JPS5939686B2 - 多重波長分光計及び多重波長放射線分析器 - Google Patents
多重波長分光計及び多重波長放射線分析器Info
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- JPS5939686B2 JPS5939686B2 JP49012341A JP1234174A JPS5939686B2 JP S5939686 B2 JPS5939686 B2 JP S5939686B2 JP 49012341 A JP49012341 A JP 49012341A JP 1234174 A JP1234174 A JP 1234174A JP S5939686 B2 JPS5939686 B2 JP S5939686B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
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- G—PHYSICS
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- G01J3/0232—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using shutters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、分光計の分野に、より具体的には、単一ビー
ムにより標本材料の多重波長分析を行なう装置に関する
。
ムにより標本材料の多重波長分析を行なう装置に関する
。
一個以上の周波数でその吸収を測定することにより標本
体を分析することが、しばしば望まれる。
体を分析することが、しばしば望まれる。
そのような分析は、定量的にも定性的にも、非常に重要
な情報を与えることができる。更に、それは極めて融通
性に富む。例えば、標本体の吸収領域において一個以上
の波長を選択し、吸収領域外でもう一つの波長を選択す
ることができる。その様な分析は、ダブル・ビームによ
る分析法と極めて近似しているが、より簡単な装置で行
なえる。また、二個以上の波長における吸収を比較する
ことも可能であり、従つて、他の方法であれば困難さを
伴つてしか得られないような、標本体についての重要な
情報を知ることができる。現在入手可能な市販の分光分
析器は、不透明ブレードと該不透明ブレードの間に設け
たフィルタとを具備するチョッパーを有している。
な情報を与えることができる。更に、それは極めて融通
性に富む。例えば、標本体の吸収領域において一個以上
の波長を選択し、吸収領域外でもう一つの波長を選択す
ることができる。その様な分析は、ダブル・ビームによ
る分析法と極めて近似しているが、より簡単な装置で行
なえる。また、二個以上の波長における吸収を比較する
ことも可能であり、従つて、他の方法であれば困難さを
伴つてしか得られないような、標本体についての重要な
情報を知ることができる。現在入手可能な市販の分光分
析器は、不透明ブレードと該不透明ブレードの間に設け
たフィルタとを具備するチョッパーを有している。
そのような装置の検知器は、２つ（又はそれ以上）の波
長の交互に分離されたパルスを感知し、パルスの高さが
放射線強度に対応する電気信号を形成する。その後復調
器がこのパルスを分離し、強度の比をとる。そのような
装置では、フィルタは観察周期の間動いている。これは
、安定性の問題を惹起し、また、広い面積のフィルタ材
料を必要とする。通・ 常干渉フィルタを用いるが、干
渉フィルタは非常に高価である。また、異なる波長の数
は、チョッパーの大きさによつて制限される。良好なＳ
／Ｎ比を得るためには、高いチヨツピング周波数が望ま
れるが、測定の間フイルタを急速に移動させることは、
望ましくない。また、そのような装置におけるチヨツパ
一・フイルタは、希望よりも可成り大きい。従つて、本
発明の第１の目的は、公知技術において得られるよりも
可成りサイズの小さい多重波長放射線分析器を提供する
ことにある。
長の交互に分離されたパルスを感知し、パルスの高さが
放射線強度に対応する電気信号を形成する。その後復調
器がこのパルスを分離し、強度の比をとる。そのような
装置では、フィルタは観察周期の間動いている。これは
、安定性の問題を惹起し、また、広い面積のフィルタ材
料を必要とする。通・ 常干渉フィルタを用いるが、干
