JPS59215040A - 画像情報円盤欠陥検出装置 - Google Patents
画像情報円盤欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPS59215040A JPS59215040A JP8746283A JP8746283A JPS59215040A JP S59215040 A JPS59215040 A JP S59215040A JP 8746283 A JP8746283 A JP 8746283A JP 8746283 A JP8746283 A JP 8746283A JP S59215040 A JPS59215040 A JP S59215040A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- defect
- circuit
- envelope
- pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/76—Television signal recording
- H04N5/91—Television signal processing therefor
- H04N5/93—Regeneration of the television signal or of selected parts thereof
- H04N5/94—Signal drop-out compensation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
不発明はビデオディスクの製造工程中における画像情報
円盤欠陥検出装置に関する。
円盤欠陥検出装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点−1
近年、映像の記録再生システムとして、画像情報円盤が
用いられる様になった。これには光読取り方式、針読取
り方式などがあるが、いずれも従来からあるVTR装置
に比べて画像源となる円盤がプレスによって安価に大量
生産でき、また高速な画像アクセスができるなどの点で
優れたものとなっている。しかし、いずれも円盤表面や
反射面に凹凸の形状を付ける方法により情報を記録して
いるだめ、記録面にある形状の欠陥は画質を大きく悪化
させる そのために記録面に発生した欠陥を検出する事
は特にその製造工程においては重要となる。
用いられる様になった。これには光読取り方式、針読取
り方式などがあるが、いずれも従来からあるVTR装置
に比べて画像源となる円盤がプレスによって安価に大量
生産でき、また高速な画像アクセスができるなどの点で
優れたものとなっている。しかし、いずれも円盤表面や
反射面に凹凸の形状を付ける方法により情報を記録して
いるだめ、記録面にある形状の欠陥は画質を大きく悪化
させる そのために記録面に発生した欠陥を検出する事
は特にその製造工程においては重要となる。
従来1画18!情報円盤の欠陥の検出方法としては、通
常の画面再生と同様に1トラツクづつ再生し7その再生
信号がFM変調されていることから信号の包絡線を検出
し、それが低下した時点を検知する方法等が用いられる
。しかしこの方法では1トラツクづつ検査するため検査
時間が長くなる欠点を持つ。そこで数トラツクの情報を
例えば円盤に光ビームを当てるなどの方法により一度に
取り出し、短時間で欠陥を検査する方法が取られる。し
かしこの場合には数トラツクを一度に検出するため、検
出信号は1トラツクのみを検出しプこ時に得られるFM
変調された信号とは異なシ、同期イば号やトラッキング
のだめの制御信号などが欠陥(,4号と同様なパルス状
(8号として現われる。このため同期信号や制御信号ま
で欠陥として哄まって検出してしlう欠点がめった。こ
れを改善する方法として例えば同期信号部では検出を行
なわない方法が考えられる。この場合には同期信号部以
外の欠陥信号は検出可能であるが、同期信号と混在して
現われる欠陥信号の検出は不可能であった。また一般に
は欠陥検出を周波数弁別で行う方法が用いられるが、画
像情報円盤においては同期信号や制御信号は欠陥イぎ号
と非常に近い周波数帯域にあるので単に周波数弁別の方
法などにより欠陥信号のみを検出する事も困難であった
。
常の画面再生と同様に1トラツクづつ再生し7その再生
信号がFM変調されていることから信号の包絡線を検出
し、それが低下した時点を検知する方法等が用いられる
。しかしこの方法では1トラツクづつ検査するため検査
時間が長くなる欠点を持つ。そこで数トラツクの情報を
例えば円盤に光ビームを当てるなどの方法により一度に
取り出し、短時間で欠陥を検査する方法が取られる。し
かしこの場合には数トラツクを一度に検出するため、検
出信号は1トラツクのみを検出しプこ時に得られるFM
変調された信号とは異なシ、同期イば号やトラッキング
のだめの制御信号などが欠陥(,4号と同様なパルス状
(8号として現われる。このため同期信号や制御信号ま
で欠陥として哄まって検出してしlう欠点がめった。こ
れを改善する方法として例えば同期信号部では検出を行
なわない方法が考えられる。この場合には同期信号部以
