JPS59211194A - 工業計器自動試験装置 - Google Patents
工業計器自動試験装置Info
- Publication number
- JPS59211194A JPS59211194A JP8635483A JP8635483A JPS59211194A JP S59211194 A JPS59211194 A JP S59211194A JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP S59211194 A JPS59211194 A JP S59211194A
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- JP
- Japan
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- signal
- section
- input
- industrial
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は各種工業計器の性能を試験する場合に好適な工
業計器自動試験装置に関する。
業計器自動試験装置に関する。
(ロ)従来技術
一般に、工業計器の製品出荷時やメインテナンス時等に
おいては、それが所要の精度を保っているかどうか試験
をして性能を確認する必要がある。
おいては、それが所要の精度を保っているかどうか試験
をして性能を確認する必要がある。
このような場合、従来は−っの工業計器にこれに応じた
信号発生器を接続し、工業計器に信号発生器から基準と
なる信号をたとえばレベルを段階的に切換えて入力し、
工業計器からこの人力信号fこ応答して出力される信号
を測定器で続みとり、所定の出力値が得られているがど
うかをみて性能を確認している。しかも、その際の信号
発生器がら工業計器へ入力する基準信号の切換えは、手
動で行なわれている。このため性能試験時iこは常時人
手が必要となり、労力も大きかった。また、多数個の工
業計器の性能試験をする必要があるときには、それが同
じ工業計器ならば互いを並列に接続するなどして同時に
試験することは可能であるが、種類が異なると個々につ
いて1つずつ性能試験を実施せねばならず試験に長時間
を要するという問題がある。
信号発生器を接続し、工業計器に信号発生器から基準と
なる信号をたとえばレベルを段階的に切換えて入力し、
工業計器からこの人力信号fこ応答して出力される信号
を測定器で続みとり、所定の出力値が得られているがど
うかをみて性能を確認している。しかも、その際の信号
発生器がら工業計器へ入力する基準信号の切換えは、手
動で行なわれている。このため性能試験時iこは常時人
手が必要となり、労力も大きかった。また、多数個の工
業計器の性能試験をする必要があるときには、それが同
じ工業計器ならば互いを並列に接続するなどして同時に
試験することは可能であるが、種類が異なると個々につ
いて1つずつ性能試験を実施せねばならず試験に長時間
を要するという問題がある。
(ハ) 目 的
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、
工業計器が互いに種類の異なるものであっても、それら
の性能を同時に多数個自動的に試験することができるよ
うにして、従来の問題点を解消することを目的とする。
工業計器が互いに種類の異なるものであっても、それら
の性能を同時に多数個自動的に試験することができるよ
うにして、従来の問題点を解消することを目的とする。
に)構 成
本発明はこのような目的を達成するため、試験プログラ
ム等を予じめ設定する設定部と、入出力データを表示す
る表示部と、入出力信号を演算。
ム等を予じめ設定する設定部と、入出力データを表示す
る表示部と、入出力信号を演算。
制御する制御演算部と、前記設定部で設定されたプログ
ラムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と
、複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別
的に接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサさ、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備えて構成して
いる。
ラムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と
、複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別
的に接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサさ、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備えて構成して
いる。
(ホ)実施例
