JPS59204772A - 表面電位計 - Google Patents
表面電位計Info
- Publication number
- JPS59204772A JPS59204772A JP8019483A JP8019483A JPS59204772A JP S59204772 A JPS59204772 A JP S59204772A JP 8019483 A JP8019483 A JP 8019483A JP 8019483 A JP8019483 A JP 8019483A JP S59204772 A JPS59204772 A JP S59204772A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- potential
- measured
- vibrator
- linear
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は表面電位計に係り、さらに詳しくは複写機等の
感光体表面等の被測定体の電位を測定する表面電位計に
関するものである。
感光体表面等の被測定体の電位を測定する表面電位計に
関するものである。
従来技術
一般に電子複写機な、どに使用される光導電物質を使用
した感光体は、経時変化等による感度シフトが生じ易い
。そこでこの感度シフトを補償するために感光体表面電
位を制御する手段を付加して表面電位を常時一定範囲内
に設定しておく方法が知られている。
した感光体は、経時変化等による感度シフトが生じ易い
。そこでこの感度シフトを補償するために感光体表面電
位を制御する手段を付加して表面電位を常時一定範囲内
に設定しておく方法が知られている。
このためには感光体表面の電位を測定する表面電位計が
用いられている。
用いられている。
表面電位計としては、被測定体とそれに対向して配置さ
れた電位測定電極との間に生じる電界を断続的に遮蔽す
ることにより、被測定体表面と測定電極の差電圧に比例
した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ、これに
より表面電位を知る構造のものが提案されている。
れた電位測定電極との間に生じる電界を断続的に遮蔽す
ることにより、被測定体表面と測定電極の差電圧に比例
した振幅を持つ交流信号を測定電極に誘起させ、これに
より表面電位を知る構造のものが提案されている。
このような表面電位計は、電位測定電極回路及び測定電
極と被測定体との間を断続的に遮蔽するチョップ手段か
ら構成されており、両者は外部電界、ノイズを防止する
ため金属製のシールドによって覆われている。
極と被測定体との間を断続的に遮蔽するチョップ手段か
ら構成されており、両者は外部電界、ノイズを防止する
ため金属製のシールドによって覆われている。
この金属製のシールドには、感光体の被測定部に対して
対向して配置された電位測定用のff1ll定窓が形成
されており、この測定窓を通して感光体の電位が測定さ
れる。
対向して配置された電位測定用のff1ll定窓が形成
されており、この測定窓を通して感光体の電位が測定さ
れる。
チョップ手段としては直流モータを使用するものも提案
されているが、小型で、簡単に作成できるという面から
圧電素子を使用したものが提案されている。
されているが、小型で、簡単に作成できるという面から
圧電素子を使用したものが提案されている。
このようなチョップ手段は第1図及び第2図に示すよう
に構成されている。
に構成されている。
各図において、符号′1で示すものは取付基板で、この
基板1の側面には音叉の形状をした振動子2が固定され
ている。振動子2は音叉の形状をしており、U字状に形
成された自由端側には平板部2aが形成されており、こ
の平板部2aが図示していない測定電極の被測定体と対
向する端面の手前側に平行に配置される。この振動子2
のU字状の折曲部の上下面には圧電素子3,3が固定さ
れている。振動子2のU字状の折曲部の端部にはピン3
aが取付基板1側に向って突設されており、このピン3
aは取付基板l内に埋め込まれ、下方に“向って屈曲し
、取付基板1の下端から露出され、図示していないプリ
ント基板側に接続される。このピン3aはアースをとる
ためのものである。
基板1の側面には音叉の形状をした振動子2が固定され
ている。振動子2は音叉の形状をしており、U字状に形
成された自由端側には平板部2aが形成されており、こ
の平板部2aが図示していない測定電極の被測定体と対
向する端面の手前側に平行に配置される。この振動子2
のU字状の折曲部の上下面には圧電素子3,3が固定さ
れている。振動子2のU字状の折曲部の端部にはピン3
aが取付基板1側に向って突設されており、このピン3
aは取付基板l内に埋め込まれ、下方に“向って屈曲し
、取付基板1の下端から露出され、図示していないプリ
ント基板側に接続される。このピン3aはアースをとる
ためのものである。
ま・た、取付基板1側にはリードピン4.5が設けられ
ており、それぞれは前記圧電素子3,3に接続されてい
る。これらリードピン4,5は圧電素子3を駆動するた
めの信号を導くもので、ピン3aと同様に図示していな
いプリント基板側に接続される。
ており、それぞれは前記圧電素子3,3に接続されてい
る。これらリードピン4,5は圧電素子3を駆動するた
めの信号を導くもので、ピン3aと同様に図示していな
いプリント基板側に接続される。
このような構造を有するチョップ手段は、圧電素子3.