渉フィルタは非常に高価である。また、異なる波長の数
は、チョッパーの大きさによつて制限される。良好なＳ
／Ｎ比を得るためには、高いチヨツピング周波数が望ま
れるが、測定の間フイルタを急速に移動させることは、
望ましくない。また、そのような装置におけるチヨツパ
一・フイルタは、希望よりも可成り大きい。従つて、本
発明の第１の目的は、公知技術において得られるよりも
可成りサイズの小さい多重波長放射線分析器を提供する
ことにある。
別の目的は、比較的安価であること、非常に小さいフイ
ルタ素子を使うこと、良好な安定性を示すこと、２波長
から数波長までに範囲を拡げ得ること、及び良好なＳ／
Ｎ比を示すことを特徴とする放射線分析器を提供するこ
とにある。その他の目的、特徴及び利点は、以下の説明
から明らかとなろう。本発明に係る多重波長放射線分析
器は、電磁放射源と、分析されるべき標本体を通るよう
に放射線を指向させる部材とを含む。標本体を出た放射
線を受信する検知器を配置してある。放射線源と検知器
との間には、放射線を第１の周波数で断続（チヨツプ）
する部材を設けてある。複数のフイルタを用意し、チヨ
ツピングの周期よりも長い時間に亘つて放射線の通路に
各フイルタを周期的且つ交互に挿入する部材を設けてあ
る。第１図には、赤外線源１０と、該赤外線源１０の像
１を形成すべく位置決めした結像用ミラー１２を図示し
てある。
ルタ素子を使うこと、良好な安定性を示すこと、２波長
から数波長までに範囲を拡げ得ること、及び良好なＳ／
Ｎ比を示すことを特徴とする放射線分析器を提供するこ
とにある。その他の目的、特徴及び利点は、以下の説明
から明らかとなろう。本発明に係る多重波長放射線分析
器は、電磁放射源と、分析されるべき標本体を通るよう
に放射線を指向させる部材とを含む。標本体を出た放射
線を受信する検知器を配置してある。放射線源と検知器
との間には、放射線を第１の周波数で断続（チヨツプ）
する部材を設けてある。複数のフイルタを用意し、チヨ
ツピングの周期よりも長い時間に亘つて放射線の通路に
各フイルタを周期的且つ交互に挿入する部材を設けてあ
る。第１図には、赤外線源１０と、該赤外線源１０の像
１を形成すべく位置決めした結像用ミラー１２を図示し
てある。
像１のところには回転チヨツパ一１４及びフイルタ選択
部材１６を配置してあり、この両者については、後で詳
述する。チヨツパ一１４及びフイルタ選択部材１６を出
た赤外線は、コリメート用レンズ１８、標本セル２０及
び結像レンズ２２を通り、赤外線源は、赤外線検知器２
４土に再結像する。検知器２４は、入射赤外線の強度に
比例した電気出力を発生する。検知器２４の出力は、交
流増幅器２６に印加され、該交流増幅器２６の出力は、
電界効果型スイツチングトランジスタ２８に直接供給さ
れると共に、インバータ３０を介して第２の電界効果型
スイツチングトランジスタ３２に供給される。両スイツ
チングトランジスタ２８，３２の出力は対数変換器３４
の入力に接続し、該対数変換器３４の出力は、２つの電
界効果型スイツチングトランジスタ３６，３８に接続す
る。トランジスタ３６の出力は、コンデンサ４０及び増
幅器４２に接続し、他方、トランジスタ３８の出力は、
コンデンサ４４及び増幅器４６に接続する。両増幅器４
２，４６の出力は、差動増幅器４８に供給され、該差動
増幅器４８は、定電圧源５０から適当なバイアスを受け
る。チヨツパ一１４には光学式ピツタアツプ５２を連係
させてあり、該光学式ピツクアツプ５２は、該チヨツパ
一１４の両側に取付けた発光ダイオード及びホトトラン
ジスタ５４によつて位置参照信号を形成する。
部材１６を配置してあり、この両者については、後で詳
述する。チヨツパ一１４及びフイルタ選択部材１６を出
た赤外線は、コリメート用レンズ１８、標本セル２０及
び結像レンズ２２を通り、赤外線源は、赤外線検知器２
４土に再結像する。検知器２４は、入射赤外線の強度に
比例した電気出力を発生する。検知器２４の出力は、交
流増幅器２６に印加され、該交流増幅器２６の出力は、
電界効果型スイツチングトランジスタ２８に直接供給さ
れると共に、インバータ３０を介して第２の電界効果型
スイツチングトランジスタ３２に供給される。両スイツ
チングトランジスタ２８，３２の出力は対数変換器３４
の入力に接続し、該対数変換器３４の出力は、２つの電
界効果型スイツチングトランジスタ３６，３８に接続す
る。トランジスタ３６の出力は、コンデンサ４０及び増
幅器４２に接続し、他方、トランジスタ３８の出力は、
