JPS5928886B2 - 自動焦点検出装置 - Google Patents
自動焦点検出装置Info
- Publication number
- JPS5928886B2 JPS5928886B2 JP2268879A JP2268879A JPS5928886B2 JP S5928886 B2 JPS5928886 B2 JP S5928886B2 JP 2268879 A JP2268879 A JP 2268879A JP 2268879 A JP2268879 A JP 2268879A JP S5928886 B2 JPS5928886 B2 JP S5928886B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- focus
- focus detection
- detection device
- lens
- objective lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、瞳分割式自動焦点検出装置に関する。
このような装置においては、一般に、対物レンズの射出
瞳から出る結像作用光線を小レンズ群を通して分割し、
それぞれの分割光線を一対の光電素子の連続からなる自
己走査型光センサーに入射させ、それぞれの光センサー
からの出力信号の位相差によつて対物レンズのピットを
検出する。
瞳から出る結像作用光線を小レンズ群を通して分割し、
それぞれの分割光線を一対の光電素子の連続からなる自
己走査型光センサーに入射させ、それぞれの光センサー
からの出力信号の位相差によつて対物レンズのピットを
検出する。
このような装置においては、ピット検出精度が固定され
ているのが普通であり、その場合、検出精度は最高の状
態に設定されており、したがつて、対物レンズまたは被
写体の少しの移動によつても、合焦位置がずれてしまう
。また、検出結果にもとづき、手動によつて対物レンズ
を移動させ、ファインダー内等にあるフォーカス表示を
見ながらフォーカシングを行なう場合、検出精度が高い
と、その表示変化も微妙なので、非常に細かな神経が要
求される。また、検出結果にもとづき、モーター等によ
り自動的に対物レンズを移動させるものにあつては、常
にモーター等が回転していることになり、非常にわずら
れしいものとなる。さらに、撮影時の対物レンズのＦ値
は、絞り込まれて使用されている場合が多いので、検出
精度が固定されていると、必要以上の高精度でフォーカ
シングが行なわれることになる。この発明の目的は、ピ
ット検出精度すなわち合焦精度を可変にすることにより
、使用しやす（泪動焦点検出装置を提供することにある
。
ているのが普通であり、その場合、検出精度は最高の状
態に設定されており、したがつて、対物レンズまたは被
写体の少しの移動によつても、合焦位置がずれてしまう
。また、検出結果にもとづき、手動によつて対物レンズ
を移動させ、ファインダー内等にあるフォーカス表示を
見ながらフォーカシングを行なう場合、検出精度が高い
と、その表示変化も微妙なので、非常に細かな神経が要
求される。また、検出結果にもとづき、モーター等によ
り自動的に対物レンズを移動させるものにあつては、常
にモーター等が回転していることになり、非常にわずら
れしいものとなる。さらに、撮影時の対物レンズのＦ値
は、絞り込まれて使用されている場合が多いので、検出
精度が固定されていると、必要以上の高精度でフォーカ
シングが行なわれることになる。この発明の目的は、ピ
ット検出精度すなわち合焦精度を可変にすることにより
、使用しやす（泪動焦点検出装置を提供することにある
。
以下、添付した図面を参照してこの発明を説明する。
まず、第１図を参照して、瞳分割式自動焦点検出装置の
概略を説明する。ピンホール、スリット、レンチキュラ
−または蝿の眼レンズのような小レンズ群からなる瞳分
割光学系１０により、対物レンズ１１の射出瞳１２が分
割されて射出瞳１２の一部１２Ａ、１２Ｂを通過する対
物レンズ１１の結像作用光線がＡ群の光センサー ＳＡ
