JPS59199520A - ポリシロキサンハイドライドの製造方法 - Google Patents

ポリシロキサンハイドライドの製造方法

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Publication number
JPS59199520A
JPS59199520A JP58072462A JP7246283A JPS59199520A JP S59199520 A JPS59199520 A JP S59199520A JP 58072462 A JP58072462 A JP 58072462A JP 7246283 A JP7246283 A JP 7246283A JP S59199520 A JPS59199520 A JP S59199520A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
polysiloxane hydride
hydride
polysiloxane
silanol
halogen
Prior art date
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Pending
Application number
JP58072462A
Other languages
English (en)
Inventor
Kota Nishii
耕太 西井
Shiro Takeda
武田 志郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS59199520A publication Critical patent/JPS59199520A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Silicon Compounds (AREA)
  • Silicon Polymers (AREA)
  • Organic Insulating Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)  発明の技術分野 本発明はポリシロキサンハイドライドの製造方法、特に
その末端が水素還元されて安定であり、かつ41機基を
全く含まないポリシロキサンハイドライドの製造方法に
関する。
(b)  技術の背景 絶林暎、特に層間絶縁膜を樹脂コーティング法によって
形成する樹脂絶縁法は、例えば化学気相成長法(CVD
法)によって形成された二酸化シリコン(Si02)膜
等に比較して、表面の平坦な絶縁膜が容易に形成できる
特徴を有している0この)tA l’ril Mt:縁
膜として用いるコーテイング1旬月旨に対しては、高い
耐熱性、無機膜との斬れた密着性及び良好な平坦化効果
(レベリング1ター)なとか吸水される。これらの要求
に対応する目的をもって、ポリイミド系樹脂、アルキル
基を含むポリシロキサン系樹脂等が既に提供されている
が、更に耐熱性を向上させるためにアルキル基を含まな
いポリシバイドlフジエンシロキサン等のポリシロキサ
ンハイドライドが注目されている。
(c)従来技術と問題点 ポリジハイドロジヱンシロキサン(HO−(II2Si
O)n−H)は末端すなわちα、ω位にシラノール基(
−OH)を有している。このシラノール基は不安定であ
ってゲル化すなわち意図しない3次元架橋を起し易いた
めに、このシラノール基を他の基に置換するシリル化が
行なわれる0しかしながら従来のシリル化剤はメチル基
(−CH,)等の有機基を含み、その重合度が低い場合
は無(タポリマーとしての特徴が強く(lなわれて、耐
夕′・性の低下或いは形成された絶縁膜中にピンホール
を発生する要因となる。
この問題点に対処するために、本願発明者は先に府なf
thss7−193296号によって、短時間で重合度
の商いポリジハイドロジェンシロキサンを得る製造方法
を提供している。
該発明は、一般式H2S i (OR)2で表わされ、
式中ILかアルキル基であるジアルコキシシランを出発
物質とし、その加水分解において生成する一価の脂肪族
アルコール(ROH)を除去しながら縮重合させること
を特徴とする。該発明によって、該発明次^1(の製造
方法に比較して1合度の高いポリジハイドロジエンシロ
キサンが得られて、耐熱性が向上しかつピンホールも減
少した絶縁膜が得られている。
しかしながら絶縁膜として更に高い耐熱性が要求されて
、そのシリル基にメチル基等の有機基を含まないポリジ
ハイドロジェンシロキサンが必要とされるに到った。
この要求はポリジハイドロジェンシロキサンのみならず
、ポリハイドロシルセスキオキサン(HO(HS i 
01.+l )n  H)等の他のポリシロキサンハイ
ドライドについても有機基を含まないシリル基による安
定化が要求されている。
(d)  発明の目的 本発明はポリシロキサンハイドライドに関して、末端す
なわちα、ω位を無機シリル基によって安定化する製造
方法を提供することを目的とする0(e)  発明の構
成 本発明の前記目的は、α位及びω位にシラノール基、ア
ルコキシル基又はハロゲンを有するポリシロキサンハイ
ドライドを水素化リチウムアルミニウムを用いて還元し
て、前記α位及びω位のシラノール基、アルコキシル基
又はハロゲンを水素に置換する製造方法により達成され
る。
(f)発明の実施例 既に説明した如くジアルコキシシランを出発物質とし、
或いはジクロロシラン、トリアルコキシシラン、トリク
ロロシラン等を出発物質として加水分tmを行なうこと
によって、シラノール末端、アルコキシ末端又はハロゲ
ン末端のポリシロキサン/Xイドライドが得られる。
このポリシロキサンハイドライドについて、例えば 2
(HO(HJiO)n  H)+H4LiAJ= 2 
(H3S to  (HJ 1O)n−z  S IH
s )十LiOH+AA’ (OH)s の如く、水素化リチウムアルミニウム(H4LtA/3
)によってその末端を還元し水素■に置換することによ
って、目的とする安定化が達成される。
水素化リチウムアルミニウムによる還元は通常エーテル
中で行なう・しかしながら標準大気圧において沸点が3
4.6 (℃)であるジエチルエーテル、或いは90.
5 (’C)であるジプロピルエーテル等は重合温gが
制約されるので、沸点が142.4C℃)であるジブチ
ルエーテル等を用いる。
またAil記例においては、趙元反応の結果水酸化リチ
ウム(LiOH)が生成される0勉アルカリの存在下で
は5i−H結合が分解し易いので還元実MI+直(1に
例えば希酢酸水溶RL ’8によっC中和し洗Uするこ
とが必要である0なお同様に生成される水酸化アルミニ
ウムは有機溶媒には溶解ぜすエーテル中で沈殿するため
に問題はない0 前記洗d)後にも水酸化リチウム、水σグ化アルミニウ
ムなどの不純物が微鈑に残存するために、濃縮後に、例
えばアセトニ) IJル及びトルエンを用いて沈殿及び
再溶解を反復実施して精製する。
以下更に具体的にポリハイドロジエンンロキサンにかか
る本発明の実施例について説明する0還流管、撹拌棒、
温度計及び漏斗を設けた四つ目フラスコに、ジェトキシ
シラン12(ロ)(01モル)、メチルイソブチルケト
ン54■、及びジブチルエーテル54面を採取し、温度
5〔℃〕程度以下に氷冷しつつ、水1811g) (1
モル)を滴下する。
滴下後溶温を35C℃)として90分間常圧で攪拌を続
ける〇 次いで漏斗を取去り、ドライアイス冷却エタノールを収
容したデユワ−瓶をトラップとする紙圧系に接続し、出
力50〔朋Hg)程度において、浴温35 (”C)で
13.5時間線重合を進行させる0・ξの後′g圧に戻
した後に水素化リチウムアルミニ・ツム101gJを窒
素雰囲気中で、45別して先に説明したシリル化4行な
う。水ζR化ウリチウム1(殉酢酸水溶敵で中和、洗浄
し、濃絹後アセトニトリル及びトルエンを用いて沈殿及
び再溶解を3回繰返して、精製された末端が水系よりな
るポリジハイドロシェンシロキサンヲ得ル。
また本発明により末端が水系よりなるポリハイドロシル
セスキオキサン以外ることは、列えは前ム己実h【18
し1jと同様の四つロフラスコにトリクロルシラン13
.6cgJ(0,1モル)、メチルイソブチルケトン6
12眩、及びジブチルエーテル61.2[!1.1を採
取して、前記実施向と同様の方法を実施することにより
−C可能である。
以上説明した実施向はシラノール末端の例であるが、ア
ルコキシル末端或いはハロゲン末端の場合にも同様に本
発明によって末端の水系置換を行ない、=h基を含まな
いシリル化を行なうことができる。また本発明は前記ポ
リハイドロジエンシロ千ザン、或いはポリハイドロシル
セスキオキサン以外のポリシロキサンハイドライドにも
同様に適用することができる。
(g)  発明の詳細 な説明した如く本発明によって、有機基を全く金談ず、
かつ末端が安定化されたポリシロキサンハイドライドが
提供され、このポリシロキサンハイドライドを用いて樹
脂コーティング法によって一表面の平坦性に優れ、かつ
耐熱性等の特性については化学気相成長法等と同等な酸
化シリコン絶縁膜を容易に形成することが可能となる。
:iゴ弓 」 l

