JPS5934170A - 断路器の充電電流しや断時対地絶縁検証試験法 - Google Patents
断路器の充電電流しや断時対地絶縁検証試験法Info
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- JPS5934170A JPS5934170A JP57143417A JP14341782A JPS5934170A JP S5934170 A JPS5934170 A JP S5934170A JP 57143417 A JP57143417 A JP 57143417A JP 14341782 A JP14341782 A JP 14341782A JP S5934170 A JPS5934170 A JP S5934170A
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- charging current
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H33/00—High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
- H01H33/02—Details
- H01H33/26—Means for detecting the presence of an arc or other discharge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は接地タンク形ガス絶縁断路器の充電電流しゃ断
時の対地絶縁性能の検証法に関する。
時の対地絶縁性能の検証法に関する。
ガス絶縁断路器の充電電流しゃ断試験は現地と近似等価
な回路を構成して行うのが普通である。
な回路を構成して行うのが普通である。
第１図はこの一例を示したものである。断路器１の片端
には母線５を介し交流′電源２が接続され、逆側には母
線３を介ししゃ断器４が収シ付けられている。しゃ断器
４の先には更に母線６が接続された回路構成である。こ
こでしゃ断器４が開極状態になると断路器１の負荷側に
は母線３の静電容ｆｉｉｃｔのみが付加された回路にな
る。ここで断路器１を開極する場合、負荷容量Ｃｔの充
電電流しゃ断になる。第２図は充電電流しゃ断時の電源
側電圧Ｖ、と負荷側電圧Ｖｔの推移を示したものである
。
には母線５を介し交流′電源２が接続され、逆側には母
線３を介ししゃ断器４が収シ付けられている。しゃ断器
４の先には更に母線６が接続された回路構成である。こ
こでしゃ断器４が開極状態になると断路器１の負荷側に
は母線３の静電容ｆｉｉｃｔのみが付加された回路にな
る。ここで断路器１を開極する場合、負荷容量Ｃｔの充
電電流しゃ断になる。第２図は充電電流しゃ断時の電源
側電圧Ｖ、と負荷側電圧Ｖｔの推移を示したものである
。
時間ｔ、で断路器が開極し、再発弧、再点弧を繰シ返し
１ｏでしゃ断が完了する。再点弧の際には同図に示すよ
うにサージ電圧が＞ａ生じ、特に図示のごとく交流電圧
の波高値間での再点弧では２、ｓｐｕ相当（ｎ＝ｚｓ）
までのサージ電圧が発生する場合がおる。断路器として
はこのような状況下においても対地絶縁を満足しなけれ
ばならない。しかしながら、このような試験では試験毎
に最終再点弧時の状況が異なシ、発生サージ電圧が複雑
に変動するため、現地で起こ９得る条件を満足するため
には極めて多数回の試験と多大な費用を要する欠点があ
る。
１ｏでしゃ断が完了する。再点弧の際には同図に示すよ
うにサージ電圧が＞ａ生じ、特に図示のごとく交流電圧
の波高値間での再点弧では２、ｓｐｕ相当（ｎ＝ｚｓ）
までのサージ電圧が発生する場合がおる。断路器として
はこのような状況下においても対地絶縁を満足しなけれ
ばならない。しかしながら、このような試験では試験毎
に最終再点弧時の状況が異なシ、発生サージ電圧が複雑
に変動するため、現地で起こ９得る条件を満足するため
には極めて多数回の試験と多大な費用を要する欠点があ
る。
これを解消する方法として、第３図のような回路を構成
し、第２図の時間１１から１２の間を模擬しようとする