ｏ、・・・・・・ ＳＡｉ・・・・・・ ＳＡｎとＢ群
の光センサーＳＢｏ・−・−・・ＳＢｉ・・−ー・−Ｓ
Ｂｎに対応して入射する。これらの光センサーはＳＡｏ
とＳＢｏ、・・・・・・ＳＡｉとＳＢｉ、・・・・・・
ＳＡｎとＳＢｎがそれぞれ対になつており、この対に
なつている２つの光センサーにはピット検出面の同一場
所に入射する光線のうち１２Ａ部及び１２Ｂ部を通過す
る結像作用光線が対応して入射する。第２図に示すよう
に撮影レンズのピットが被写体よりズレている時には対
になつている光センサーの出力に位相差が発生する。し
かも前ピン、後ピンにより光センサーのＡ群とＢ群の出
力位相のズレ位置が逆になる。例えば示矢←は前ピン位
置および後ピン位置より合焦位置ヘフオーカシングした
場合における光センサーのＡ群とＢ群の出力位相のズレ
方向を示す。第３図はピット検出面上の被写体像照度を
示し、イが合焦時で口が前ピン時、ハが後ピン時である
。なお、上記光センサーの配置は第４図イの如く１対又
は２対の光センサーＳＡＯ，ＳＢＯ−・・・・ＳＡｎ，
ＳＢｎを有する素子ＳＯ・・・・・・Ｓｎ−１をＸ．Ｙ
方向へ配列する様にしてもよく、又第４図口の如く１対
の光センサーＳＡＯ，ＳＢＯ，・・・・・・ＳＡｎ，Ｓ
Ｂｎを有する素子ＳＯ・・・・・・Ｓｎを４デ方向へ２
列に配置する様にしてもよい。光センサーＳＡＯ−ＳＡ
ｎ，ＳＢＯ−ＳＢｎは一組のＣＣＤ（ＣｈａｒｇｅＣＯ
ｕｐｌｅｄＤｅｖｌｅｅ）で構成され、その出力データ
の処理が第５図の回路で行われる。
概略を説明する。ピンホール、スリット、レンチキュラ
−または蝿の眼レンズのような小レンズ群からなる瞳分
割光学系１０により、対物レンズ１１の射出瞳１２が分
割されて射出瞳１２の一部１２Ａ、１２Ｂを通過する対
物レンズ１１の結像作用光線がＡ群の光センサー ＳＡ
ｏ、・・・・・・ ＳＡｉ・・・・・・ ＳＡｎとＢ群
の光センサーＳＢｏ・−・−・・ＳＢｉ・・−ー・−Ｓ
Ｂｎに対応して入射する。これらの光センサーはＳＡｏ
とＳＢｏ、・・・・・・ＳＡｉとＳＢｉ、・・・・・・
ＳＡｎとＳＢｎがそれぞれ対になつており、この対に
なつている２つの光センサーにはピット検出面の同一場
所に入射する光線のうち１２Ａ部及び１２Ｂ部を通過す
る結像作用光線が対応して入射する。第２図に示すよう
に撮影レンズのピットが被写体よりズレている時には対
になつている光センサーの出力に位相差が発生する。し
かも前ピン、後ピンにより光センサーのＡ群とＢ群の出
力位相のズレ位置が逆になる。例えば示矢←は前ピン位
置および後ピン位置より合焦位置ヘフオーカシングした
場合における光センサーのＡ群とＢ群の出力位相のズレ
方向を示す。第３図はピット検出面上の被写体像照度を
示し、イが合焦時で口が前ピン時、ハが後ピン時である
。なお、上記光センサーの配置は第４図イの如く１対又
は２対の光センサーＳＡＯ，ＳＢＯ−・・・・ＳＡｎ，
ＳＢｎを有する素子ＳＯ・・・・・・Ｓｎ−１をＸ．Ｙ
方向へ配列する様にしてもよく、又第４図口の如く１対
の光センサーＳＡＯ，ＳＢＯ，・・・・・・ＳＡｎ，Ｓ
Ｂｎを有する素子ＳＯ・・・・・・Ｓｎを４デ方向へ２
列に配置する様にしてもよい。光センサーＳＡＯ−ＳＡ
ｎ，ＳＢＯ−ＳＢｎは一組のＣＣＤ（ＣｈａｒｇｅＣＯ
ｕｐｌｅｄＤｅｖｌｅｅ）で構成され、その出力データ
の処理が第５図の回路で行われる。
この一組のＣＣＤｌ３はＣＣＤ駆動回路１４により駆動
され、ＣＣＤｌ３の出力信号がビデオ増幅器１５を介し
てＡ／Ｄコンバーター１６でデイジタル信号に変換され
メモリ１７，１８に記憶される。この場合メモｌ川７に
はＡ群の光センサーＳＡＯ−ＳＡｎからの信号ＡＯ−Ａ
ｎが記憶され、同時にメモリ１８にＢ群の光センサーＳ
ＢＯ〜ＳＢｎの出力信号ＢＯ−Ｂｎが記憶される。この
メモリ１８の出力信号はシフト回路１９でシフトされて
差動回路２０でメモリ１７からの相対する信号との差が
とられる。差動回路２０の出力信号は絶対値化回路２１
で絶対値がとられ、積算回路２２で和がとられる。コン
トロール回路２３はシフト回路１９のシフト量ｊを変え
