JPS5938647A - イオン選択性電極装置と流通型イオン分析装置 - Google Patents
イオン選択性電極装置と流通型イオン分析装置Info
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- JPS5938647A JPS5938647A JP57149774A JP14977482A JPS5938647A JP S5938647 A JPS5938647 A JP S5938647A JP 57149774 A JP57149774 A JP 57149774A JP 14977482 A JP14977482 A JP 14977482A JP S5938647 A JPS5938647 A JP S5938647A
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- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/28—Electrolytic cell components
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- G01—MEASURING; TESTING
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
コノ発明け、イオンｕ度の検出可能なイオン選択性電極
装置およびこのイオン還択性電極装＃を使用するが［４
５１０型イオン分析装置に関する。
装置およびこのイオン還択性電極装＃を使用するが［４
５１０型イオン分析装置に関する。
従来、流通型イオン分析装置は、第１ｒｉ′Ｊに示すよ
うに、試Ａ、：１液の流１通するブロック２ｏｉｃｔ、
１ａｉｔｚ個のイメン、ぺ抗性電極装置２１を、ブロッ
ク２０内のｆｊ′ｌｉ：通路２２内ｒ（イオン電極２３
が露出するように配置１号シてなる。
うに、試Ａ、：１液の流１通するブロック２ｏｉｃｔ、
１ａｉｔｚ個のイメン、ぺ抗性電極装置２１を、ブロッ
ク２０内のｆｊ′ｌｉ：通路２２内ｒ（イオン電極２３
が露出するように配置１号シてなる。
しかしながら、第１図に示す流通型・ｒオン分析装置ｔ
イには次のよ′）々問題がある。すなわち、流通路２２
の径を小さくすると、目詰まル全生じ易いので微量の試
料液についてのイオン分析に適さない。といって、流通
路２２の径を大きくすると、複数種の試料液ｔＪ＠次に
流して分析しようとすると、流通路２２内で異なる試料
液同志の混合が生じて、正確に試料液のイオン分析金す
ることができない。
イには次のよ′）々問題がある。すなわち、流通路２２
の径を小さくすると、目詰まル全生じ易いので微量の試
料液についてのイオン分析に適さない。といって、流通
路２２の径を大きくすると、複数種の試料液ｔＪ＠次に
流して分析しようとすると、流通路２２内で異なる試料
液同志の混合が生じて、正確に試料液のイオン分析金す
ることができない。
この発明は、微量の試料液中の複数種のイオンの濃度全
同時に、かつ正確に測定可能な構成の簡単なイオン選択
性電極装置およびこれを使用した流通型イオン分析装置
を提供することを目的とするものである。
同時に、かつ正確に測定可能な構成の簡単なイオン選択
性電極装置およびこれを使用した流通型イオン分析装置
を提供することを目的とするものである。
前記目的を達成するためのこの発明の概要は、中心に細
径孔を有するように絶縁材料で形成した板状基体と細径
孔の内周面および板状基体の両面に形成した金属層と、
少なくとも細径孔の内周面に形成した金属層上に形成し
たイオン感応層とを有する複数の電極を、細径孔が試料
液の流通路となるように、互いに電気的に絶縁して連結
してなることを特徴とするイオン選択性電極装置であシ
、また、中心に細径孔を有するように絶縁材料で形成し
た板状基体と、細径孔の内周面および板状基体の両面に
形成した金属層と、少なくとも細径孔の内周面に形成し
た金属層上に形成したイオン感応層と４有する複数の電