コンデンサ４４及び増幅器４６に接続する。両増幅器４
２，４６の出力は、差動増幅器４８に供給され、該差動
増幅器４８は、定電圧源５０から適当なバイアスを受け
る。チヨツパ一１４には光学式ピツタアツプ５２を連係
させてあり、該光学式ピツクアツプ５２は、該チヨツパ
一１４の両側に取付けた発光ダイオード及びホトトラン
ジスタ５４によつて位置参照信号を形成する。
ホトトランジスタ５４の出力は、分離論理ゲート５６に
よつてライン５８又は同６０のどちらかのゲート信号に
変換される。該ライン５８，６０はそれぞれ、ダイオー
ド５９，６１を介してスイツチングトランジスタ２８，
３２のゲートに接続する。フイルタ選択部材１６にもま
た位置参照用のピツクアツプ６２を連係させてあり、該
ピツクアツプ６２は同様に、ホトトランジスタ６４，６
６を介してライン６８又は同７０のどちらかにゲート信
号を供給すべく動作する。該ライン６８，７０は、ダイ
オード６９，７１を介してスイツチングトランジスタ３
６，３８のゲートに接続する。本発明のアセンブリのフ
イルタ及びチヨツパ一の具体的構成を、第２図及び第３
図を参照して以下に説明する。
よつてライン５８又は同６０のどちらかのゲート信号に
変換される。該ライン５８，６０はそれぞれ、ダイオー
ド５９，６１を介してスイツチングトランジスタ２８，
３２のゲートに接続する。フイルタ選択部材１６にもま
た位置参照用のピツクアツプ６２を連係させてあり、該
ピツクアツプ６２は同様に、ホトトランジスタ６４，６
６を介してライン６８又は同７０のどちらかにゲート信
号を供給すべく動作する。該ライン６８，７０は、ダイ
オード６９，７１を介してスイツチングトランジスタ３
６，３８のゲートに接続する。本発明のアセンブリのフ
イルタ及びチヨツパ一の具体的構成を、第２図及び第３
図を参照して以下に説明する。
ベース・プレート７２は、結像用ミラー１２から標本セ
ルに至る放射線のための開口７４を具備する。適当なブ
ラケツト７６により、バツク・プレート７８をベース・
プレート７２とほとんど平行で離隔した状態に支持する
。ベアリング８０，８０によつてその間に支持されるピ
ボツト・ピン８２（ま、振子状アーム８４を支持し、該
振子状アーム８４から後方にカム・ピン８６が延びてい
る。該振子状アーム８４の下端からは、比較的薄いフラ
グ状のフイルタ選択部材１６が延びている。該フラグ状
フイルタ選択部材１６には、該選択部材１６がピボツト
・ピン８２を中心に回動したときに、それぞれが像１と
整列すべく位置決めされた複数の孔８８を設けてある。
１個又はそれ以上の孔８８には干渉フイルタ９０を配置
してある。
ルに至る放射線のための開口７４を具備する。適当なブ
ラケツト７６により、バツク・プレート７８をベース・
プレート７２とほとんど平行で離隔した状態に支持する
。ベアリング８０，８０によつてその間に支持されるピ
ボツト・ピン８２（ま、振子状アーム８４を支持し、該
振子状アーム８４から後方にカム・ピン８６が延びてい
る。該振子状アーム８４の下端からは、比較的薄いフラ
グ状のフイルタ選択部材１６が延びている。該フラグ状
フイルタ選択部材１６には、該選択部材１６がピボツト
・ピン８２を中心に回動したときに、それぞれが像１と
整列すべく位置決めされた複数の孔８８を設けてある。
１個又はそれ以上の孔８８には干渉フイルタ９０を配置
してある。
一端を固定停止部に、他端をアーム８４上のピン９３に
支えさせて捻りばね９１をピボツト・ピン８２に担持さ
せてあるので、第２図においてアーム８４は、反時計方
向に回動付勢される。駆動シヤフト９２は、ベアリング
９４，９４内で回転可能に取付けてあり、内部駆動歯車
９６及び外部ハブ９８を支持する。一体に回動可能にハ
ブ９８に取付けたチヨツパ一１４は、間に開孔を規定す
る不透明ブレード１０２を支持するカツプ状中心部１０
０を具備する。ベアリング１０４の間に取付けたカム歯
車１０６には、カム・ピン８６と係合するカム１０８を
固定してある。フイルタ位置用ピツクアツプ６２はベー
ス・プレート７２に取付けてあり、該ピツクアツプ６２
は、フラグ状フイルタ選択部材１６の基準開口１１４を
感知すべく配置した、１個以上の発光ダイオード１１０
及び対応する個数のホトトランジスタ１１２を支持する
。チヨツパ一１４のピツタアツプ５２も同様に構成され
、単一の発光ダイオード（図示せず。）及び単一のホト
トランジスタ１１６を、その間をチヨツパ一１４のブレ
ード１０２が通過するように支持する。次に、動作につ
