JPS59208445A - 試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置 - Google Patents
試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置Info
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- JPS59208445A JPS59208445A JP59080998A JP8099884A JPS59208445A JP S59208445 A JPS59208445 A JP S59208445A JP 59080998 A JP59080998 A JP 59080998A JP 8099884 A JP8099884 A JP 8099884A JP S59208445 A JPS59208445 A JP S59208445A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/534—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke by measuring transmission alone, i.e. determining opacity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、赤外線帯域の電磁波を試験部及び参照部を通
過させ、試験部内の試料の吸収性成分量を測定する方法
であって、周期的で連続に検出器に与えられる試験光線
と参照光線とのその強さの差違から求める量が得られ、
かつ使用検出器の時定数が少なくとも試験光線と参照光
線との切換サイクルに較べ一段階小さな値である方法に
関する。
過させ、試験部内の試料の吸収性成分量を測定する方法
であって、周期的で連続に検出器に与えられる試験光線
と参照光線とのその強さの差違から求める量が得られ、
かつ使用検出器の時定数が少なくとも試験光線と参照光
線との切換サイクルに較べ一段階小さな値である方法に
関する。
試料成分量の測定のだめのよく知られた方法では、赤外
線源からの光線が2つの部分光線に分割され、その部分
光線がある周期をもって交互に共通の検出器に送られる
ようになっている一方の部分光線は吸収性物質が入って
いる試験部を通過し、その吸光が成分量を定めるために
測定される。 他方の部分光線は、参照光線として使わ
れる。 その際、しばしば試験部を通過する前の試験光
線とそして参照光線とが同じ強さを有しているとととこ
の両光線が同じ光線伝搬路程であることが配慮されるが
、このことはこの方法が機能するための必須条件を示め
しているわけではない。
線源からの光線が2つの部分光線に分割され、その部分
光線がある周期をもって交互に共通の検出器に送られる
ようになっている一方の部分光線は吸収性物質が入って
いる試験部を通過し、その吸光が成分量を定めるために
測定される。 他方の部分光線は、参照光線として使わ
れる。 その際、しばしば試験部を通過する前の試験光
線とそして参照光線とが同じ強さを有しているとととこ
の両光線が同じ光線伝搬路程であることが配慮されるが
、このことはこの方法が機能するための必須条件を示め
しているわけではない。
上記方法を実施するための装置として、その出力信号が
両光線の強さの差違如直接比例するところの検出器、例
えばパイロ電気−あるいはいわゆる1 GOLAY %
−検出器を用いたものがある。 この装置では、検出器
の遮光、あるいは2重露光が行なわれず如□このことは
例えば大変正確に調整された機械的な断続円板によって
行なわれるが、結果として故障がちとなる一試験光線と
参照光線を検出器に送り送まなければならないという欠
点がある。
両光線の強さの差違如直接比例するところの検出器、例
えばパイロ電気−あるいはいわゆる1 GOLAY %
−検出器を用いたものがある。 この装置では、検出器
の遮光、あるいは2重露光が行なわれず如□このことは
例えば大変正確に調整された機械的な断続円板によって
行なわれるが、結果として故障がちとなる一試験光線と
参照光線を検出器に送り送まなければならないという欠
点がある。
さらに赤外線の放射の際比較的ゆっくりと、すなわち2
〜3ミリ秒以内でその出力信号を一定値に調整し、その
調整時間の後は送り込まれた光線に比例した信号が得ら
れるという検出器も知られている。 例として、ここで
は赤外線スペクトルメータによく使われるサーモパイル
や熱電対が挙げられる。 この種の検出器の遮光周期や
2重露光はそれが前もって与えられた測定周期と比較し
て短かい限り余り影響がない。
〜3ミリ秒以内でその出力信号を一定値に調整し、その
調整時間の後は送り込まれた光線に比例した信号が得ら
れるという検出器も知られている。 例として、ここで
は赤外線スペクトルメータによく使われるサーモパイル
や熱電対が挙げられる。 この種の検出器の遮光周期や
2重露光はそれが前もって与えられた測定周期と比較し
て短かい限り余り影響がない。
パーセントレンジの吸収は、その測定周期が余り短かく
ない限り、すなわち個々の光線の各測定において検出器
の一定の最終値が得られている限り、このような装置を
用いて測定可能である。 その周期が2θHz以上にな
るとこのような装置では実用的に測定が不可能となり、
このことが特に試料の吸収性成分のダイナミックな変動
の評価との関係で欠点として生じてくる。
ない限り、すなわち個々の光線の各測定において検出器
の一定の最終値が得られている限り、このような装置を
用いて測定可能である。 その周期が2θHz以上にな
るとこのような装置では実用的に測定が不可能となり、
このことが特に試料の吸収性成分のダイナミックな変動
の評価との関係で欠点として生じてくる。
さらには最初に述べた種類の方法やそれに関する装置が
ドイツ公開公報DE−O824g2174 カら知られ
ている。 ここではその時定数が試験光線と参照光線と
の間の切換サイクルに較べ一段階小さいという検出器が
記述されている。