ると共に積算回路２２をりセツトして上記演算を繰返し
て行わせ、メモリ２４を使つてＸが最少の時のｊの値ｋ
を求め撮影レンズのフオーカス状態及びカメラブレを検
出する。撮影レンズのフオーカス状態を検出する時には
第６図のフローチヤートの如くまずステツプ１〜５でＣ
ＣＤｌ３からデータＡＯ−Ａｎ，ＢＯ−Ｂｎをメモリ１
７，１８に続み込む。
され、ＣＣＤｌ３の出力信号がビデオ増幅器１５を介し
てＡ／Ｄコンバーター１６でデイジタル信号に変換され
メモリ１７，１８に記憶される。この場合メモｌ川７に
はＡ群の光センサーＳＡＯ−ＳＡｎからの信号ＡＯ−Ａ
ｎが記憶され、同時にメモリ１８にＢ群の光センサーＳ
ＢＯ〜ＳＢｎの出力信号ＢＯ−Ｂｎが記憶される。この
メモリ１８の出力信号はシフト回路１９でシフトされて
差動回路２０でメモリ１７からの相対する信号との差が
とられる。差動回路２０の出力信号は絶対値化回路２１
で絶対値がとられ、積算回路２２で和がとられる。コン
トロール回路２３はシフト回路１９のシフト量ｊを変え
ると共に積算回路２２をりセツトして上記演算を繰返し
て行わせ、メモリ２４を使つてＸが最少の時のｊの値ｋ
を求め撮影レンズのフオーカス状態及びカメラブレを検
出する。撮影レンズのフオーカス状態を検出する時には
第６図のフローチヤートの如くまずステツプ１〜５でＣ
ＣＤｌ３からデータＡＯ−Ａｎ，ＢＯ−Ｂｎをメモリ１
７，１８に続み込む。
次にステツプ６〜１１ではなる演算を上記の如く行う。
但し、とする。
この演算結果Ｘはシフト量ｊの関数Ｘ（ｊ）となり、第
７図に示す前ピン時１、合焦時２、後ピン時３のように
なる。従つてＸ（ｊ）が最小となるｊの値ｋと撮影レン
ズのフオーカス状態との関係がとなる。
７図に示す前ピン時１、合焦時２、後ピン時３のように
なる。従つてＸ（ｊ）が最小となるｊの値ｋと撮影レン
ズのフオーカス状態との関係がとなる。
そこで、ステツプ１２〜１８では最初（Ｊｂ−ｎの時）
はＸを最小値ＸＭＩＮとみなしてメモリ２４に記憶する
と共にｊ−ｂ−ｎをｋとしてメモリ２４に記憶しシフト
量ｊをインクリメントしてステツプ７に戻らせ、２回目
以後（ｊ＼Ｂｎの時）は演算結果Ｘがメモリ２４の最小
値ＸＭＩＮより小さければメモリ２４内のＸＭＩＮ，ｋ
をそのＸ，ｊに変更しｊをインクリメントしてステツプ
７に戻り、ＸＭｌＮ＞ｘであればそのままステツプ７に
戻る。ここにメモリ１７，１８内のデータＡＯ−Ａｎ，
ＢＯ−Ｂｎとシフト量ｊ、上記（１）式の演算を行う範
囲の関係は第８図のようになる。そしてｊ−ａになつた
時にはステツプ１９〜２３へ進み、コントロール回路２
３はメモリ２４内のｋから（２）式の判定を行つて撮影
レンズのフオーカス状態を検出し、その出力によりレン
ズ駆動用モータで撮影レンズが駆動されてフオーカシン
グ作動が行われ、又はその検出出力により表示装置でフ
オーカス状態が表示されて手動でフオーカシング作動が
行われる。なお、対物レンズ１１は撮影レンズを構成し
、又は撮影レンズとは別体でこれと連動することはもち
ろんである。次に、第９図を参照してピット検出精度に
ついて説明する。
はＸを最小値ＸＭＩＮとみなしてメモリ２４に記憶する
と共にｊ−ｂ−ｎをｋとしてメモリ２４に記憶しシフト
量ｊをインクリメントしてステツプ７に戻らせ、２回目
以後（ｊ＼Ｂｎの時）は演算結果Ｘがメモリ２４の最小
値ＸＭＩＮより小さければメモリ２４内のＸＭＩＮ，ｋ
をそのＸ，ｊに変更しｊをインクリメントしてステツプ
７に戻り、ＸＭｌＮ＞ｘであればそのままステツプ７に
戻る。ここにメモリ１７，１８内のデータＡＯ−Ａｎ，
ＢＯ−Ｂｎとシフト量ｊ、上記（１）式の演算を行う範
囲の関係は第８図のようになる。そしてｊ−ａになつた
時にはステツプ１９〜２３へ進み、コントロール回路２
３はメモリ２４内のｋから（２）式の判定を行つて撮影
レンズのフオーカス状態を検出し、その出力によりレン
ズ駆動用モータで撮影レンズが駆動されてフオーカシン
グ作動が行われ、又はその検出出力により表示装置でフ
オーカス状態が表示されて手動でフオーカシング作動が
