JPS5920965B2 - 多数受光素子を有する測光装置 - Google Patents
多数受光素子を有する測光装置Info
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- JPS5920965B2 JPS5920965B2 JP53144501A JP14450178A JPS5920965B2 JP S5920965 B2 JPS5920965 B2 JP S5920965B2 JP 53144501 A JP53144501 A JP 53144501A JP 14450178 A JP14450178 A JP 14450178A JP S5920965 B2 JPS5920965 B2 JP S5920965B2
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- Japan
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 7
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/091—Digital circuits
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
- G03B7/0993—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera in the camera
- G03B7/0997—Through the lens [TTL] measuring
- G03B7/09979—Multi-zone light measuring
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は多数の受光素子を用いて受光面の各部の照度を
測定する測光装置に関するものである。
測定する測光装置に関するものである。
この種の測光装置は、電荷転送素子（ＣＴＤ）と称され
ており、テレビカメラの撮像部等に用いられている。
ており、テレビカメラの撮像部等に用いられている。
従来の測光装置は、多数の受光素子がマトリックス状に
接続されており、Ｘ方向マルチプレクサとＹ方向マルチ
プレクサのコードを指定することにより、所望の受光素
子の出力信号が取り出せるようになつている。一般に、
カメラで撮影される被写体はＥＶ値で−３〜２．０程度
であり、その明るさが大きく変化するから、受光素子の
出力を対数圧縮して用いる必要がある。
接続されており、Ｘ方向マルチプレクサとＹ方向マルチ
プレクサのコードを指定することにより、所望の受光素
子の出力信号が取り出せるようになつている。一般に、
カメラで撮影される被写体はＥＶ値で−３〜２．０程度
であり、その明るさが大きく変化するから、受光素子の
出力を対数圧縮して用いる必要がある。
したがつて前記ＣＴＤをカメラに利用する場合は、受光
素子の出力信号を取り出すＹ方向マルチプレクサの出力
端子に、対数アンプが接続される。前記ＣＴＤは、ワン
チップ上に多数の受光素子と、ＸおよびＹ方向マルチプ
レクサが設けられているから、外付けによつて対数アン
プを接続しなければならないため、それだけ組立て工程
が増えてコスト高になるという難点がある。
素子の出力信号を取り出すＹ方向マルチプレクサの出力
端子に、対数アンプが接続される。前記ＣＴＤは、ワン
チップ上に多数の受光素子と、ＸおよびＹ方向マルチプ
レクサが設けられているから、外付けによつて対数アン
プを接続しなければならないため、それだけ組立て工程
が増えてコスト高になるという難点がある。
本発明は上記欠点を解決するもので対数アンプの外付け
が不要な測光装置を提供することを目的とするものであ
る。
が不要な測光装置を提供することを目的とするものであ
る。
本発明装置は、マトリックス回路の各出力ラインに対数
アンプを挿入して受光素子の出力を対数変換してからＹ
方向マルチプレクサに送るようにするとともに、これら
の各回路をＩＣ化してワンチップ上に設けたことを特徴
とするものである。
アンプを挿入して受光素子の出力を対数変換してからＹ
方向マルチプレクサに送るようにするとともに、これら
の各回路をＩＣ化してワンチップ上に設けたことを特徴
とするものである。
以下、図面を参照して本発明の実施例について詳細に説
明する。第１図において、Ｘ方向マルチプレクサ１の出
力端子に、複数のＸライン２ａ・・・・・・・・・・・
・・・・ ２（ｎ−１）、２ｎが接続されている。
明する。第１図において、Ｘ方向マルチプレクサ１の出
力端子に、複数のＸライン２ａ・・・・・・・・・・・
・・・・ ２（ｎ−１）、２ｎが接続されている。
このＸ方向マルチプレクサ１は、セレクト端子３に入力