外の欠陥信号は検出可能であるが、同期信号と混在して
現われる欠陥信号の検出は不可能であった。また一般に
は欠陥検出を周波数弁別で行う方法が用いられるが、画
像情報円盤においては同期信号や制御信号は欠陥イぎ号
と非常に近い周波数帯域にあるので単に周波数弁別の方
法などにより欠陥信号のみを検出する事も困難であった
。
本発明の目的は画像情報円盤面上にある欠陥(m号およ
び画像信号中に混在する欠陥信号を短時間で安定に検出
できる画像清報円盤欠陥検出装置を提供するものである
。
び画像信号中に混在する欠陥信号を短時間で安定に検出
できる画像清報円盤欠陥検出装置を提供するものである
。
本発明は画像情報を記録した円盤から得られる反射ビー
ムよりパルス状欠陥信号を含む検出信号を取り出し、こ
の検出(,1号を包絡線検出回路に入力してその包絡線
信号を取り出し、その出力を微分して比較器に入力し包
絡線の立ち上がりを検出する信号を得る。この包絡線の
立ち上がり検出信号により単安定マルチバイブレータを
同期信号期間より短く欠陥信号期間より長い時間反転さ
せる。
ムよりパルス状欠陥信号を含む検出信号を取り出し、こ
の検出(,1号を包絡線検出回路に入力してその包絡線
信号を取り出し、その出力を微分して比較器に入力し包
絡線の立ち上がりを検出する信号を得る。この包絡線の
立ち上がり検出信号により単安定マルチバイブレータを
同期信号期間より短く欠陥信号期間より長い時間反転さ
せる。
検出信号と単安定マルチバイブレータの出力はアンド回
路に入力される。通常欠陥信号は同期信号より短いパル
ス状の信号である。よって立ち上がりの検出信号Vこよ
り反転した単安定マルチバイブレータが反転している時
間中に得られる立ち下がり検出信号をアンド回路で選択
すると欠陥を検出でI入る。
路に入力される。通常欠陥信号は同期信号より短いパル
ス状の信号である。よって立ち上がりの検出信号Vこよ
り反転した単安定マルチバイブレータが反転している時
間中に得られる立ち下がり検出信号をアンド回路で選択
すると欠陥を検出でI入る。
本発明により画像情報円盤の記録面上の欠陥を短時間に
且つ安定に検出可能となり、特に同期信号や制御信号上
にある欠陥も検出する拳が出来るので、画像情報円盤、
及びその製造工程中に得られる画像情報原盤の欠陥検査
を効率良く行なえる。
且つ安定に検出可能となり、特に同期信号や制御信号上
にある欠陥も検出する拳が出来るので、画像情報円盤、
及びその製造工程中に得られる画像情報原盤の欠陥検査
を効率良く行なえる。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する
。
。
第1図は画像情報円盤の反射光から再生信号を得るまで
の光学系を示した図である。レーザ発振装置aυより出
力されたレーザビームはビームスプリッタ02を経てレ
ンズ+13により画像円盤I上に小さな光スポットを結
ぶ。この時、円盤IはモータOSによし回転している。
の光学系を示した図である。レーザ発振装置aυより出
力されたレーザビームはビームスプリッタ02を経てレ
ンズ+13により画像円盤I上に小さな光スポットを結
ぶ。この時、円盤IはモータOSによし回転している。
短時間で検査を行なうために光スポットは円盤I上の記
録ビットおよびトラックに対して十分大きく集光させ、
数トラツク(例えば5本程度)を一度に再生している。
録ビットおよびトラックに対して十分大きく集光させ、
数トラツク(例えば5本程度)を一度に再生している。
この円盤1141面で反射され画像16号や欠陥の情報
を含んだ反射ビームは再度レンズf131を通りビーム
スプリッタ0渇で反射され光検出器filで受光される
。ここで元信号は電気信号となり出力端子面に出力され
る。また常に盤面の光スポットの形状が最適な大きさに
なる様に焦点調節器1181は光検出器aOから信号を
得てレンズ+131を動作させる。
を含んだ反射ビームは再度レンズf131を通りビーム
スプリッタ0渇で反射され光検出器filで受光される
。ここで元信号は電気信号となり出力端子面に出力され
る。また常に盤面の光スポットの形状が最適な大きさに
なる様に焦点調節器1181は光検出器aOから信号を
得てレンズ+131を動作させる。
第2図は本発明に係る欠陥検出回路の一笑施例であり、
第3図は第2図の各部波形を示す図である。第2図の再
生信号入力端子C21)には第1図に示した光学的検出
装置からの再生信号が供給される。
第3図は第2図の各部波形を示す図である。第2図の再
生信号入力端子C21)には第1図に示した光学的検出
装置からの再生信号が供給される。
この再生信号の波形を示した図が第3図(a)である。
円盤0着の数トラツクを一度に再生すると同期信号部で
は常に隣接トラックに同一信号が記録されているため同
位相で加算されて第3図(&)の&1の様な信号が現わ
れる。又、映像信号部では隣接トラック間で信号の相関
がないため、数トラツク間で平均化され大きな振幅変化
は現われない。更に数トラツクに渡り欠陥が存在すると
反射ビーム光量が低下したり、増大したシすることによ
り第3図1c&)のa2やa3の様な振幅の大きい1d
号が現われる。
は常に隣接トラックに同一信号が記録されているため同