行われる。なお、対物レンズ１１は撮影レンズを構成し
、又は撮影レンズとは別体でこれと連動することはもち
ろんである。次に、第９図を参照してピット検出精度に
ついて説明する。
いま、瞳径がＤＦｌで許容ぼけ量がδのとき、その焦点
深度はＲＦｌになる。また、瞳径がＤＦｌよりも小さい
ＤＦ２で許容ぼけ量が同じδのとき、その焦点深度はＲ
Ｆ２Ｋなる。したがつて、瞳径が小さいほどすなわちＦ
ナンバーが大きいほど焦点深度が深くなり、合焦範囲が
広く、検出精度も緩くてすむことになる。また、光セン
サーの出力も位相差ｋがあつても、それが許容ぼけ量δ
の範囲内ならば、許容されることになる。許容ぼけ量δ
よりも大きなぼけ量になつた場合、それは前ピンまたは
後ピンになつたことを示し、その位相差ｋも、いずれか
の方向にさらに５ずれたものになる。したがつて、それ
ぞれのＦナンバーにおける合焦範囲ＲＦに対応する許容
シフト量Ｋｘを定め（Ｋｘ≧Ｏ）、これと、位相差ｋを
比較することにより、それぞれのＦナンバーに対応する
精度をもつてピットを検出することができる。これは、
第１０図に示すようなフローチヤートによつて行なうこ
とができる。すなわち、第６図に示すステツプ１８から
の出力ｋを、ステツプ１９において１ｋ１とＫｘを比較
し、位相差ｋの絶対値が、許容シフト量Ｋｘに等しいか
または小さい場合は、位相差ｋが合焦範囲内にあるので
合焦の信号を出す。そうでない場合は、ステツプ２０に
おいて、位相差ｋが、マイナスの許容シフト量−Ｋｘよ
りも小さい場合は後ピンの信号を出し、そうでない、す
なわちｋ〉−Ｋｘの場合は前ピンの信号を出す。これは
、前記した後ピンｋ＜０，前ピンｋ＞Ｏに対応するもの
である。許容シフト量取は、第５図のコントロール回路
２３に接続された露出制御回路２５からの撮影時の対物
レンズのＦナンバー信号に対応して入力される。前述の
場合は、瞳分割角θＦが固定されている場合であるが、
第９図に示すように、瞳径ＤＦ，およびＤＦ２に対応し
てそれぞれ瞳分割角θＦ１およびθＦ２も異なり、合焦
範囲ＲＦｌ，ＲＦ２も異なるので、光センサーも異なる
位置に配置すれば、それぞれ異なる瞳分割角に対応した
すなわち異なるＦナンバーに対応した検出精度をもつて
ピットを検出することができる。
深度はＲＦｌになる。また、瞳径がＤＦｌよりも小さい
ＤＦ２で許容ぼけ量が同じδのとき、その焦点深度はＲ
Ｆ２Ｋなる。したがつて、瞳径が小さいほどすなわちＦ
ナンバーが大きいほど焦点深度が深くなり、合焦範囲が
広く、検出精度も緩くてすむことになる。また、光セン
サーの出力も位相差ｋがあつても、それが許容ぼけ量δ
の範囲内ならば、許容されることになる。許容ぼけ量δ
よりも大きなぼけ量になつた場合、それは前ピンまたは
後ピンになつたことを示し、その位相差ｋも、いずれか
の方向にさらに５ずれたものになる。したがつて、それ
ぞれのＦナンバーにおける合焦範囲ＲＦに対応する許容
シフト量Ｋｘを定め（Ｋｘ≧Ｏ）、これと、位相差ｋを
比較することにより、それぞれのＦナンバーに対応する
精度をもつてピットを検出することができる。これは、
第１０図に示すようなフローチヤートによつて行なうこ
とができる。すなわち、第６図に示すステツプ１８から
の出力ｋを、ステツプ１９において１ｋ１とＫｘを比較
し、位相差ｋの絶対値が、許容シフト量Ｋｘに等しいか
または小さい場合は、位相差ｋが合焦範囲内にあるので
合焦の信号を出す。そうでない場合は、ステツプ２０に
おいて、位相差ｋが、マイナスの許容シフト量−Ｋｘよ
りも小さい場合は後ピンの信号を出し、そうでない、す
なわちｋ〉−Ｋｘの場合は前ピンの信号を出す。これは
、前記した後ピンｋ＜０，前ピンｋ＞Ｏに対応するもの
である。許容シフト量取は、第５図のコントロール回路
２３に接続された露出制御回路２５からの撮影時の対物
レンズのＦナンバー信号に対応して入力される。前述の
場合は、瞳分割角θＦが固定されている場合であるが、
第９図に示すように、瞳径ＤＦ，およびＤＦ２に対応し
てそれぞれ瞳分割角θＦ１およびθＦ２も異なり、合焦
