JPS5920806A - シ−ト状材料を測定する方法及び装置 - Google Patents
シ−ト状材料を測定する方法及び装置Info
- Publication number
- JPS5920806A JPS5920806A JP58086516A JP8651683A JPS5920806A JP S5920806 A JPS5920806 A JP S5920806A JP 58086516 A JP58086516 A JP 58086516A JP 8651683 A JP8651683 A JP 8651683A JP S5920806 A JPS5920806 A JP S5920806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- distance
- paper
- measuring
- sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/48—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means
- G01D5/50—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means derived from a radioactive source
- G01D5/52—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means derived from a radioactive source detected by a counter tube
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/42—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a backing surface of support or reference on the other side
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/46—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a transmitter on the other side
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Paper (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の背景
発明の分野
本発明は、シート状材料の一定のパラメータを測定する
ための装置および方法に関する。
ための装置および方法に関する。
技術的現状
種々の薄いシート状物質（利料）のあるパラメータを測
定するためのシステムは周知である。
定するためのシステムは周知である。
例えば、米国特許第３．７５７．１２２号は移動する一
枚の紙の坪量（ｂａｌＩｌｇ ｗｅｉｇｈｔ）を測定す
るためのシステムを教示している。この特許によると、
ゲージングヘッド（ｇａｕｇｉｎｇ ｈｅａｄ）が配置
されており、そのヘッドの一部は移動する一枚の紙のい
づれかの側の上にあり、そのヘッドは枠に取り付けられ
ていて、その一枚の紙を横切って枠内を移動するように
適合されている。放射線源は下方のヘッド内に置かれて
おり、放射線検出器は上方のヘッド内に置かれていて放
射線源からの放射線を受けとる。
枚の紙の坪量（ｂａｌＩｌｇ ｗｅｉｇｈｔ）を測定す
るためのシステムを教示している。この特許によると、
ゲージングヘッド（ｇａｕｇｉｎｇ ｈｅａｄ）が配置
されており、そのヘッドの一部は移動する一枚の紙のい
づれかの側の上にあり、そのヘッドは枠に取り付けられ
ていて、その一枚の紙を横切って枠内を移動するように
適合されている。放射線源は下方のヘッド内に置かれて
おり、放射線検出器は上方のヘッド内に置かれていて放
射線源からの放射線を受けとる。
センナが受けとる放射線量は紙の坪量に関係し、従って
ゲージングシステムは紙が２つのヘッドの間を移動する
につれて坪量な監視する。
ゲージングシステムは紙が２つのヘッドの間を移動する
につれて坪量な監視する。
紙の坪量以外のパラメータは米国特許第３，７５７．１
２２号に記述されているシステムに似たシステムにより
測定できる。例えば、米国特許第３，７９３．５２４号
は紙のような一枚の薄い物質の含水量を測定するための
システムを教示している。このシステムは、一枚の薄い
物質の一方の側の上に配置されたゲージングヘッド部材
内に置かれた赤外線源、オ６よびその物質のもう一方の
側の上に配（６されたへ・ノド部材内に置かれていてそ
の赤外線を受けとる検出器を含む。不透明度および厚さ
などのシート状物質の他のパラメータも同様なゲージン
グシステムによって測定することができる。
２２号に記述されているシステムに似たシステムにより
測定できる。例えば、米国特許第３，７９３．５２４号
は紙のような一枚の薄い物質の含水量を測定するための
システムを教示している。このシステムは、一枚の薄い
物質の一方の側の上に配置されたゲージングヘッド部材
内に置かれた赤外線源、オ６よびその物質のもう一方の
側の上に配（６されたへ・ノド部材内に置かれていてそ
の赤外線を受けとる検出器を含む。不透明度および厚さ
などのシート状物質の他のパラメータも同様なゲージン
グシステムによって測定することができる。
上述した種類のゲージングシステムにおいて、我々は、
２つのゲージングヘッド部分の間の距離が、測定しよう
とするパラメータ値を決定する際に、場合によっては重
要になることを見出してりλる。例えば、紙の坪量な測
定する上述した種類のシステムにおいて、我々は、坪量
の測定はたとえ紙の実際の坪量が一定であったとしても
放射線源と放射線検出器との間の距離によって影響をう
げる可能性があることを見出している。我々Ｇ′！、ま
た、実際には２つのヘッド部月間の距離は、それら台５
月が一枚の紙を横切って移動する際に予想できない仕方
で時には変化する可能性があることも発見１、ている。
２つのゲージングヘッド部分の間の距離が、測定しよう
とするパラメータ値を決定する際に、場合によっては重
要になることを見出してりλる。例えば、紙の坪量な測
定する上述した種類のシステムにおいて、我々は、坪量
の測定はたとえ紙の実際の坪量が一定であったとしても
放射線源と放射線検出器との間の距離によって影響をう
げる可能性があることを見出している。我々Ｇ′！、ま
た、実際には２つのヘッド部月間の距離は、それら台５
月が一枚の紙を横切って移動する際に予想できない仕方
で時には変化する可能性があることも発見１、ている。
従って、坪量の測定値は時には実際の値から外れること
がありうる。
がありうる。
発明の目的
本発明の目的は、シート状物質のパラメータを測定する
システムおよび方法を提供し、測定した値をヘッド部分
の離隔距離によって補正することである。本発明のもう
１つの目的は、ゲージングシステムの距離検出システム
を提供し、それによりゲージングシステムの２つの部分
間の距離を連続的に測定できるようにし、また距離検出
システムから生じた情報をｉＷ用してパラメータ測定値
を補正する手段を提供すること、である。
システムおよび方法を提供し、測定した値をヘッド部分
の離隔距離によって補正することである。本発明のもう
１つの目的は、ゲージングシステムの距離検出システム
を提供し、それによりゲージングシステムの２つの部分
間の距離を連続的に測定できるようにし、また距離検出
システムから生じた情報をｉＷ用してパラメータ測定値
を補正する手段を提供すること、である。
本発明のその他の目的および利点は、図面および本明細
書を参照することによって確かめることができ、この図