ドイツ公開公報DE−O824g2174 カら知られ
ている。 ここではその時定数が試験光線と参照光線と
の間の切換サイクルに較べ一段階小さいという検出器が
記述されている。
これで基本的には%秒以下の時間分解能をもつた測定が
可能である。 その場合、いずれにせよ、ガラスざらホ
イール内に多くの同じ試験ガラスざらと参照ガラスざら
を備え、そのガラスざらの後側には強固に異った周波数
が通過できるフィルターが設けられていることにより、
特に多くの異った試料成分を別々に測定するためには大
変な費用と複雑な構造が必要とされる。
可能である。 その場合、いずれにせよ、ガラスざらホ
イール内に多くの同じ試験ガラスざらと参照ガラスざら
を備え、そのガラスざらの後側には強固に異った周波数
が通過できるフィルターが設けられていることにより、
特に多くの異った試料成分を別々に測定するためには大
変な費用と複雑な構造が必要とされる。
本発明の課題は公知の方法あるいは装置の上述した欠点
を避け、検出器での遮光周期や一重露光の結果として誤
った値が出力されることなく、ダイナミックな過程の測
定が高い時間分解能、すなわち/θθHz以上でもって
可能でしかも簡単な構造で費用も少なく行なわれるため
の当初述べた種類の方法及び装置を与えることである。
を避け、検出器での遮光周期や一重露光の結果として誤
った値が出力されることなく、ダイナミックな過程の測
定が高い時間分解能、すなわち/θθHz以上でもって
可能でしかも簡単な構造で費用も少なく行なわれるため
の当初述べた種類の方法及び装置を与えることである。
〔問題を解決するための手段、作用、効果〕このことは
、本発明による方法では、検出器(6)の瞬時信号値の
サンプリングが/サイクルの間に少なくともコ回、すな
わち試験光線及び参照光線の強さを得るために少くとも
それぞれ7回行なわれ、その際そのサンプリング時間は
そのサイクルに較べて短いことと、かつ、試料の少くと
も一つの異なった成分を別々に定めるために光源のある
一定時間列において各サイクルに間に少くとも2つの定
義された周波数帯域の光線が同じ検出器に送り込まれ、
その際どのサイクルにおいても定義された各周波数での
試験光線の強さとこの一つの周波数の少くとも片方での
参照光線の強さが取り出されることによって遠吠される
。 小さな時定数をもつ高速の検出器を使用することで
大変短い読み取り時間が可能となり、このことにより誤
った露光による悪影響が避けられるだけでなく、測定サ
イクル内において複数の、例えば周波数選択された信号
値が得られさらに処理されることができる。
、本発明による方法では、検出器(6)の瞬時信号値の
サンプリングが/サイクルの間に少なくともコ回、すな
わち試験光線及び参照光線の強さを得るために少くとも
それぞれ7回行なわれ、その際そのサンプリング時間は
そのサイクルに較べて短いことと、かつ、試料の少くと
も一つの異なった成分を別々に定めるために光源のある
一定時間列において各サイクルに間に少くとも2つの定
義された周波数帯域の光線が同じ検出器に送り込まれ、
その際どのサイクルにおいても定義された各周波数での
試験光線の強さとこの一つの周波数の少くとも片方での
参照光線の強さが取り出されることによって遠吠される
。 小さな時定数をもつ高速の検出器を使用することで
大変短い読み取り時間が可能となり、このことにより誤
った露光による悪影響が避けられるだけでなく、測定サ
イクル内において複数の、例えば周波数選択された信号
値が得られさらに処理されることができる。
例えば、最近知られてきた適切な検出器は、検出器材料
の量子効果によってその電気特性を変化させたり、ある
いは起電力を発生させるものである。 この種の検出器
の光線強さの変化に対する応答時間は、マイクロ秒の領
域である。
の量子効果によってその電気特性を変化させたり、ある
いは起電力を発生させるものである。 この種の検出器
の光線強さの変化に対する応答時間は、マイクロ秒の領
域である。
一般に本発明による方法を用いて、少くとも2つの異な
った試料成分の別々の測定を可能にするために定義され
た複数の周波数での吸収が調べられる。 これを達成す
るためには/サイクル内において選ばれて定義された周
波数の光線を順番に共通の検出器に送り込まれ、各周波
数毎に試験光線の信号値が読み取られ、そして少くとも
上記定義された周波数の一つでの参照光線の信号値が読
み取られる。 このことは、例えば、希望される定義さ
れた周波数を順番に送り出す光源が使用されることによ
り、あるいは広帯域で放射する光源からの光線伝搬路中
に周波数選択ユニット、例えば干渉フィルターが設けら
れることにより達成することができる。
った試料成分の別々の測定を可能にするために定義され
た複数の周波数での吸収が調べられる。 これを達成す
るためには/サイクル内において選ばれて定義された周
波数の光線を順番に共通の検出器に送り込まれ、各周波
数毎に試験光線の信号値が読み取られ、そして少くとも
上記定義された周波数の一つでの参照光線の信号値が読
み取られる。 このことは、例えば、希望される定義さ
れた周波数を順番に送り出す光源が使用されることによ
り、あるいは広帯域で放射する光源からの光線伝搬路中
に周波数選択ユニット、例えば干渉フィルターが設けら
れることにより達成することができる。
検出器の信号は、各時点で評価電子系に読み取られ、そ
の時点でそれぞれ選ばれた周波数の完全な強さが検出器
に達している。 そこで、検出器の信号値は、完全な遮
光状態での最小値と露光状態での最大値との間を変動し
、その際試験部を通過した後の試験光線による露光での
信号値は通常正確に調整している場合前述の最大値以下
となる。 検出器の最小値を評価−電子系に取り込むこ
と自体は必要としない。 これは、例えば、その最大出
力信号は試験部における強さの損失θ係に相等し、その
最小出力信号は例えば損失/θ係に相等するように調整
しておくことができるのである。 このことは、最小出
力信号が強さの損失100%一つまり完全な暗闇状態□
:(関係づけられている場合よりはるかに少ない強さ損