いて説明する。
支えさせて捻りばね９１をピボツト・ピン８２に担持さ
せてあるので、第２図においてアーム８４は、反時計方
向に回動付勢される。駆動シヤフト９２は、ベアリング
９４，９４内で回転可能に取付けてあり、内部駆動歯車
９６及び外部ハブ９８を支持する。一体に回動可能にハ
ブ９８に取付けたチヨツパ一１４は、間に開孔を規定す
る不透明ブレード１０２を支持するカツプ状中心部１０
０を具備する。ベアリング１０４の間に取付けたカム歯
車１０６には、カム・ピン８６と係合するカム１０８を
固定してある。フイルタ位置用ピツクアツプ６２はベー
ス・プレート７２に取付けてあり、該ピツクアツプ６２
は、フラグ状フイルタ選択部材１６の基準開口１１４を
感知すべく配置した、１個以上の発光ダイオード１１０
及び対応する個数のホトトランジスタ１１２を支持する
。チヨツパ一１４のピツタアツプ５２も同様に構成され
、単一の発光ダイオード（図示せず。）及び単一のホト
トランジスタ１１６を、その間をチヨツパ一１４のブレ
ード１０２が通過するように支持する。次に、動作につ
いて説明する。
駆動シヤフト９２は外部の駆動源（図示せず。）によつ
て駆動され、所望のチヨツピング周波数でチヨツパ一１
４を回転する。カム１０８は、２位置カムであることに
留意されたい。第２図に示した位置にあるときには、捻
りばね９１は、孔８８の最も左側のものとその対応する
フイルタとが像１の位置にあるように第２図で右側にフ
ラグ状フイルタ選択部材１６を保持する。このフイルタ
は、カム１０８の休止部分がカム・ピン８６を左側に押
す位置までに該カム１０８が駆動シヤフト９２及び歯車
９６，１０６によつて回転され、もつて、フイルタ選択
部材１６を一点鎖線で示した位置に持ち来たすまで放射
線中に在る。この位置において、最も右側の孔８８及び
その対応するフイルタは、像Ｉのところに位置する。こ
こに説明した実施例では、唯２個の孔８８を利用するが
、また、カム１０８を、５個その他の所望の数の休止部
分を具備するものに交換することによつて、全部で５個
又はその他の所望の個数のフイルタを採用することがで
きる。
て駆動され、所望のチヨツピング周波数でチヨツパ一１
４を回転する。カム１０８は、２位置カムであることに
留意されたい。第２図に示した位置にあるときには、捻
りばね９１は、孔８８の最も左側のものとその対応する
フイルタとが像１の位置にあるように第２図で右側にフ
ラグ状フイルタ選択部材１６を保持する。このフイルタ
は、カム１０８の休止部分がカム・ピン８６を左側に押
す位置までに該カム１０８が駆動シヤフト９２及び歯車
９６，１０６によつて回転され、もつて、フイルタ選択
部材１６を一点鎖線で示した位置に持ち来たすまで放射
線中に在る。この位置において、最も右側の孔８８及び
その対応するフイルタは、像Ｉのところに位置する。こ
こに説明した実施例では、唯２個の孔８８を利用するが
、また、カム１０８を、５個その他の所望の数の休止部
分を具備するものに交換することによつて、全部で５個
又はその他の所望の個数のフイルタを採用することがで
きる。
上述の構成によれば、フイルタ及びチヨツパ一の両方が
ほとんど放射線源の像のところに位置し得ることは明ら
かである。
ほとんど放射線源の像のところに位置し得ることは明ら
かである。
更に、フイルタは固定状態に維持され、カムは、像がチ
ヨツパ一の不透明ブレード上に入射する時点で該フイル
タを交換するように位置決めされ、時間制御される。そ
の結果、フイルタは極めて小さくすることができ、実際
、多数のそのようなフイルタは、単一の干渉フイルタ板
から切り出すことができる。籾て、第４図には、本発明
装置において検知器２４に入射する放射線によつて作り
出される波形を示す。
ヨツパ一の不透明ブレード上に入射する時点で該フイル
タを交換するように位置決めされ、時間制御される。そ
の結果、フイルタは極めて小さくすることができ、実際
、多数のそのようなフイルタは、単一の干渉フイルタ板
から切り出すことができる。籾て、第４図には、本発明
装置において検知器２４に入射する放射線によつて作り
出される波形を示す。
検知器２４の出力波形は、２つのフイルタ（ＡとＢで示
す。）の位置に従つて強度の変化する一連の断続パルス
からなる。第１図から判るように、これらの信号は交流
増幅器２６によつて増幅され、電界効果型スイツチング
トランジスタ２８に供給されると共に、インバータ３０
を通つて電界効果型スイツチングトランジスタ３２に供