されたコード信号によつて所定のＸラインがＯＮし、入
力された信号が出力端子から送り出される。この実施例
では、入力端子が接地されているから、選択されたＸラ
インだけが接地される。前記Ｘ方向マルチプレクサ１に
対応してＹ方向フ マルチプレクサ４が設けられている
。
されたコード信号によつて所定のＸラインがＯＮし、入
力された信号が出力端子から送り出される。この実施例
では、入力端子が接地されているから、選択されたＸラ
インだけが接地される。前記Ｘ方向マルチプレクサ１に
対応してＹ方向フ マルチプレクサ４が設けられている
。
このＹ方向マルチプレクサ４は、セレクト端子５に入力
されたコード信号により、複数の入力データのうちいず
れか１つを選択して出力する。またＹ方向マルチプレク
サ４の入力端子に、複数のＹライン６ａ５・・・・・・
・・・・・・・・・ ６ｎが接続されている。これらの
Ｙライン６ａ・・・・・・・・・・・・・・・ ６ｎと
、前記Ｘライン２ａ・・・・・・・・・・・・・・・
２ｎに、多数の受光素子例えばシリコンプル−セル７ａ
・・・・・・・・・・・・・・・７ｎが接続され、マト
リツクス回路を構成している。前記Ｙラインには、ログ
ダイオード８ａ，８ｂ・・・・・・・・・・・・・・・
８ｎをそれぞれ有する対数アンプ９ａ，９ｂ・・・・・
・・・・・・・・・・９ｎが接続されており、受光素子
７ａ・・・・・・・・・・・・・・・７ｎの出力を対数
圧縮してからＹ方向マルチプレクサ４に送るようになつ
ている。マルチプレクサ４から出力された対数的電圧は
、Ａ／Ｄ変換器１０でコード化されたデジタル信号に変
換される。カメラでは、このデジタル信号が露出演算回
路に送られる。前記ｘ方向マルチプレクサ１、Ｙ方向マ
ルチプレクサ４、受光素子７ａ・・・・・・・・・・・
・・・・７ｎ、対数アンプ９ａ・・・・・・・・・・・
・・・・９ｎは、ＩＣ技術によつてワンチツプ上に設け
られている。
されたコード信号により、複数の入力データのうちいず
れか１つを選択して出力する。またＹ方向マルチプレク
サ４の入力端子に、複数のＹライン６ａ５・・・・・・
・・・・・・・・・ ６ｎが接続されている。これらの
Ｙライン６ａ・・・・・・・・・・・・・・・ ６ｎと
、前記Ｘライン２ａ・・・・・・・・・・・・・・・
２ｎに、多数の受光素子例えばシリコンプル−セル７ａ
・・・・・・・・・・・・・・・７ｎが接続され、マト
リツクス回路を構成している。前記Ｙラインには、ログ
ダイオード８ａ，８ｂ・・・・・・・・・・・・・・・
８ｎをそれぞれ有する対数アンプ９ａ，９ｂ・・・・・
・・・・・・・・・・９ｎが接続されており、受光素子
７ａ・・・・・・・・・・・・・・・７ｎの出力を対数
圧縮してからＹ方向マルチプレクサ４に送るようになつ
ている。マルチプレクサ４から出力された対数的電圧は
、Ａ／Ｄ変換器１０でコード化されたデジタル信号に変
換される。カメラでは、このデジタル信号が露出演算回
路に送られる。前記ｘ方向マルチプレクサ１、Ｙ方向マ
ルチプレクサ４、受光素子７ａ・・・・・・・・・・・
・・・・７ｎ、対数アンプ９ａ・・・・・・・・・・・
・・・・９ｎは、ＩＣ技術によつてワンチツプ上に設け
られている。
つぎに上記構成を有する本発明の作用について説明する
。
。
Ｘ方向マルチプレクサ１にコード信号が入力されると、
このコード信号に応じて所定のＸラインが選択され、こ
の選択されたｘラインのみが接地される。同様に、Ｙ方
向マルチプレクサ４もコード信号によつて所定のＹライ
ンが選択される。
このコード信号に応じて所定のＸラインが選択され、こ
の選択されたｘラインのみが接地される。同様に、Ｙ方
向マルチプレクサ４もコード信号によつて所定のＹライ
ンが選択される。
したがつて、選択されたＸラインとＹラインとに接続さ
れている受光素子の出力をＹ方向マルチプレクサから取
り出すことができる。このｘラインとＹラインで指定さ
れた受光素子は、入射した光量に応じた光電流を発生す
る。
れている受光素子の出力をＹ方向マルチプレクサから取
り出すことができる。このｘラインとＹラインで指定さ
れた受光素子は、入射した光量に応じた光電流を発生す
る。
この光電流は、選択されたＹラインに接続されている対
数アンプで対数圧縮された後、Ｙ方向マルチプレクサ４
を通つてＡ／Ｄ変換器１０に送られ、ここでデジタル信
号に変換される。したがつてＸ方向マルチプレクサ１と
Ｙ方向マルチプレクサ４によつて各受光素子７ａ・・・
・・・・・・・・・・・・７ｎを走査して受光面の各部
の照度を順次測定することができる。
数アンプで対数圧縮された後、Ｙ方向マルチプレクサ４
を通つてＡ／Ｄ変換器１０に送られ、ここでデジタル信
号に変換される。したがつてＸ方向マルチプレクサ１と
Ｙ方向マルチプレクサ４によつて各受光素子７ａ・・・
