JPS59180374A - 近傍電界測定装置 - Google Patents
近傍電界測定装置Info
- Publication number
- JPS59180374A JPS59180374A JP5375283A JP5375283A JPS59180374A JP S59180374 A JPS59180374 A JP S59180374A JP 5375283 A JP5375283 A JP 5375283A JP 5375283 A JP5375283 A JP 5375283A JP S59180374 A JPS59180374 A JP S59180374A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- antenna
- scanning
- measured
- electric field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、アンテナの近傍で、電界を測定する近傍電界
測定装置に関する。
測定装置に関する。
平面走査近傍電界測定法について説明する。第1図に示
すように、平面走査近傍電界測定装置は、被測定アンテ
ナ(1)、被測定アンテナ(1)に給電する送信機(2
)、被測定アンテナの電界全測定するプローブ(3)、
このプローブを駆動する装置(4)、受信機(5)と、
測定データを蓄積処理する装置(6)から成り立ってい
る。
すように、平面走査近傍電界測定装置は、被測定アンテ
ナ(1)、被測定アンテナ(1)に給電する送信機(2
)、被測定アンテナの電界全測定するプローブ(3)、
このプローブを駆動する装置(4)、受信機(5)と、
測定データを蓄積処理する装置(6)から成り立ってい
る。
近傍電界測定においては、特性の異なる2つのプローブ
を用いて、1個のグローブのみで、2次元平面上の各測
定点における近傍電界の振幅と位相を測定し、次に、こ
の測定を別の特性を有するプローブで行なう。
を用いて、1個のグローブのみで、2次元平面上の各測
定点における近傍電界の振幅と位相を測定し、次に、こ
の測定を別の特性を有するプローブで行なう。
一般には、被測定アンテナ(1)に対して、X偏波のみ
を測定するグローブ(3)で2次元平面上を走査し、各
測定点の振幅と位相を測定し、次に、上記プローブ(3
)を90’回転させて、2次元平面上を走査し、X偏波
のみを測定し、各測定点の振幅と位相を測定する。
を測定するグローブ(3)で2次元平面上を走査し、各
測定点の振幅と位相を測定し、次に、上記プローブ(3
)を90’回転させて、2次元平面上を走査し、X偏波
のみを測定し、各測定点の振幅と位相を測定する。
このXとy偏波で測定した値を基にして、前記処理装置
(6)で、フーリエ変換等の計算処理を行ない、被測定
アンテナ(1)の遠方放射ノくターンや利得等を求める
。
(6)で、フーリエ変換等の計算処理を行ない、被測定
アンテナ(1)の遠方放射ノくターンや利得等を求める
。
フーリエ変換を行なうためには、走査面が平面で、且つ
、2次元上を、矩形状にデータ収集を行なう必要がある
。
、2次元上を、矩形状にデータ収集を行なう必要がある
。
ところが、冥際のシステムでは、測定点に誤差が生じ、
かつ走を面と直交した方向にも、プローブ位置誤差が生
じる。
かつ走を面と直交した方向にも、プローブ位置誤差が生
じる。
光学系を用いた測定装置を用いると、第1図に示しだx
−y軸方向の位置は、正確に求められる。
−y軸方向の位置は、正確に求められる。
ところが、走査面と直交した方向の位置誤差を補正する
方法はなかった。
方法はなかった。
このプローブ位置誤差のために、被測定アンテナ(1)
の遠方界指向性上に誤差が発生し、グローブ゛の誤差量
や周波数によって、許容11ハ以上の誤差が生じ、これ
が問題であった。
の遠方界指向性上に誤差が発生し、グローブ゛の誤差量
や周波数によって、許容11ハ以上の誤差が生じ、これ
が問題であった。
また、計算によって補正する方法があるが、時間がかか
り過ぎるという問題がある。
り過ぎるという問題がある。
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、被測
定アンテナの近傍電界を測定するグローブに、走査面と
直交する方向に、グローブを駆動させる装置を設けるこ
とにより、2次元上の各測定点において、直交方向のプ
ローブ位置誤差を、上記装置で補正しながら、データ収
集を行ない、被jJll定アンテナの遠方界指向性上に
生ずる誤差をなくし、得られる指向性の精度の向上を図
った近傍電界測定装@を提供することを目的とする。
定アンテナの近傍電界を測定するグローブに、走査面と
直交する方向に、グローブを駆動させる装置を設けるこ
とにより、2次元上の各測定点において、直交方向のプ
ローブ位置誤差を、上記装置で補正しながら、データ収
集を行ない、被jJll定アンテナの遠方界指向性上に
生ずる誤差をなくし、得られる指向性の精度の向上を図
った近傍電界測定装@を提供することを目的とする。
本発明は、被測定アンテナの近傍電界を測定するグロー
ブ部に、プローブを走査面と迫交する方向に駆動する装
置と、走査面と直交する方向のプローブの位置を検出す
る装置を、2次元走査わく内走行部に固定し、走査面と
直交する方向のグローブの位置情報を用い、前記駆動装
置を制御する近傍電界測定装置である。
