型スイツチングトランジスタ32に供
給される。これらのトランジスタ28,32は、チヨツ
パ一位置参照のピツクアツプ52によつてゲート開閉さ
れ、これにより、トランジスタ28,32の一方は放射
線が通過するときに導通させられ、他方は、放射線が遮
断されるときに導通させられる。即ち、これらのトラン
ジスタは、復調器を構成し、この復調された出力は、対
数変換器34を通過する。対数変換器34の出力は、ス
イツチングトランジスタ36,38に供給される。
これらトランジスタ36,38の一方は、一方のフイル
タが所定の位置にあるときに導通させられ、他方のトラ
ンジスタは、別のフイルタがその所定の位置にあるとき
に導通させられる。これらのトランジスタ36,38は
、記憶コンデンサ40及び同44と協働してサンプル・
ホールド回路を構成する。増幅器42,46に供給され
る直流電圧は、符号が反転しているけれども、放射線強
度の対数に比例する。放射周波数の一つが吸収周波数で
あるが他方はそうでないならば、差動増幅器48は、吸
収標本体の吸光度そのものの測定値である信号を出力す
る。標本の存在しないときに吸光度を零にするようにセ
ツトし得る直流オフセツトを、定電圧源から与えるよう
にしてある。以上の説明において、唯2個のフイルタを
採用した場合を仮定した。
タが所定の位置にあるときに導通させられ、他方のトラ
ンジスタは、別のフイルタがその所定の位置にあるとき
に導通させられる。これらのトランジスタ36,38は
、記憶コンデンサ40及び同44と協働してサンプル・
ホールド回路を構成する。増幅器42,46に供給され
る直流電圧は、符号が反転しているけれども、放射線強
度の対数に比例する。放射周波数の一つが吸収周波数で
あるが他方はそうでないならば、差動増幅器48は、吸
収標本体の吸光度そのものの測定値である信号を出力す
る。標本の存在しないときに吸光度を零にするようにセ
ツトし得る直流オフセツトを、定電圧源から与えるよう
にしてある。以上の説明において、唯2個のフイルタを
採用した場合を仮定した。
もつと多くのフイルタを使うならば、各フイルタに対し
別々のホトトランジスタがゲート信号を供給する。これ
らのゲート信号は、第1図に示したものと同じ構造で並
列に接続した追加のサンプル・ホールド回路をゲート開
閉する。本発明の多くの利点は当業者にとつて明白であ
ると考えられる。
別々のホトトランジスタがゲート信号を供給する。これ
らのゲート信号は、第1図に示したものと同じ構造で並
列に接続した追加のサンプル・ホールド回路をゲート開
閉する。本発明の多くの利点は当業者にとつて明白であ
ると考えられる。
また、本発明の技術的範囲から逸脱しないで種々の変更
、修正が可能であることも明らかである。例えば、先の
説明は、放射線源と標本セルを含む分光計を主に指向し
ている。しかしながら、本発明はこれに限定されない。
本発明は、放射計又は放射分光計にも同時に使用し得る
ものである。そのような場合、装置のパッケージは、放
射線を受容するための光学系を含み、標本セル又は放射
線源を含まない。従つて、上記記述は、単に説明のため
になされ、可成り限定的である。
、修正が可能であることも明らかである。例えば、先の
説明は、放射線源と標本セルを含む分光計を主に指向し
ている。しかしながら、本発明はこれに限定されない。
本発明は、放射計又は放射分光計にも同時に使用し得る
ものである。そのような場合、装置のパッケージは、放
射線を受容するための光学系を含み、標本セル又は放射
線源を含まない。従つて、上記記述は、単に説明のため
になされ、可成り限定的である。
第1図は、本発明に従つて構成した装置の概略構成図で
ある。 第2図は、内部構造を示すために一部を除去して図示す
る、本発明のチヨツパ一の正面図である。第3図は、第
2図の3−3線における断面図である。第4図は、本発
明装置において検知器から出力される波形の説明図であ
る。10・・・・・・赤外線源、12・・・・・・結像
用ミラー、14・・・・・・チヨツパ一、16・・・・
・・フイルタ選択部材、18・・・・・・コリメート用
レンズ、20・・・・・・標本セル、24・・・・・・
赤外線検知器、26・・・・・・交流増幅器、30・・
・・・・インバータ、34・・・・・・対数変換器、4
2・・・・・・増幅器、46・・・・・・増幅器、48
・・・・・・差動増幅器、52・・・・・・ピツクアツ
プ、54・・・・・・ホトトランジスタ、56・・・・
・・分離論理ゲート、64,66・・・・・・ホトトラ
ンジスタ、72・・・・・・ベース・プレート、74・
・・・・・開口、76・・・・・・ブラケツト、78・
・・・・・バツクプレート、82・・・・・・ピボツト
・ピン、84・・・・・・振子状アーム、84・・・・
・・カム・ピン、88・・・・・・孔、90・・・・・
・干渉フイルタ、91・・・・・・捻りばね、92・・
・・・・駆動シヤフト、112・・・・・・ホトトラン
ジスタ、114・・・・・・基準開口、116・・・・
・・ホトトランジスタ。
ある。 第2図は、内部構造を示すために一部を除去して図示す
る、本発明のチヨツパ一の正面図である。第3図は、第
2図の3−3線における断面図である。第4図は、本発
明装置において検知器から出力される波形の説明図であ
る。10・・・・・・赤外線源、12・・・・・・結像
用ミラー、14・・・・・・チヨツパ一、16・・・・
・・フイルタ選択部材、18・・・・・・コリメート用
レンズ、20・・・・・・標本セル、24・・・・・・
赤外線検知器、26・・・・・・交流増幅器、30・・
・・・・インバータ、34・・・・・・対数変換器、4