範囲ＲＦｌ，ＲＦ２も異なるので、光センサーも異なる
位置に配置すれば、それぞれ異なる瞳分割角に対応した
すなわち異なるＦナンバーに対応した検出精度をもつて
ピットを検出することができる。
これを、第１１図を参照してさらに詳しく説明する。対
物レンズ１１の焦点面Ｇから順に、距離ｄ１の位置に第
１光センサーアレイＡ，が、距離Ｄ２の位置に第２光セ
ンサーアレイＡ２が、そして距離Ｄ３の位置に第３光セ
ンサーアレイＡ３がそれぞれレンズの光軸Ｓに垂直にか
つ第１２図に示すように、光軸Ｓを中心に互に重ならな
いように近接して縦に平行に配置されている。各アレイ
は、それぞれ一対の光電素子列からなつており各素子間
ピツチＰはそれぞれ一定である。また、各アレイの配置
は光軸Ｓを中心として放射状に配置することもできる。
瞳分割角θＦは、対物レンズのＦナンバーＦＮＯから次
式によつて求められる。
物レンズ１１の焦点面Ｇから順に、距離ｄ１の位置に第
１光センサーアレイＡ，が、距離Ｄ２の位置に第２光セ
ンサーアレイＡ２が、そして距離Ｄ３の位置に第３光セ
ンサーアレイＡ３がそれぞれレンズの光軸Ｓに垂直にか
つ第１２図に示すように、光軸Ｓを中心に互に重ならな
いように近接して縦に平行に配置されている。各アレイ
は、それぞれ一対の光電素子列からなつており各素子間
ピツチＰはそれぞれ一定である。また、各アレイの配置
は光軸Ｓを中心として放射状に配置することもできる。
瞳分割角θＦは、対物レンズのＦナンバーＦＮＯから次
式によつて求められる。
また、瞳分割角θＦと、レンズの焦点面Ｇから各アレイ
の受光面までの距離ｄおよび各アレイにおける光電素子
間ピツチＰとの関係は次式のようになる。
の受光面までの距離ｄおよび各アレイにおける光電素子
間ピツチＰとの関係は次式のようになる。
したがつて、それぞれのθＦに対応してｄおよびＰを定
めることによつて、それぞれの分割光線を対応する光電
素子に正しく入射させることができる。
めることによつて、それぞれの分割光線を対応する光電
素子に正しく入射させることができる。
このｄが大きいことは、とりもなおさず、合焦範囲が大
きいことを意味する。したがつて、それぞれの瞳分割角
に対応するｄに配置されたアレイを選択使用することに
より、ピット検出精度を包含したピット検出を行なうこ
とができる。各アレイの選択は、対物レンズの開放時の
瞳径または露出制御回路からの撮影時のＦナンバー信号
にもとずいて自動的にまたは手動によつて行なわれる。
また、ｄの変化を、対物レンズの焦点面Ｇに配置される
小レンズ群を多数の小レンズ素子からなるズームレンズ
とすることによつても得ることができる。この場合、光
センサーアレイは一つでよく、その位置は固定される。
また、上記（４）式から、ｄを大きくするかわりに、ｄ
を一定とし、θＦの変化に応じて、第１３図に示すよう
に、各光センサーにおけるＰを変えることもできる。こ
の場合は、Ｐの異なる複数の光センサーアレイを同様に
用意することになるが、ｄが一定なので、同一の小レン
ズ群を同一の位置で使用することができる。また、これ
らＰとｄの変化を組み合わせて使用することもできる。
また、第１４図に示すように、複数の光センサーアレイ
を、それぞれのアレイにおける光電素子間ピツチＰは等
しくし、光電素子対間ピツチＱを異にして配置すること
により、ピット検出精度を変えることができる。
きいことを意味する。したがつて、それぞれの瞳分割角
に対応するｄに配置されたアレイを選択使用することに
より、ピット検出精度を包含したピット検出を行なうこ
とができる。各アレイの選択は、対物レンズの開放時の
瞳径または露出制御回路からの撮影時のＦナンバー信号
にもとずいて自動的にまたは手動によつて行なわれる。
また、ｄの変化を、対物レンズの焦点面Ｇに配置される
小レンズ群を多数の小レンズ素子からなるズームレンズ
とすることによつても得ることができる。この場合、光
センサーアレイは一つでよく、その位置は固定される。
また、上記（４）式から、ｄを大きくするかわりに、ｄ