ブ部に、プローブを走査面と迫交する方向に駆動する装
置と、走査面と直交する方向のプローブの位置を検出す
る装置を、2次元走査わく内走行部に固定し、走査面と
直交する方向のグローブの位置情報を用い、前記駆動装
置を制御する近傍電界測定装置である。
本発明によれば、グローブ位渦′誤差による被7t’l
l定アンテナの遠方界指向性上に生ずる指向性誤差をな
くすことができる。よって、高精度な測定結果を要求さ
れる測定に対して、有効である。
l定アンテナの遠方界指向性上に生ずる指向性誤差をな
くすことができる。よって、高精度な測定結果を要求さ
れる測定に対して、有効である。
また、数時間υ上も要する計算処理によるグローブ位置
補正を行なう必要がなく疫るので、測定結果が早く得ら
れる効果もある。
補正を行なう必要がなく疫るので、測定結果が早く得ら
れる効果もある。
本発明の一実施例の構成を第2図に示す。
本発明は、送信機(io)、被測定アンアナ(11)。
受信機(12)、グローブ制御部(+3)、テータ蓄積
処理装慟(14)、プローブをx −y面上94動する
装置(1,5) 、 x −y抑−ヒのグローブ位置検
出部(16)、グローブ(17)、走査枠(is) 、
プロ′−プを2軸方向に駆動し、かつ、位置検出する装
置を、前記走査枠(18)に固定する装u1グローブの
2軸方向の位置を検出する装置(20) 、グローブを
Z軸方向に駆動する装置(21)で構成されている。
処理装慟(14)、プローブをx −y面上94動する
装置(1,5) 、 x −y抑−ヒのグローブ位置検
出部(16)、グローブ(17)、走査枠(is) 、
プロ′−プを2軸方向に駆動し、かつ、位置検出する装
置を、前記走査枠(18)に固定する装u1グローブの
2軸方向の位置を検出する装置(20) 、グローブを
Z軸方向に駆動する装置(21)で構成されている。
以下、具体例を示しながら説明する。
平面走査近傍′電界測定は、第2図に示すx −y面上
を走査し、x、y各方向の各サンプル間隔で定まる矩形
状の格子点でデータを収集する。
を走査し、x、y各方向の各サンプル間隔で定まる矩形
状の格子点でデータを収集する。
2次元上のサンプル点(x 、 y)は、レーザ精密光
学測定系を用いれば、高精度に決定される。
学測定系を用いれば、高精度に決定される。
ところが、Z軸方向の精度は、走査枠(18)の製作精
度で決定され、現在では数百μm位が限度である。これ
では、低サイドロープや、高周波数を用いたアンテナの
画定には不十分である。
度で決定され、現在では数百μm位が限度である。これ
では、低サイドロープや、高周波数を用いたアンテナの
画定には不十分である。
しかし、各サンフル点(x 、 y)におけるZ軸方向
のすれΔz(x、y)もレーザ精密光学測定系を用いれ
ば測定できる。
のすれΔz(x、y)もレーザ精密光学測定系を用いれ
ば測定できる。
更に、製作した平面定食測定装置を固定し、その位置を
動かさなければ、このZ軸方向のずれは、はとんど不変
である。
動かさなければ、このZ軸方向のずれは、はとんど不変
である。
そして、測定は、x、y2軸を同時に動かさない走査で
あるので、1度(x 、 y)対Δ2の関係を測定すれ
ば、1軸の走査方向に対し、先に取得したデータより多
項式近似で、精度よく走査面を表わせる。
あるので、1度(x 、 y)対Δ2の関係を測定すれ
ば、1軸の走査方向に対し、先に取得したデータより多
項式近似で、精度よく走査面を表わせる。
以上より、<x 、 y>平面走査時に、上式の多環式
近似で求められる32分だけ、プローブを動かせば、Δ
z = Qとなる(X 、 y)平面を走査するととに
なる。
近似で求められる32分だけ、プローブを動かせば、Δ
z = Qとなる(X 、 y)平面を走査するととに
なる。
この方式を用いれば、精度よく測定が行なえ、かつ、時
間のかかる処理時における計算機による補正が不蜀にな
る。
間のかかる処理時における計算機による補正が不蜀にな
る。
そのΔ2位置誤差補正法は、第3図に示す装置で実現で
きる。
きる。
この装Fiは、ブo−フ(30)、 フc+−7’90
ji回転機構(31,)、同輔導波管袈換器(32)
、モータ(33)。
ji回転機構(31,)、同輔導波管袈換器(32)
、モータ(33)。
ボールネジ(34) 、リニアスケール(35) 、
Z M方向駆動部の固定装置(36) 、 (37)で
朴;成きれている。
Z M方向駆動部の固定装置(36) 、 (37)で
朴;成きれている。
ここでは、x4111方向全ステップ走査、y軸方向を
連続走査とする。丑ず、ボールネジ(Is−a)をX方
向のザンプル間隔ΔXだけ走行させ停止させる。
連続走査とする。丑ず、ボールネジ(Is−a)をX方
向のザンプル間隔ΔXだけ走行させ停止させる。
次に、X軸方向へのプローブ駆動部を、ボールネジ(1
8−a)に取や付ける装f@−(36) 、 (37)
をy軸方向に連続走行でせる。
8−a)に取や付ける装f@−(36) 、 (37)
をy軸方向に連続走行でせる。
このとき、y軸方向の位置検出回路(16)で、位置検
出する。それと同時に、装置(35)で2軸方向のプロ
ーブ位置信号を検出しこのプローブ位置(x 、 y)
に対し、装置(13)で、X軸方向に対し、先に述べた
多項式近似によって前もって定まるゼ゛Δz (X、y
)をモータ(33)で、グローブ(30)e駆動し、プ
ローブ位置補正する。
出する。それと同時に、装置(35)で2軸方向のプロ