・・・・・・・・・・・・７ｎを走査して受光面の各部
の照度を順次測定することができる。
この各部の照度の算術平均を求めれば、平均測光となる
。またこのように全面を測定することなく、一部の受光
素子の出力を取り出せばスポツト測光となる。第２図は
受光素子の配置を示すものである。
。またこのように全面を測定することなく、一部の受光
素子の出力を取り出せばスポツト測光となる。第２図は
受光素子の配置を示すものである。
各受光素子７ａ・・・・・・・・・・・・・・・７ｎは
所定のピツチで規則正しく配されており、受光面（画面
）の各部の照度を検出する。上記構成を有する本発明は
、多数の受光素子でマトリツクス回路を作り、このマト
リツクス回路にＸ方向とＹ方向のマルチプレクサを接続
して所望の受光素子の出力だけを取り出せるようにする
とともに、マトリツクス回路とＹ方向マルチプレクサと
の間に対数アンプを接続して受光素子の出力を対数的電
圧に変換するものであり、しかもこれらの各回路をＩＣ
化してワンチツプ上に設けたものであるから、対数アン
プの外付けが不要となる。
所定のピツチで規則正しく配されており、受光面（画面
）の各部の照度を検出する。上記構成を有する本発明は
、多数の受光素子でマトリツクス回路を作り、このマト
リツクス回路にＸ方向とＹ方向のマルチプレクサを接続
して所望の受光素子の出力だけを取り出せるようにする
とともに、マトリツクス回路とＹ方向マルチプレクサと
の間に対数アンプを接続して受光素子の出力を対数的電
圧に変換するものであり、しかもこれらの各回路をＩＣ
化してワンチツプ上に設けたものであるから、対数アン
プの外付けが不要となる。
したがつて組立て工程が少なくなり、コストが大幅に安
くなる。
くなる。
第１図は本発明の実施例を示す回路図、第２図は受光素
子の配置を示す説明図である。 １・・・・・・Ｘ方向マルチプレクサ、２ａ〜２ｎ・・
・・・・ｘライン、４・・・・・・Ｙ方向マルチプレク
サ、６ａ〜６ｎ・・・・・・Ｙライン、７ａ〜７ｎ・・
・・・・受光素子、９ａ〜９ｎ・・・・・・対数アンプ
。
子の配置を示す説明図である。 １・・・・・・Ｘ方向マルチプレクサ、２ａ〜２ｎ・・
・・・・ｘライン、４・・・・・・Ｙ方向マルチプレク
サ、６ａ〜６ｎ・・・・・・Ｙライン、７ａ〜７ｎ・・
・・・・受光素子、９ａ〜９ｎ・・・・・・対数アンプ
。
Claims (1)
- １ 複数のＸラインとＹラインに、多数の受光素子をマ
トリックス状に接続し、これらのＸラインとＹラインに
Ｘ方向マルチプレクサとＹ方向マルチプレクサをそれぞ
れ接続し、かつ各Ｙラインに対数アンプを接続して、Ｘ
方向マルチプレクサとＹ方向マルチプレクサのコードを
指定することにより任意の受光素子の出力信号を対数的
電圧として取り出せるようになすとともに、これらをＩ
Ｃ化してワンチップ上に設けたことを特徴とする多数受
光素子を有する測光装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53144501A JPS5920965B2 (ja) | 1978-11-22 | 1978-11-22 | 多数受光素子を有する測光装置 |
| DE2946862A DE2946862C2 (de) | 1978-11-22 | 1979-11-20 | Lichtmeßvorrichtung |
| US06/096,002 US4321462A (en) | 1978-11-22 | 1979-11-20 | Light measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53144501A JPS5920965B2 (ja) | 1978-11-22 | 1978-11-22 | 多数受光素子を有する測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5570724A JPS5570724A (en) | 1980-05-28 |
| JPS5920965B2 true JPS5920965B2 (ja) | 1984-05-16 |
Family
ID=15363820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53144501A Expired JPS5920965B2 (ja) | 1978-11-22 | 1978-11-22 | 多数受光素子を有する測光装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4321462A (ja) |
| JP (1) | JPS5920965B2 (ja) |