極乏、細径孔が試料液の流通路となるように、互いに電
気的に絶縁して連結してなるイオン選択性電極装置と、
イオン選択性霜、極装置の各電極より出力される起電力
により、試料液中のもτ数種のイオンの鎧度全演算する
演算部とｌｒ有することｔ特徴とする流通型イオン分析
装置浜である。
径孔を有するように絶縁材料で形成した板状基体と細径
孔の内周面および板状基体の両面に形成した金属層と、
少なくとも細径孔の内周面に形成した金属層上に形成し
たイオン感応層とを有する複数の電極を、細径孔が試料
液の流通路となるように、互いに電気的に絶縁して連結
してなることを特徴とするイオン選択性電極装置であシ
、また、中心に細径孔を有するように絶縁材料で形成し
た板状基体と、細径孔の内周面および板状基体の両面に
形成した金属層と、少なくとも細径孔の内周面に形成し
た金属層上に形成したイオン感応層と４有する複数の電
極乏、細径孔が試料液の流通路となるように、互いに電
気的に絶縁して連結してなるイオン選択性電極装置と、
イオン選択性霜、極装置の各電極より出力される起電力
により、試料液中のもτ数種のイオンの鎧度全演算する
演算部とｌｒ有することｔ特徴とする流通型イオン分析
装置浜である。
第２図は第１の発明の一実施例であるイオン選択性電極
装置を示フー一部切欠斜視図であシ、第６図ｆｉ第２の
発明の一実施例である流通型イオン分析装＃ｉを示す説
明図である。
装置を示フー一部切欠斜視図であシ、第６図ｆｉ第２の
発明の一実施例である流通型イオン分析装＃ｉを示す説
明図である。
第２図に示すように、イオン選択性電極装置は、絶縁利
料で形成した、中心に細径孔１有１゛るドーナツ板状の
基体１、基体１の両面および細径孔の内周面に形成した
金属層２、および、細径孔の内周面に形成された金属層
２上に形成され１こイオン感応層３を有する複数個たと
えば４個の電極４Δ。
料で形成した、中心に細径孔１有１゛るドーナツ板状の
基体１、基体１の両面および細径孔の内周面に形成した
金属層２、および、細径孔の内周面に形成された金属層
２上に形成され１こイオン感応層３を有する複数個たと
えば４個の電極４Δ。
４Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄと、各’１Ｕｉｄ！Ａ４Ａ、４Ｂ
、４Ｃ，４ＤＦ）両Ｆｆｊｊに接して配置され、前記ド
ーナツ板状の基体の細径孔とはぼ同じ径の＃！ＩＩ径孔
全有するドーナツ板状の被数個たとえば５個の絶縁板５
と、前記４個の電極４Ａ 、 ４Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄと
５個の絶縁板５とをそれぞれ細径孔が一致するように交
互に配置したものを軸線上の両側から挾みつけて一体化
すると共に流路接続孔６會有する２個の保持板７と孕具
備する０ ４個の電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄのうち、たとえば、
１個の電極４Ａは比較電極であり、他の３１Ｒ：Ｉの１
；Ｌ極４Ｂ、４Ｃ，４Ｄはそれぞれ異なるイオンたとえ
ばＨａ ＋、 Ｋ” 、 ＣＩ、−ｆ検出するイオン選
択性電極であるＯ 各電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄ葡構成する基体１は、た
とえば、細径孔の内径が約１−であり、外周貰での直径
が約１０−Ｍであり、厚みが約１．５棺であるドーナツ
板状に絶縁材料で形成される。絶縁材料としては、ベー
クライト、フェノール樹脂、エボキシイ刃脂、紙エポキ
シ混合体、ガラスエポキシ混合体およびセラミック等ケ
使用するＣとができる０ ４’ｒ’ｉ（Ｌ’ｒｌｔ＜ ４４４１）ａ ４ｃ＃ ４
Ｄ ”ｓ： 構成Ｔ ル金ＨＡ層２ ハ、たとえば、金
Ｂ ｉＦｉのｐ古着、カｔｌｉ ’ｆ’に： ｊ’ｌ’
！メッキ、イオンブレーティング、蒸着等により形成す
ることができ、特に、電子回路等に用いられるプリント
配線基板作成の技術欠利用して１β１単に形成すること