試験法も考案されている。この方法は断路器１の両端に
ブッシング１０．１１を配置し、ブッシング１０側には
電源２０、コンデンサ２２を接続し、もう一方のブッシ
ング１１側には別の電源２１とコンデンサ２３を接続し
た回路構成で行うものである。電源２１゛は第３図にお
ける負荷側電圧Ｖｔを模擬するだめの直流電圧発生器で
あシ、電源２０は電源２１と逆極性の電源電圧Ｖ、を模
擬するためのインパルス電圧発生器あるいは半波交流電
圧発生器等である。この試験では充電電流しゃ断時の最
大アーク長相当に断路器の極間長を設定し、交流のピー
ク値に相当する直流′電圧を電源２１よシ印加する。そ
の後電源２０よシミ源２１とは逆極性の交流電圧の１／
４波形に相当する立上！１Ｍ７１′＃ｉ、圧を印加し、
最も厳しい再点弧状況を模擬し、この時発生するサージ
電圧における対地絶縁を検証する方法でるる。本方法に
因れば最も厳しい条件のみを選定して十分な検証試験が
可能であるが、高電圧の電源が２台必要になる点及び高
電圧用のブッシングが２本必要になる点等試験設備が大
規模になる欠点がある。特に近年開発が進められている
ＵＨＶ用の場合には一段と大規模になシ、試験費用は多
大なものになっている。
し、第２図の時間１１から１２の間を模擬しようとする
試験法も考案されている。この方法は断路器１の両端に
ブッシング１０．１１を配置し、ブッシング１０側には
電源２０、コンデンサ２２を接続し、もう一方のブッシ
ング１１側には別の電源２１とコンデンサ２３を接続し
た回路構成で行うものである。電源２１゛は第３図にお
ける負荷側電圧Ｖｔを模擬するだめの直流電圧発生器で
あシ、電源２０は電源２１と逆極性の電源電圧Ｖ、を模
擬するためのインパルス電圧発生器あるいは半波交流電
圧発生器等である。この試験では充電電流しゃ断時の最
大アーク長相当に断路器の極間長を設定し、交流のピー
ク値に相当する直流′電圧を電源２１よシ印加する。そ
の後電源２０よシミ源２１とは逆極性の交流電圧の１／
４波形に相当する立上！１Ｍ７１′＃ｉ、圧を印加し、
最も厳しい再点弧状況を模擬し、この時発生するサージ
電圧における対地絶縁を検証する方法でるる。本方法に
因れば最も厳しい条件のみを選定して十分な検証試験が
可能であるが、高電圧の電源が２台必要になる点及び高
電圧用のブッシングが２本必要になる点等試験設備が大
規模になる欠点がある。特に近年開発が進められている
ＵＨＶ用の場合には一段と大規模になシ、試験費用は多
大なものになっている。
本発明の目的はよシ簡便な方法により、小規模の設備に
よシ断路器充市電流しゃ断時の対地絶縁検証を可能にす
る方法を提供するにある。
よシ断路器充市電流しゃ断時の対地絶縁検証を可能にす
る方法を提供するにある。
本発明はガス絶縁母線の放電時定数が十分大きいことを
実験的に確認し、極間放電によシガス絶縁母線を充電す
ることによシガス母線に直流電圧を残留させ、従来方法
における直流電圧発生器を省略するようにした。すなわ
ち、断路器の片側からのみ電圧を印加する試験となるた
め、断路器の片側にのみブッシングがあれば良いことに
なる。
実験的に確認し、極間放電によシガス絶縁母線を充電す
ることによシガス母線に直流電圧を残留させ、従来方法
における直流電圧発生器を省略するようにした。すなわ
ち、断路器の片側からのみ電圧を印加する試験となるた
め、断路器の片側にのみブッシングがあれば良いことに
なる。
本発明の実施例を第４図に示す。接地タンク内に収納さ
れた断路器１の片側にガス母線３を接続し負荷を形成し
ている。１Ｍ路器ｌのもう一方Ｖ（はブッシング１０が
取付けられ、リード線２６によシミ源２０に接続されて
いる。なお、断路器１の′ＩＦ！源側及び負荷側の電圧
Ｖ ａ ｒ Ｖ ｔを測定するため分圧器２４．２５が
設けられている。また、負荷側ガス母線の静電容量Ｃｔ
とｄ源側の等価静電容量Ｃ１の間には実系統を模擬する
ためＣ１はＣｔに比べ少なくとも１桁大きな値となるよ
うにしている。このような回路構成においで、断路器１
の極間長をある値に設定し、電源２０より′電圧を印加
すると、ある値以上の電圧において第５図に示すような