面および明細書は、実際例として（」１出したものであ
って、特許請求の範ｖｌｌおよびその同等物によって規
定される本発明を限定する意味で提出されたものではな
い。
書を参照することによって確かめることができ、この図
面および明細書は、実際例として（」１出したものであ
って、特許請求の範ｖｌｌおよびその同等物によって規
定される本発明を限定する意味で提出されたものではな
い。
好ましい実施例の詳細説明
第１図には、動作中に、移動する一枚の紙の一部分をＡ
ｔ１ｉ切って配置されるスキャナ１０が示されている。
ｔ１ｉ切って配置されるスキャナ１０が示されている。
このスキャナは２木のけた（ｂｅａｍｓ） １２を含み
、そのうちの１本のげたはその一枚の紙の上方に、他の
１本のけたはその紙の下方に配置されている。ゲージン
グヘッドシステムはけた１２に取り付けられた上方部分
２０および下方部分２２を含むので、それらの部分は一
般に左から右へ、右から左へけたに沿って移動すること
ができる。上方＠ＩＬ分および下方部分２０および２２
０間には空隙２３が形成されているので、紙２７をその
空隙２３に配置することができる。縦方向、即ち”ｘ”
方向、横方向即ち゛Ｙ″方向、および゛Ｘ″方向と゛Ｙ
″方向に垂直な゛２″方向を示す座標が紙の上に示され
てｌ、＞る。
、そのうちの１本のげたはその一枚の紙の上方に、他の
１本のけたはその紙の下方に配置されている。ゲージン
グヘッドシステムはけた１２に取り付けられた上方部分
２０および下方部分２２を含むので、それらの部分は一
般に左から右へ、右から左へけたに沿って移動すること
ができる。上方＠ＩＬ分および下方部分２０および２２
０間には空隙２３が形成されているので、紙２７をその
空隙２３に配置することができる。縦方向、即ち”ｘ”
方向、横方向即ち゛Ｙ″方向、および゛Ｘ″方向と゛Ｙ
″方向に垂直な゛２″方向を示す座標が紙の上に示され
てｌ、＞る。
第２図を参照すると、上方部分および下方部分２０およ
び２２は、放射線源２４および放射線検出器２６からな
るセンサシステムを含む。放射線源は、発生される粒子
の形をしている。一部の応用例においては、アルファ、
ガンマおよびＸ線放射も可能である。放射線検出器２６
は上方部分２０内に置かれ、放射線源２４からの放射線
を検出することができる・放射線検出器は放射線源２４
からの放射線を受けとり、受けとった放射線用−に応答
して電気信号を発生させる。前置増幅器２８が、結合さ
れ検出器２６からの電気信号を受信しその信号を増幅す
るので、それらの信号をコンピュータ３０に伝送するこ
とができる。
び２２は、放射線源２４および放射線検出器２６からな
るセンサシステムを含む。放射線源は、発生される粒子
の形をしている。一部の応用例においては、アルファ、
ガンマおよびＸ線放射も可能である。放射線検出器２６
は上方部分２０内に置かれ、放射線源２４からの放射線
を検出することができる・放射線検出器は放射線源２４
からの放射線を受けとり、受けとった放射線用−に応答
して電気信号を発生させる。前置増幅器２８が、結合さ
れ検出器２６からの電気信号を受信しその信号を増幅す
るので、それらの信号をコンピュータ３０に伝送するこ
とができる。
上述したスキャナおよびセンサシステムは、米国特許第
３，７５７，１２２号に教示されている種類のものとす
ることができる。この特許は、検出器により受信される
放射線強度が、式Ｉ−Ｉ。ｅ−ｕｘにより紙の坪量に関
係づけられることを教示している。この式において、■
。は空隙にシート状物質がない場合に検出器に達する放
射線強度であり、Ｕは質量吸収係数であり、Ｘは測定さ
れるシート状物質の単位面積当たりの重量であり、工は
シート状物質が空隙にある場合に受信される放射線の強
度である。我々は、放射線源と検出器が互に一定の距離
をおいて離隔して配置されている場合に使用可能であり
、このシステムが所定の距離だけ互に離れている放射線
源と検出器により較正が行なわれることができることを
見出している。しかし、実際にはスキャナ１００けた１
２間の離隔距離はけたの全長にわたって正確には同じで
ないことが見出されている。この結果、ヘッドかけたに
沿って移動するにつれて、ヘッド間の離隔距離は変化す
る。
３，７５７，１２２号に教示されている種類のものとす
ることができる。この特許は、検出器により受信される
放射線強度が、式Ｉ−Ｉ。ｅ−ｕｘにより紙の坪量に関
係づけられることを教示している。この式において、■
。は空隙にシート状物質がない場合に検出器に達する放
射線強度であり、Ｕは質量吸収係数であり、Ｘは測定さ
れるシート状物質の単位面積当たりの重量であり、工は
シート状物質が空隙にある場合に受信される放射線の強
度である。我々は、放射線源と検出器が互に一定の距離
をおいて離隔して配置されている場合に使用可能であり
、このシステムが所定の距離だけ互に離れている放射線
源と検出器により較正が行なわれることができることを
見出している。しかし、実際にはスキャナ１００けた１
２間の離隔距離はけたの全長にわたって正確には同じで
ないことが見出されている。この結果、ヘッドかけたに
沿って移動するにつれて、ヘッド間の離隔距離は変化す
る。
また実際にはけたおよびヘッドシステムは動作中温度が
変化することも見出されている。例え【ｉ、製紙プロセ
スにおいて、紙が非常に熱くなルコトがしはしばあり、
このためスキャナも熱くなる。
変化することも見出されている。例え【ｉ、製紙プロセ
スにおいて、紙が非常に熱くなルコトがしはしばあり、
このためスキャナも熱くなる。
しかし、紙が破れてプロセスがしばらくの開停止すると
、スキャナシステムは比較的冷たくなる可能性がある。
、スキャナシステムは比較的冷たくなる可能性がある。
プロセスが再開されると、スキャナは紙の熱によって熱
くなり始める。従ってスキャナのけた１２はや一変形す
るおそれがあるので、けた１２があたたまるにつれて、
ヘッドシステムの上方部分および下方部分２０および２
２０間の間隔は変化する。この結果状々は、一部の応用
例では、ヘッド部分間の距離の変化を考慮に入れるため
、放射線検出器で測定した坪量の測定値を補正すること
が重要であることを見出している。
くなり始める。従ってスキャナのけた１２はや一変形す
るおそれがあるので、けた１２があたたまるにつれて、
ヘッドシステムの上方部分および下方部分２０および２
２０間の間隔は変化する。この結果状々は、一部の応用
例では、ヘッド部分間の距離の変化を考慮に入れるため
、放射線検出器で測定した坪量の測定値を補正すること
が重要であることを見出している。
上方部分および下方部分２０および２２は、上方部分２
０に固定されたトランスジユーザ３２および下方部分２
２に固定された基塾手段（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｍｅａ
ｎｓ）とからなる距離検出手段を含む。トランスジユー
ザ３２は、下方部分２２から間隔をおいて離れており、
ヘッドシステムと一緒に移動する。トランスジユーザは
ヘッド上部の表面近くに位置しているので、下方部分２
２との距離は極めて僅かになっている。トランスジユー
ザ３２は、トランスジューサ６２−と下方部分２２に固
定された基阜手段との間の距離に従って電気信号を発生
させる。トランスジユーザ６２は前置増幅器３乙に接続
されており、この前置増幅器６６は今度はコンピュータ
６０に接続されている。
０に固定されたトランスジユーザ３２および下方部分２
２に固定された基塾手段（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｍｅａ
ｎｓ）とからなる距離検出手段を含む。トランスジユー
ザ３２は、下方部分２２から間隔をおいて離れており、
ヘッドシステムと一緒に移動する。トランスジユーザは
ヘッド上部の表面近くに位置しているので、下方部分２
２との距離は極めて僅かになっている。トランスジユー