失を分解可能とする利点を有した方法となりうる。
の時点でそれぞれ選ばれた周波数の完全な強さが検出器
に達している。 そこで、検出器の信号値は、完全な遮
光状態での最小値と露光状態での最大値との間を変動し
、その際試験部を通過した後の試験光線による露光での
信号値は通常正確に調整している場合前述の最大値以下
となる。 検出器の最小値を評価−電子系に取り込むこ
と自体は必要としない。 これは、例えば、その最大出
力信号は試験部における強さの損失θ係に相等し、その
最小出力信号は例えば損失/θ係に相等するように調整
しておくことができるのである。 このことは、最小出
力信号が強さの損失100%一つまり完全な暗闇状態□
:(関係づけられている場合よりはるかに少ない強さ損
失を分解可能とする利点を有した方法となりうる。
本発明の更に手を加えた態様によるところの検出器の瞬
時信号値が付加的に検出器に光線が達していない時点で
サンプリングされる場合、種々の分光器的応用のために
好適である。 この場合は単に、評価装置内に普通に備
えられている増巾器を出力信号の最小値が700%の強
さ損失に確実に対応するように調整することだけを行な
えばよい。
時信号値が付加的に検出器に光線が達していない時点で
サンプリングされる場合、種々の分光器的応用のために
好適である。 この場合は単に、評価装置内に普通に備
えられている増巾器を出力信号の最小値が700%の強
さ損失に確実に対応するように調整することだけを行な
えばよい。
この提示された方法は基本的に赤外線を吸収する各物質
の量測定のために使用されることができるのであるが、
燃焼装置や内燃機関の排ガス中のエーロゾル粒子の測定
のためにも特別な意味をもっている。 これまでエーロ
ゾル粒子量の測定には可視光線の吸光が用いられてきた
。
の量測定のために使用されることができるのであるが、
燃焼装置や内燃機関の排ガス中のエーロゾル粒子の測定
のためにも特別な意味をもっている。 これまでエーロ
ゾル粒子量の測定には可視光線の吸光が用いられてきた
。
この方法は吸光変化に対する良好な時間分解能と高い感
度を保証している。 しかしこの吸光は、その光の波長
はその粒子径と同じレベル、いわゆる光学的ミー領域で
あるので、エーロゾル粒子量と相関させられまい。 こ
の領域では、その量に対して吸光を関係付けるととは粒
子径を正確に知っている場合にのみ可能である。
度を保証している。 しかしこの吸光は、その光の波長
はその粒子径と同じレベル、いわゆる光学的ミー領域で
あるので、エーロゾル粒子量と相関させられまい。 こ
の領域では、その量に対して吸光を関係付けるととは粒
子径を正確に知っている場合にのみ可能である。
赤外線の波長は内燃機関から出る粒子の径よりはるかに
大きく、このいわゆる光学的レーリー領域では吸光は粒
子の集積度に比例する。
大きく、このいわゆる光学的レーリー領域では吸光は粒
子の集積度に比例する。
煙道ガスの測定に本発明による方法を適用することはこ
のことから排ガス測定技術の本質的な改善を提示する。
のことから排ガス測定技術の本質的な改善を提示する。
本発明による方法の次の態様として、内燃機関排気ガス
からのグラファイトを含むエーロゾル粒子の物質放出の
測定のために波長3.にμmの狭帯域周波数を用いるも
のがある。
からのグラファイトを含むエーロゾル粒子の物質放出の
測定のために波長3.にμmの狭帯域周波数を用いるも
のがある。
この赤外線周波数では、吸収は排ガスの粒子集積度とし
て関係づけられ、さらにエーロゾルでのグラファイト成
分の測定をも可能と々る。
て関係づけられ、さらにエーロゾルでのグラファイト成
分の測定をも可能と々る。
さらに本発明の優れた態様として、試験光線と参照光線
の切換サイクルの整数倍のサイクルを有し定義された吸
収を行なう7つの吸収手段が光線伝搬路中に配設されて
いるものがある。
の切換サイクルの整数倍のサイクルを有し定義された吸
収を行なう7つの吸収手段が光線伝搬路中に配設されて
いるものがある。
とれにより、本発明による方法における測定値のキャリ
ブレーションは、大変都合よいものとなる。 長時間に
わたる測定の間において特に使用している光源の強さが
変化することがあるので、連続的なキャリブレーション
を行うことは好都合である。 この連続的なキヤリプレ
ーシヨンにおいては、n回の測定サイクル毎(ここでn
は2以上の整数であってコが適切である)に定義された
吸収を行なう吸収手段が参照光線伝搬路中に導き入れら
れる。 このキャリブレーションは、吸収手段を試験光
線伝搬路中に配設する場合でも可能である。 参照光線
伝搬路中に吸収手段が存在する時と存在しない時の検出
器信号の差を用いて、常に該当検出信号から試験部内で
の吸収が算出される。 この方法のトータルな実効時間
分解能はこのキャリブレーションによってわずかに低く
なるが、このことは普通重大なことにはならない。
ブレーションは、大変都合よいものとなる。 長時間に
わたる測定の間において特に使用している光源の強さが
変化することがあるので、連続的なキャリブレーション
を行うことは好都合である。 この連続的なキヤリプレ
ーシヨンにおいては、n回の測定サイクル毎(ここでn
は2以上の整数であってコが適切である)に定義された
吸収を行なう吸収手段が参照光線伝搬路中に導き入れら
れる。 このキャリブレーションは、吸収手段を試験光
線伝搬路中に配設する場合でも可能である。 参照光線
伝搬路中に吸収手段が存在する時と存在しない時の検出
器信号の差を用いて、常に該当検出信号から試験部内で
の吸収が算出される。 この方法のトータルな実効時間
分解能はこのキャリブレーションによってわずかに低く
なるが、このことは普通重大なことにはならない。
試験部を通過する赤外線帯域の少くとも1つの試験光線
と参照部を通過する赤外線帯域の少くとも7つの参照光
線とを放射する広帯域の光源、及び前記両光線を評価装
置と接続されている共通の検出器に交互に送り込む機構
を備えだ上記方法を実施する装置では、本発明による特
に優れた構成のものとして、試験光線と参照光線を交互
に送り込むだめの機構が選択機構を有する機械駆動装置