電圧波形が得られる。第５図上段はｄ源側Ｖ、であシ、
時間ｔｏで印加されｔｌで前述の極間が放電し、負荷側
母線３に下段に示すような直流電圧Ｖｔが残留する形と
なる。この残留電圧の放電時定数は負荷側母線３の静電
容量Ｃ６と高電圧導体９を絶縁支持しているスペーサ７
等の絶Ｒ砥抗により決定される。一般にガス絶縁機器中
で使用されるスペーサ類の絶縁抵抗は大気中に比べ極め
て高いので、前述の放電時定数は数時間から数日のオー
ダである。すなわち、数１０分以内で試験をする限りに
おいては充電電圧がそのまま保持されていると考えても
さしつかえない。
れた断路器１の片側にガス母線３を接続し負荷を形成し
ている。１Ｍ路器ｌのもう一方Ｖ（はブッシング１０が
取付けられ、リード線２６によシミ源２０に接続されて
いる。なお、断路器１の′ＩＦ！源側及び負荷側の電圧
Ｖ ａ ｒ Ｖ ｔを測定するため分圧器２４．２５が
設けられている。また、負荷側ガス母線の静電容量Ｃｔ
とｄ源側の等価静電容量Ｃ１の間には実系統を模擬する
ためＣ１はＣｔに比べ少なくとも１桁大きな値となるよ
うにしている。このような回路構成においで、断路器１
の極間長をある値に設定し、電源２０より′電圧を印加
すると、ある値以上の電圧において第５図に示すような
電圧波形が得られる。第５図上段はｄ源側Ｖ、であシ、
時間ｔｏで印加されｔｌで前述の極間が放電し、負荷側
母線３に下段に示すような直流電圧Ｖｔが残留する形と
なる。この残留電圧の放電時定数は負荷側母線３の静電
容量Ｃ６と高電圧導体９を絶縁支持しているスペーサ７
等の絶Ｒ砥抗により決定される。一般にガス絶縁機器中
で使用されるスペーサ類の絶縁抵抗は大気中に比べ極め
て高いので、前述の放電時定数は数時間から数日のオー
ダである。すなわち、数１０分以内で試験をする限りに
おいては充電電圧がそのまま保持されていると考えても
さしつかえない。
なお、通常のコンデンサでは大気中に置かれるため時定
数はかなｐ短ぐなる。このような方法によシ、断路器の
極間長及び印加電圧を適宜変化させることによシ任意の
直流電圧を負荷側に与えることが可能となるため、従来
方法のような直流Ｑ源を別途設ける必要がなくなる。
数はかなｐ短ぐなる。このような方法によシ、断路器の
極間長及び印加電圧を適宜変化させることによシ任意の
直流電圧を負荷側に与えることが可能となるため、従来
方法のような直流Ｑ源を別途設ける必要がなくなる。
第６図は接地タンク形断路器の新路部の詳細を示したも
のである。接地タンク３０内に可動電極３２、固定電極
３３を配置し、それらの周囲には電界緩和用のシールド
３１．３４が取付けられている。
のである。接地タンク３０内に可動電極３２、固定電極
３３を配置し、それらの周囲には電界緩和用のシールド
３１．３４が取付けられている。
このような断路器の光電電流しゃ断時の対地絶縁性能は
最大アーク長となる可動電極位置における再点弧サージ
に対する性能で決定される。再点弧サージが最も高くな
るのは前述のように交流の正負極性の波高値間での再点
弧となる。すなわち、性能検証としては断路器極間を所
定の距離に離し、負荷側に１６流電圧を印加し、電源側
から逆極性同レベルの′電圧を印加することにより極間
を放電させ、その時の対地絶縁を検証することになる。
最大アーク長となる可動電極位置における再点弧サージ
に対する性能で決定される。再点弧サージが最も高くな
るのは前述のように交流の正負極性の波高値間での再点
弧となる。すなわち、性能検証としては断路器極間を所
定の距離に離し、負荷側に１６流電圧を印加し、電源側
から逆極性同レベルの′電圧を印加することにより極間
を放電させ、その時の対地絶縁を検証することになる。
本方法においては、まず所定の直流電圧を負荷に残留さ
せるため、ある極間長Ｌ１の状態において電源側よシミ
圧を印加する。この場合第７図のようにあらかじめ極間
長りとフラツンオーバ′Ｈ１圧Ｖの関係を求めておくと
、残留直流電圧の目安となる。このような方法により負
荷側に所定の直流電圧を残留させ、その後最大アーク長
等に見合う極間長まで極間距離を増大させる。引き続き
電源の極性を切換え、すでに残留した直流電圧の極性と