ができろ０金属Ｈ’ｔ ２ ｚ形成ツーる金属としては
、ｌことえは白金、金、鋼、クトＩＩ等ケ用いることが
でき、また、金属屑２を」１、ドーナツル（状の基体１
の表面に形成し１む哨の第１層と、第１層の表面に形成
した金ま１こは銀の第２層とからなる２層構造としても
よい。また、″”３４、／ｌドが比較電極の場合、金属
層２０表面は少なくとも塩化鉄であるのが好ましい０し
たがって、比り：ゾ電極の金属ノー２として銀を用いた
場合、その表１７ｉｒ全電解等により塩化銀蓄析出させ
ておき、また、金属層２を銀以外の物質たとえば銅、白
金、金等會用いた場合、これらの金属表面ｔメッキ、イ
オンブレーティング、真空蒸着等により銀で被覆し、次
いで電解箔−により前記銀表面に塩化録音析出させてお
くのが好ましい。
、４Ｃ，４ＤＦ）両Ｆｆｊｊに接して配置され、前記ド
ーナツ板状の基体の細径孔とはぼ同じ径の＃！ＩＩ径孔
全有するドーナツ板状の被数個たとえば５個の絶縁板５
と、前記４個の電極４Ａ 、 ４Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄと
５個の絶縁板５とをそれぞれ細径孔が一致するように交
互に配置したものを軸線上の両側から挾みつけて一体化
すると共に流路接続孔６會有する２個の保持板７と孕具
備する０ ４個の電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄのうち、たとえば、
１個の電極４Ａは比較電極であり、他の３１Ｒ：Ｉの１
；Ｌ極４Ｂ、４Ｃ，４Ｄはそれぞれ異なるイオンたとえ
ばＨａ ＋、 Ｋ” 、 ＣＩ、−ｆ検出するイオン選
択性電極であるＯ 各電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄ葡構成する基体１は、た
とえば、細径孔の内径が約１−であり、外周貰での直径
が約１０−Ｍであり、厚みが約１．５棺であるドーナツ
板状に絶縁材料で形成される。絶縁材料としては、ベー
クライト、フェノール樹脂、エボキシイ刃脂、紙エポキ
シ混合体、ガラスエポキシ混合体およびセラミック等ケ
使用するＣとができる０ ４’ｒ’ｉ（Ｌ’ｒｌｔ＜ ４４４１）ａ ４ｃ＃ ４
Ｄ ”ｓ： 構成Ｔ ル金ＨＡ層２ ハ、たとえば、金
Ｂ ｉＦｉのｐ古着、カｔｌｉ ’ｆ’に： ｊ’ｌ’
！メッキ、イオンブレーティング、蒸着等により形成す
ることができ、特に、電子回路等に用いられるプリント
配線基板作成の技術欠利用して１β１単に形成すること
ができろ０金属Ｈ’ｔ ２ ｚ形成ツーる金属としては
、ｌことえは白金、金、鋼、クトＩＩ等ケ用いることが
でき、また、金属屑２を」１、ドーナツル（状の基体１
の表面に形成し１む哨の第１層と、第１層の表面に形成
した金ま１こは銀の第２層とからなる２層構造としても
よい。また、″”３４、／ｌドが比較電極の場合、金属
層２０表面は少なくとも塩化鉄であるのが好ましい０し
たがって、比り：ゾ電極の金属ノー２として銀を用いた
場合、その表１７ｉｒ全電解等により塩化銀蓄析出させ
ておき、また、金属層２を銀以外の物質たとえば銅、白
金、金等會用いた場合、これらの金属表面ｔメッキ、イ
オンブレーティング、真空蒸着等により銀で被覆し、次
いで電解箔−により前記銀表面に塩化録音析出させてお
くのが好ましい。
比較電極４Ａにおけるイオン感応層６は、たとえば、次
のようにして形成することができる。すなわち、結晶を
磨砕して徽粉沫とした塩化カリウム２９部、ポリ塩化ビ
ニ／Ｉ／７部およびテトラハイトロンラン６４部を混合
してなる懸濁液ケ銀および塩化銀を有する金属層２の表
面に塗布した後、テトラハイド０７シン金蓋発、除去す
ることにより、塩化カリウム含有被膜を形成し、次いで
保護膜として、前記塩化カリウム含有被瞑の表面にポリ
塩化ビニルのテトラハイドロフラン溶液の塗布およびテ
トラハイドロフランの蒸発除去により、ポリ塩化ビニル
膜ケ形成する。
のようにして形成することができる。すなわち、結晶を
磨砕して徽粉沫とした塩化カリウム２９部、ポリ塩化ビ