を少くとも7つ備え、さらに好ましくはイギリス特許公
報GB−PS1470144やドイツ公開公報2557
50Bから知られているように、その選択機構が通過孔
を設けた回転円板の形態をしており、かつ前記選択機構
の通過孔内に定義された周波数帯域の光線のための周波
数フィルターが配置されているものがある。 そこでは
、検出器信号は、最大の強さをもった試験または参照光
線が該当フィルターを通過する時点でのみ評価装置に受
は入れられる。 これにより装置の構造は簡単でがんじ
ょうなものとなり、高速検出器が大変高速に応答する結
果としてわずか々調整ミスでエラーが生じることはない
。 対応標識、例えば周波数フィルターが備えられてい
る回転円板の縁に設けられ近接スイッチや光電管と共働
するノツチによって、それぞれのフィルターが光線伝搬
路内の最適な位置にきているタイミングを正確に定める
ことができる。
と参照部を通過する赤外線帯域の少くとも7つの参照光
線とを放射する広帯域の光源、及び前記両光線を評価装
置と接続されている共通の検出器に交互に送り込む機構
を備えだ上記方法を実施する装置では、本発明による特
に優れた構成のものとして、試験光線と参照光線を交互
に送り込むだめの機構が選択機構を有する機械駆動装置
を少くとも7つ備え、さらに好ましくはイギリス特許公
報GB−PS1470144やドイツ公開公報2557
50Bから知られているように、その選択機構が通過孔
を設けた回転円板の形態をしており、かつ前記選択機構
の通過孔内に定義された周波数帯域の光線のための周波
数フィルターが配置されているものがある。 そこでは
、検出器信号は、最大の強さをもった試験または参照光
線が該当フィルターを通過する時点でのみ評価装置に受
は入れられる。 これにより装置の構造は簡単でがんじ
ょうなものとなり、高速検出器が大変高速に応答する結
果としてわずか々調整ミスでエラーが生じることはない
。 対応標識、例えば周波数フィルターが備えられてい
る回転円板の縁に設けられ近接スイッチや光電管と共働
するノツチによって、それぞれのフィルターが光線伝搬
路内の最適な位置にきているタイミングを正確に定める
ことができる。
本発明のその他の態様では、試験光線と参照光線を交互
に送り込むための機構が少くとも1つの光電式同調周波
数選択ユニットを試験部又は参照部を一方とし検出部を
他方とする光線伝搬路の間に収めているものがある。
そこでは、検出器信号は光電式ユニットが試験光線又は
参照光線から定義された周波数帯域の一つを選択してい
る時点において評価装置に受は入れられる。 それ自体
はよく知られた光電式同調周波数フィルターの使用によ
りこの装置は大変簡単な構造でしかも信頼性の高い機能
をもつことになる。
に送り込むための機構が少くとも1つの光電式同調周波
数選択ユニットを試験部又は参照部を一方とし検出部を
他方とする光線伝搬路の間に収めているものがある。
そこでは、検出器信号は光電式ユニットが試験光線又は
参照光線から定義された周波数帯域の一つを選択してい
る時点において評価装置に受は入れられる。 それ自体
はよく知られた光電式同調周波数フィルターの使用によ
りこの装置は大変簡単な構造でしかも信頼性の高い機能
をもつことになる。
本発明のさらに異なった態様によれば、定義された周波
数帯域に周期的に同調可能な赤外線源を光源として用い
ていることも可能である。
数帯域に周期的に同調可能な赤外線源を光源として用い
ていることも可能である。
この場合、検出器信号は、光源が望みの周波数の一つを
放射している時点においてのみ評価装置に受は入れられ
る。 この方法では、光源は希望する周期的な順番で希
望する周波数のみを本発明の特に優れた態様によれは、
検出器がブリッジ回路の抵抗の7つとして構成されるこ
とができ、そこではそのブリッジ回路の第2の抵抗を調
整可能とし、ブリッジ回路の一点間の出力電圧を調整段
階においである定義された値好ましくは零に調整し、そ
の際この出力電圧を検出器の最大又は最小露光のどちら
かに合わせている。 このことは、検出器がいわゆる光
電抵抗である場か、評価装置の構造が大変簡単とかりそ
してそのシステムの調整が簡単なものとなるので、特に
利点がある。 ブリッジ回路は抵抗の変化に対する大変
簡単で利点をもった測定方法であり、光電抵抗の露光変
化の場合はなおさらである。 実験的な基準状態、本構
成では例えば最大露光の際(完全な遮光状態つまり露光
零の際でも可能であるが最大露光の際の方が適切である
)、ブリッジのmカミ圧が零となるように第2の抵抗を
調整するとブリッジ回路による抵抗変化の測定は最大感
度となる。
放射している時点においてのみ評価装置に受は入れられ
る。 この方法では、光源は希望する周期的な順番で希
望する周波数のみを本発明の特に優れた態様によれは、
検出器がブリッジ回路の抵抗の7つとして構成されるこ
とができ、そこではそのブリッジ回路の第2の抵抗を調
整可能とし、ブリッジ回路の一点間の出力電圧を調整段
階においである定義された値好ましくは零に調整し、そ
の際この出力電圧を検出器の最大又は最小露光のどちら
かに合わせている。 このことは、検出器がいわゆる光
電抵抗である場か、評価装置の構造が大変簡単とかりそ
してそのシステムの調整が簡単なものとなるので、特に
利点がある。 ブリッジ回路は抵抗の変化に対する大変
簡単で利点をもった測定方法であり、光電抵抗の露光変
化の場合はなおさらである。 実験的な基準状態、本構
成では例えば最大露光の際(完全な遮光状態つまり露光
零の際でも可能であるが最大露光の際の方が適切である
)、ブリッジのmカミ圧が零となるように第2の抵抗を
調整するとブリッジ回路による抵抗変化の測定は最大感
度となる。
本発明は、以下図面を用いた実施例の説明でより詳しく
なるだろう。
なるだろう。
Ql’l)
〔実施例〕
第1図による構成に、基本的には、試験部il+を内蔵
する測定室(2)、参照部(3)を内蔵する参照室(4
)、赤外線帯域の電磁波を放射するのに適した光源(6
)及び検出器、そしてケーブル(7)を介して継がれて
いる評価装置(8)を備えている。