逆になるようにし、所定の電圧を印加する。第８図はこ
のときの電圧波形を示したものである。
せるため、ある極間長Ｌ１の状態において電源側よシミ
圧を印加する。この場合第７図のようにあらかじめ極間
長りとフラツンオーバ′Ｈ１圧Ｖの関係を求めておくと
、残留直流電圧の目安となる。このような方法により負
荷側に所定の直流電圧を残留させ、その後最大アーク長
等に見合う極間長まで極間距離を増大させる。引き続き
電源の極性を切換え、すでに残留した直流電圧の極性と
逆になるようにし、所定の電圧を印加する。第８図はこ
のときの電圧波形を示したものである。
負荷側残留電圧ｖＬと時間ｔ３で印加された電源電圧Ｖ
、によシ断路器極間は時間ｔ４でフラッジオーバする。
、によシ断路器極間は時間ｔ４でフラッジオーバする。
この状況は第２図における最終再点弧（時間ｔ１〜ｔ２
）を完全に模擬した形であシ、このとき発生するサージ
電圧Ｖ、による対地絶縁の検証が可能となる。なお、電
源電圧波形としては交流電圧の１／４サイクルに相当す
る立上シの波形を用いれば最も好ましいが、開閉インパ
ルス領域の波形でも対地絶縁検証は十分可能である。
）を完全に模擬した形であシ、このとき発生するサージ
電圧Ｖ、による対地絶縁の検証が可能となる。なお、電
源電圧波形としては交流電圧の１／４サイクルに相当す
る立上シの波形を用いれば最も好ましいが、開閉インパ
ルス領域の波形でも対地絶縁検証は十分可能である。
本方法に因れば、１台の′「］Ｌ源及び１本のブッシン
グで試験が可能となるため、小規模な試験装置で従来と
同様の検証試験を行うことができる。
グで試験が可能となるため、小規模な試験装置で従来と
同様の検証試験を行うことができる。
上述の方法においては、負荷側の直流残留電圧の制御は
可動電極と固定電極との極間長に頼らなければならない
ため変動が大きい。この理由としては、一般に断路器の
構造は非対称であるため放電に極性効果を生じ、一旦電
極間を放電させても極性に因っては逆閃絡（残留直流電
圧により電源側に放電する）や暗電流による放電が発生
するだめである。これを改善する方法としては、逆閃絡
や暗電流による放電が起こりにくい極性で初回の放電を
行い負荷側にその極性の直流電圧を残留させ、その復極
間長を増大させ逆極性の電圧を印加すれば、逆閃絡等を
生じ易い極性も充分残留させることか可能となる。この
場合には前述した手順よシも１回残留させるだめの放電
回数が増える。
可動電極と固定電極との極間長に頼らなければならない
ため変動が大きい。この理由としては、一般に断路器の
構造は非対称であるため放電に極性効果を生じ、一旦電
極間を放電させても極性に因っては逆閃絡（残留直流電
圧により電源側に放電する）や暗電流による放電が発生
するだめである。これを改善する方法としては、逆閃絡
や暗電流による放電が起こりにくい極性で初回の放電を
行い負荷側にその極性の直流電圧を残留させ、その復極
間長を増大させ逆極性の電圧を印加すれば、逆閃絡等を
生じ易い極性も充分残留させることか可能となる。この
場合には前述した手順よシも１回残留させるだめの放電
回数が増える。
更にこれを改善する方法を以下に述べる。
第９図は接地タンク３０の側面に窓４０を設け、照射装
置（水銀ランプ、レーザ発振器等）４１により電極３２
．３３間の照射を可能にしたものである。第１０図は照
射の有無による電極間の放心特性を示したものである。
置（水銀ランプ、レーザ発振器等）４１により電極３２
．３３間の照射を可能にしたものである。第１０図は照
射の有無による電極間の放心特性を示したものである。
同一電極間距離りにおいて、照射を行うことによシ放Ｉ
Ｅ電圧（ｌｉ’ ＯＶ ）をＶｏからｖｌに下げること
ができる。すなわち、印加電圧の波頭において照射を行
い、十分低い電圧で放電はせ、波尾で照射を止めること
によシ放電電圧を向上させ逆閃絡等を防止することが可
能となる。なお、照射の影響を波尾に残さないため、波
尾長を十分長く取ることが好せしい。
Ｅ電圧（ｌｉ’ ＯＶ ）をＶｏからｖｌに下げること
ができる。すなわち、印加電圧の波頭において照射を行