給される。これらのトランジスタ２８，３２は、チヨツ
パ一位置参照のピツクアツプ５２によつてゲート開閉さ
れ、これにより、トランジスタ２８，３２の一方は放射
線が通過するときに導通させられ、他方は、放射線が遮
断されるときに導通させられる。即ち、これらのトラン
ジスタは、復調器を構成し、この復調された出力は、対
数変換器３４を通過する。対数変換器３４の出力は、ス
イツチングトランジスタ３６，３８に供給される。
す。）の位置に従つて強度の変化する一連の断続パルス
からなる。第１図から判るように、これらの信号は交流
増幅器２６によつて増幅され、電界効果型スイツチング
トランジスタ２８に供給されると共に、インバータ３０
を通つて電界効果型スイツチングトランジスタ３２に供
給される。これらのトランジスタ２８，３２は、チヨツ
パ一位置参照のピツクアツプ５２によつてゲート開閉さ
れ、これにより、トランジスタ２８，３２の一方は放射
線が通過するときに導通させられ、他方は、放射線が遮
断されるときに導通させられる。即ち、これらのトラン
ジスタは、復調器を構成し、この復調された出力は、対
数変換器３４を通過する。対数変換器３４の出力は、ス
イツチングトランジスタ３６，３８に供給される。
これらトランジスタ３６，３８の一方は、一方のフイル
タが所定の位置にあるときに導通させられ、他方のトラ
ンジスタは、別のフイルタがその所定の位置にあるとき
に導通させられる。これらのトランジスタ３６，３８は
、記憶コンデンサ４０及び同４４と協働してサンプル・
ホールド回路を構成する。増幅器４２，４６に供給され
る直流電圧は、符号が反転しているけれども、放射線強
度の対数に比例する。放射周波数の一つが吸収周波数で
あるが他方はそうでないならば、差動増幅器４８は、吸
収標本体の吸光度そのものの測定値である信号を出力す
る。標本の存在しないときに吸光度を零にするようにセ
ツトし得る直流オフセツトを、定電圧源から与えるよう
にしてある。以上の説明において、唯２個のフイルタを
採用した場合を仮定した。
タが所定の位置にあるときに導通させられ、他方のトラ
ンジスタは、別のフイルタがその所定の位置にあるとき
に導通させられる。これらのトランジスタ３６，３８は
、記憶コンデンサ４０及び同４４と協働してサンプル・
ホールド回路を構成する。増幅器４２，４６に供給され
る直流電圧は、符号が反転しているけれども、放射線強
度の対数に比例する。放射周波数の一つが吸収周波数で
あるが他方はそうでないならば、差動増幅器４８は、吸
収標本体の吸光度そのものの測定値である信号を出力す
る。標本の存在しないときに吸光度を零にするようにセ
ツトし得る直流オフセツトを、定電圧源から与えるよう
にしてある。以上の説明において、唯２個のフイルタを
採用した場合を仮定した。
もつと多くのフイルタを使うならば、各フイルタに対し
別々のホトトランジスタがゲート信号を供給する。これ
らのゲート信号は、第１図に示したものと同じ構造で並
列に接続した追加のサンプル・ホールド回路をゲート開
閉する。本発明の多くの利点は当業者にとつて明白であ
ると考えられる。
別々のホトトランジスタがゲート信号を供給する。これ
らのゲート信号は、第１図に示したものと同じ構造で並
列に接続した追加のサンプル・ホールド回路をゲート開
閉する。本発明の多くの利点は当業者にとつて明白であ
ると考えられる。
また、本発明の技術的範囲から逸脱しないで種々の変更
、修正が可能であることも明らかである。例えば、先の
説明は、放射線源と標本セルを含む分光計を主に指向し
ている。しかしながら、本発明はこれに限定されない。
本発明は、放射計又は放射分光計にも同時に使用し得る
ものである。そのような場合、装置のパッケージは、放
射線を受容するための光学系を含み、標本セル又は放射
線源を含まない。従つて、上記記述は、単に説明のため
になされ、可成り限定的である。
、修正が可能であることも明らかである。例えば、先の
説明は、放射線源と標本セルを含む分光計を主に指向し
ている。しかしながら、本発明はこれに限定されない。
本発明は、放射計又は放射分光計にも同時に使用し得る
ものである。そのような場合、装置のパッケージは、放
射線を受容するための光学系を含み、標本セル又は放射
線源を含まない。従つて、上記記述は、単に説明のため
になされ、可成り限定的である。
第１図は、本発明に従つて構成した装置の概略構成図で
ある。 第２図は、内部構造を示すために一部を除去して図示す