する測定室(2)、参照部(3)を内蔵する参照室(4
)、赤外線帯域の電磁波を放射するのに適した光源(6
)及び検出器、そしてケーブル(7)を介して継がれて
いる評価装置(8)を備えている。
光源(6)ニ赤外線の広帯域スペクトルを鏡(9)を介
して平行となるように放射し、その光線汀半透鏡(10
)に達する。 ここで光線は透過する光線と反射する光
線に分かれ、透過した光線は参照光線(lすとして参照
室(4)に与えられ、反射した光線はもう一度鏡+12
+で向きを変えられ試験光線θ3)として測定室に与え
られる。
して平行となるように放射し、その光線汀半透鏡(10
)に達する。 ここで光線は透過する光線と反射する光
線に分かれ、透過した光線は参照光線(lすとして参照
室(4)に与えられ、反射した光線はもう一度鏡+12
+で向きを変えられ試験光線θ3)として測定室に与え
られる。
参照光線(11)及び試験光線輪はそれぞれの室(4)
。
。
(2)内への窓(14)より入射し、その室内を貫通し
、窓(1つを通じてその室から出て行く。 その後光線
は凹面atom s aηを介して共通の検出器(6)
に送られる。
、窓(1つを通じてその室から出て行く。 その後光線
は凹面atom s aηを介して共通の検出器(6)
に送られる。
参照光線(II)と試験光線輪の伝搬路程において、凹
面鏡am 、 aηと検出器(6)の間に選択機構部が
配置されており、その選択機構08Iは示めされた実施
例では一第2図力・ら明らかなように一基本的には図示
されてかない方法で機械的に回転駆動されている円板t
19)から構成されている。 円板用は、λつの異なっ
た一定周波数帯域の光線り通過させる2つの異なった周
波数フィルターを収り付けた通過孔(20) 、し1)
を備えている、 この周波数帯域の選定の際、例えば、
波長8.95μmの狭帯域のものを通過させるフィルタ
ーを通過孔シロ)に配置し、波長8.45μm の狭帯
域のものを通過させるフィルターを通過孔?1)に配置
することができる。 このことは例えば内燃機関の排ガ
スより粒子量を決定するにおりて利点をもつ0 円板(I9)の外周縁部に#:を通過孔−,侃1)と相
関性をもつ標識ノツチ(22が設けられ、このノツチは
無接点式の近接スイッチや通過スイッチ、例えば光電ス
イッチとして構成され比ものと共働して機能する。 ケ
ーブル(財)を介してスイッチ例は評価装置(8)と接
続され、通常の測定においては評価装@(8)は、標識
ノツチ曽がそれぞれの光線(11)あるい#:t(l均
と通過孔−あるいけ圓との最も一致した状態、結果とし
てこの光線の最大の通過強度を示す場合に、グープル(
7)を通じて送られてくる検出器(6)の信号を読み収
るように、すなわち受は入れるように、ケーブル(24
1を通じて送られてくる標識信号を用いて制御される。
面鏡am 、 aηと検出器(6)の間に選択機構部が
配置されており、その選択機構08Iは示めされた実施
例では一第2図力・ら明らかなように一基本的には図示
されてかない方法で機械的に回転駆動されている円板t
19)から構成されている。 円板用は、λつの異なっ
た一定周波数帯域の光線り通過させる2つの異なった周
波数フィルターを収り付けた通過孔(20) 、し1)
を備えている、 この周波数帯域の選定の際、例えば、
波長8.95μmの狭帯域のものを通過させるフィルタ
ーを通過孔シロ)に配置し、波長8.45μm の狭帯
域のものを通過させるフィルターを通過孔?1)に配置
することができる。 このことは例えば内燃機関の排ガ
スより粒子量を決定するにおりて利点をもつ0 円板(I9)の外周縁部に#:を通過孔−,侃1)と相
関性をもつ標識ノツチ(22が設けられ、このノツチは
無接点式の近接スイッチや通過スイッチ、例えば光電ス
イッチとして構成され比ものと共働して機能する。 ケ
ーブル(財)を介してスイッチ例は評価装置(8)と接
続され、通常の測定においては評価装@(8)は、標識
ノツチ曽がそれぞれの光線(11)あるい#:t(l均
と通過孔−あるいけ圓との最も一致した状態、結果とし
てこの光線の最大の通過強度を示す場合に、グープル(
7)を通じて送られてくる検出器(6)の信号を読み収
るように、すなわち受は入れるように、ケーブル(24
1を通じて送られてくる標識信号を用いて制御される。
検出器(6)として、その時定数が試験光線(国と参照
光線(川の記録の間に評価装置(1四によって行なわれ
るスイッチングのサイクルに較べ一段階小さいものであ
るところのいわゆる高速検出器が用いられる。 これに
よると、検出器(6)の瞬時信号値のサンプリングが7
サイクルにおいて少なくとも−回すなわち試験光線及び
参照光線の強さを得る比めに少なくともそれぞれ1回行
なわれる。 例えば標識ノツチ□□□の中で定められる
サンプリング時間は上記のサイクルに較べて短い。
光線(川の記録の間に評価装置(1四によって行なわれ
るスイッチングのサイクルに較べ一段階小さいものであ
るところのいわゆる高速検出器が用いられる。 これに
よると、検出器(6)の瞬時信号値のサンプリングが7
サイクルにおいて少なくとも−回すなわち試験光線及び
参照光線の強さを得る比めに少なくともそれぞれ1回行
なわれる。 例えば標識ノツチ□□□の中で定められる
サンプリング時間は上記のサイクルに較べて短い。
試験部+11において試料の決定すべき吸収性成分量が
急速に変動するところの高速で連続的なダイナミック過
程の測定のために選択機構(18)の円板を希望する時
間分解能(il−可能とする回転数でもって部側するこ
とができ、この場合回転毎に順番に筐ず両光線(Ill
、 +13)の一方が通過孔(201々圓に収り付い
ているフィルタを通って検出器(6)に達し、次に他方
の光線が達する。 この測定を行うためには各サイクル
の間において、定義された同波数での試験光線と参照光
線の7回の測定だけが原理的に必要とされる。 多くの
周波数で測定される場合であっても試験光線及び参照光
線がその全ての周波数でその強さを測定される必要はな
く、試験光線(1鞠だけが実際に全ての同波数で測定さ
れ、参照光線(■)はこの定義された周波数の7つでの
