JPS5924244A - マルチセンサの製造方法 - Google Patents
マルチセンサの製造方法Info
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- JPS5924244A JPS5924244A JP57133686A JP13368682A JPS5924244A JP S5924244 A JPS5924244 A JP S5924244A JP 57133686 A JP57133686 A JP 57133686A JP 13368682 A JP13368682 A JP 13368682A JP S5924244 A JPS5924244 A JP S5924244A
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- Japan
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- ion
- gate
- film
- sensor
- type silicon
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電界効果トランジスタ(以下、FETと称す)
を利用したイオンセンサに係り、特に、マルチイオンセ
ンサと、その製造方法に関する。
を利用したイオンセンサに係り、特に、マルチイオンセ
ンサと、その製造方法に関する。
FETf:利用したイオンセンサはBergreldに
よって原理が確認されて以来、各種イオンを選折曲に検
出できるものが開発されている。このイオンセンサは、
感応ゲートにイオン選択膜を塗付して作られる。この感
応ゲートに有機材からカるイオン選択膜を塗付する方法
としてはディップコート法や直接キャスティング法が知
られている(U、 0esch、 S、 Caras
and J、 JanataH、pield
Effect TransistorsSensi
tive to Sodium and A、
rnmonium。
よって原理が確認されて以来、各種イオンを選折曲に検
出できるものが開発されている。このイオンセンサは、
感応ゲートにイオン選択膜を塗付して作られる。この感
応ゲートに有機材からカるイオン選択膜を塗付する方法
としてはディップコート法や直接キャスティング法が知
られている(U、 0esch、 S、 Caras
and J、 JanataH、pield
Effect TransistorsSensi
tive to Sodium and A、
rnmonium。
Anal、Chem、1981,53.1983−19
86 )。また、無機材を塗付する方法としてはC,
VD (Chemical vapor 1)ep
ositlon )法やディップコート法が用いられて
いる。
86 )。また、無機材を塗付する方法としてはC,
VD (Chemical vapor 1)ep
ositlon )法やディップコート法が用いられて
いる。
こnまでに報告された例はいずれも、基板上に1ケある
いは2ケのPETゲートを形成し、イオン感応ゲートを
1ケ形成したものである。したがって、1枚の共通基板
上に複数ケの感応ゲートを有するマルチセンサについて
は従来のイオン感応ゲート形成方法によったのでは、各
ゲート用を相互の干渉が生じないよう独立させることが
困難である。
いは2ケのPETゲートを形成し、イオン感応ゲートを
1ケ形成したものである。したがって、1枚の共通基板
上に複数ケの感応ゲートを有するマルチセンサについて
は従来のイオン感応ゲート形成方法によったのでは、各
ゲート用を相互の干渉が生じないよう独立させることが
困難である。
本発明の目的は、共通基板上に形成した複数個のゲート
にイオン選択膜を相互に重複しないように塗付し相互干
渉のないF’ETマルチイオンセンサとその製造方法を
提供することにある。
にイオン選択膜を相互に重複しないように塗付し相互干
渉のないF’ETマルチイオンセンサとその製造方法を
提供することにある。
本発明に、イオン感応物質全膜母材と共に適当A溶媒に
浴解した液体を小粒径の液滴として目的とするゲートに
インクジェット方式で吹きつけることにより、微小部分
のみ感応膜を塗布し、イオン感応物質の種類全種々変え
て繰り返し塗付し、複数個の感応ゲート’を独立的に形
成しようというものである。
浴解した液体を小粒径の液滴として目的とするゲートに
インクジェット方式で吹きつけることにより、微小部分
のみ感応膜を塗布し、イオン感応物質の種類全種々変え
て繰り返し塗付し、複数個の感応ゲート’を独立的に形
成しようというものである。
以下、本発明の実施例について説明する。
第1図から第3図までは、マルチセンサの構成単位とな
る1ケのPETセンサについて示したものである。共通
基板上に複数ケの感応ゲートを形成する場合、各素子全
電気的に独立きせる必要がある。そこで、本発明では次
のような素子構成をとることとした。
る1ケのPETセンサについて示したものである。共通
基板上に複数ケの感応ゲートを形成する場合、各素子全
電気的に独立きせる必要がある。そこで、本発明では次
のような素子構成をとることとした。
第1図に示すように共通基板1の上にセンサユニット2
が形成されており、リード配線4及びコンタクト5も基
板上に蒸着法などで形成されている。センサユニット2