以下、本発明を一実施例について図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の工業計器自動試験装置の全体を示すブ
ロック構成図である。同図において、1は工業計器自動
試験装置、2 a 、 2 b 、 2 Cは性能試験
すべき複数(本例では3個)の工業計器である。また4
il″j:各工業計器2 a 、 2 b 、 2 C
を試験するため予じめプログラムされた条件を設定する
ための設定部、6は人出力データを表示する表示部で、
この表示部6はカウンタ、CRT、プリンタ等を含む。
ロック構成図である。同図において、1は工業計器自動
試験装置、2 a 、 2 b 、 2 Cは性能試験
すべき複数(本例では3個)の工業計器である。また4
il″j:各工業計器2 a 、 2 b 、 2 C
を試験するため予じめプログラムされた条件を設定する
ための設定部、6は人出力データを表示する表示部で、
この表示部6はカウンタ、CRT、プリンタ等を含む。
8Fi設定部4から入力した試験プログラムの入力デー
タ、表示部6への出力データおよびその他の入出力信号
を記憶する記憶部である。10は入出力信号を演算、制
御する制御演算部(以下CPUという)である。12は
設定部4で設定された試験プログラム〔こ基づいて基本
となる信号を発生する信号発生器である。また14a。
タ、表示部6への出力データおよびその他の入出力信号
を記憶する記憶部である。10は入出力信号を演算、制
御する制御演算部(以下CPUという)である。12は
設定部4で設定された試験プログラム〔こ基づいて基本
となる信号を発生する信号発生器である。また14a。
14b 、14Cは前記工業計器2 a 、 2 b
、 2 Cの各入力端に、それぞれ個別的に接続σれた
信号出力部である。これらの各信号出刃部14 a、1
41)。
、 2 Cの各入力端に、それぞれ個別的に接続σれた
信号出力部である。これらの各信号出刃部14 a、1
41)。
14Cは共に同一の構成を有゛している。一つの信号出
力部14aについてみれば、たとえば第2図(a)に示
すように、信号レベルを保持するためのコンデンサC9
差動増幅器Amp l 、信号発生部12からの信号を
各工業計器2a 、2b 、2Cに適応した信号に変換
するためのスイッチSW+ 、 SW2 。
力部14aについてみれば、たとえば第2図(a)に示
すように、信号レベルを保持するためのコンデンサC9
差動増幅器Amp l 、信号発生部12からの信号を
各工業計器2a 、2b 、2Cに適応した信号に変換
するためのスイッチSW+ 、 SW2 。
SWa 、 SW4を主体に構成きれている。一方、1
6a。
6a。
16b、16Cは工業計器2 a 、 2 b 、 2
C(7)各出力端にそれぞれ個別的に接続された信号
入力部である。これらの各信号入力部15a、i5b。
C(7)各出力端にそれぞれ個別的に接続された信号
入力部である。これらの各信号入力部15a、i5b。
16Cfl共に同一の構成を有している。一つの信号入
力部16aについてみれば、たとえば、第3図(a)
lこ示すように、1つの差動増幅器Amp 2および各
工業計器2 a 、 2 b 、 2 Cがらの出方信
号を制御演算部10に適応した信号に変換するためのス
イッチSWI’、 SW2’を主体に構成されている。
力部16aについてみれば、たとえば、第3図(a)
lこ示すように、1つの差動増幅器Amp 2および各
工業計器2 a 、 2 b 、 2 Cがらの出方信
号を制御演算部10に適応した信号に変換するためのス
イッチSWI’、 SW2’を主体に構成されている。
18は信号発生部12を各信号出力部14a、14b。
14Cに順次選択的に切換えて接続する前段マルチプレ
クサ、20は各信号入力部16a、16b。
クサ、20は各信号入力部16a、16b。
16Cを制御演算部101こ順次選択的に切換えて接続
する後段マルチプレクサである。また22はA/D変換
器である。24け制御演算部10からの制御信号により
前記信号出力部14a、14b。
する後段マルチプレクサである。また22はA/D変換
器である。24け制御演算部10からの制御信号により
前記信号出力部14a、14b。
14Cのそれぞれの各スイッチSW+ 、 SW2 、
SWa 。
SWa 。
SW4を切換えるレンジ切換器である。26は同じく制
御演算部10からの制御信号により前記信号入力部16
a、16b、16Cのそれぞれの各スイッチSW +’
、 SW2’を切換えるレンジ切換器である。
御演算部10からの制御信号により前記信号入力部16
a、16b、16Cのそれぞれの各スイッチSW +’
、 SW2’を切換えるレンジ切換器である。
両レンジ切換器24.26fl一種の論理回路で構成さ
れている。
れている。
次に、上記構成を有する工業計器自動試験装置1を用い
て複数の工業針ex 2 a 、 2 b 、 2 C
の性能試験を行なう場合について説明する。
て複数の工業針ex 2 a 、 2 b 、 2 C
の性能試験を行なう場合について説明する。
まず、設定部4から工業計器2 a 、 2 b 、