を一定とし、θＦの変化に応じて、第１３図に示すよう
に、各光センサーにおけるＰを変えることもできる。こ
の場合は、Ｐの異なる複数の光センサーアレイを同様に
用意することになるが、ｄが一定なので、同一の小レン
ズ群を同一の位置で使用することができる。また、これ
らＰとｄの変化を組み合わせて使用することもできる。
また、第１４図に示すように、複数の光センサーアレイ
を、それぞれのアレイにおける光電素子間ピツチＰは等
しくし、光電素子対間ピツチＱを異にして配置すること
により、ピット検出精度を変えることができる。
Ｑは、特定のＦナンバーにおけるボケ量に対応して定め
られる。これは、Ｆナンバーが大きいほど、ピット検出
精度が緩くてよいことを利用して、ピット検出精度の基
準そのものを緩くする方法である。すなわち、Ｑの大き
いアレイは、Ｑの小さいアレイよりも検出精度が緩くな
る。これは、射出瞳からの測距光を細かく測定するか、
部分的に抽出して測定するかの違いである。したがつて
、ある複数の特定のＦナンバーに対応してＱの異なる複
数のアレイを配置し、それぞれのアレイを撮影時のＦナ
ンバーに対応して選択使用することにより、ピット検出
精度をそれぞれのＦナンバーに対応させることができる
。この場合の演算は、第１０図において、例えばＫｘｌ
を代入して行なわれる。このような方法は、例えていえ
ば、品質管理分野における抜き取り検査に相当する。
られる。これは、Ｆナンバーが大きいほど、ピット検出
精度が緩くてよいことを利用して、ピット検出精度の基
準そのものを緩くする方法である。すなわち、Ｑの大き
いアレイは、Ｑの小さいアレイよりも検出精度が緩くな
る。これは、射出瞳からの測距光を細かく測定するか、
部分的に抽出して測定するかの違いである。したがつて
、ある複数の特定のＦナンバーに対応してＱの異なる複
数のアレイを配置し、それぞれのアレイを撮影時のＦナ
ンバーに対応して選択使用することにより、ピット検出
精度をそれぞれのＦナンバーに対応させることができる
。この場合の演算は、第１０図において、例えばＫｘｌ
を代入して行なわれる。このような方法は、例えていえ
ば、品質管理分野における抜き取り検査に相当する。
精度が厳しく要求される場合には、全数検査が必要であ
るが、精度が緩くてよい場合は、抜き取り検査で十分だ
からである。したがつて、別の方法として、Ｑの異なる
複数のアレイを使用することなく、光電素子ができる限
り密に配列された一列のアレイを使用し、撮影時のＦナ
ンバーに対応して、全数の素子からの出力を利用したり
、例えば一つおき、または二つおきの素子からの出力を
利用することができる。これは、第６図および第１０図
において、ｊ←ｊ＋ｌをｊ←ｊ＋Ｋｘとして飛び越し演
算を行なうことによつて達成することができる。ただし
、ｂ−ｎ＝ＮｂＸＫｘ（ただしＮｂはゼロよりも小さい
整数）、ａ−ＮａＸＫｘ（ただしＮａはゼロよりも大き
い整数）である。これは、抜き取り検査と全く同様であ
り、Ｋｘはそのサンプリングの数に対応し、Ｆナンバー
に対応して定められる。これらの方法は、対物レンズの
移動を一方向に、すなわち無限大から至近または至近か
ら無限大に移動させる場合に有効である。また、第１４
図において、各アレイについて、それぞれに対応する小
レンズ群の小レンズ素子を同径とせず、異なる径の小レ
ンズ素子を用いてＱを変えることもでき、これに応じて
Ｐも変えることができる。
るが、精度が緩くてよい場合は、抜き取り検査で十分だ
からである。したがつて、別の方法として、Ｑの異なる
複数のアレイを使用することなく、光電素子ができる限
り密に配列された一列のアレイを使用し、撮影時のＦナ
ンバーに対応して、全数の素子からの出力を利用したり
、例えば一つおき、または二つおきの素子からの出力を
利用することができる。これは、第６図および第１０図
において、ｊ←ｊ＋ｌをｊ←ｊ＋Ｋｘとして飛び越し演
算を行なうことによつて達成することができる。ただし
、ｂ−ｎ＝ＮｂＸＫｘ（ただしＮｂはゼロよりも小さい
整数）、ａ−ＮａＸＫｘ（ただしＮａはゼロよりも大き