の大きさは50μm×(200〜400)μm程度であ
る。また、第2図のように共通基板をPシリコンとする
場合にはF’ETゲートの部分を堀り下げて絶縁膜7を
形成した後再びシリコンP層13を形成する。しかる後
、ドレン・ソースを形成するために1層8を拡散によ多
形成する。ドレンソースの上部には酸化膜層9、絶縁膜
層10及びイオン選択膜11を塗付してセンサユニット
とする。
が形成されており、リード配線4及びコンタクト5も基
板上に蒸着法などで形成されている。センサユニット2
の大きさは50μm×(200〜400)μm程度であ
る。また、第2図のように共通基板をPシリコンとする
場合にはF’ETゲートの部分を堀り下げて絶縁膜7を
形成した後再びシリコンP層13を形成する。しかる後
、ドレン・ソースを形成するために1層8を拡散によ多
形成する。ドレンソースの上部には酸化膜層9、絶縁膜
層10及びイオン選択膜11を塗付してセンサユニット
とする。
第3図はシリコンオンサファイア(sos>m造からな
るセンサユニッIf示す。共通基板12はサファイアで
あシ、その上部にPシリコン層7をエピタキシャル成長
法で形成した。ドレン、ゲート8は拡散法で形成したも
ので、その上部には第2図の場合と同様に酸化膜層9、
絶縁膜10゜及びイオン感応膜11が塗付されている。
るセンサユニッIf示す。共通基板12はサファイアで
あシ、その上部にPシリコン層7をエピタキシャル成長
法で形成した。ドレン、ゲート8は拡散法で形成したも
ので、その上部には第2図の場合と同様に酸化膜層9、
絶縁膜10゜及びイオン感応膜11が塗付されている。
第4図に上記の如き方法によりセンサユニットを共通基
板上に4ケ形成したマルチイオンセンサを示す。第1ユ
ニツト21は比較電極用ゲート22を有する。該ゲート
にイオン等に応答しない有機高分子膜が塗付される。他
のセンサユニット23.25.27の各ゲートはそれぞ
れ異種のイオンに応答するイオン選択膜が塗付されてい
る。
板上に4ケ形成したマルチイオンセンサを示す。第1ユ
ニツト21は比較電極用ゲート22を有する。該ゲート
にイオン等に応答しない有機高分子膜が塗付される。他
のセンサユニット23.25.27の各ゲートはそれぞ
れ異種のイオンに応答するイオン選択膜が塗付されてい
る。
本発明によるイオン選択膜の塗付方法を第5図に示す。
この方法は従来インクジェットプリンタに採用されてい
たもので液滴45をノズル44から間欠的に吹き出させ
、帯電用電極46を通した後、偏向電極47の間を通し
て吹き出すようにした。通常は帯電電極46及び偏向電
極に電圧を印加しておき、液滴はガター48に導かれる
。パルス的に帯電電極46の印加電圧を切ることにょシ
、液滴は基板上の目的とするゲートに導かれる。この際
、装置の誤動差を防ぐために小口径の開口部41を有す
るマスク材40を用いてもよい。溶媒を蒸発させてイオ
ン選択膜を形成する。
たもので液滴45をノズル44から間欠的に吹き出させ
、帯電用電極46を通した後、偏向電極47の間を通し
て吹き出すようにした。通常は帯電電極46及び偏向電
極に電圧を印加しておき、液滴はガター48に導かれる
。パルス的に帯電電極46の印加電圧を切ることにょシ
、液滴は基板上の目的とするゲートに導かれる。この際
、装置の誤動差を防ぐために小口径の開口部41を有す
るマスク材40を用いてもよい。溶媒を蒸発させてイオ
ン選択膜を形成する。
本発明の発明者らは直径1.5mの基板から々るマルチ
センサを試作した。センサユニットの大きさは50μm
X 300μmとし、ゲート部分は50μm×50μ
mとした。第4図の如く4ケのセンサユニットと1ケの
金電極29を該基板上に形成した。第5図の有機膜塗付
装置を用いてゲート膜を形成した。比較電極用感応膜と
してはポリイミドアミド樹脂を用い、これをジメチルホ
ルムアミドに溶解した液体として、第5図の容器42内
に入れた。イオン選択膜としては、K+電極用としてパ
リノマイシンを、Na+電極電極用合方リガンドt−電
極用第4級アンモニウム塩をそれぞれ、可塑剤及びポリ
塩化ビニル(PVC)とともにテトラヒドロフランに溶
解した液体を用いた。
センサを試作した。センサユニットの大きさは50μm
X 300μmとし、ゲート部分は50μm×50μ
mとした。第4図の如く4ケのセンサユニットと1ケの
金電極29を該基板上に形成した。第5図の有機膜塗付
装置を用いてゲート膜を形成した。比較電極用感応膜と
してはポリイミドアミド樹脂を用い、これをジメチルホ
ルムアミドに溶解した液体として、第5図の容器42内
に入れた。イオン選択膜としては、K+電極用としてパ
リノマイシンを、Na+電極電極用合方リガンドt−電
極用第4級アンモニウム塩をそれぞれ、可塑剤及びポリ
塩化ビニル(PVC)とともにテトラヒドロフランに溶
解した液体を用いた。
液滴吹き出しノズルの径は25μmとした。液滴の吹き
出しには超音波発振器43を用い、通常は超音波発振子
を連続的に作動させた。帯電電極の電圧をパルス的に切
る方法で各溶液をゲート上に吹きつけ、その回数で膜厚
を調整した。1ケの液滴がゲート上では直径約50μm
の大きさに広がるので、液滴の数は1〜3ケとし、ゲー
ト上の膜の広が、!lllを100μm以内とした。液
滴の塗付後、室温で溶媒を揮発させて感応膜を形成した
。
出しには超音波発振器43を用い、通常は超音波発振子
を連続的に作動させた。帯電電極の電圧をパルス的に切