ザ３２は、トランスジューサ６２−と下方部分２２に固
定された基阜手段との間の距離に従って電気信号を発生
させる。トランスジユーザ６２は前置増幅器３乙に接続
されており、この前置増幅器６６は今度はコンピュータ
６０に接続されている。
本発明者等は、適当な距離検出手段が、”非接触距離測
定装置”と題する米国特許第４，１６０，２０４号に記
述されている種類のものとすることができることを見出
している。第３図を参照すると、距離検出手段は、上方
ヘッド部分２０に位置するコイル４２および下方ヘッド
部分２２０表面６６を含む。コイル４２はコイルの電流
を測定する電気回路（図７Ｔ及されていない）に結合さ
れている。コイルσつインピーダンスは、コイル４２と
表面３ろとσ）１川のｌｉ’ｌｉ ｔａｌｌに関係があ
る。
定装置”と題する米国特許第４，１６０，２０４号に記
述されている種類のものとすることができることを見出
している。第３図を参照すると、距離検出手段は、上方
ヘッド部分２０に位置するコイル４２および下方ヘッド
部分２２０表面６６を含む。コイル４２はコイルの電流
を測定する電気回路（図７Ｔ及されていない）に結合さ
れている。コイルσつインピーダンスは、コイル４２と
表面３ろとσ）１川のｌｉ’ｌｉ ｔａｌｌに関係があ
る。
上記の代わりとして、距離検出装置（′！、、第４図に
示した装置とすることもできる。第４図１１Ｃよると、
トランスミッタ５０およびレシーノ＜５２力；具えられ
ている。トランスミック５０（上、鉄などの６鼓気感応
性材料でできているはゾ円筒形の第１８μ材５４を含む
。第１部材５４０周りには第１ワイヤ５６７！Ｊゝ巻か
れている。トランスミッタ５０は、第１ ＠ｌ（＋Ａ’
５４の軸が一枚の紙にはゾ直角をなすように万力＞ｆ
ｌ−ている。レシーバ５２はこれもまた磁気１盛１５１
’ｌ祠ネニ１でできているはゾ円筒形の第２部材５Ｂを
含む。貞３２部材５８の周りには第２ワイヤ６０が巻か
ｉｔてｌ／Ｘる。
示した装置とすることもできる。第４図１１Ｃよると、
トランスミッタ５０およびレシーノ＜５２力；具えられ
ている。トランスミック５０（上、鉄などの６鼓気感応
性材料でできているはゾ円筒形の第１８μ材５４を含む
。第１部材５４０周りには第１ワイヤ５６７！Ｊゝ巻か
れている。トランスミッタ５０は、第１ ＠ｌ（＋Ａ’
５４の軸が一枚の紙にはゾ直角をなすように万力＞ｆ
ｌ−ている。レシーバ５２はこれもまた磁気１盛１５１
’ｌ祠ネニ１でできているはゾ円筒形の第２部材５Ｂを
含む。貞３２部材５８の周りには第２ワイヤ６０が巻か
ｉｔてｌ／Ｘる。
部材５８は、第２部材５８の軸が、第１部材５４σ］す
ｆｂとはゾ心合せされるように配置されてＩ、する。交
ｆｆ１Ｅ電源（図示されていない）が第１ワイヤ５６に
結合されているので、電流がワイヤな；、’ＫＪって１
ＡＥｈると、振幅が変化する磁界がトランスミッタ５０
により発生される。この磁界は第２磁界を第２部材５８
に誘導し、その磁界強度はトランスミッタ５ｏとレシー
バ５２との間の距離の関数となる。トランスミッタとレ
シーバとの間の距離が大きくなるにつれて、レシーバに
より検出される磁界振幅は減少する。
ｆｂとはゾ心合せされるように配置されてＩ、する。交
ｆｆ１Ｅ電源（図示されていない）が第１ワイヤ５６に
結合されているので、電流がワイヤな；、’ＫＪって１
ＡＥｈると、振幅が変化する磁界がトランスミッタ５０
により発生される。この磁界は第２磁界を第２部材５８
に誘導し、その磁界強度はトランスミッタ５ｏとレシー
バ５２との間の距離の関数となる。トランスミッタとレ
シーバとの間の距離が大きくなるにつれて、レシーバに
より検出される磁界振幅は減少する。
第４図の距離測定システムは、レシーバ５２に隣接して
配置されている２つの小さいワイヤコイル６２および６
４を含む。トランスミッタ５ｏは１、コイル６２および
６４に磁界を誘起し、誘起された磁界の振幅は、トラン
スミッタ５ｏと特定のコイルとの間の距離に依存する。
配置されている２つの小さいワイヤコイル６２および６
４を含む。トランスミッタ５ｏは１、コイル６２および
６４に磁界を誘起し、誘起された磁界の振幅は、トラン
スミッタ５ｏと特定のコイルとの間の距離に依存する。
従ってそれは、トランスミッタ５０とレシーバ５２とが
、互いに心合せがなされていない場合に決定できる。成
る状況では、心が合わない（ｍｉｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ
）と″′Ｄ″ノ測定値カ不正確となるが、そのような不
正確さを補正するのにコイル６２および６４を使用でき
る。コイル６２および６４は、関係のある誤整列（ｍｉ
ｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ）の方向に応じて受信器５２に関
してパＸ”又は゛Ｙ″方向になるように配置することが
できる。また２つのコイルを″Ｘ＃方向に、２つのコイ
ルをｌ Ｙ ＩＴ力方向配置して両方の方向の心の外れ
（ｍｌ ｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ ）を測定することがで
きる。
、互いに心合せがなされていない場合に決定できる。成
る状況では、心が合わない（ｍｉｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ
）と″′Ｄ″ノ測定値カ不正確となるが、そのような不
正確さを補正するのにコイル６２および６４を使用でき
る。コイル６２および６４は、関係のある誤整列（ｍｉ
ｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ）の方向に応じて受信器５２に関
してパＸ”又は゛Ｙ″方向になるように配置することが
できる。また２つのコイルを″Ｘ＃方向に、２つのコイ
ルをｌ Ｙ ＩＴ力方向配置して両方の方向の心の外れ
（ｍｌ ｓａｔｉｇｎｍｅｎｔ ）を測定することがで
きる。
第３図に示したシステムは第４図に示した小さイコイル
６２および６４を含まないことが判る。そのような小さ
いコイルは第６図のシステムでは用いられていない。そ
の理由は、第６図のシステムでは、トランスジユーザ４
２が左又は右へ移動しても距離りが一定であればトラン
スジユーザの出力は一定しているからである。従って、
このシステムは、たとえＸ＃又は″Ｙ＃方向に心の外れ
（誤整列）があったとしても、″′ｚ＃方向の変位を正
確に測定する。
６２および６４を含まないことが判る。そのような小さ
いコイルは第６図のシステムでは用いられていない。そ
の理由は、第６図のシステムでは、トランスジユーザ４
２が左又は右へ移動しても距離りが一定であればトラン
スジユーザの出力は一定しているからである。従って、
このシステムは、たとえＸ＃又は″Ｙ＃方向に心の外れ
（誤整列）があったとしても、″′ｚ＃方向の変位を正
確に測定する。
上述したシステムは、紙の坪量を測定するためのもので
ある。しかし、本発明は、シート状物質の他のパラメー
タの測定にも利用できることを理解すべきである。例え
゛ば、第５図には一枚の紙の含水量測定用システムの一
部を図示しである。そのようなシステムは米国特許第６
，７９６，５２４号に教示されている。このシステムは
こ＼では詳細に説明せず、？５−ｆ３十す１釧）計’＝
−ｃ−ｉ月Ｎｉｌ側氏１−せイτこのシステムの更に詳
細な鮮明については上把持Ｊ′Ｆを参照されたい。シス
テムは、それぞれ上方ヘッド部分および下方ヘッド部分
２０および２２の表面６３上に取り付けることができる
上部および下部紙ガイド（ｐａｐｅｒ ｇｕｉｄｅｓ）
７０および７２を含み、又はこれらのメｊイドは、上
方ヘッド部分および下方ヘッド部分２０および２２と一
体構造とすることもできる。ガイド７０および７２は研
磨又は上記参考特許に教示されている他の方法により作
ることができる反射面を有する。赤外線源７４は」二部