い整数）である。これは、抜き取り検査と全く同様であ
り、Ｋｘはそのサンプリングの数に対応し、Ｆナンバー
に対応して定められる。これらの方法は、対物レンズの
移動を一方向に、すなわち無限大から至近または至近か
ら無限大に移動させる場合に有効である。また、第１４
図において、各アレイについて、それぞれに対応する小
レンズ群の小レンズ素子を同径とせず、異なる径の小レ
ンズ素子を用いてＱを変えることもでき、これに応じて
Ｐも変えることができる。
このように、この発明によれば、Ｆナンバーに応じてピ
ット検出精度を変えることができるので、使用しやすい
合焦検知装置が実現できる。
ット検出精度を変えることができるので、使用しやすい
合焦検知装置が実現できる。
また、Ｆナンバーにかかわりなく、撮影者の意志により
、ピット検出精度を任意に変えるようにすれば、ソフト
フオーカス等作画的に大幅な自由度が得られる。
、ピット検出精度を任意に変えるようにすれば、ソフト
フオーカス等作画的に大幅な自由度が得られる。
第１図イ，口は、本発明が適用される瞳分割式自動焦点
検出装置の概略を示す図、第２図および第３図は、上記
装置における合焦状態、前ピン状態、後ピン状態におけ
る信号出力の相違を示す図、第４図イ，口は、上記装置
における光センサーの配列状態を示す図、第５図は、上
記装置における電子回路のプロツクダイヤグラムを示す
図、第６図は、上記回路における演算処理のフローチヤ
ートを示す図、第７図は、上記演算処理における出力を
示す図、第８図、上記演算処理の範囲を示す図、第９図
は、この発明の原理を説明する図、第１０図は、この発
明の一実施例における演算処理のフローチヤートの一部
を示す図、第１１図は、この発明の別の実施例を示す図
、第１２図は、第１１図の側面概略図、第１３図は、第
１１図に示す実施例を変形を示す図、第１４図は、この
発明のさらに別の実施例を示す図である。 １０・・・・・・瞳分割光学系、１１・・・・・・対物
レンズ、ＳＡ，ＳＢ・・・・・・光センサー対。
検出装置の概略を示す図、第２図および第３図は、上記
装置における合焦状態、前ピン状態、後ピン状態におけ
る信号出力の相違を示す図、第４図イ，口は、上記装置
における光センサーの配列状態を示す図、第５図は、上
記装置における電子回路のプロツクダイヤグラムを示す
図、第６図は、上記回路における演算処理のフローチヤ
ートを示す図、第７図は、上記演算処理における出力を
示す図、第８図、上記演算処理の範囲を示す図、第９図
は、この発明の原理を説明する図、第１０図は、この発
明の一実施例における演算処理のフローチヤートの一部
を示す図、第１１図は、この発明の別の実施例を示す図
、第１２図は、第１１図の側面概略図、第１３図は、第
１１図に示す実施例を変形を示す図、第１４図は、この
発明のさらに別の実施例を示す図である。 １０・・・・・・瞳分割光学系、１１・・・・・・対物
レンズ、ＳＡ，ＳＢ・・・・・・光センサー対。
Claims (1)
- １ 対物レンズの射出瞳における外周部分からの光を二
分割し、それぞれの分割光を前記対物レンズの焦点面に
配置された小レンズ群を通して前記小レンズ群の各レン
ズ素子に対応してそれぞれ設けられた一対の自己走査型
光電素子アレイに入射させ、これら光電素子アレイから
の出力信号の位相差によつて合焦を検知する自動焦点検
出装置において、任意にまたは撮影時のＦナンバーに応
じて合焦検知精度を変えるために、前期出力信号の許容
位相差を変えるまたは前記出力信号を飛び越し選択する
ための手段を備えた自動焦点検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2268879A JPS5928886B2 (ja) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | 自動焦点検出装置 |
| DE3006244A DE3006244C2 (de) | 1979-02-20 | 1980-02-20 | Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines Objektivs auf einen Gegenstand |