ニ／Ｉ／７部およびテトラハイトロンラン６４部を混合
してなる懸濁液ケ銀および塩化銀を有する金属層２の表
面に塗布した後、テトラハイド０７シン金蓋発、除去す
ることにより、塩化カリウム含有被膜を形成し、次いで
保護膜として、前記塩化カリウム含有被瞑の表面にポリ
塩化ビニルのテトラハイドロフラン溶液の塗布およびテ
トラハイドロフランの蒸発除去により、ポリ塩化ビニル
膜ケ形成する。
イオン選択性電極４１３，４Ｃ，４Ｄにおけるイオン感
応層３は、たとえば次のようにして形成ノーることかで
きる。
応層３は、たとえば次のようにして形成ノーることかで
きる。
イオン選択性電極４ＢグＥ＊素イオン電極である場合、
金属屑２の表面に、メチルトリドデシルアンモニウムク
ロライド１．８〜２．３部、ポリ塩化ビニル６．７〜Ｚ
２部およびテトラハイドロフラン９１部よりなる溶液を
塗布し、次いでテトラハイドロフラン全蒸発、除去する
ことにより、一定の厚みケ有する塩素イオン感応層３全
形成することができる。
金属屑２の表面に、メチルトリドデシルアンモニウムク
ロライド１．８〜２．３部、ポリ塩化ビニル６．７〜Ｚ
２部およびテトラハイドロフラン９１部よりなる溶液を
塗布し、次いでテトラハイドロフラン全蒸発、除去する
ことにより、一定の厚みケ有する塩素イオン感応層３全
形成することができる。
イオン選択性電極４ｃがカリウムイオン電極である。１
合、金属屑２の表面に、パリノマイシン０，２〜０．５
部、可塑剤た表えばジオクチルアジベ−１・４．５〜５
．４部、ポリ塩化ビニル６．７〜４．５部およびテトラ
ハイドロフラン８９７〜９１．７部よシなる溶）夜孕塗
布し、次いでテトラハイドロフランを除去することによ
り、一定の厚みケ有ブるカリウムイオン感応層ろ全形ｔ
Ａ−することができる。
合、金属屑２の表面に、パリノマイシン０，２〜０．５
部、可塑剤た表えばジオクチルアジベ−１・４．５〜５
．４部、ポリ塩化ビニル６．７〜４．５部およびテトラ
ハイドロフラン８９７〜９１．７部よシなる溶）夜孕塗
布し、次いでテトラハイドロフランを除去することによ
り、一定の厚みケ有ブるカリウムイオン感応層ろ全形ｔ
Ａ−することができる。
・ｒオン選択性電（ａ４（、’がナトリウノ・イオン電
極子ｊ’ｘ ルＪ’Ｆ５ 台’ ％金Ｊ’７ｊ Ｊ’／
シｊ ２の表面に、モネンシン０．２〜０，５部、可塑
剤たとえばジオクチルアジペート４．５〜５−４ ｉ１
＋、ポリ塩化ビニノ【・６．７〜４．５部およびテトラ
ハイドロ７．９７８９７〜９１，７部よりなる溶液全塗
布し、次いでテトラハイドロフラン業除去する仁とにょ
シ、一定の厚みを有するナトリウムイオン感応層６を形
成することができる。
極子ｊ’ｘ ルＪ’Ｆ５ 台’ ％金Ｊ’７ｊ Ｊ’／
シｊ ２の表面に、モネンシン０．２〜０，５部、可塑
剤たとえばジオクチルアジペート４．５〜５−４ ｉ１
＋、ポリ塩化ビニノ【・６．７〜４．５部およびテトラ
ハイドロ７．９７８９７〜９１，７部よりなる溶液全塗
布し、次いでテトラハイドロフラン業除去する仁とにょ
シ、一定の厚みを有するナトリウムイオン感応層６を形
成することができる。
絶１ｆｉｉＵｉ ５ ａ、’Ｋ１１Ｍ ４Ａ、 ４Ｂ、
４Ｃ、４Ｄ 全Ｗ’４成Ｔ ル基体１ＶＣ使用するの
と同じ絶縁材料で形成することができる。また、絶縁板
５は、各電極４Ａ、４Ｂ。
４Ｃ、４Ｄ 全Ｗ’４成Ｔ ル基体１ＶＣ使用するの
と同じ絶縁材料で形成することができる。また、絶縁板
５は、各電極４Ａ、４Ｂ。
４Ｃ，４Ｄを互いに絶縁するために用いられる。
なお、第２図において、８で示すのはリード線であシ、
各％、極４Ａ 、 ４１３．４Ｃ、４Ｄで発生する起電
力を取シ出すために各金属層２に半田等により電気的に
接続される。
各％、極４Ａ 、 ４１３．４Ｃ、４Ｄで発生する起電
力を取シ出すために各金属層２に半田等により電気的に
接続される。
以上のようにイオン選択性電極装置全構成すると、細径
孔により形成される流通路内に６種のイオン感応層３と
比較電極４Ａとが露出しているので、流通路内に試料液