み測定されるだけで十分である。
急速に変動するところの高速で連続的なダイナミック過
程の測定のために選択機構(18)の円板を希望する時
間分解能(il−可能とする回転数でもって部側するこ
とができ、この場合回転毎に順番に筐ず両光線(Ill
、 +13)の一方が通過孔(201々圓に収り付い
ているフィルタを通って検出器(6)に達し、次に他方
の光線が達する。 この測定を行うためには各サイクル
の間において、定義された同波数での試験光線と参照光
線の7回の測定だけが原理的に必要とされる。 多くの
周波数で測定される場合であっても試験光線及び参照光
線がその全ての周波数でその強さを測定される必要はな
く、試験光線(1鞠だけが実際に全ての同波数で測定さ
れ、参照光線(■)はこの定義された周波数の7つでの
み測定されるだけで十分である。
このこと汀、図示された構1+ljで汀、例えば、参照
光線の通過のために円板−の/ケ所のみにスイッチ(ハ
)と共働する標識ノツチ囚を設けることによって可能で
ある。 ″また図示され令達べられ比選択機構(+均の
構成とは逮りた形でも実施することができ、検出器(6
)へ入る順序が光1.(II)又は(l印によるのでは
なく個々に測定されるべき同波数帯域によって決定され
るのである。 仁の場合、検出器の測定信号自体の異4
つたわりふりは評価装置(8)内で行なわれる。
光線の通過のために円板−の/ケ所のみにスイッチ(ハ
)と共働する標識ノツチ囚を設けることによって可能で
ある。 ″また図示され令達べられ比選択機構(+均の
構成とは逮りた形でも実施することができ、検出器(6
)へ入る順序が光1.(II)又は(l印によるのでは
なく個々に測定されるべき同波数帯域によって決定され
るのである。 仁の場合、検出器の測定信号自体の異4
つたわりふりは評価装置(8)内で行なわれる。
検出器(6)で決定された試験光線Q31と参照光線(
11)との強さの差から評価装置(8)において試料の
そのつど決定される吸収性成分の求める量を定め、その
際得られ北側定値は例えば光学的に表示され次り又は適
当な形でデークーファイルに出力される。
11)との強さの差から評価装置(8)において試料の
そのつど決定される吸収性成分の求める量を定め、その
際得られ北側定値は例えば光学的に表示され次り又は適
当な形でデークーファイルに出力される。
第8図による構成は、第1図によるものと基本的には、
選択機構用が光電式の同調可能な周波数選択ユニット(
ハ)を内蔵している点で途っている。 このユニット四
は評価装置(8)とケーブル翰で接続されており、検出
器(6)の信号は評価装置(8)のタイミングに合わせ
受は入れられるっその際、光学電子ユニット(ロ)は決
定された周波数帯域の7つを試験光線Hあるいは参照光
線(11)から選択する。
選択機構用が光電式の同調可能な周波数選択ユニット(
ハ)を内蔵している点で途っている。 このユニット四
は評価装置(8)とケーブル翰で接続されており、検出
器(6)の信号は評価装置(8)のタイミングに合わせ
受は入れられるっその際、光学電子ユニット(ロ)は決
定された周波数帯域の7つを試験光線Hあるいは参照光
線(11)から選択する。
第8図に示めされた構成のその他の特徴と利点に関して
はくり返しを避けるために第1図のための説明を参照願
う。 そこでに同じ部品には同じ参照番号がつけられて
bる。
はくり返しを避けるために第1図のための説明を参照願
う。 そこでに同じ部品には同じ参照番号がつけられて
bる。
第4図による構成に第1図〜第8図によるものと基本的
に灯、光源として赤外線光源(ダ)が使われており、こ
の赤外線光源はケーブルQ力を通じて評価装置(8)と
接続され、周期的に希望するある一定の同波数帯域に同
円。I−Lる。 このことで第1図による実施例の周波
数選択機構をなくすことができ、こ仁では単に遮光用円
板c2(へ)を検出器(6)の手前で参照光線(川及び
試験光線(1→の伝播路中に配置し、この一つの光線(
川、 t+21を交互に検出器(6)に通過させている
。 ここでも近接スイッチあるいに通過スイッチ(瀾が
配置されており、ケーブル(241を通じて評価装置(
8)に接続され、検出器(6)で確定された試験及び参
照光線の強さを関係づけることが可能となる。
に灯、光源として赤外線光源(ダ)が使われており、こ
の赤外線光源はケーブルQ力を通じて評価装置(8)と
接続され、周期的に希望するある一定の同波数帯域に同
円。I−Lる。 このことで第1図による実施例の周波
数選択機構をなくすことができ、こ仁では単に遮光用円
板c2(へ)を検出器(6)の手前で参照光線(川及び
試験光線(1→の伝播路中に配置し、この一つの光線(
川、 t+21を交互に検出器(6)に通過させている
。 ここでも近接スイッチあるいに通過スイッチ(瀾が
配置されており、ケーブル(241を通じて評価装置(
8)に接続され、検出器(6)で確定された試験及び参
照光線の強さを関係づけることが可能となる。
またここでもその他の特徴と利点に関しては前述し九実
施例と同じことが菖える。 同じ部分には、同じ参照番
号が与えられている。
施例と同じことが菖える。 同じ部分には、同じ参照番
号が与えられている。
さらには、第4図に記入されているように、試験光線と
参照光線の切換サイクルの整数倍のサイクルを有するあ
る定義された吸収のための吸収手段側が参照光線の伝播
路中に配設されることができると付記される。 矢印−
に沿った動きは、駆動機構@l)によって行なわれ、こ
の機構@1lFi図示されていない方法で評価装置(8
)と接続され、この装置(8)によって制御される。
これでこの構成の連続的なキャリブレーション可能とな
り、特に光源の強さの変動の影響で補償することができ
る。 図示され次構成とは遣って扱収手段四を試験光i
霞の伝播路中に配置することもできる。
参照光線の切換サイクルの整数倍のサイクルを有するあ
る定義された吸収のための吸収手段側が参照光線の伝播
路中に配設されることができると付記される。 矢印−
に沿った動きは、駆動機構@l)によって行なわれ、こ