| DE (1) | DE2946862C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61121884A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-09 | 富士通株式会社 | 検出機構 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS575371A (en) * | 1980-06-11 | 1982-01-12 | Ricoh Co Ltd | Image sensor |
| JPS58120379A (ja) * | 1982-01-11 | 1983-07-18 | Olympus Optical Co Ltd | 固体撮像装置 |
| JPS6177041A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像情報検出装置 |
| EP0207517B1 (en) * | 1985-07-05 | 1991-02-27 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus |
| JPS62201326A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-05 | Canon Inc | 測光装置 |
| CA2170666A1 (en) * | 1995-03-17 | 1996-09-18 | Taewon Jung | Complementary multiplexer with low disabled-output capacitance, and method |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS509485A (ja) * | 1973-05-23 | 1975-01-30 | ||
| JPS5913011B2 (ja) * | 1974-06-21 | 1984-03-27 | 富士写真フイルム株式会社 | 写真焼付露光量制御方法 |
| US4032801A (en) * | 1975-10-10 | 1977-06-28 | Honeywell Inc. | Electromagnetic radiation intensity comparator apparatus |
| DE2546253A1 (de) * | 1975-10-13 | 1977-04-14 | Optronik Gmbh | Photoempfaenger fuer ein spektralanalyse- und farbmessgeraet mit mehreren lichtempfindlichen empfaengern |
| JPS5925165B2 (ja) * | 1975-11-14 | 1984-06-15 | アサヒコウガクコウギヨウ カブシキガイシヤ | ロシユツケイニオケル デイジタルヒヨウジカイロ |
| US4176955A (en) * | 1976-08-04 | 1979-12-04 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure meter |
| JPS5335531A (en) * | 1976-09-13 | 1978-04-03 | Minolta Camera Co Ltd | Exposure meter |
-
1978
- 1978-11-22 JP JP53144501A patent/JPS5920965B2/ja not_active Expired
-
1979
- 1979-11-20 US US06/096,002 patent/US4321462A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-11-20 DE DE2946862A patent/DE2946862C2/de not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61121884A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-09 | 富士通株式会社 | 検出機構 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2946862C2 (de) | 1985-07-04 |
| DE2946862A1 (de) | 1980-06-12 |
| US4321462A (en) | 1982-03-23 |
| JPS5570724A (en) | 1980-05-28 |
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