を流通させることにょシ、Ｗα十、に＋、Ｃ１”−〕３
種ノイオン奮検出することができる。細径孔にょシ形
成される流通路内の芥租が小さく構成されているので、
ｒｌｔＭの試料液であっても、好適にイオンの検出ケす
ることができる。
孔により形成される流通路内に６種のイオン感応層３と
比較電極４Ａとが露出しているので、流通路内に試料液
を流通させることにょシ、Ｗα十、に＋、Ｃ１”−〕３
種ノイオン奮検出することができる。細径孔にょシ形
成される流通路内の芥租が小さく構成されているので、
ｒｌｔＭの試料液であっても、好適にイオンの検出ケす
ることができる。
さらに、？３縁材料で形成した絶縁板５およびドーナツ
板状の基体１ ｉｔ断熱材として（、ｆ’Ｊ能するので
。
板状の基体１ ｉｔ断熱材として（、ｆ’Ｊ能するので
。
イオン検出時の試料液の温度低下を防止して、常に温Ｊ
庄−・定下での、正確な分析をすることができる。
庄−・定下での、正確な分析をすることができる。
この温度低下耐防止するという機能は、基体１自身を金
Ｅで形成した場合にはとうてい得られないも（７：）
ｆ ／り 、：）。マタ、Ｔｏ：’ｆｌｉ ４Ａ −４
Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄ ｔｒｉ、プリント配線基板作成の
技術にょシ容易姉製作することができるので、イオン選
択性電極装置盆安価に製造することができる。
Ｅで形成した場合にはとうてい得られないも（７：）
ｆ ／り 、：）。マタ、Ｔｏ：’ｆｌｉ ４Ａ −４
Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄ ｔｒｉ、プリント配線基板作成の
技術にょシ容易姉製作することができるので、イオン選
択性電極装置盆安価に製造することができる。
次に、第２の発ｆ！ＩＪの一実施例である流通型イオン
分析装置について説明すル。
分析装置について説明すル。
第３図において、９で示すのはイオン選択性電極装置で
あり１弟２図に示１−のと同様の構成を有する。イオン
選択性電イへ装置９の両端に位置する保持板７の流路接
続孔６には、それぞれチューブ１０が接続芒れてぃて、
試料液たとえば血清が図不矢印方回に流通する。１１で
示すのは、増幅器であり、イオン選択性電極装置９内の
４個の電極４Ａ 、 ４Ｂ、 ４Ｃ、４１）より出力さ
れる起電力全検知する。１２で示すのは演算部であシ、
比較電極４Ａと他の電極４Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄとの間の
起電力全検知し、その起電力に基づいて試料液中の各種
イオンの０度全演算するように構成されている。また、
１６で示すのは表示装置であシ、演算部１２で得られた
各種イオンの濃度ケ表示する○ 以上のように流通型イオン分析装置６．ｋ ｌ’ｉ＃成
し、たとえば、第６図中の矢印方向に血清試料ケ流すと
、イオン選択性電体装置９内の流通路全血清試料が流通
する際、４個の電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４１）は血清試
料中のイオ７ａ−ｊなわち、Ｈａ −’−、、に７−’
−、Ｃｔ−に応じた起電力を生じさせ、リード線８ヶ介
し−Ｃ１増ｆ閤器１１にその起電力全出力する０起γ：
エカｔ」１、Ｊ曽１陥器１１で増幅された後、演ｎ部１
２ｉで入力する。演算部１２は、３個の電極４Ｂ、４Ｃ
，４１）それぞれと比較電極４Ａとの間の起電力に基づ
き、Ｎａ３゜Ｉ（＋、 ｃｔ−のイオン濃度勿演算し、
表示装置代１６にその値企表示することができる。
あり１弟２図に示１−のと同様の構成を有する。イオン
選択性電イへ装置９の両端に位置する保持板７の流路接
続孔６には、それぞれチューブ１０が接続芒れてぃて、
試料液たとえば血清が図不矢印方回に流通する。１１で
示すのは、増幅器であり、イオン選択性電極装置９内の
４個の電極４Ａ 、 ４Ｂ、 ４Ｃ、４１）より出力さ
れる起電力全検知する。１２で示すのは演算部であシ、