ガイド７０に配置されており、その赤外線を検出するた
めの検出器もまた上部ガイド７ｏに収すイ」けられてい
る。
ある。しかし、本発明は、シート状物質の他のパラメー
タの測定にも利用できることを理解すべきである。例え
゛ば、第５図には一枚の紙の含水量測定用システムの一
部を図示しである。そのようなシステムは米国特許第６
，７９６，５２４号に教示されている。このシステムは
こ＼では詳細に説明せず、？５−ｆ３十す１釧）計’＝
−ｃ−ｉ月Ｎｉｌ側氏１−せイτこのシステムの更に詳
細な鮮明については上把持Ｊ′Ｆを参照されたい。シス
テムは、それぞれ上方ヘッド部分および下方ヘッド部分
２０および２２の表面６３上に取り付けることができる
上部および下部紙ガイド（ｐａｐｅｒ ｇｕｉｄｅｓ）
７０および７２を含み、又はこれらのメｊイドは、上
方ヘッド部分および下方ヘッド部分２０および２２と一
体構造とすることもできる。ガイド７０および７２は研
磨又は上記参考特許に教示されている他の方法により作
ることができる反射面を有する。赤外線源７４は」二部
ガイド７０に配置されており、その赤外線を検出するた
めの検出器もまた上部ガイド７ｏに収すイ」けられてい
る。
赤外線源７４からの赤外線はガイド７ｏおよび７２の表
面から反射され、破線により示されているように放射線
の一部は紙を通して伝送されるが、一部は紙から反射さ
れる。検出器７６により受信される放射線の測定は紙の
含水量を決定するのに利用される。
面から反射され、破線により示されているように放射線
の一部は紙を通して伝送されるが、一部は紙から反射さ
れる。検出器７６により受信される放射線の測定は紙の
含水量を決定するのに利用される。
動作中、ヘッドシステムは、走査方向を横断して移動し
ている紙を横切って左右に走査する。一方、坪量又は含
水１になどの紙のパラメータを測定している時に、距離
検出手段は、ヘッド間の距離を測定しており、パラメー
タおよび距離の測定値はコンピュータ３０へ送られる。
ている紙を横切って左右に走査する。一方、坪量又は含
水１になどの紙のパラメータを測定している時に、距離
検出手段は、ヘッド間の距離を測定しており、パラメー
タおよび距離の測定値はコンピュータ３０へ送られる。
ヘッド間の距離はシステムの動作中に変化する可能性が
あり、システムはヘッド間の距１１１１の変化を考慮に
入れるため測定したパラメータを自動的に補正する。一
部の応用例においては、坪量およびセンザ間の距離は、
所定の時間間隔で周期的に測定することができる。
あり、システムはヘッド間の距１１１１の変化を考慮に
入れるため測定したパラメータを自動的に補正する。一
部の応用例においては、坪量およびセンザ間の距離は、
所定の時間間隔で周期的に測定することができる。
従って、両方の測定値は、実際は特定の時点における紙
の上の特定の点における坪量およびヘッド間距離を表わ
す一連の値である。実際にこれらの点は一緒に近接させ
て事実上連続した測定を行うことができる。
の上の特定の点における坪量およびヘッド間距離を表わ
す一連の値である。実際にこれらの点は一緒に近接させ
て事実上連続した測定を行うことができる。
上述したように、木発明者等は、ヘッドシステムが一枚
の紙を横切って走査する場合に、ヘッド部分間の距離を
変化させる２つの主な原因が存在することを見出してい
る。特に、スキャナのけた１２はその全長にわたって同
一距離をおいてｐｍれているわけではないので、その離
隔距離は変化する可能性がある。またシステムの動作中
に、〜ラドシステムとけたが熱せられ、それによりヘッ
ド間の距離は時間がたつにつれて変化するＦＱ能性があ
る。加熱効果を証明するわれわれの検査結果の一部の図
が第６図に示されている。
の紙を横切って走査する場合に、ヘッド部分間の距離を
変化させる２つの主な原因が存在することを見出してい
る。特に、スキャナのけた１２はその全長にわたって同
一距離をおいてｐｍれているわけではないので、その離
隔距離は変化する可能性がある。またシステムの動作中
に、〜ラドシステムとけたが熱せられ、それによりヘッ
ド間の距離は時間がたつにつれて変化するＦＱ能性があ
る。加熱効果を証明するわれわれの検査結果の一部の図
が第６図に示されている。
第６図は、複数のグラフであり、その各々は、特定の時
間におけるスキャナの長さに沿ったヘッドシステム部分
間の離隔距離を示す。（これらのグラフは一定の率で縮
尺したものではなく、“位置”軸はνｊｌＦ隔距離０を
表わすものではない点に注意すべきである。）これらの
グラフを示すため、本発明者等はスキャナを冷温始動か
ら動作させ、システムが熱くなるにつれて木システムを
用いてヘッド？（１３分間の離隔距離をｉｌｌ！ｌ定し
た。曲線Ａは、システムが比較的冷たい時の作動（ｒｕ
ｎ）開始時におけるスキャナ全長にわたっての〜ラド部
分量離隔距離を示す。曲線Ａから判るように、ヘッド部
分間の距離は、ヘッドシステムがスキャナの端近くにあ
る時の方がヘッドシステムがスキャナの中心近くにある
時よりも大となる。また、この曲線は滑らかではなくて
、ヘッド部分間距離に一部局所的不規則さがある点に注
目すべきである。曲線Ｂは曲線人の展開後５分してから
のヘッド部分離隔距離である。曲線Ｂにおいてはスキャ
ナの長さ全体を通じてのヘッド部分離隔距離は、曲線人
に示したヘッド部分離隔距離よりや＼短いことが判る。
間におけるスキャナの長さに沿ったヘッドシステム部分
間の離隔距離を示す。（これらのグラフは一定の率で縮
尺したものではなく、“位置”軸はνｊｌＦ隔距離０を
表わすものではない点に注意すべきである。）これらの
グラフを示すため、本発明者等はスキャナを冷温始動か
ら動作させ、システムが熱くなるにつれて木システムを
用いてヘッド？（１３分間の離隔距離をｉｌｌ！ｌ定し
た。曲線Ａは、システムが比較的冷たい時の作動（ｒｕ
ｎ）開始時におけるスキャナ全長にわたっての〜ラド部
分量離隔距離を示す。曲線Ａから判るように、ヘッド部
分間の距離は、ヘッドシステムがスキャナの端近くにあ
る時の方がヘッドシステムがスキャナの中心近くにある
時よりも大となる。また、この曲線は滑らかではなくて
、ヘッド部分間距離に一部局所的不規則さがある点に注
目すべきである。曲線Ｂは曲線人の展開後５分してから
のヘッド部分離隔距離である。曲線Ｂにおいてはスキャ
ナの長さ全体を通じてのヘッド部分離隔距離は、曲線人
に示したヘッド部分離隔距離よりや＼短いことが判る。
これはシステムに対する加熱効果を示している。一般的
に云って、曲線人に見られたのと同じ曲線全体にわたる
局所的不規則さは曲線Ｂにも見られる。曲線０〜曲線Ｆ
は、その後時間が経過するにつれて得られた（曲線間の
時間間隔は約５〜３０分）ものであり、これら曲線の進
展状態は、ヘッド部分間の離隔距離が、一般にシステム
の温度上昇と共に小さくなることを示している。また、
曲線の局所的不規則さは測定時間中を通じて一定ではな
く、システムが加熱される゛にっれて成る程度変化する
点に注目すべきである。更に、局所的不規則さは急激に
変化する可能性がある。従つ忙、木システムはヘッド部
分間の距離を継続的に測定し、距離の変化を補正しうる
ことが重要であることが理解できる。
に云って、曲線人に見られたのと同じ曲線全体にわたる
局所的不規則さは曲線Ｂにも見られる。曲線０〜曲線Ｆ
は、その後時間が経過するにつれて得られた（曲線間の
時間間隔は約５〜３０分）ものであり、これら曲線の進
展状態は、ヘッド部分間の離隔距離が、一般にシステム
の温度上昇と共に小さくなることを示している。また、
曲線の局所的不規則さは測定時間中を通じて一定ではな
く、システムが加熱される゛にっれて成る程度変化する
点に注目すべきである。更に、局所的不規則さは急激に
変化する可能性がある。従つ忙、木システムはヘッド部
分間の距離を継続的に測定し、距離の変化を補正しうる
ことが重要であることが理解できる。