ーブ位置信号を検出しこのプローブ位置(x 、 y)
に対し、装置(13)で、X軸方向に対し、先に述べた
多項式近似によって前もって定まるゼ゛Δz (X、y
)をモータ(33)で、グローブ(30)e駆動し、プ
ローブ位置補正する。
この補正を行ないながら、装置(13)で、y軸方向の
各サンプル点の近傍電界値データを収集する。
各サンプル点の近傍電界値データを収集する。
さらに、ΔXだけボールネジ(18a)をX軸方向に動
かし、先に述べた操作を繰り返し、2次元の全データを
収集する。そして、データを装置(14)に蓄積する。
かし、先に述べた操作を繰り返し、2次元の全データを
収集する。そして、データを装置(14)に蓄積する。
X軸方向のプローブ位置誤差は、数百μm位である。
位置検出器(35)のリニアスケールの位置精度は一般
に10μm以下である。まだ、モータ(33)を用いて
数十μmの精度でグローブを設定できる。
に10μm以下である。まだ、モータ(33)を用いて
数十μmの精度でグローブを設定できる。
精度よく、X軸方向のグローブ位置が補正される。
以上より、本発明を用いれば、X軸方向にグローブ位置
誤差のない近傍電界測定が行なえるので、高精度に被測
定アンテナの遠方界特性が求まる。
誤差のない近傍電界測定が行なえるので、高精度に被測
定アンテナの遠方界特性が求まる。
第1図は、従来の近傍電界測定装置の説明回、第2図は
、本発明一実施例の銅酸−1第3図は、ブロー7位僧、
I+i正部の斜視図である。 1・・・被測定アンテナ、2・・・送イ1機、3・・・
グローブ、4・・・グローブ駆動装置、5・・・受信機
、6・・・テータ@積処理装置、10・・・送信機、1
1・・・被測定アンテナ、12・・・受信機、13・・
・x+ y+ Z方向のプローブ制御部(CPU)、]
−4・・・テータ蓄租処理装置、15・・・x、y方向
駆動部、16・・・x、y方向位置検出部、17・・・
グローブ、18・・・走査枠、19・・・X軸方向駆動
部の1シ」足部、20・・・Z方向位置検出部、21・
・・2方向プローブ、駆動部、30・・・グローブ、:
31・・・グローブ90度回転(勿栴、32・・・同軸
碑波管変換器、33・・・モータ、34・・・ボールネ
ジ、35・・・リニアスケール、36 、37・・・z
1mm方向励動の固定部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)第
1 図 第2図 第 3 図
、本発明一実施例の銅酸−1第3図は、ブロー7位僧、
I+i正部の斜視図である。 1・・・被測定アンテナ、2・・・送イ1機、3・・・
グローブ、4・・・グローブ駆動装置、5・・・受信機
、6・・・テータ@積処理装置、10・・・送信機、1
1・・・被測定アンテナ、12・・・受信機、13・・
・x+ y+ Z方向のプローブ制御部(CPU)、]
−4・・・テータ蓄租処理装置、15・・・x、y方向
駆動部、16・・・x、y方向位置検出部、17・・・
グローブ、18・・・走査枠、19・・・X軸方向駆動
部の1シ」足部、20・・・Z方向位置検出部、21・
・・2方向プローブ、駆動部、30・・・グローブ、:
31・・・グローブ90度回転(勿栴、32・・・同軸
碑波管変換器、33・・・モータ、34・・・ボールネ
ジ、35・・・リニアスケール、36 、37・・・z
1mm方向励動の固定部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名)第
1 図 第2図 第 3 図
Claims (1)
- 被測定アンテナと、この被測定アンテナに紛物゛する送
信機と、被測定アンテナの近傍租界を測定するグローブ
と、このプローブを駆動する装置と、前記プローブの位
置を検出する装置と、前記グローブの位置情報を用いて
、グローブ受信信号を取得する装置と、前記受信信号情
報とプローブ位置情報等を蓄える装置とから成る平面走
査近傍′1lJI!Jf−測足において、プローブを走
査面と直交する方向に駆動する装置と、走査面と直交す
る方向のグローブの位置を検出する装置を新たに具備し
、その前記装置を2次元走査枠内走行部に固定し、走査
面と直交する方向のプローブの位置情報を用い、前記駆
動装置を制御することを特徴とする近傍電界測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5375283A JPS59180374A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 近傍電界測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5375283A JPS59180374A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 近傍電界測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59180374A true JPS59180374A (ja) | 1984-10-13 |
Family
ID=12951539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5375283A Pending JPS59180374A (ja) | 1983-03-31 | 1983-03-31 | 近傍電界測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59180374A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6292478U (ja) * | 1985-11-30 | 1987-06-12 | ||