比較電極４Ａと他の電極４Ｂ 、 ４Ｃ、４Ｄとの間の
起電力全検知し、その起電力に基づいて試料液中の各種
イオンの０度全演算するように構成されている。また、
１６で示すのは表示装置であシ、演算部１２で得られた
各種イオンの濃度ケ表示する○ 以上のように流通型イオン分析装置６．ｋ ｌ’ｉ＃成
し、たとえば、第６図中の矢印方向に血清試料ケ流すと
、イオン選択性電体装置９内の流通路全血清試料が流通
する際、４個の電極４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４１）は血清試
料中のイオ７ａ−ｊなわち、Ｈａ −’−、、に７−’
−、Ｃｔ−に応じた起電力を生じさせ、リード線８ヶ介
し−Ｃ１増ｆ閤器１１にその起電力全出力する０起γ：
エカｔ」１、Ｊ曽１陥器１１で増幅された後、演ｎ部１
２ｉで入力する。演算部１２は、３個の電極４Ｂ、４Ｃ
，４１）それぞれと比較電極４Ａとの間の起電力に基づ
き、Ｎａ３゜Ｉ（＋、 ｃｔ−のイオン濃度勿演算し、
表示装置代１６にその値企表示することができる。
このように、第２図に示す構成のイオン、選択性電極装
置９を用いて流通型イオン分析装置ｒｌ奮構成すると、
微量の試料液全流通させることにょシ、試料液中の複数
種のイオン濃度全算出し、表示することができる。
置９を用いて流通型イオン分析装置ｒｌ奮構成すると、
微量の試料液全流通させることにょシ、試料液中の複数
種のイオン濃度全算出し、表示することができる。
以上、この発明の一実施例についてそれぞれ詳述し１こ
が、仁の発明は前記実施例に限定されるものではなく、
この発明の要旨を変更しない範囲で適宜に変形して実施
７２．ことができるのはいうまでもない〇 たとえば、イオン選択性電極装置に関し、前記実施例に
おいては、此較電仏ケ含めて４ （１，’：ｊの電極が
装備されているが、Ｎα＋、ｘ十、 ｃｌ−以外のイオ
ンの検出可能な他の電極をさらに月加して５１１・″４
以−）二の電イ水を装置ｉｔｕ シてもよい。さらに、
イオンの検ｔ’ｊ＞り能な電極の他に、流通する試料液
の温度を検／ＪＪテるン品度補償電祢を装備してもよい
。温度補償Ｆｒ１Ｊ：４夕として、たとえｔ、１：サー
ミスタ、白金抵抗体、燕電夕：ｊ 、半導体温１ｔセン
−す等゛と適宜に使用することができる。
が、仁の発明は前記実施例に限定されるものではなく、
この発明の要旨を変更しない範囲で適宜に変形して実施
７２．ことができるのはいうまでもない〇 たとえば、イオン選択性電極装置に関し、前記実施例に
おいては、此較電仏ケ含めて４ （１，’：ｊの電極が
装備されているが、Ｎα＋、ｘ十、 ｃｌ−以外のイオ
ンの検出可能な他の電極をさらに月加して５１１・″４
以−）二の電イ水を装置ｉｔｕ シてもよい。さらに、
イオンの検ｔ’ｊ＞り能な電極の他に、流通する試料液
の温度を検／ＪＪテるン品度補償電祢を装備してもよい
。温度補償Ｆｒ１Ｊ：４夕として、たとえｔ、１：サー
ミスタ、白金抵抗体、燕電夕：ｊ 、半導体温１ｔセン
−す等゛と適宜に使用することができる。
また、流通型イオン分析装置に関し、温１１ｊ、補償電
極全装備するイオン選択性電極装置金用い、温度補償電
極よ多出力される起電力にょシ試料液の温度音検出し、
検出した温度下で算出したイオン濃度を設定温度下での
イオン濃度に換算するように構成した演算部を用いて、
流通型イオン分析装置奮構成してもよい。
極全装備するイオン選択性電極装置金用い、温度補償電
極よ多出力される起電力にょシ試料液の温度音検出し、
検出した温度下で算出したイオン濃度を設定温度下での
イオン濃度に換算するように構成した演算部を用いて、
流通型イオン分析装置奮構成してもよい。
〔発明の効果〕
この発明によると、試料液全流通させる流通路が＃ｌｌ
＋径であるので、微量の試料液の分析ケする仁とができ
る。イオン選択性′電極装置は、複数の１１℃極を装備
しているので、複数ａのイメンの濃度を分析することが
できる。また、イオン選」Ｒｉ’Ｌ １釧祇装置内の流
通ｊ洛は、絶縁材４３［で形成式れ）ζ基体および絶縁