る方法で各溶液をゲート上に吹きつけ、その回数で膜厚
を調整した。1ケの液滴がゲート上では直径約50μm
の大きさに広がるので、液滴の数は1〜3ケとし、ゲー
ト上の膜の広が、!lllを100μm以内とした。液
滴の塗付後、室温で溶媒を揮発させて感応膜を形成した
。
本実施例に示す感応ゲートの塗付方法では、目的とする
ゲート上にのみイオン選択膜及び、比較電極用膜を形成
することができ、そ扛ぞれ異種のイオンセンサを形成す
ることができる。したがって夫々のイオンセンサの選択
性は単独の基板上に形成した場合と同等である。また、
吹きつける液滴の数で膜厚を制御することができ、再現
性のよいマルチイオンセンサ’に’ff作することがで
きる。
ゲート上にのみイオン選択膜及び、比較電極用膜を形成
することができ、そ扛ぞれ異種のイオンセンサを形成す
ることができる。したがって夫々のイオンセンサの選択
性は単独の基板上に形成した場合と同等である。また、
吹きつける液滴の数で膜厚を制御することができ、再現
性のよいマルチイオンセンサ’に’ff作することがで
きる。
以上説明したように、本発明によ扛ば、共通基板上に形
成した腹数個のゲートにイオン選択膜を相互に重複しな
いように塗付することができ相互干渉を生じることがな
い。
成した腹数個のゲートにイオン選択膜を相互に重複しな
いように塗付することができ相互干渉を生じることがな
い。
第1図は本発明の原理構成図、第2図及び第3図σ本発
明の実施例を示す図、第4図はマルチイオンセンサの実
施例を示す図、第5図はゲート形成方法を示す図である
。 ■・・・基板、2・・・センサユニット(FET)、3
・・・感応ゲート、4・・・リード、5・・・コンタク
ト、6・・・Pシリコン基板、7・・・絶縁膜、8・・
・ドレン、ソース、9・・・酸化膜、10・・・絶縁膜
、11・・・イオン選択膜、12・・・サファイア基板
、13・・・Pシリコン、21・・・比較電極ユニット
、23,25.27・・・イオンセンサユニット、22
・・・比較ゲート、24゜26.28・・・イオン感応
ゲート、29・・・金電極。 、//
明の実施例を示す図、第4図はマルチイオンセンサの実
施例を示す図、第5図はゲート形成方法を示す図である
。 ■・・・基板、2・・・センサユニット(FET)、3
・・・感応ゲート、4・・・リード、5・・・コンタク
ト、6・・・Pシリコン基板、7・・・絶縁膜、8・・
・ドレン、ソース、9・・・酸化膜、10・・・絶縁膜
、11・・・イオン選択膜、12・・・サファイア基板
、13・・・Pシリコン、21・・・比較電極ユニット
、23,25.27・・・イオンセンサユニット、22
・・・比較ゲート、24゜26.28・・・イオン感応
ゲート、29・・・金電極。 、//
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基板上に複数のイオン選択性絶縁ゲート型電界効果
トランジスタを形成したマルチイオンセンサにおいて、
ウェル状あるいは島状P形シリコンの表層部にN形シリ
コンドレーン・ソース部會形成し、該上部ヲ酸化膜及び
絶縁膜で被覆したセンナユニットを上記基板上に複数箇
形成し、個々のセンサユニット毎に少くても1箇の比較
電極用ゲート膜と複数のイオン選択電極用ゲート膜を形
成したことを特徴とする電界効果トランジスタ形マルチ
イオンセンサ。 2 シリコンあるいはサファイアからなる基板上にウェ
ル状P形シリコンあるいは島状P形シリコンを複数箇形
成する第1のステップと、前記P形シリコンの表層部に
n形シリコンあらなるドレン・ソース部を形成する第2
のステップと、該第20ステツプの形成後、上部を酸化
膜および絶縁膜で被覆してセンサユニツIf形成する第
3のステップと、個々のセンサユニットの感応ゲート上
にイオン選択性を有しない高分子膜材を適当な揮発性溶
媒に溶解した液体あるいは少くてもイオン選択性物質と
高分子膜材とを適当な揮発性溶媒に溶解した液体をノズ
ルを用いて前記ゲート部相当の粒径としこれe[接ある
いは前記感応ゲート部相当位置に開口部を有するマスク
材を介して前記感応ゲートに噴きつける第4のステップ
と、第4のステップの噴きつけ後前記溶媒を蒸発させて
少くても1個の比較電極用ゲート膜と複数のイオン選択
電極を形成する第5のステップとからなることを特徴と
する電界効果トランジスタ形マルチイオンセンナの製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133686A JPS5924244A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | マルチセンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57133686A JPS5924244A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | マルチセンサの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5924244A true JPS5924244A (ja) | 1984-02-07 |
JPH0358061B2 JPH0358061B2 (ja) | 1991-09-04 |
Family