る、本発明のチヨツパ一の正面図である。第３図は、第
２図の３−３線における断面図である。第４図は、本発
明装置において検知器から出力される波形の説明図であ
る。１０・・・・・・赤外線源、１２・・・・・・結像
用ミラー、１４・・・・・・チヨツパ一、１６・・・・
・・フイルタ選択部材、１８・・・・・・コリメート用
レンズ、２０・・・・・・標本セル、２４・・・・・・
赤外線検知器、２６・・・・・・交流増幅器、３０・・
・・・・インバータ、３４・・・・・・対数変換器、４
２・・・・・・増幅器、４６・・・・・・増幅器、４８
・・・・・・差動増幅器、５２・・・・・・ピツクアツ
プ、５４・・・・・・ホトトランジスタ、５６・・・・
・・分離論理ゲート、６４，６６・・・・・・ホトトラ
ンジスタ、７２・・・・・・ベース・プレート、７４・
・・・・・開口、７６・・・・・・ブラケツト、７８・
・・・・・バツクプレート、８２・・・・・・ピボツト
・ピン、８４・・・・・・振子状アーム、８４・・・・
・・カム・ピン、８８・・・・・・孔、９０・・・・・
・干渉フイルタ、９１・・・・・・捻りばね、９２・・
・・・・駆動シヤフト、１１２・・・・・・ホトトラン
ジスタ、１１４・・・・・・基準開口、１１６・・・・
・・ホトトランジスタ。
ある。 第２図は、内部構造を示すために一部を除去して図示す
る、本発明のチヨツパ一の正面図である。第３図は、第
２図の３−３線における断面図である。第４図は、本発
明装置において検知器から出力される波形の説明図であ
る。１０・・・・・・赤外線源、１２・・・・・・結像
用ミラー、１４・・・・・・チヨツパ一、１６・・・・
・・フイルタ選択部材、１８・・・・・・コリメート用
レンズ、２０・・・・・・標本セル、２４・・・・・・
赤外線検知器、２６・・・・・・交流増幅器、３０・・
・・・・インバータ、３４・・・・・・対数変換器、４
２・・・・・・増幅器、４６・・・・・・増幅器、４８
・・・・・・差動増幅器、５２・・・・・・ピツクアツ
プ、５４・・・・・・ホトトランジスタ、５６・・・・
・・分離論理ゲート、６４，６６・・・・・・ホトトラ
ンジスタ、７２・・・・・・ベース・プレート、７４・
・・・・・開口、７６・・・・・・ブラケツト、７８・
・・・・・バツクプレート、８２・・・・・・ピボツト
・ピン、８４・・・・・・振子状アーム、８４・・・・
・・カム・ピン、８８・・・・・・孔、９０・・・・・
・干渉フイルタ、９１・・・・・・捻りばね、９２・・
・・・・駆動シヤフト、１１２・・・・・・ホトトラン
ジスタ、１１４・・・・・・基準開口、１１６・・・・
・・ホトトランジスタ。
Claims (1)
- １ 放射線源からの放射線を検知する部材、該放射線源
及び該検知部材の間にあつて所定周波数で該放射線を断
続するチョッパー、並びに放射線源からの放射線の波長
を選択する一次手段としての複数のフィルタを含み、該
検知部材から出力される断続電気信号パルスを、該チョ
ッパーの所定周波数に同期して復調し、もつて複数の波
長について放射線分析を行なう装置であつて、当該チョ
ッパーの所定周波数の数周期分をカバーし放射線波長と
は無関係な所定時間に亘つて、当該放射線源と当該検知
部材の間の放射線路に当該フィルタの各々を周期的且つ
交互に挿入するフィルタ挿入部材と、当該フィルタ挿入
部材を当該チョッパーに同期して間欠的に駆動し、もつ
て各フィルタを所定期間順次放射線路中に停止保持させ
るカム機構とを設け、単一ビームの変復調により異なる
波長の放射線分析を行ない得ることを特徴とする多重波
長放射線分析器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US328240 | 1973-01-31 | ||
| US328240A US3877812A (en) | 1973-01-31 | 1973-01-31 | Multiple wavelength spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS508582A JPS508582A (ja) | 1975-01-29 |
| JPS5939686B2 true JPS5939686B2 (ja) | 1984-09-26 |
Family