2 Cの性能試験を行なうためのプログラムを入力する
。
2 Cの性能試験を行なうためのプログラムを入力する
。
CPU1Qはこのプログラムを記憶部8に記憶するとと
もに、このプログラムに基づいた制御信号を信号発生部
12とともに表示部6へ出力する。
もに、このプログラムに基づいた制御信号を信号発生部
12とともに表示部6へ出力する。
従って表示部6にはプログラムされた試験条件が表示さ
れる。また、信号発生部12はCPUIQから送出σれ
た制御信号に応答して基本となる信号を発生し、これを
前段マルチプレクサ18へ送出する。前段マルチブレフ
サ1sucpuioに制御され信号発生部12からの出
力信号に応じてその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次選択的に切換えていく。このため、信
号発生部12と各信号出力部14a 、14b 、14
Cとは前段マルチプレクサ18を介して個々に選択的に
接続される。さら1こ、前段マルチブレフサ18の切換
タイミングに合せてCPU1Qからはレンジ切換器24
にレンジ切換信号が入力σれるので、レンジ切換器24
はこのレンジ切換信号に応答して、各信号出力部14a
、141)、14CのスイッチSW+ 、 SW2 、
SWa 、 SW4 を試験対象とする各工業計器2
a、2b、2Cの入力信号レベルに適合するように切換
える。たとえば、今、一つの工業計器2aについて、そ
の入力信号レベルが数mVの単位を対象としているもの
とする。この場合、信号発生部12と1つの信号出力部
14aとが前段マルチプレクサ18により接続されると
、信号発生部12からの基本信号はこの信号出力部14
aに入力される。その基本信号のレベルは入力抵抗の影
響を受けないよう数v単位の充分大きな値を有している
。上記のごとくレンジ切換器24il−1:信号発生部
12と信号出力部14aとの接続タイミングに合せて信
号出力部14aのスイッチSW+。
れる。また、信号発生部12はCPUIQから送出σれ
た制御信号に応答して基本となる信号を発生し、これを
前段マルチプレクサ18へ送出する。前段マルチブレフ
サ1sucpuioに制御され信号発生部12からの出
力信号に応じてその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次選択的に切換えていく。このため、信
号発生部12と各信号出力部14a 、14b 、14
Cとは前段マルチプレクサ18を介して個々に選択的に
接続される。さら1こ、前段マルチブレフサ18の切換
タイミングに合せてCPU1Qからはレンジ切換器24
にレンジ切換信号が入力σれるので、レンジ切換器24
はこのレンジ切換信号に応答して、各信号出力部14a
、141)、14CのスイッチSW+ 、 SW2 、
SWa 、 SW4 を試験対象とする各工業計器2
a、2b、2Cの入力信号レベルに適合するように切換
える。たとえば、今、一つの工業計器2aについて、そ
の入力信号レベルが数mVの単位を対象としているもの
とする。この場合、信号発生部12と1つの信号出力部
14aとが前段マルチプレクサ18により接続されると
、信号発生部12からの基本信号はこの信号出力部14
aに入力される。その基本信号のレベルは入力抵抗の影
響を受けないよう数v単位の充分大きな値を有している
。上記のごとくレンジ切換器24il−1:信号発生部
12と信号出力部14aとの接続タイミングに合せて信
号出力部14aのスイッチSW+。
SW2 、 SWa 、 SW4を切換える。この各ス
イッチSW+。
イッチSW+。
SW2 、 SWs 、 SW4の組合せは第2図(b
)のごとくになっている。すなわちこの例では次段の工
業計器2aはmV単位の出力レンジでなければならない
ので、スイッチSW+はON、スイッチSW2はOFF
、 5WaidbとCの各端子が、またSW4はb′と
C′の各端子がそれぞれ接続する。このため信号出力部
14aの入力端に印加された数Vの電圧はその出力端で
は数mvlこレンジ切換され、これが工業計器2aに送
出される。なお、各信号出力部141.14b。
)のごとくになっている。すなわちこの例では次段の工
業計器2aはmV単位の出力レンジでなければならない
ので、スイッチSW+はON、スイッチSW2はOFF
、 5WaidbとCの各端子が、またSW4はb′と
C′の各端子がそれぞれ接続する。このため信号出力部
14aの入力端に印加された数Vの電圧はその出力端で
は数mvlこレンジ切換され、これが工業計器2aに送
出される。なお、各信号出力部141.14b。
14CはコンデンサCにより信号発生部12からの出力
レベルを保持し、また、各スイッチSW+。
レベルを保持し、また、各スイッチSW+。
SW2 、 SWa 、 SW4の切換えはレンジ切換
器24を介してCPU1Qに制御されている。従って、
前段マルチプレクサ18およびレンジ切換器24への入
力が更新されない限り各信号出力部14 a 、 14
+入14Cからはこれに対応した各工業計器2 a 、
2b。