位相で加算されて第3図(&)の&1の様な信号が現わ
れる。又、映像信号部では隣接トラック間で信号の相関
がないため、数トラツク間で平均化され大きな振幅変化
は現われない。更に数トラツクに渡り欠陥が存在すると
反射ビーム光量が低下したり、増大したシすることによ
り第3図1c&)のa2やa3の様な振幅の大きい1d
号が現われる。
この再生信号は包絡線検出回路+221で包絡縁検波さ
れるが、この波形を示した図が第3図(b)であり、第
3図(a)の上側の包絡線のみ検出され、下向きの欠陥
Itt号a3は取り除かれろ。この包絡線検出回路(四
の出力は微分回路r!冴に入力される。この微分回路の
出力波形は第3図(c)に示される。この出力が比較器
(2,0に入力される。比較器+24)は第3図(c)
に示す微分回路(慢の出力とレベルC1を比較し、第3
図(d)に示・す様な包絡線の立ち上がりを検出するパ
ルス列を作る。この比較器C4の出力は単安定マルチバ
イブレータ(ハ)に入力し、その出力は第3図(e)に
示frf)7式のパルス列となる。ここでτは同期信号
の長さより短く、欠陥信号の長さより長くする。
れるが、この波形を示した図が第3図(b)であり、第
3図(a)の上側の包絡線のみ検出され、下向きの欠陥
Itt号a3は取り除かれろ。この包絡線検出回路(四
の出力は微分回路r!冴に入力される。この微分回路の
出力波形は第3図(c)に示される。この出力が比較器
(2,0に入力される。比較器+24)は第3図(c)
に示す微分回路(慢の出力とレベルC1を比較し、第3
図(d)に示・す様な包絡線の立ち上がりを検出するパ
ルス列を作る。この比較器C4の出力は単安定マルチバ
イブレータ(ハ)に入力し、その出力は第3図(e)に
示frf)7式のパルス列となる。ここでτは同期信号
の長さより短く、欠陥信号の長さより長くする。
一方、微分回路Q坤の出力は比較器(ハ)にも入力し、
第3図(o)に示すレベルC2と比較され、第3図(f
)に示す包絡線の立ち下がりパルスを検出する。この比
較器t21i)の出力は、単安定マルチバイブレータ(
2!9の出力と共にアンド回路(27)に入力する。こ
のアンド回路では、包絡線の立ち上がりから1式以内に
立ち下がりパルスがあったときのみ、第3図(g)に示
す信号を出力する。この様にして、第3図(a)に示す
再生信号上の上向きの欠陥信号a2とa4が第3図(g
)に示す様に検出式れる。また入力端子CDに供給され
た再生信号は反転回路(至)で欠陥パルスの極性を逆に
して、下向き欠陥検出回路(21に入力する。この下向
き欠陥パルス検出回路01は前記包絡線検出回路、微分
回路、2つの比較器、単安定マルチバイブレータ、アン
ド回路で構成された回路間と同様の回路である。この様
にして第3図(11)に示される再生信号の下向き欠陥
パルスa3を検出する。丙生信号の上向きと下向きの欠
陥検出信号はオア回路01)で加算され、欠陥検出信号
0湯を第3図(1)に示す様に出力する。
第3図(o)に示すレベルC2と比較され、第3図(f
)に示す包絡線の立ち下がりパルスを検出する。この比
較器t21i)の出力は、単安定マルチバイブレータ(
2!9の出力と共にアンド回路(27)に入力する。こ
のアンド回路では、包絡線の立ち上がりから1式以内に
立ち下がりパルスがあったときのみ、第3図(g)に示
す信号を出力する。この様にして、第3図(a)に示す
再生信号上の上向きの欠陥信号a2とa4が第3図(g
)に示す様に検出式れる。また入力端子CDに供給され
た再生信号は反転回路(至)で欠陥パルスの極性を逆に
して、下向き欠陥検出回路(21に入力する。この下向
き欠陥パルス検出回路01は前記包絡線検出回路、微分
回路、2つの比較器、単安定マルチバイブレータ、アン
ド回路で構成された回路間と同様の回路である。この様
にして第3図(11)に示される再生信号の下向き欠陥
パルスa3を検出する。丙生信号の上向きと下向きの欠
陥検出信号はオア回路01)で加算され、欠陥検出信号
0湯を第3図(1)に示す様に出力する。
以上述べた様に本実施例に依れば、微分回路以降の出力
信号をデジタル処理出来るので検出能力の安定性に優れ
ておりアナログ回路に比べ回路の製作調整が容易である
。また欠陥検出信号が再生 、 ・信号の欠陥位置に対
しほぼ時間遅れなく出力されるので実用上都合が良い。
信号をデジタル処理出来るので検出能力の安定性に優れ
ておりアナログ回路に比べ回路の製作調整が容易である
。また欠陥検出信号が再生 、 ・信号の欠陥位置に対
しほぼ時間遅れなく出力されるので実用上都合が良い。
尚、上記実施例に依れば光学的に数トラ・ンクづつの情
報を読み取る方法を示したが、接触式でも数トラツクに
捷たがる大きさの針を使用して再生信号を得ることも出
来る。また第2図に於て再生信号を反転回路で反転する
ことなしに下側の包絡4!!を検出する回路を用いて、
下向きの欠陥信号のみを検出することも出来る。
報を読み取る方法を示したが、接触式でも数トラツクに
捷たがる大きさの針を使用して再生信号を得ることも出
来る。また第2図に於て再生信号を反転回路で反転する
ことなしに下側の包絡4!!を検出する回路を用いて、
下向きの欠陥信号のみを検出することも出来る。