・坂で回線されているので、流通路内の試料液の温度低
下？防止して、正確な測定が０７能である。
＋径であるので、微量の試料液の分析ケする仁とができ
る。イオン選択性′電極装置は、複数の１１℃極を装備
しているので、複数ａのイメンの濃度を分析することが
できる。また、イオン選」Ｒｉ’Ｌ １釧祇装置内の流
通ｊ洛は、絶縁材４３［で形成式れ）ζ基体および絶縁
・坂で回線されているので、流通路内の試料液の温度低
下？防止して、正確な測定が０７能である。
第１図は従来の流通型イオン分析装置を示ｊ ｌｌｉ而
１面」、ムＴ ２図は第１の発明の一冥施例２示ブー一
部切欠斜視図および帛３図は第２の発明の一実施例を示
す説Ｅ！ＪＪ図である。 １・・・基体、 ２・・・金属層、 ６・・・イオ
ン感応層、９・・・イオン選択性電極装置、 １２・
・・演算部。 ３ 第２図 ４゜ ４Ｂ。
１面」、ムＴ ２図は第１の発明の一冥施例２示ブー一
部切欠斜視図および帛３図は第２の発明の一実施例を示
す説Ｅ！ＪＪ図である。 １・・・基体、 ２・・・金属層、 ６・・・イオ
ン感応層、９・・・イオン選択性電極装置、 １２・
・・演算部。 ３ 第２図 ４゜ ４Ｂ。
Claims (6)
- （１） 中心に細径孔會有するように絶縁材料で形成
した板状基体と細径孔の内局面および板状基体の両面に
形成した金ト；層と、少なくとも細径孔の内周面に形成
した金属層上に形成したイオン感応層と會有する枚数の
電信奮、細径孔が試料液の流通路となるように、互いに
電気的に絶縁して連結してなることケ特徴とするイオン
選択性電極装置。 - （２） 前Ｗｊ２板状基体か、ベークライト、フェノ
ール樹脂、エポキシ樹脂、紙エポキシ混合体、ガラスエ
ポキシ混合体およびセラミックよシなる群から選択され
る絶縁材ネ・１で形成されることｖＬ−特徴とする特許
請求の範囲第１項に記載のイオン選択性電極装置。 - （３）前記金属層が、白金、金、銀、銅の単体およびこ
れら金屑の合金よりなる群より選択される金属で、形成
されることを特徴とする特許請求の範囲第１項または第
２項Ｋ１１ｅ載のイオン選択性電極装置。 - （４）前記金ｉ層が、前記板状基体の内周面に形成され
た銅層と銅層上に形成されプこ、欽および金よシなる群
よシ選択された金属層との二Ｒｊｉ構造を有することを
特徴とする特許Ｎｆｌ求の範囲第１項または第２項に記
載のイオン選択性４Ｊｊｉ極装ｆ斤。 - （５）前記金属層が、金属メッキ法により形成されでな
ることケ特徴とするパ躍許請求の範囲第１項から第４項
までのいずれかに記載のイオン選択性電極装置。 - （６）複数の電極におけるイオン感応層は、互いに異な
るイオン種の検出が可能に構成されることを特徴とする
特許請求の範囲第１項から第５項までのいずれか（で記
載のイオン選択性電極やｉ置○（７）中心に細径孔企壱
するように絶縁材料で形成した板状基体と、細径孔の内
周面および板状基体の両面に形成した金属層と、少なく
とも細径孔の内周面に形成した金属層上に形成したイオ
ン感応層とを有する複数の電極業、細径孔が試料液の流
通路となるように、互いに電気的に絶縁して連結してな
るイオン選択性電極装置と、イオン選択性電極装置の各
電極より出力はれる起電力にょシ、試料液中の？ｌ／
ＣＱ ｆ（＜のイメンの赳度孕演算１”Ｚ）演算部と孕
有フーることを特徴とする流通型イオン分析装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57149774A JPS5938647A (ja) | 1982-08-28 | 1982-08-28 | イオン選択性電極装置と流通型イオン分析装置 |
| US06/524,074 US4533457A (en) | 1982-08-28 | 1983-08-17 | Ion selective electrode device and ion analyzing apparatus |