第７図〜第９図は、われわれが行った検査（テスト）の
例を示すもので、ヘッド部分間距離の変化を補正する本
システムの有効性を示している。
例を示すもので、ヘッド部分間距離の変化を補正する本
システムの有効性を示している。
第７図はスキャナを横切る位置−〜ラド部分離隔距離の
グラフである。この検査では、われわれはヘッド部分間
の距離、即ち空隙をスキャナのはゾ中央近くで減少する
ようにスキャナを変更したが、この菟隙の減小はグラフ
の中央における大きな゛***（ｂｕｍｐ）″として示さ
れている。第８図は本発明を適用しない場合のスキャナ
を横切る位置−紙の坪量測定値を示す。第８図から判る
ように、紙の坪量測定値は、“***”の位置において目
ざましく増加する。しかし、われわれは他の検査から、
実際には紙の坪量はスキャナの中央に向って増加しない
ことを知っている。
グラフである。この検査では、われわれはヘッド部分間
の距離、即ち空隙をスキャナのはゾ中央近くで減少する
ようにスキャナを変更したが、この菟隙の減小はグラフ
の中央における大きな゛***（ｂｕｍｐ）″として示さ
れている。第８図は本発明を適用しない場合のスキャナ
を横切る位置−紙の坪量測定値を示す。第８図から判る
ように、紙の坪量測定値は、“***”の位置において目
ざましく増加する。しかし、われわれは他の検査から、
実際には紙の坪量はスキャナの中央に向って増加しない
ことを知っている。
第９図は、本システムの動作を示す。このグラフは、ス
キャナを横切る坪量測定値を示し、スキャナの中央にお
ける゛***″を補イバするように適用される補正値によ
り、坪量は紙の中央で大きな増加を示さないことを示し
ている。
キャナを横切る坪量測定値を示し、スキャナの中央にお
ける゛***″を補イバするように適用される補正値によ
り、坪量は紙の中央で大きな増加を示さないことを示し
ている。
上記に説明し第１図に示したシステムは、〜ラド部分２
０および２２がげた１２ＶＣ関連して移動できるスキャ
ナを含む。本発明は、ヘッド部分が枠に固定されたいわ
ゆるＣ形システムなどの他の形の走査システムにも応用
できることを理解すべきである。
０および２２がげた１２ＶＣ関連して移動できるスキャ
ナを含む。本発明は、ヘッド部分が枠に固定されたいわ
ゆるＣ形システムなどの他の形の走査システムにも応用
できることを理解すべきである。
更に、上述した実施例は２個のヘッド部分２０および２
２を含む。しかし、本発明は紙の一方の側の上に配置さ
れた１個のヘッド部材な含むシステムにも応用できる。
２を含む。しかし、本発明は紙の一方の側の上に配置さ
れた１個のヘッド部材な含むシステムにも応用できる。
そのような実施例は紙の反対側に配置され紙幅全体にわ
たるローラ又は摩擦のす（ないプラスチック製ガイドの
ような固定された部材を含む。この実施例は例えばＸ線
後方散乱形センサと一緒に用いるのに適している。その
ような実施例においては、固定された部材は紙の幅と交
差して紙を支え、トランスジユーザ６２からの距離を測
定するための基準点を与える。
たるローラ又は摩擦のす（ないプラスチック製ガイドの
ような固定された部材を含む。この実施例は例えばＸ線
後方散乱形センサと一緒に用いるのに適している。その
ような実施例においては、固定された部材は紙の幅と交
差して紙を支え、トランスジユーザ６２からの距離を測
定するための基準点を与える。
以下本発明の実施の態様を列記する。
１、 補正は、″′２″方向のみにおけるヘッドの離隔
距離に基づいて行われる特許請求の範囲第１項による方
法。
距離に基づいて行われる特許請求の範囲第１項による方
法。
２、補正は、“２″方向以外の方向における離隔距離に
基づいて行われる特許請求の範囲第１項による方法。
基づいて行われる特許請求の範囲第１項による方法。
己、 シート状物質は、ヘッド部材と基準部材との間に
配置され、離隔距離がシート状物質に接触せずに決定さ
れる特許請求の範囲第１項による方法。
配置され、離隔距離がシート状物質に接触せずに決定さ
れる特許請求の範囲第１項による方法。
４、基準部材からのヘット°部材の闇１隔距離は、電磁
誘導によって決定される前記第ろ項による方法。
誘導によって決定される前記第ろ項による方法。
５、基準部材からのヘッド部材の離隔距離は、値が測定
されつつある間に決定される特許請求の範囲第１項によ
る方法。
されつつある間に決定される特許請求の範囲第１項によ
る方法。
６、 ヘッド部材が複数の位置にあり前記位置の各々が
バラメークの１つの値が測定される位置に対応する時に
、＆塾部材からのヘッド部材の離隔距離が決定される特
許請求の範囲第１項による方Ｚ 基準手段は、固定した
状態にある特許請求の範囲第２項による装置。
バラメークの１つの値が測定される位置に対応する時に
、＆塾部材からのヘッド部材の離隔距離が決定される特
許請求の範囲第１項による方Ｚ 基準手段は、固定した
状態にある特許請求の範囲第２項による装置。
ａ 基準手段は、ヘッド手段の第２部分に固定された特
許請求の範囲第２項による装置。
許請求の範囲第２項による装置。
９、 センザ手段は、前記ヘッド手段の前記第１＝１＋
分内に置かれた放射源、および前記ヘッド手段の前記第
２部分内に置かれた検出器を含む前記第８項による装置
。
分内に置かれた放射源、および前記ヘッド手段の前記第
２部分内に置かれた検出器を含む前記第８項による装置
。
１０、センザ手段は、放射源および検出器を含み、それ
らが共に前記ヘッド手段の１つの部分内に（１すかれて
いる前記第８項による装ｈ゛。
らが共に前記ヘッド手段の１つの部分内に（１すかれて
いる前記第８項による装ｈ゛。
１１、距νｉ＋を検出手段は、ヘッド手段の１つの部分
に収り付ゆられたトランスジューサを含む前記第８項に
よる装置。
に収り付ゆられたトランスジューサを含む前記第８項に
よる装置。
１２、距ｌｌ１ｌｌ ＋金山手段は、ヘッド手段の１つ
の部分に収りイ」けられたトランスミッタ、および前記
ヘッド手段のもう一方の部分に収り付けられたレシーバ
を含む前記第８項による装置。
の部分に収りイ」けられたトランスミッタ、および前記
ヘッド手段のもう一方の部分に収り付けられたレシーバ
を含む前記第８項による装置。
１己、トランスミッタは、磁界を発生させる前記第１２
項による装置。
項による装置。
１４、トランスミッタからの信号は、シート状物質によ
ってほとんど影響をうけない前記第１２項による装置。
ってほとんど影響をうけない前記第１２項による装置。
第１図は、本実施例によるスキャニングシステムを示す
。 第２図は、本実施例の１部の概略図である。 第３図は、本発明の１実施例の１部の細部の概略図であ
る。 第４図は、本発明のもう１つの実施例の１部の細部の概
略図である。 ８８５図は、本発明の実施例の細部の概略図である。 第６図は、克服する問題を提起するために本システムに
より設ｄ１された諸問題の１つを示すグジムである。 第７図〜第９図は、本発明の１実施例の動作を示すグラ
フである。 第１図、第２図において、１０はスキャナ、１２はけた
、２０は上方〜ラドＨ（３分、２２は下方ヘッド部分、
２３は窄隙、２７は紙、２４は放射線源、２６は放射線
検出器、２８．３６は前置増幅器、６２はトランスジユ
ーザ。 特許出ｌ如人 メジャレツクス・コーポレーション
代理人 弁理士玉蟲久五部 図面の浄書（内容に変更なし） ＦＩＧ、 Ｊ ＦＩＧ、 ４ ＦＩＧ、 ６ 一トーーーー イ立 置 −一→− Ｆ／６７ ↑ 鴫トーー−イ立 置 −一一− ＦＩＧ、 θ ↑ 争−位置−◆ ＦＩＧ、 ９ 手続補正書 昭和５８年 ８月７６日 昭和５８年特許願第８６５１６号 ２、発明の名称 シート状材料を測定する方法及び装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 アメリカ合衆国カリフォルニア用９５０１４゜
クーパティーノ、リザルツウェイ １番名称 メジ