第1図は外生信号を得る1での光学系を示す図、82図
は本発明の一実施例を示す図、第3図は第2図における
各部の波形を示した図である。 11・・・レーザ発振装置、12・・・ビームスプリッ
タ13・・・レンズ、14・・・画像円盤、15・・・
七−タ、16・・・光検出器、17・・・出力端子、1
8・・・焦点調節器、21・・・再生信号入力端子、2
2・・・包絡線検出回路、23・・・微分回路、24.
26・・・比較器、25・・・単安定マルチバイブレー
タ、27・・・アンド回路、28・・・反転回路、29
・・・下向き欠陥パルス検出回路、30・・・上向き欠
陥パルス検出回路、31・・・オア回路、32・・・欠
陥検出信号。 弓 、Q () り も も 望 ゛穢
は本発明の一実施例を示す図、第3図は第2図における
各部の波形を示した図である。 11・・・レーザ発振装置、12・・・ビームスプリッ
タ13・・・レンズ、14・・・画像円盤、15・・・
七−タ、16・・・光検出器、17・・・出力端子、1
8・・・焦点調節器、21・・・再生信号入力端子、2
2・・・包絡線検出回路、23・・・微分回路、24.
26・・・比較器、25・・・単安定マルチバイブレー
タ、27・・・アンド回路、28・・・反転回路、29
・・・下向き欠陥パルス検出回路、30・・・上向き欠
陥パルス検出回路、31・・・オア回路、32・・・欠
陥検出信号。 弓 、Q () り も も 望 ゛穢
Claims (1)
- 画像情報を記録した記録媒体から得られるパルス状欠陥
信号を含む再生信号の包絡線を検出する手段と、この検
出手段から得られる包絡線信号を微分する手段と、この
微分手段から得られる微分信号の定められた一方の極性
のパルスを検出する第1の検出手段と、この検出手段に
より得られた検出信号によシ所定のパルス幅の信号を発
生するパルス発生手段と、前記微分信号の他方の極性の
パルスを検出する第2の検出手段と、前記パルス発生手
段から得られる出力と前記第2の検出手段から得られる
出力との論理積をとるアンド回路とを具備したことを特
徴とする画像情報円盤欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8746283A JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8746283A JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59215040A true JPS59215040A (ja) | 1984-12-04 |
JPH03705B2 JPH03705B2 (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=13915543
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8746283A Granted JPS59215040A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 画像情報円盤欠陥検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59215040A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5377054A (en) * | 1992-07-06 | 1994-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Digital information reproducing apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832146A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドロップアウト評価装置 |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP8746283A patent/JPS59215040A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5832146A (ja) * | 1981-08-20 | 1983-02-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドロップアウト評価装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5377054A (en) * | 1992-07-06 | 1994-12-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Digital information reproducing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03705B2 (ja) | 1991-01-08 |
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