ID=15110501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57133686A Granted JPS5924244A (ja) | 1982-08-02 | 1982-08-02 | マルチセンサの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5924244A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5200051A (en) * | 1988-11-14 | 1993-04-06 | I-Stat Corporation | Wholly microfabricated biosensors and process for the manufacture and use thereof |
US6028189A (en) * | 1997-03-20 | 2000-02-22 | University Of Washington | Solvent for oligonucleotide synthesis and methods of use |
US6306594B1 (en) | 1988-11-14 | 2001-10-23 | I-Stat Corporation | Methods for microdispensing patterened layers |
US6384210B1 (en) | 1997-03-20 | 2002-05-07 | University Of Washington | Solvent for biopolymer synthesis, solvent microdroplets and methods of use |
JP2014032209A (ja) * | 2013-10-18 | 2014-02-20 | Seiko Epson Corp | センサ素子及び半導体装置の製造方法 |
Citations (3)
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---|---|---|---|---|
JPS5639454A (en) * | 1979-09-10 | 1981-04-15 | Olympus Optical Co Ltd | Chemical suybstance detector by using chemical sensitive element with structure of insulated-gate field-effect transistor |
JPS5672339A (en) * | 1979-11-16 | 1981-06-16 | Kuraray Co Ltd | Fet multisensor |
JPS57104851A (en) * | 1980-12-23 | 1982-06-30 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | Semiconductor sensor |
-
1982
- 1982-08-02 JP JP57133686A patent/JPS5924244A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5554339A (en) * | 1988-11-14 | 1996-09-10 | I-Stat Corporation | Process for the manufacture of wholly microfabricated biosensors |
US5837446A (en) * | 1988-11-14 | 1998-11-17 | I-Stat Corporation | Process for the manufacture of wholly microfabricated biosensors |
US6306594B1 (en) | 1988-11-14 | 2001-10-23 | I-Stat Corporation | Methods for microdispensing patterened layers |
US7074610B2 (en) | 1988-11-14 | 2006-07-11 | I-Stat Corporation | System and method of microdispensing and arrays of biolayers provided by same |
US6028189A (en) * | 1997-03-20 | 2000-02-22 | University Of Washington | Solvent for oligonucleotide synthesis and methods of use |
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JP2014032209A (ja) * | 2013-10-18 | 2014-02-20 | Seiko Epson Corp | センサ素子及び半導体装置の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0358061B2 (ja) | 1991-09-04 |
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