2・・・・・・増幅器、46・・・・・・増幅器、48
・・・・・・差動増幅器、52・・・・・・ピツクアツ
プ、54・・・・・・ホトトランジスタ、56・・・・
・・分離論理ゲート、64,66・・・・・・ホトトラ
ンジスタ、72・・・・・・ベース・プレート、74・
・・・・・開口、76・・・・・・ブラケツト、78・
・・・・・バツクプレート、82・・・・・・ピボツト
・ピン、84・・・・・・振子状アーム、84・・・・
・・カム・ピン、88・・・・・・孔、90・・・・・
・干渉フイルタ、91・・・・・・捻りばね、92・・
・・・・駆動シヤフト、112・・・・・・ホトトラン
ジスタ、114・・・・・・基準開口、116・・・・
・・ホトトランジスタ。
Claims (1)
- 1 放射線源からの放射線を検知する部材、該放射線源
及び該検知部材の間にあつて所定周波数で該放射線を断
続するチョッパー、並びに放射線源からの放射線の波長
を選択する一次手段としての複数のフィルタを含み、該
検知部材から出力される断続電気信号パルスを、該チョ
ッパーの所定周波数に同期して復調し、もつて複数の波
長について放射線分析を行なう装置であつて、当該チョ
ッパーの所定周波数の数周期分をカバーし放射線波長と
は無関係な所定時間に亘つて、当該放射線源と当該検知
部材の間の放射線路に当該フィルタの各々を周期的且つ
交互に挿入するフィルタ挿入部材と、当該フィルタ挿入
部材を当該チョッパーに同期して間欠的に駆動し、もつ
て各フィルタを所定期間順次放射線路中に停止保持させ
るカム機構とを設け、単一ビームの変復調により異なる
波長の放射線分析を行ない得ることを特徴とする多重波
長放射線分析器。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US328240 | 1973-01-31 | ||
US328240A US3877812A (en) | 1973-01-31 | 1973-01-31 | Multiple wavelength spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS508582A JPS508582A (ja) | 1975-01-29 |
JPS5939686B2 true JPS5939686B2 (ja) | 1984-09-26 |
Family
ID=23280138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49012341A Expired JPS5939686B2 (ja) | 1973-01-31 | 1974-01-31 | 多重波長分光計及び多重波長放射線分析器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3877812A (ja) |
JP (1) | JPS5939686B2 (ja) |
GB (1) | GB1447312A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0311487U (ja) * | 1989-04-17 | 1991-02-05 |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT330481B (de) * | 1974-10-14 | 1976-07-12 | Reichert Optische Werke Ag | Wechsellicht-photometer, insbesondere einstrahlphotometer |
IT1075513B (it) * | 1977-04-28 | 1985-04-22 | E L V I Spa | Apparecchiatura automatica per la determinazione fotometrica della concentrazione di bilirubina nel siero umano |
US4253766A (en) * | 1978-08-21 | 1981-03-03 | Dickey-John Corporation | Optical grain analysis instrument |
US4236075A (en) * | 1978-08-07 | 1980-11-25 | A/S N. Foss Electric | Apparatus for measuring components of liquid samples |
US4817013A (en) * | 1986-10-17 | 1989-03-28 | Nellcor, Inc. | Multichannel gas analyzer and method of use |
JPH07119650B2 (ja) * | 1987-06-01 | 1995-12-20 | 株式会社村田製作所 | 分光分析法 |
US4850697A (en) * | 1988-03-16 | 1989-07-25 | Dynatech Electro-Optics Corporation | Resonant piezoelectric chopper for infrared radiation |
US5231591A (en) * | 1989-09-11 | 1993-07-27 | Nellcor Incorporated | Agent gas analyzer and method of use |