ャレソクス・コーポレーション代表者 ハル・ホーナー ４、代理人 ７、補正の内容 別紙の通り ７６一
。 第２図は、本実施例の１部の概略図である。 第３図は、本発明の１実施例の１部の細部の概略図であ
る。 第４図は、本発明のもう１つの実施例の１部の細部の概
略図である。 ８８５図は、本発明の実施例の細部の概略図である。 第６図は、克服する問題を提起するために本システムに
より設ｄ１された諸問題の１つを示すグジムである。 第７図〜第９図は、本発明の１実施例の動作を示すグラ
フである。 第１図、第２図において、１０はスキャナ、１２はけた
、２０は上方〜ラドＨ（３分、２２は下方ヘッド部分、
２３は窄隙、２７は紙、２４は放射線源、２６は放射線
検出器、２８．３６は前置増幅器、６２はトランスジユ
ーザ。 特許出ｌ如人 メジャレツクス・コーポレーション
代理人 弁理士玉蟲久五部 図面の浄書（内容に変更なし） ＦＩＧ、 Ｊ ＦＩＧ、 ４ ＦＩＧ、 ６ 一トーーーー イ立 置 −一→− Ｆ／６７ ↑ 鴫トーー−イ立 置 −一一− ＦＩＧ、 θ ↑ 争−位置−◆ ＦＩＧ、 ９ 手続補正書 昭和５８年 ８月７６日 昭和５８年特許願第８６５１６号 ２、発明の名称 シート状材料を測定する方法及び装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 アメリカ合衆国カリフォルニア用９５０１４゜
クーパティーノ、リザルツウェイ １番名称 メジ
ャレソクス・コーポレーション代表者 ハル・ホーナー ４、代理人 ７、補正の内容 別紙の通り ７６一
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ｔ ヘッド部材内に配置されたセンサシステムによって
種々の点におけるシート状物質のパラメータ値を測定し
、基準部材からのヘッド部材の離隔距離の変化を考慮す
るためにパラメータ測定値を補正する方法にして、 ａ）センサシステムによってパラメータ値を測定して複
数の点における測定値を与え、ｂ）基準部材からのヘッ
ド部・１の離隔距離を決定し、 Ｃ）基準部材からのヘッドの離隔距離によって測定値を
補正することからなる、 シート状材料を測定する方法。 ２、 ヘッド部材内に配置されたセンサシステムによっ
て種々の点におけろシート状物質のパラメータ値を測定
し、基準部材からのヘッド部材の離隔距離の変化を考慮
するためにパラメータ測定値を補正するシステムにして
、 一’） シート状物質の第１の側の上に配置された第
１部分を有するヘッド手段と、 ｂ）シート状物質の反対の側の」二に配置された基準手
段と、 Ｃ）〜ラド手段に結合され〜ラド手段と基準手段との間
の距離を測定する距離検出手段と、ｄ）ヘッド手段に結
合されシート状物質のパラメータ値を測定するセンサ手
段と、 ｅ）センサ手段および距離検出手段からの信号を受信す
るように結合され、ヘッド手段と基準手段との間の距離
によって測定値を補正するパラメータ決定手段とを含む
、 シート状材料を測定する装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US37937782A | 1982-05-17 | 1982-05-17 | |
| US379377 | 1982-05-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5920806A true JPS5920806A (ja) | 1984-02-02 |
Family
ID=23496984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58086516A Pending JPS5920806A (ja) | 1982-05-17 | 1983-05-17 | シ−ト状材料を測定する方法及び装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4678915B1 (ja) |
| EP (1) | EP0094669B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5920806A (ja) |
| CA (1) | CA1205925A (ja) |
| DE (1) | DE3370181D1 (ja) |
| FI (1) | FI76435C (ja) |
| IE (1) | IE54249B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015536451A (ja) * | 2012-10-19 | 2015-12-21 | ピコメトリクス、エルエルシー | 反射するテラヘルツ放射と外部基準構造とを用いて材料特性を計算するためのシステム |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4970895A (en) * | 1985-05-02 | 1990-11-20 | Measurex Corporation | System and method for the determination of certain physical characteristics of sheet materials. |
| US4866984A (en) * | 1985-10-04 | 1989-09-19 | Measurex Corporation | Sensor and system for continuous determination of paper strength |
| US5010766A (en) * | 1989-11-30 | 1991-04-30 | Impact Systems, Inc. | Error compensation for measuring gauges |
| US5164048A (en) * | 1990-08-29 | 1992-11-17 | Measurex Corporation | Cooling structure for stabilizing the temperature of beams in a sheet-making apparatus |
| US5103471A (en) * | 1991-01-17 | 1992-04-07 | Spongr Jerry J | Apparatus for measuring the thickness of a coating |
| US5099125A (en) * | 1991-02-15 | 1992-03-24 | Abb Process Automation Inc. | Sheet material sensor compensation |
| US5117686A (en) * | 1991-04-18 | 1992-06-02 | Abb Process Automation Inc. | Scanning head position sensing for web characteristic measuring system |
| US5233195A (en) * | 1992-02-25 | 1993-08-03 | Abb Process Automation, Inc. | Methods and apparatus for measuring characteristics of moving webs |
| US5457539A (en) * | 1993-06-18 | 1995-10-10 | Abb Industrial Systems, Inc. | On-line compensation for deflection in instruments using focused beams |