| DE8383108221T DE3376762D1 (en) | 1982-08-28 | 1983-08-19 | Ion selective electrode device and ion analyzing apparatus |
| EP83108221A EP0102042B1 (en) | 1982-08-28 | 1983-08-19 | Ion selective electrode device and ion analyzing apparatus |
| US06/674,031 US4647362A (en) | 1982-08-28 | 1984-11-23 | Ion selective electrode device and ion analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57149774A JPS5938647A (ja) | 1982-08-28 | 1982-08-28 | イオン選択性電極装置と流通型イオン分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5938647A true JPS5938647A (ja) | 1984-03-02 |
| JPH0233981B2 JPH0233981B2 (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=15482431
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57149774A Granted JPS5938647A (ja) | 1982-08-28 | 1982-08-28 | イオン選択性電極装置と流通型イオン分析装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US4533457A (ja) |
| EP (1) | EP0102042B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5938647A (ja) |
| DE (1) | DE3376762D1 (ja) |
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| JP2009530631A (ja) * | 2006-03-17 | 2009-08-27 | エレメント シックス リミテッド | マイクロ電極アレイ |
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-
1983
- 1983-08-17 US US06/524,074 patent/US4533457A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-08-19 DE DE8383108221T patent/DE3376762D1/de not_active Expired
- 1983-08-19 EP EP83108221A patent/EP0102042B1/en not_active Expired
-
1984
- 1984-11-23 US US06/674,031 patent/US4647362A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
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| EP0102042B1 (en) | 1988-05-25 |
| US4647362A (en) | 1987-03-03 |
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| DE3376762D1 (en) | 1988-06-30 |
| EP0102042A2 (en) | 1984-03-07 |
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