JP2014002065A (ja) * | 2012-06-19 | 2014-01-09 | National Institute Of Information & Communication Technology | ニアフィールド測定装置 |
CN113109636A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-07-13 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种单芯片三维电场传感器 |
-
1983
- 1983-03-31 JP JP5375283A patent/JPS59180374A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6292478U (ja) * | 1985-11-30 | 1987-06-12 | ||
JP2014002065A (ja) * | 2012-06-19 | 2014-01-09 | National Institute Of Information & Communication Technology | ニアフィールド測定装置 |
CN113109636A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-07-13 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种单芯片三维电场传感器 |
CN113109636B (zh) * | 2021-03-29 | 2022-06-17 | 中国科学院空天信息创新研究院 | 一种单芯片三维电场传感器 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5119105A (en) | M&A for performing near field measurements on a dish antenna and for utilizing said measurements to realign dish panels | |
US9335359B2 (en) | Far electromagnetic field estimation method and apparatus, and near electromagnetic field measurement apparatus | |
JP2737661B2 (ja) | Sar測定方法およびsar測定装置 | |
CN106405256B (zh) | 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法 | |
US5419631A (en) | Three-axis motion tracking interferometer for measurement and correction of positional errors between an article under test and a measurement probe | |
US6249248B1 (en) | Radio wave visualizing method and apparatus | |
CN113834995A (zh) | 低频和高频同时检测电磁干扰的测试*** | |
JPS59180374A (ja) | 近傍電界測定装置 | |
CN112557768A (zh) | 片上天线测试***及测试方法 | |
JP4578603B2 (ja) | アンテナ測定装置及びアンテナ測定方法 | |
CN115524541B (zh) | 基于准远场模式滤波的任意极化线天线阵方向图测量方法 | |
CN116087856A (zh) | 芯片天线测量校准装置及远场测量方法 | |
CN112578327B (zh) | 球面扫描测试***的校准方法、设备及存储介质 | |
JPH08211117A (ja) | アンテナ放射パターン測定方法 | |
CN113567916B (zh) | 一种相关干涉仪测向方法、***、设备及存储介质 | |
KR20050113772A (ko) | 위상배열안테나 측정 시스템 및 그 방법 | |
CN112557769B (zh) | 片上天线测试***及测试方法 | |
JP3672239B2 (ja) | レーダ断面積の測定方法およびその測定装置およびその制御プログラムを記録した記憶媒体 | |
JPS59180375A (ja) | 近傍電界測定装置 | |
JPS60170769A (ja) | 近傍電界測定装置 | |
JP4279406B2 (ja) | 反射鏡アンテナ位相分布測定方法および装置 | |
JPH11281591A (ja) | 誘電体材料製品の内部品質評価装置および評価方法 | |
JPS60256071A (ja) | 近傍電界測定装置 | |
CN116359835B (zh) | 一种y型基线干涉仪测向装置及测向方法 | |
JPH06242163A (ja) | アンテナ測定装置 |