| DE59605018D1 (de) * | 1995-03-17 | 2000-05-31 | Honeywell Ag | Vorrichtung zur Flächengewichtsmessung |
| US5714763A (en) * | 1996-03-25 | 1998-02-03 | Measurex Corporation | Method and apparatus for optical alignment of a measuring head in an X-Y plane |
| US5773714A (en) * | 1997-02-19 | 1998-06-30 | Honeywell-Measurex Corporation | Scanner beam dynamic deflection measurement system and method |
| US5915277A (en) * | 1997-06-23 | 1999-06-22 | General Electric Co. | Probe and method for inspecting an object |
| US6281679B1 (en) | 1998-12-21 | 2001-08-28 | Honeywell - Measurex | Web thickness measurement system |
| US6995372B2 (en) * | 2003-02-12 | 2006-02-07 | Voith Paper Patent Gmbh | Nuclear gauge for measuring a characteristic of a sheet material with sheet position and alignment compensation |
| US7071480B2 (en) | 2003-06-13 | 2006-07-04 | Voith Paper Patent Gmbh | Sensor with alignment self compensation |
| US6967726B2 (en) * | 2003-10-03 | 2005-11-22 | Honeywell International Inc. | Means for in-place automated calibration of optically-based thickness sensor |
| US8088255B2 (en) | 2008-04-18 | 2012-01-03 | Honeywell Asca Inc | Sheet stabilizer with dual inline machine direction air clamps and backsteps |
| US8083895B2 (en) * | 2008-04-18 | 2011-12-27 | Honeywell Asca Inc. | Sheet stabilization with dual opposing cross direction air clamps |
| US7892399B2 (en) * | 2008-05-29 | 2011-02-22 | Honeywell Asca Inc. | Local tension generating air stabilization system for web products |
| US8083896B2 (en) * | 2008-09-26 | 2011-12-27 | Honeywell Asca Inc. | Pressure equalizing baffle and coanda air clamp |
| DE102010063232A1 (de) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | Voith Patent Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Flächengewichtsbestimmung |
| US8742385B2 (en) * | 2011-01-26 | 2014-06-03 | Honeywell Asca Inc. | Beam distortion control system using fluid channels |
| US11519710B2 (en) * | 2020-02-26 | 2022-12-06 | Honeywell Limited | High accuracy and high stability magnetic displacement sensor in the presence of electromagnetic interferences |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4965252A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-25 | ||
| JPS5342762A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Radiation measuring apparatus |
| JPS5466167A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Hitachi Ltd | Thickness measuring method of plate object |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3243992A (en) * | 1963-09-12 | 1966-04-05 | Boeing Co | Gauging device |
| US3479511A (en) * | 1965-06-01 | 1969-11-18 | Industrial Nucleonics Corp | Nuclear radiation gauge system |
| US3552203A (en) * | 1967-11-13 | 1971-01-05 | Industrial Nucleonics Corp | System for and method of measuring sheet properties |
| IT992864B (it) * | 1972-08-22 | 1975-09-30 | Maschf Augsburg Nuernberg Ag | Apparato per determinare senza contatto esattamente e continua mente la temperatura di superfici |
| US3757126A (en) * | 1972-08-28 | 1973-09-04 | Bendix Corp | Input stage amplifier gain and balance method of setting moire fringe transducer reading head skew angle and |
| US3793524A (en) * | 1972-09-05 | 1974-02-19 | Measurex Corp | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials |
| US3757122A (en) * | 1972-10-30 | 1973-09-04 | D Bossen | Basis weight gauging apparatus system and method |
| DE2306550A1 (de) * | 1973-02-10 | 1974-08-15 | Frieseke & Hoepfner Gmbh | Geraet zum messen des flaechengewichtes von textilbahnen oder aehnlichem bahnfoermigem messgut |