US5046018A (en) * | 1989-09-11 | 1991-09-03 | Nellcor, Inc. | Agent gas analyzer and method of use |
US5166755A (en) * | 1990-05-23 | 1992-11-24 | Nahum Gat | Spectrometer apparatus |
EP0510856A3 (en) * | 1991-04-26 | 1993-12-22 | Siemens Plessey Controls Ltd | Improvements in or relating to optical gas detectors |
SE469701B (sv) * | 1992-08-21 | 1993-08-23 | Siemens Elema Ab | Spektrofotometrisk metod och spektrofotometer foer att utfoera metoden |
US5534066A (en) * | 1993-10-29 | 1996-07-09 | International Business Machines Corporation | Fluid delivery apparatus having an infrared feedline sensor |
AU2001238393A1 (en) * | 2000-02-15 | 2001-08-27 | Bruce R. Kowalski | Plural component coating analysis |
DE10339784B4 (de) | 2002-08-28 | 2021-09-16 | Carl Zeiss Meditec Ag | Mikroskopiesystem und Mikroskopieverfahren |
US20050137469A1 (en) * | 2003-12-17 | 2005-06-23 | Berman Herbert L. | Single detector infrared ATR glucose measurement system |
US7113282B2 (en) * | 2003-12-19 | 2006-09-26 | 3M Innonative Properties Company | Multiplexing rotary spectrometer |
US20050171413A1 (en) * | 2004-02-04 | 2005-08-04 | Medoptix, Inc. | Integrated device for non-invasive analyte measurement |
US7075082B2 (en) | 2004-06-22 | 2006-07-11 | Wilmington Infrared Technology, Inc. | Compact infrared spectrometer, and methods and systems for manufacture and assembly of components used in same |
DE102008019500B4 (de) | 2007-09-20 | 2010-06-02 | Technische Universität München | Anorndnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3472595A (en) * | 1965-06-15 | 1969-10-14 | Shimadzu Corp | Diffraction grating spectrophotometer |
US3529889A (en) * | 1968-02-12 | 1970-09-22 | Perkin Elmer Corp | Optical filter changing mechanism |
US3659945A (en) * | 1969-11-19 | 1972-05-02 | Perkin Elmer Corp | Scanning monochromators |
US3694086A (en) * | 1971-04-12 | 1972-09-26 | Centron Eng Inc | Correlation spectrometer |
-
1973
- 1973-01-31 US US328240A patent/US3877812A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-01-24 GB GB342774A patent/GB1447312A/en not_active Expired
- 1974-01-31 JP JP49012341A patent/JPS5939686B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0311487U (ja) * | 1989-04-17 | 1991-02-05 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1447312A (en) | 1976-08-25 |
DE2403368B2 (de) | 1976-01-15 |
DE2403368A1 (de) | 1974-08-08 |
US3877812A (en) | 1975-04-15 |
JPS508582A (ja) | 1975-01-29 |
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