い、十分低い電圧で放電はせ、波尾で照射を止めること
によシ放電電圧を向上させ逆閃絡等を防止することが可
能となる。なお、照射の影響を波尾に残さないため、波
尾長を十分長く取ることが好せしい。
第１１図は可動電極３２の先端内部を〈シぬき、絶縁支
持物５０によシトツガ１！極５１を取り付けたものであ
る。本構造においては、印加電圧の波頭においてトリガ
電極５１と可動電極３２間に静電容量分圧による電位差
が発生し、この間が放電することによ多極間放電を低い
電圧で行わせることが可能となる。一旦放電した残は直
流電界となるため上述のような電位差は発生しなくなり
、前述の場合と同様逆閃絡等の防止が可能となる。
持物５０によシトツガ１！極５１を取り付けたものであ
る。本構造においては、印加電圧の波頭においてトリガ
電極５１と可動電極３２間に静電容量分圧による電位差
が発生し、この間が放電することによ多極間放電を低い
電圧で行わせることが可能となる。一旦放電した残は直
流電界となるため上述のような電位差は発生しなくなり
、前述の場合と同様逆閃絡等の防止が可能となる。
以上の方法に因れば直流電圧残留後の逆閃絡あるいは暗
電流による放′亀を防止することが容易になるため、直
流残留電圧の制御が容易に行えるようになり、試験の効
率が向上する。
電流による放′亀を防止することが容易になるため、直
流残留電圧の制御が容易に行えるようになり、試験の効
率が向上する。
本発明によれば、断路器充電電流しゃ断時の対地絶縁検
証が一電源の小規模な設備で可能となるため、定格電圧
の高い断路器になるほどその適用効果は大きくなる。特
にＵＨＶ級においてはブッシングの価格が非常に高価に
なるため、ブッシングが１本で済む試験法としてその効
果は大きい。
証が一電源の小規模な設備で可能となるため、定格電圧
の高い断路器になるほどその適用効果は大きくなる。特
にＵＨＶ級においてはブッシングの価格が非常に高価に
なるため、ブッシングが１本で済む試験法としてその効
果は大きい。
第１図は従来試験法の一例を示す回路図、第２図は第１
図における電圧波形例、第３図は従来試験法の他の例を
示す回路図、第４図は本発明になる一実施例を示す回路
図、第５図は第４図における電圧波形例、第６図は断路
器の断面詳細図、第７図、第８図は本発明の試験原理を
示す特性図、第９図は本発明の他の実施例を示す断面図
、第１０図は試験原理を示す特性図、第１１図は本発明
の他の実施例を示す断面図である。 １・・・断路器、２・・パル源、３，５．６・・・ガス
絶縁母線、４・・・しゃ断器、７・・・スペーサ、８・
・・中心導体、９・・・接地タンク、１０．１１・・・
ブッシング、２０゜２１・・・電源、２２．２３・・・
コンデンサ、３０・・・接地タンク、３１．３４・・・
シールド、３２・・・可動電極、３３・・・固定電極、
４０・・・窓、４１・・・照射装置、第１図 ′ｆＪ３図 １０ Ｌ＋ 第７図 ト 箭β図 第９図 Ｌ →
図における電圧波形例、第３図は従来試験法の他の例を
示す回路図、第４図は本発明になる一実施例を示す回路
図、第５図は第４図における電圧波形例、第６図は断路
器の断面詳細図、第７図、第８図は本発明の試験原理を
示す特性図、第９図は本発明の他の実施例を示す断面図
、第１０図は試験原理を示す特性図、第１１図は本発明
の他の実施例を示す断面図である。 １・・・断路器、２・・パル源、３，５．６・・・ガス
絶縁母線、４・・・しゃ断器、７・・・スペーサ、８・
・・中心導体、９・・・接地タンク、１０．１１・・・
ブッシング、２０゜２１・・・電源、２２．２３・・・
コンデンサ、３０・・・接地タンク、３１．３４・・・
シールド、３２・・・可動電極、３３・・・固定電極、
４０・・・窓、４１・・・照射装置、第１図 ′ｆＪ３図 １０ Ｌ＋ 第７図 ト 箭β図 第９図 Ｌ →
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、接地タンク内に可動電極と固定電極とを配置した基
本構成の断路器で、前記電極のどちらか一方の側に静電
容量性負荷を接続し、残りの一方の電極には電源を接続
し、まず電源よシ第１回目の電圧を印加することによシ