の機構@1lFi図示されていない方法で評価装置(8
)と接続され、この装置(8)によって制御される。
これでこの構成の連続的なキャリブレーション可能とな
り、特に光源の強さの変動の影響で補償することができ
る。 図示され次構成とは遣って扱収手段四を試験光i
霞の伝播路中に配置することもできる。
第5図は、検出器及び評価装置の利点をもった態様を示
している。 検出器(8)はブリッジ回路(6)のVつ
の抵抗の7つとして表わされている。
している。 検出器(8)はブリッジ回路(6)のVつ
の抵抗の7つとして表わされている。
第5図における他の抵抗引)、(6)、(4騰のうちの
/の←1)の抵抗値を可変とし、他の一つの抵抗α匂。
/の←1)の抵抗値を可変とし、他の一つの抵抗α匂。
(へ)は適切な1定値を有するとする。 ブリッジ回路
傅は定電源(46)より給電される。 ブリッジの2点
(44)と(憎聞の電圧は評価装置(8)の測定信号と
して収り出される。 可変抵抗(41)を基準状急にお
いて測定信号が零値となるよう調整しておくと、検出器
(6)を構成する光電抵抗の電導率の基準状態に対して
の変化が待に感度良く検出されることができる。
傅は定電源(46)より給電される。 ブリッジの2点
(44)と(憎聞の電圧は評価装置(8)の測定信号と
して収り出される。 可変抵抗(41)を基準状急にお
いて測定信号が零値となるよう調整しておくと、検出器
(6)を構成する光電抵抗の電導率の基準状態に対して
の変化が待に感度良く検出されることができる。
特に基準状態として検出器の最大の露光(吸収零)に定
義しておくと小さな吸収の検出のために利点がある。
吸収の大きさは、直接点(44)と瞥間の電圧と相関す
る。
義しておくと小さな吸収の検出のために利点がある。
吸収の大きさは、直接点(44)と瞥間の電圧と相関す
る。
可変抵抗(41)のIM整Iri調a段階において手動
で行なうこともできるし、あるいは第5図に示唆されて
込るように、評価装置(8)によって制御される電子式
又は電子機械式の制御手段←ηによって行うこともでき
る。
で行なうこともできるし、あるいは第5図に示唆されて
込るように、評価装置(8)によって制御される電子式
又は電子機械式の制御手段←ηによって行うこともでき
る。
図面は本発明に係る試料の吸収性成分jitを測定する
ための方法とその装置の実施を示し、第1図はその構成
システムの一例を示す概念図、第2図は第1図における
■部の詳細図、第8図と第4図は別実施例を示す概念図
、第5図は検出器及び評価装置まわりの好適実施例を示
す概念図である。 [1)・・・・・・試験部、(3)・・・・・・参照部
、(5)・・・・・・光源、(6)・・・・・・検出器
、(8)・・・・・・評価装置、(川・・・・・・参照
光線、Q!9・・・・・・試験光線、0→・・・・・・
選択機構、u9)・・・・・・円板、顛・・・・・・ブ
リッジ回路。
ための方法とその装置の実施を示し、第1図はその構成
システムの一例を示す概念図、第2図は第1図における
■部の詳細図、第8図と第4図は別実施例を示す概念図
、第5図は検出器及び評価装置まわりの好適実施例を示
す概念図である。 [1)・・・・・・試験部、(3)・・・・・・参照部
、(5)・・・・・・光源、(6)・・・・・・検出器
、(8)・・・・・・評価装置、(川・・・・・・参照
光線、Q!9・・・・・・試験光線、0→・・・・・・
選択機構、u9)・・・・・・円板、顛・・・・・・ブ
リッジ回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■ 赤外線帯域の電磁波を試験部及び参照部に通過させ
、試験部内の試料の吸収性成分量を測定する方法であっ
て、同期的で連続に検出器に与えられる試験光線と参照
光線とのその強さの差違から求める量が得られ、かつ使
用検出器の時定数が少くとも試験光線と参照光線との切
換サイクルに較べ一段階小さな値である方法において、
検出器(6)の瞬時信号値のサンプリングが/サイクル
の間忙少なくとも2回、すなわち試験光線(13)及び
参照光線(ll)の強さを得るために少なくともそれぞ
れ7回行なわれ、その際そのサンプリング時間はそのサ
イクルに較べて短いことと、かつ試料の少なくとも一つ
の異った成分を別々に定めるために光源のある一定時間
列において各サイクルの間に少くとも2つの定義された
周波数帯域の光線が同じ検出器(6)に送り連棟れ、そ
の際どのサイクルにおいても定義された各周波数での試
験光線(1@の強さとこの2つの周波数の少なくとも片
方での参照光線(1X)の強さが取り出されることを特
徴とする方法。 ■ 特許請求の範囲第0項に記載の方法において、検出
器(6)の瞬時信号値が付加的にある時点でサンプリン
グされ、その際検出器(6)には光線が達しないことを
特徴とする方法。 ■ 特許請求の範囲第0項又は第■項に記載の方法にお
いて、試験光線(13)と参照光線(11)の切換サイ
クルの整数倍のサイクルを有し定義された吸収を行なう
7つの吸収手段(29)が光線伝搬路中に配設されてい
ることを特徴とする方法。 ■ 特許請求の範囲第■項〜第■項のいずれか7つに記
載の方法において、内燃機関排気ガスからグラファイト
を含むエーロゾル粒子の物質放出の測定のために波長J
、り5μmの狭帯域周波数を用いることを特徴とする方
法。 ■ 試験部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つの試
験光線と参照部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つ
の参照光線とを放射する広帯域の光源、及び前記両光線
を評価装置と接続されている共通の検出器に交互に送り
込む機構を備えた装置において、 試験光線(+3)と参照光線(II)を交互に送り込む
ための機構が通過孔(20,21)を設けた回転円板(
19)等の選択機構08)を有する機械駆動装置を少な
くとも7つ備えており、かつ前記選択機構(1〜の通過
孔(20,21)内に定義された周波数帯域の光線のだ
めの周波数フィルターが配置されていることを特徴とす