器24を介してCPU1Qに制御されている。従って、
前段マルチプレクサ18およびレンジ切換器24への入
力が更新されない限り各信号出力部14 a 、 14
+入14Cからはこれに対応した各工業計器2 a 、
2b。
2Cに一定レベルの信号が常時出力式れる。
欠番こ、各工業計器2 a 、 2 b 、 2 Cか
らの出力はそれぞれこれに対応した信号入力部16 a
、16b。
らの出力はそれぞれこれに対応した信号入力部16 a
、16b。
16Cに入力される。後端マルチプレクサ20はCPU
IQに制御されその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次切換えていく。このため各信号入力部
iea 、16b 、16CとCPU1Qとは後端マル
チブレフサ20、A/D変換器22を介して互いに接続
される。σら1こ、後段マルチプレクサ20の切換タイ
ミング昏こ合せてCPUIQからはレンジ切換器部にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器26はこ
のレンジ切換信号に応答して各信号入力部16a、16
b。
IQに制御されその内部のスイッチをたとえば一定時間
間隔でもって順次切換えていく。このため各信号入力部
iea 、16b 、16CとCPU1Qとは後端マル
チブレフサ20、A/D変換器22を介して互いに接続
される。σら1こ、後段マルチプレクサ20の切換タイ
ミング昏こ合せてCPUIQからはレンジ切換器部にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器26はこ
のレンジ切換信号に応答して各信号入力部16a、16
b。
16CのスイッチSWI’、 SW2’をCPU1Qの
入力信号レベルに適合するように切換える。たとえば、
今一ツノ工業計器2aについて、その出力信号レベルが
数mVの場合、この信号は工業計器2aに対応した信号
入力部16aに入力σれる。信号入力部16aのスイッ
チSWI’、 SW2’の組合せは第3図(b)のごと
くになっている。したがって、この例では両スイッチS
WI’、 SW2’は共にOFFのままである。このた
め、信号入力部14aの入力端に印加された数mV単位
の電圧は、その出力端で数V単位lこレンジ切換される
。そして、この信号は後端マルチプレクサ20 、A/
D変換器10を介してCPU1Qに入力される。このよ
うに、各工業計器2a、2b、2CからのデータはCP
U 1Q ij一定時間間隔で取り込まれ、CPU1
Qはこの入力データに基づいた演算処理結果を表示部6
にたとえばプリントアウトするとともに記憶部8に記憶
させる。
入力信号レベルに適合するように切換える。たとえば、
今一ツノ工業計器2aについて、その出力信号レベルが
数mVの場合、この信号は工業計器2aに対応した信号
入力部16aに入力σれる。信号入力部16aのスイッ
チSWI’、 SW2’の組合せは第3図(b)のごと
くになっている。したがって、この例では両スイッチS
WI’、 SW2’は共にOFFのままである。このた
め、信号入力部14aの入力端に印加された数mV単位
の電圧は、その出力端で数V単位lこレンジ切換される
。そして、この信号は後端マルチプレクサ20 、A/
D変換器10を介してCPU1Qに入力される。このよ
うに、各工業計器2a、2b、2CからのデータはCP
U 1Q ij一定時間間隔で取り込まれ、CPU1
Qはこの入力データに基づいた演算処理結果を表示部6
にたとえばプリントアウトするとともに記憶部8に記憶
させる。
なお、上記実施例において工業計器2a、2b。
2 Clこ対応した各信号出力部14a 、 14b、
14Cと信号入力部16a、161)、16Cとは3か
所設けているが、これに限るものではなく工業計器の数
1こ応じ、2つであってもよくさらに多数設けてもよい
のは勿論である。
14Cと信号入力部16a、161)、16Cとは3か
所設けているが、これに限るものではなく工業計器の数
1こ応じ、2つであってもよくさらに多数設けてもよい
のは勿論である。
(ハ)効果
以上のように本発明によれば、工業計器が互いに種類の
異なるものであっても、それらの性能を同時に多数個自
動的に試験することができる。このため昼夜を問わず試
験を続行することが可能となり、試験に要する労力が大
幅(こ軽減されるばかりでなく、試験に要する期間も極
めて短かくなるという実用上優れた効果が発揮きれる。
異なるものであっても、それらの性能を同時に多数個自
動的に試験することができる。このため昼夜を問わず試
験を続行することが可能となり、試験に要する労力が大
幅(こ軽減されるばかりでなく、試験に要する期間も極
めて短かくなるという実用上優れた効果が発揮きれる。
図面は本発明の実施例を示し、第1図は工業計器自動試
験装置の全体を示すブロック構成図、第2図(a)は前
段マルチプレクサと一つの信号出力部を示す回路図、同
図(+)) U信号出力部の各スイッチの動作条件を示
す表図、第3図(a)は後端マルチプレクサと一つの信