| US06/122,999 US4373791A (en) | 1979-02-20 | 1980-02-20 | Focusing position detection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2268879A JPS5928886B2 (ja) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | 自動焦点検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55115020A JPS55115020A (en) | 1980-09-04 |
| JPS5928886B2 true JPS5928886B2 (ja) | 1984-07-17 |
Family
ID=12089803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2268879A Expired JPS5928886B2 (ja) | 1979-02-20 | 1979-02-28 | 自動焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5928886B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59165012A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-18 | Fuji Photo Optical Co Ltd | オ−トフオ−カス検出装置 |
| JPH06105335B2 (ja) * | 1986-03-05 | 1994-12-21 | キヤノン株式会社 | カメラ等のフアインダ装置 |
| US5422701A (en) * | 1990-01-30 | 1995-06-06 | Nikon Corporation | Focus detection apparatus |
| WO1991011742A1 (en) * | 1990-01-30 | 1991-08-08 | Nikon Corporation | Focus detecting device |
| JP2814945B2 (ja) * | 1995-03-03 | 1998-10-27 | 株式会社ニコン | 自動焦点検出装置 |
| JPH0990204A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-04-04 | Minolta Co Ltd | 自動焦点調節装置 |
| JPH0990205A (ja) * | 1996-03-25 | 1997-04-04 | Minolta Co Ltd | 自動焦点調節装置 |
| JP3006480B2 (ja) * | 1996-03-25 | 2000-02-07 | ミノルタ株式会社 | 自動焦点調節装置 |
| EP1887399A4 (en) * | 2005-05-30 | 2011-03-23 | Nikon Corp | IMAGE GENERATION CONDITION DETECTION DEVICE |
| JP4821674B2 (ja) | 2007-03-28 | 2011-11-24 | 株式会社ニコン | 焦点検出装置および撮像装置 |
-
1979
- 1979-02-28 JP JP2268879A patent/JPS5928886B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55115020A (en) | 1980-09-04 |
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