る吸収性成分量測定装置。 ■ 特許請求の範囲第0項に記載の装置において、検出
器(6)がブリッジ回路(4ωの抵抗の7つとして構成
されており、さらにそのブリッジ回路(4〔の第2の抵
抗を調整可能とし、ブリッジ回路顛の2点+44) 、
+49間の出力電圧を調整段階において零等のある定
義された値に調整し、その際この出力電圧を検出器(6
)の最大又は最小露光のどちらかに合わせていることを
特徴とする吸収性成分量測定装置。 ■ 試験部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つの試
験光線と参照部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つ
の参照光線とを放射する広帯域の光源、及び前記両光線
を評価装置と接続されている共通の検出器に交互に送り
込む機構を備えた装置において、 試験光線(rs)と参照光線(11)を交互に送り込む
ための機構が少なくとも7つの光電式同調周波数選択ユ
ニット(2均を試験部(3)又は参照部(+)を一方と
し検出部を他方とする光線伝搬路の間に収めていること
を特徴とする吸収性成分量測定装置。 ■ 特許請求の範囲第0項に記載の装置において、検出
器(6)がブリッジ回路f41の抵抗の7つとして構成
されており、さらにそのブリッジ回路(4[1の第2の
抵抗を調整可能とし、ブリッジ回路(4〔のコ点i4)
、 15)間の出力電圧を調整段階において零等のあ
る定義された値に調整し、その際この出力電圧を検出器
(6)の最大又は最小露光のどちらかに合わせているこ
とを特徴とする吸収性成分量測定装置。 ■ 試験部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つの試
験光線と参照部を通過する赤外線帯域の少なくとも7つ
の参照光線とを放射する広帯域の光源、及び前記両光源
を評価装置と接続されている共通の検出器に交互に送り
込む機構を備えた装置において、 定義された周波数帯域に周期的に同調可能な赤外線源(
5つを光源として用いていることを特徴とする吸収性成
分量測定装置。 [相] 特許請求の範囲第0項に記載の装置において、
検出器(6)がブリッジ回路(40の抵抗の7つとして
構成されており、さらにそのブリッジ回路(40の第2
の抵抗を調整可能とし、ブリッジ回路(4〔のコ点[4
) 、 fa間の出力電圧を調整段階において零等のあ
る定義された値に調整し、その際この出力電圧を検出器
(6)の最大又は最小露光のどちらかに合わせていると
とを特徴とする吸収性成分量測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT0146883A AT379452B (de) | 1983-04-21 | 1983-04-21 | Verfahren zur bestimmung der massen von absorbierenden anteilen einer probe und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
AT1468/83 | 1983-04-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59208445A true JPS59208445A (ja) | 1984-11-26 |
Family
ID=3514555
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59080998A Pending JPS59208445A (ja) | 1983-04-21 | 1984-04-20 | 試料の吸収性成分量を測定するための方法とその装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4577105A (ja) |
EP (1) | EP0123672A3 (ja) |
JP (1) | JPS59208445A (ja) |
AT (1) | AT379452B (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT391208B (de) * | 1985-12-09 | 1990-09-10 | Avl Verbrennungskraft Messtech | Verfahren zur quantitativen messung von kohlenwasserstoffen |
US4785184A (en) * | 1986-05-27 | 1988-11-15 | Spectral Sciences, Inc. | Infrared trace element detection system |
US4859858A (en) * | 1986-12-04 | 1989-08-22 | Cascadia Technology Corporation | Gas analyzers |
SE467022B (sv) * | 1988-05-11 | 1992-05-11 | Mecora Ab | Saett att maeta koncentrationen av ett aemne i en baervaetska, samt en koncentrationsmaetare |
FI87694C (fi) * | 1989-07-07 | 1993-02-10 | Instrumentarium Oy | Avlaegsnande av gaser som stoer maetningar av en gasindikator |
US5218428A (en) * | 1991-10-08 | 1993-06-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Optical transmittance apparatus for fluids |
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