ID=23280138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP49012341A Expired JPS5939686B2 (ja) | 1973-01-31 | 1974-01-31 | 多重波長分光計及び多重波長放射線分析器 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US3877812A (ja) |
| JP (1) | JPS5939686B2 (ja) |
| GB (1) | GB1447312A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0311487U (ja) * | 1989-04-17 | 1991-02-05 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT330481B (de) * | 1974-10-14 | 1976-07-12 | Reichert Optische Werke Ag | Wechsellicht-photometer, insbesondere einstrahlphotometer |
| IT1075513B (it) * | 1977-04-28 | 1985-04-22 | E L V I Spa | Apparecchiatura automatica per la determinazione fotometrica della concentrazione di bilirubina nel siero umano |
| US4253766A (en) * | 1978-08-21 | 1981-03-03 | Dickey-John Corporation | Optical grain analysis instrument |
| US4236075A (en) * | 1978-08-07 | 1980-11-25 | A/S N. Foss Electric | Apparatus for measuring components of liquid samples |
| US4817013A (en) * | 1986-10-17 | 1989-03-28 | Nellcor, Inc. | Multichannel gas analyzer and method of use |
| JPH07119650B2 (ja) * | 1987-06-01 | 1995-12-20 | 株式会社村田製作所 | 分光分析法 |
| US4850697A (en) * | 1988-03-16 | 1989-07-25 | Dynatech Electro-Optics Corporation | Resonant piezoelectric chopper for infrared radiation |
| US5231591A (en) * | 1989-09-11 | 1993-07-27 | Nellcor Incorporated | Agent gas analyzer and method of use |
| US5046018A (en) * | 1989-09-11 | 1991-09-03 | Nellcor, Inc. | Agent gas analyzer and method of use |
| US5166755A (en) * | 1990-05-23 | 1992-11-24 | Nahum Gat | Spectrometer apparatus |
| EP0510856A3 (en) * | 1991-04-26 | 1993-12-22 | Siemens Plessey Controls Ltd | Improvements in or relating to optical gas detectors |
| SE469701B (sv) * | 1992-08-21 | 1993-08-23 | Siemens Elema Ab | Spektrofotometrisk metod och spektrofotometer foer att utfoera metoden |
| US5534066A (en) * | 1993-10-29 | 1996-07-09 | International Business Machines Corporation | Fluid delivery apparatus having an infrared feedline sensor |
