JPS59230136A - 発光表示装置の光洩れ検査方法 - Google Patents

発光表示装置の光洩れ検査方法

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JPS59230136A
JPS59230136A JP10341983A JP10341983A JPS59230136A JP S59230136 A JPS59230136 A JP S59230136A JP 10341983 A JP10341983 A JP 10341983A JP 10341983 A JP10341983 A JP 10341983A JP S59230136 A JPS59230136 A JP S59230136A
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JP
Japan
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inspection
case
light
lead frame
display device
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JP10341983A
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JPH0449059B2 (ja
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Toshio Shioda
塩田 敏男
Yuji Sakamoto
雄二 坂本
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Rohm Co Ltd
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Rohm Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for

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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は発光表示装置の光洩れを近接スイッチを使用し
て検査する方法に関する。
(+:J )従来技術 第1図は発光表示装置の平面図及び断面図で、光の1+
d洩が発汁した状況を示しており、10はケース、21
.22は発光しているセグメント、23は漏洩の発生し
ているセグメント、30はリードフレーム、40は発光
していないLED、41は発光しているLEDである。
すなわち、ケース10の底面とリードフレーム30の上
面との間にdなる間隙がある場合、LED41から出た
光は直接光aとしてセグメントに充填されている樹脂の
内部で散乱し、セグメント21を発光させる一方、前記
セグメントと同様樹脂の充填された前記間隙d内を横方
向に漏洩光すとして散乱伝播し、発光してはいけないセ
グメント23をも発光させる。
その結果、“5”を表示している同図の場合は“6”と
誤認することとなって、発光表示装置としては重大な欠
陥があるになる。
したがって、上記のような製品が出荷されるのを防止す
るために光洩れ検査が行われるが、従来は適当な検査方
法が無く、すべて目視検査によって行われてきた。
しかし、目視検査は検査員による個人差が太き(、明確
な判定基準の設定が難しく、その結果製品の品質に安定
性を欠き、また検査に0.5〜1秒と時間がかかるため
、生産性が悪(、さらに検査員の眼の疲労が著しいとい
う欠点がある。
(ハ)目的 本発明は明確な検査基準の設定が可能な近接スイッチに
よる発光表示装置の光洩れ検査方法を提供することを目
的としている。
(ニ)構成 本発明はリードフレームと基準面との距離を近接スイッ
チを用いて計θりすることにより光の漏洩の有無を判定
する検査方法である。
(ポ)実施例 第2図は本発明方法の実施例を示す説明図であり、10
はケース、22はセグメント、30はリードフレーム、
40はL E D、50は近接スイッチである。
本実施例ではケースlOの上面を基準面としてこれに近
接スイッチ50の計測面を当接して前記ケース10の底
面に配設されている金属型のリードフレーム30の上面
までの距離D2を計測し、あらかじめ判明しているケー
ス10の仕上がり寸法D1と比較することにより、ケー
ス10の底面とリードフレーム30の上面との間の間隙
の有無ひいてはセグメント間の光の漏洩の有無を検査す
ることができる。
すなわち、近接スイッチ50に内蔵されてしする図示し
ない検知コイルが高周波発振回路51により励振されて
おり、これに近接して配設されてし)る金属板たるリー
ドフレーム30に渦電流を発生させ、これに基づく検知
コイルのインピーダンスの変化から距離D2に対応する
信号を検波回路52、波形整形回路53を経て取り出し
、比較回路54に入力するとともにケース10の上面と
底面との間の距離D1に対応する規定値である電圧を基
準電圧発生回路55により前記比較回路54に入力して
両者の比較信号を出力させ、判断回路56により許容し
得るか否かを判断し、出力回路57を介して例えば「良
品jまたはr不良品」を示す表示を行わしめる。
(へ)効果 この発明方法は目視で検査する場合と異なり検査員の個
人差の影響はなく、明確な検査基準により計測されるの
で確実で再現性のある検査が行えるとともに製品の品質
を向上させることもでき、検査時間も1個当たり0.1
秒程度と短縮が可能であり、さらに検査を含めた工程の
自動化が可能となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1し1ば発光表示装置の平面図及び断面図、第2図は
本発明方法の実施例を示す説明図である。 10・・・ケース、21.22.23・・・セグメント
、30・・・リードフレーム、40.41・・・L E
 D、50・・・近接スイ・ノチ。 特許出願人    ローム株式会社 代理人  弁理士  大 西 孝 治 手 続 補 正 書(方式) 昭和58年10月3日 1、事件の表示 昭和58年特許願第103419号2
、発明の名称 発 光 表 示 装 置の光 洩れ検査
方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所  京都市右京区西院溝崎町21番地名 称  
   ローム株式会社 代表者 佐藤研一部 4、代理人 住 所  大阪市東区内本町橋詰町36番地の15、補
正命令の日付 昭和58年 9月27日(発送日)6、
主11i正の対象 図面 7、補正の内容 別紙添付の図面の通り

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ■)ノミ半面とリードフレーム間の距離を近接スイッチ
    をもって測定し、その値と規定値とを比較することによ
    り一つのセグメントから他のセグメントに対する先の漏
    洩の有無を検査することを特徴とする発光表示装置の光
    洩れ検査方法。 (2)近接スイッチが高周波発振型マグネットスイッチ
    であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の発
    光表示装置の光洩れ検査方法。
JP10341983A 1983-06-09 1983-06-09 発光表示装置の光洩れ検査方法 Granted JPS59230136A (ja)

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JPS59230136A true JPS59230136A (ja) 1984-12-24
JPH0449059B2 JPH0449059B2 (ja) 1992-08-10

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425755A (en) * 1977-07-27 1979-02-26 Measurex Corp Thickness meter for measuring sheettlike body

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425755A (en) * 1977-07-27 1979-02-26 Measurex Corp Thickness meter for measuring sheettlike body

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JPH0449059B2 (ja) 1992-08-10

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