号入力部を示す回路図、同図(1))は信号入力部の各
スイッチの動作条件を示す表図でろる。 1・・・工業計器自動試験装置、2 a 、 2 b
、 2 c・・・工業計器、4・・・設定部、6・・・
表示部、10・・・制御演算部、12・・・信号発生部
、14a 、14b 。 14 C・・・信号出力部、161.161)、16C
−・・信号入力部、1B・・・前段マルチプレクサ、2
0・・・後端マルチプレクサ、24.26・・・レンジ
切換器。 出 願 人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士岡田和秀
験装置の全体を示すブロック構成図、第2図(a)は前
段マルチプレクサと一つの信号出力部を示す回路図、同
図(+)) U信号出力部の各スイッチの動作条件を示
す表図、第3図(a)は後端マルチプレクサと一つの信
号入力部を示す回路図、同図(1))は信号入力部の各
スイッチの動作条件を示す表図でろる。 1・・・工業計器自動試験装置、2 a 、 2 b
、 2 c・・・工業計器、4・・・設定部、6・・・
表示部、10・・・制御演算部、12・・・信号発生部
、14a 、14b 。 14 C・・・信号出力部、161.161)、16C
−・・信号入力部、1B・・・前段マルチプレクサ、2
0・・・後端マルチプレクサ、24.26・・・レンジ
切換器。 出 願 人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士岡田和秀
Claims (1)
- ([)試験プログラム等を予じめ設定する設定部と、入
出力データを表示する表示部よ、入出力信号を演算、制
御する制御演算部と、前記設定部で設定されたプログラ
ムに基づいて基本となる信号を発生する信号発生部と、
複数の工業計器の各入力端と出力端とにそれぞれ個別的
(こ接続される各複数の信号出力部および信号入力部と
、前記信号発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入力
部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後
段マルチプレクサと、前記信号出力部および信号入力部
の各レンジを切換えるレンジ切換器とを包含してなる工
業計器自動試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59211194A true JPS59211194A (ja) | 1984-11-29 |
JPH041399B2 JPH041399B2 (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=13884545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8635483A Granted JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59211194A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5953578A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-03-28 | エデコ・ホ−ルデイングス・リミテツド | 熱化学エネルギ貯蔵媒体,同貯蔵装置及び同貯蔵方法 |
JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | ||
JPH03120418A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-22 | Nippon Steel Corp | 計装テスタ |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP8635483A patent/JPS59211194A/ja active Granted
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5953578A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-03-28 | エデコ・ホ−ルデイングス・リミテツド | 熱化学エネルギ貯蔵媒体,同貯蔵装置及び同貯蔵方法 |
JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | ||
JPH03120418A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-22 | Nippon Steel Corp | 計装テスタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH041399B2 (ja) | 1992-01-10 |
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