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. α位及びω位にシラノール基、アルコキシル基又はハロ
    ゲンを有するポリシロキサンハイドライドを水素化リチ
    ウムアルミニウムを用いて還元シて、前記(1位及びω
    位のシラノール基、アルつキシル基又はハロゲンを水素
    に置換することを特徴とするポリシロキサンハイドライ
    ドの製造方法。
JP58072462A 1983-04-25 1983-04-25 ポリシロキサンハイドライドの製造方法 Pending JPS59199520A (ja)

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JPS59199520A true JPS59199520A (ja) 1984-11-12

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JP (1) JPS59199520A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5041591A (en) * 1989-08-10 1991-08-20 Dow Corning Toray Silicone Company, Ltd. Organopolysiloxane and method for its preparation
WO2008035820A1 (fr) * 2006-09-21 2008-03-27 Jsr Corporation Composition de résine de silicone et procédé de formation d'une isolation de tranchée
JP2008101206A (ja) * 2006-09-21 2008-05-01 Jsr Corp シリコーン樹脂、シリコーン樹脂組成物およびトレンチアイソレーションの形成方法
JP2008266119A (ja) * 2006-11-24 2008-11-06 Jsr Corp シリコーン樹脂、シリコーン樹脂組成物およびトレンチアイソレーションの形成方法

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JP2008101206A (ja) * 2006-09-21 2008-05-01 Jsr Corp シリコーン樹脂、シリコーン樹脂組成物およびトレンチアイソレーションの形成方法
JP2008266119A (ja) * 2006-11-24 2008-11-06 Jsr Corp シリコーン樹脂、シリコーン樹脂組成物およびトレンチアイソレーションの形成方法

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