| AU2001238393A1 (en) * | 2000-02-15 | 2001-08-27 | Bruce R. Kowalski | Plural component coating analysis |
| DE10339784B4 (de) | 2002-08-28 | 2021-09-16 | Carl Zeiss Meditec Ag | Mikroskopiesystem und Mikroskopieverfahren |
| US20050137469A1 (en) * | 2003-12-17 | 2005-06-23 | Berman Herbert L. | Single detector infrared ATR glucose measurement system |
| US7113282B2 (en) * | 2003-12-19 | 2006-09-26 | 3M Innonative Properties Company | Multiplexing rotary spectrometer |
| US20050171413A1 (en) * | 2004-02-04 | 2005-08-04 | Medoptix, Inc. | Integrated device for non-invasive analyte measurement |
| US7075082B2 (en) | 2004-06-22 | 2006-07-11 | Wilmington Infrared Technology, Inc. | Compact infrared spectrometer, and methods and systems for manufacture and assembly of components used in same |
| DE102008019500B4 (de) | 2007-09-20 | 2010-06-02 | Technische Universität München | Anorndnung, Verfahren und Sensor zur Erfassung von Flüssigkeitsparametern |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3472595A (en) * | 1965-06-15 | 1969-10-14 | Shimadzu Corp | Diffraction grating spectrophotometer |
| US3529889A (en) * | 1968-02-12 | 1970-09-22 | Perkin Elmer Corp | Optical filter changing mechanism |
| US3659945A (en) * | 1969-11-19 | 1972-05-02 | Perkin Elmer Corp | Scanning monochromators |
| US3694086A (en) * | 1971-04-12 | 1972-09-26 | Centron Eng Inc | Correlation spectrometer |
-
1973
- 1973-01-31 US US328240A patent/US3877812A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-01-24 GB GB342774A patent/GB1447312A/en not_active Expired
- 1974-01-31 JP JP49012341A patent/JPS5939686B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0311487U (ja) * | 1989-04-17 | 1991-02-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB1447312A (en) | 1976-08-25 |
| DE2403368B2 (de) | 1976-01-15 |
| DE2403368A1 (de) | 1974-08-08 |
| US3877812A (en) | 1975-04-15 |
| JPS508582A (ja) | 1975-01-29 |
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