| DE2309278C2 (de) * | 1973-02-24 | 1975-03-13 | Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen | Vorrichtung zur Messung der Konzentration von bestimmten Eigenschaften, zum Beispiel der Feuchtigkeit, bewegter Meßgutbahnen mittels Mikrowellenenergie |
| US4276480A (en) * | 1979-09-28 | 1981-06-30 | Accuray Corporation | Sensor position independent material property determination using radiant energy |
-
1983
- 1983-05-16 EP EP83104818A patent/EP0094669B1/en not_active Expired
- 1983-05-16 DE DE8383104818T patent/DE3370181D1/de not_active Expired
- 1983-05-16 FI FI831714A patent/FI76435C/fi not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 CA CA000428210A patent/CA1205925A/en not_active Expired
- 1983-05-16 IE IE1136/83A patent/IE54249B1/en not_active IP Right Cessation
- 1983-05-17 JP JP58086516A patent/JPS5920806A/ja active Pending
-
1985
- 1985-03-14 US US06711880 patent/US4678915B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4965252A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-25 | ||
| JPS5342762A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Radiation measuring apparatus |
| JPS5466167A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Hitachi Ltd | Thickness measuring method of plate object |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015536451A (ja) * | 2012-10-19 | 2015-12-21 | ピコメトリクス、エルエルシー | 反射するテラヘルツ放射と外部基準構造とを用いて材料特性を計算するためのシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI831714L (fi) | 1983-11-18 |
| FI76435B (fi) | 1988-06-30 |
| FI76435C (fi) | 1988-10-10 |
| DE3370181D1 (en) | 1987-04-16 |
| IE831136L (en) | 1983-11-17 |
| FI831714A0 (fi) | 1983-05-16 |
| US4678915A (en) | 1987-07-07 |
| US4678915B1 (en) | 1996-07-16 |
| EP0094669A1 (en) | 1983-11-23 |
| CA1205925A (en) | 1986-06-10 |
| EP0094669B1 (en) | 1987-03-11 |
| IE54249B1 (en) | 1989-08-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5920806A (ja) | シ−ト状材料を測定する方法及び装置 | |
| EP0165711B1 (en) | Method and apparatus for detecting thermal waves | |
| JP3953520B2 (ja) | Ｘ―ｙ平面における測定ヘッドの光学的アライメントのための方法および装置 | |
| US3222917A (en) | Non-destructive testing of objects | |
| TW200415340A (en) | Method and apparatus for measuring object thickness | |
| US9612213B2 (en) | Automatic z-correction for basis weight sensors | |
| GB2217835A (en) | Thickness measurement device | |
| US6343874B1 (en) | Method for the inspection of a part by thermal imaging | |
| US3588683A (en) | Method and apparatus for nondestructive testing of ferromagnetic articles,to determine the location,orientation and depth of defects in such articles utilizing the barkhausen effect | |
| CN114910203B (zh) | 基于激光同步诱导超声表面波与空气波的材料表面应力检测方法 | |
| JPH02184706A (ja) | 寸法測定装置 | |
| Dahlquist et al. | Gauge for measuring a sheet of material | |
| JPH0541930B2 (ja) | ||
| CN217005751U (zh) | 热波成像涂层厚度测量*** | |
| JPH0335615B2 (ja) | ||
| JPH05240815A (ja) | 誘導加熱探傷法および誘導加熱探傷装置 | |
| US5099125A (en) | Sheet material sensor compensation | |
| JPS6073309A (ja) | 走行板材の表面凹凸形状測定方法 | |
| JPH01269049A (ja) | 金属材料の劣化検査方法 | |
| JPH04371393A (ja) | フラックス入り溶接ワイヤのフラックス充填率検知方法 | |
| JPH0535984B2 (ja) | ||
| FR2504704A1 (fr) | Procede et dispositif pour le guidage sans contact d'appareils de controle non destructif de tubes | |
| JPH09126746A (ja) | 厚さ計 | |
| JPS5837001Y2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH03176627A (ja) | 管の偏平応力推定方法 |