3に第1図において上下方向に電圧を印加すると、圧電
素子3,3は面方向の歪みを生じ、この歪みにより振動
子5の二叉状の各辺は第1図において上下方向の振動を
生じる。
3に第1図において上下方向に電圧を印加すると、圧電
素子3,3は面方向の歪みを生じ、この歪みにより振動
子5の二叉状の各辺は第1図において上下方向の振動を
生じる。
このような振動が生じると、図示していない測定電極に
加わる電界の総面積が変動し、振動子2の振動周波数と
同じ周波数で被測定体と測定電極との間に電位差に比例
した振幅を持つ交流信号が測定電極側に誘起される。
加わる電界の総面積が変動し、振動子2の振動周波数と
同じ周波数で被測定体と測定電極との間に電位差に比例
した振幅を持つ交流信号が測定電極側に誘起される。
ところで、第3図は被測定体である複写機の感光体と表
面電位計との配置関係を説明するもので、符号6は感光
体を示し、符号7は表面電位計を示す。
面電位計との配置関係を説明するもので、符号6は感光
体を示し、符号7は表面電位計を示す。
表面電位計7は測定電極及び測定窓が正確に位置決めさ
れて感光体6に対して配置され、感光体6の特定の部分
に対向するように配置されている。
れて感光体6に対して配置され、感光体6の特定の部分
に対向するように配置されている。
この結果、第3図からも明らかなように表面電位計7は
感光体6の測定すべき部分のごく一部の表面電位を測定
しているにすぎない結果となった。
感光体6の測定すべき部分のごく一部の表面電位を測定
しているにすぎない結果となった。
このため、原稿全体を一度走査して感光体6上に潜像を
形成させ、この潜像の表面電位を測定して最適な画像形
成条件を決定するに際し、原稿走査方向、すなわち、感
光体6の軸線方向にコントラストが大きな原稿や写真な
どの特殊な被複写物に対しては必ずしも最適な画像形成
条件の決定を行なっているとは限らなかった。
形成させ、この潜像の表面電位を測定して最適な画像形
成条件を決定するに際し、原稿走査方向、すなわち、感
光体6の軸線方向にコントラストが大きな原稿や写真な
どの特殊な被複写物に対しては必ずしも最適な画像形成
条件の決定を行なっているとは限らなかった。
目 的
本発明は以上のような従来の欠点を除去するために成さ
れたもので、原稿が幅方向に対して大きなコントラスト
を持つ場合にも有効な画像形成条件を決定することがで
きるように構成した表面電位計を提供することを目的と
している。
れたもので、原稿が幅方向に対して大きなコントラスト
を持つ場合にも有効な画像形成条件を決定することがで
きるように構成した表面電位計を提供することを目的と
している。
実施例
第4図(a)、(b)は本発明の一実施例を説明するも
ので、図中第1図〜第3図と同一部分には同一符号を付
し、その説明は省略する。
ので、図中第1図〜第3図と同一部分には同一符号を付
し、その説明は省略する。
図において、符号8で示すものは直線状電極で、感光体
6の長手方向、すなわち、原稿の幅方向のほぼ全長にわ
たって配置されている。
6の長手方向、すなわち、原稿の幅方向のほぼ全長にわ
たって配置されている。
一方、振動子2の感光体6側の直前には、電極9が配置
されており、振動子2の平板部2a、2aを挟んで電極
9と反対側には測定電極10が配置されている。測定電
極10には増幅回路11が接続されている。
されており、振動子2の平板部2a、2aを挟んで電極
9と反対側には測定電極10が配置されている。測定電
極10には増幅回路11が接続されている。
以上のような構造のもとに直線状電極8によって感光体
6の表面全体の表面電位を検出する。
6の表面全体の表面電位を検出する。
直線状電極8を構成する微小部分は感光体6の表面の微
小部分と角度あるいは距離に対して正面となる位置にお
いて検出した表面電位が最大値となるような強いガウス
分布を有する電位指向特性を与えられている。
小部分と角度あるいは距離に対して正面となる位置にお
いて検出した表面電位が最大値となるような強いガウス
分布を有する電位指向特性を与えられている。
従って、直線状型fl!8の微小部分はこれに対向する
感光体の微小部分の電位のみを測定していることになる
。
感光体の微小部分の電位のみを測定していることになる
。
直線状電極8はこのような微小部分の集合体と考えられ
るため、直線状電極8全体では各微小部分での測定電位
の総和あるいは積分量である電位が得られる。
るため、直線状電極8全体では各微小部分での測定電位
の総和あるいは積分量である電位が得られる。
この直線状電極8とチョップ手段である振動子2の手前
側に位置する電極9とを接続しておけば、直線状電極8
によって測定した電位が電極9に与えられる。
側に位置する電極9とを接続しておけば、直線状電極8
によって測定した電位が電極9に与えられる。
測定電極lOはアースされているため、Ovであり、振
動子2も前述したようにアースされているため、Ovで
ある。
動子2も前述したようにアースされているため、Ovで
ある。
この結果、直線状電極8及び電極9は感光体6の表面電
位に応じた電位となる。
位に応じた電位となる。
この結果、電極9と測定電極10との間に電界が発生し
、この電界を振動子2がチョップするため、測定電位1
0に加わる電界の総面積が変動し、振動子2の振動周波
数と同じ周波数で電極9と測定電極10との間の電位差
に比例した振幅をもつ交流信号が測定電極10に誘起さ
れる。
、この電界を振動子2がチョップするため、測定電位1
0に加わる電界の総面積が変動し、振動子2の振動周波
数と同じ周波数で電極9と測定電極10との間の電位差
に比例した振幅をもつ交流信号が測定電極10に誘起さ
れる。
電極9は直線状電極8と同電位であり、しかも直線状電
極8は被測定体である感光体の表面電位に比例した電位
であるため、測定電極lOに誘起された交流信号の振幅
は被測定体の表面電位に比例していることになる。