前記静電容量性負荷に電圧を残留させ、その後同じｄ源
側よシ第１回目の電圧とは逆極性に彦る第２回目の′ａ
圧を印加することによシ前記電極間を放シさせ対地絶縁
を検証することを特徴とする断路器の充電電流しゃ断時
対地絶縁検証試験法。 ２、特許請求の範囲第１項において、第２回目の電圧印
加時の可動電極と固定電極間の距離を第１回目の′電圧
印加時の前記電極間距離よシも大きくしたことを特徴と
する断路器の充＋１１流しゃ断時対地絶縁検証試験法。 。 ３、％許請求の範囲第１項において、第１回目の電圧を
印加する際、前記可動電極、固定電極の間を照射したこ
とを特徴とする断路器の充１！電流しゃ断時対地絶縁検
証試験法。 ４、％許請求の範囲第１項において、前記可動電極ある
いは固定電極の先端部に絶縁支持したトリガ電極を取シ
付けたことを特徴とする断路器の充電電流しゃ断時対地
絶縁検証試験法。 ５、特許請求の範囲第１項において、前記静電容量性負
荷として接地タンク内に中心導体を絶縁スペーサで支持
したガス絶縁母線を用いたことを特徴とする断路器の充
電電流しゃ断時対地絶縁検証試験法。 ６、％許請求の範囲第１項において、前記電源の等価静
電容量が前記静電容量性負荷の静電容量よシも一桁以上
大きくしたことを特徴とする断路器の充電電流しゃ断時
対地絶縁検証試験法。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57143417A JPS5934170A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 断路器の充電電流しや断時対地絶縁検証試験法 |
| US06/523,086 US4549132A (en) | 1982-08-20 | 1983-08-15 | Method of testing and verifying a performance for insulation to ground of a disconnecting switch when breaking a charging current |
| CA000434727A CA1205860A (en) | 1982-08-20 | 1983-08-16 | Method of testing and verifying a performance for insulation to ground of a disconnecting switch when breaking a charging current |
| KR1019830003846A KR890000692B1 (ko) | 1982-08-20 | 1983-08-17 | 단로기의 충전전류 차단시 대지절연 검증 시험법 |
| AU18076/83A AU544370B2 (en) | 1982-08-20 | 1983-08-17 | Disconnecting switch ground fault testing |
| IN1011/CAL/83A IN160109B (ja) | 1982-08-20 | 1983-08-17 | |
| DE8383108179T DE3379980D1 (en) | 1982-08-20 | 1983-08-18 | Method of testing and verifying a performance for insulation to ground of a disconnecting switch when breaking a charging current |
| EP83108179A EP0103758B1 (en) | 1982-08-20 | 1983-08-18 | Method of testing and verifying a performance for insulation to ground of a disconnecting switch when breaking a charging current |
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