極8は被測定体である感光体の表面電位に比例した電位
であるため、測定電極lOに誘起された交流信号の振幅
は被測定体の表面電位に比例していることになる。
この結果、特殊なコントラストを有する表面電位を被測
定体の全面にわたって測定することができ、あらゆる種
類の被複写物の潜像の表面電位を測定でき、最適な画像
形成条件を設定できる。
定体の全面にわたって測定することができ、あらゆる種
類の被複写物の潜像の表面電位を測定でき、最適な画像
形成条件を設定できる。
効 果
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、被測
定体の近傍に被測定体の幅と同程度の長さを持つ第1の
電極λ平行に配置し、この第1の電極と電気的に接続さ
れた第2の電極に対して電位の測定を行なう構造を採用
しているため、測定方向に大きなコントラストを有する
特殊な被複写物を含めてあらゆる種類の被複写物の潜像
の表面電位を測定でき、最適な画像形成条件を設定する
ことができる。
定体の近傍に被測定体の幅と同程度の長さを持つ第1の
電極λ平行に配置し、この第1の電極と電気的に接続さ
れた第2の電極に対して電位の測定を行なう構造を採用
しているため、測定方向に大きなコントラストを有する
特殊な被複写物を含めてあらゆる種類の被複写物の潜像
の表面電位を測定でき、最適な画像形成条件を設定する
ことができる。
第1図及び第2図は本発明に適用されるチョップ手段の
正面図及び平面図、第3図(A)。 (B)は従来構造の表面電位の被測定体との間の配置関
係を説明する側面図及び正面図、第4図(A)、(B)
は本発明の一実施例を説明する側面図及び正面図である
。
正面図及び平面図、第3図(A)。 (B)は従来構造の表面電位の被測定体との間の配置関
係を説明する側面図及び正面図、第4図(A)、(B)
は本発明の一実施例を説明する側面図及び正面図である
。
Claims (1)
- 被測定体の電位を測定する表面電位計において、前記被
測定体近傍に前記被測定体の幅と同程度の長さを有する
第1の電極を平行に配置し、前記第1の電極と電気的に
接続された第2の電極に対して電位を測定することを特
徴とする表面電位計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8019483A JPS59204772A (ja) | 1983-05-10 | 1983-05-10 | 表面電位計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8019483A JPS59204772A (ja) | 1983-05-10 | 1983-05-10 | 表面電位計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59204772A true JPS59204772A (ja) | 1984-11-20 |
Family
ID=13711570
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8019483A Pending JPS59204772A (ja) | 1983-05-10 | 1983-05-10 | 表面電位計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59204772A (ja) |
-
1983
- 1983-05-10 JP JP8019483A patent/JPS59204772A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5212451A (en) | Single balanced beam electrostatic voltmeter modulator | |
JPH0560060B2 (ja) | ||
US4149119A (en) | Combined AC-DC electrometer with AC feedback for drift compensation | |
US5489850A (en) | Balanced beam electrostatic voltmeter modulator employing a shielded electrode and carbon fiber conductors | |
US4614908A (en) | Microdeflector probe for electrostatic voltmeters | |
JPS59204772A (ja) | 表面電位計 | |
US6452399B1 (en) | Modulator base for electrostatic voltmeter modulator assembly | |
JPS59204771A (ja) | 表面電位計 | |
JPS59204774A (ja) | 表面電位計 | |
JPS6310534Y2 (ja) | ||
JPS6262296B2 (ja) | ||
JPH0339594B2 (ja) | ||
JP3096162B2 (ja) | 表面電位計 | |
JPH0576590B2 (ja) | ||
JPH0616060B2 (ja) | 表面電位計 | |
JPS59204773A (ja) | 表面電位計 | |
JPH0636001B2 (ja) | 表面電位センサ | |
JPS60120265A (ja) | 表面電位計 | |
JPH01170862A (ja) | 静電電圧計用センサ | |
JPS6327662B2 (ja) | ||
JPS631547B2 (ja) | ||
JPH09292426A (ja) | 表面電位計 | |
JPS60120266A (ja) | 表面電位計 | |
JPS6176965A (ja) | 表面電位計 | |
JPS6365906B2 (ja) |