JPS5917625A - シングルチツプマイクロコンピユ−タ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は中央処理装置、プログラムメモリ、データメモ
リ、各種周辺装置全１チツプに格納したシングルチップ
マイクロコンピュータに関する。

従来、シングルチップマイクロコンピュータには中央処
理装置（以下ＣＰＵと記す）、プログラムメモリ、デー
タメモリ、各種周辺装置（以下工１０装置と記す）全１
チツプに内蔵しておシ、このヨウなシングルチップマイ
クロコンピュータノテストには汎用ＬＳＩテスタや専用
のテスト装置が使用されている。これらのＬＳＩテスタ
やテスト装置による従来のテストでは、テストの対象に
なるマイクロコンピュータにテストプログラムを実行さ
せ、たとえばマイクロコンピュータが内蔵する各種装置
のうちデータメモリのテストにはデータメモリテスト用
プログラムヲ、マた。　　Ｉ１０装置のテストには工１
０装置テスト用のプログラムを実行させ、そのテストプ
ログラムの実行状態や、対象になる装置の動作状態２Ｌ
ＳＩテスタやテスト装置が監視して良否の判定全行なっ
ている。

通常、マイクロコンピータが内蔵するＩ１０装置は汎用
性を目的に、様々な機能金偏えている。

したがってテストの時には、それが持つすべての機能に
対してテストを行なわなければならない。

たとえば、Ｉ１０％置として汎用カウンタ金側に取ると
、それが持つパルス幅測定機能、周波数測定機能、矩形
波出力機能などの各機能に対してテストが行なう必要が
ある。Ｉ１０装置が持つ諸機能は、付随する機能設定用
レジスタ（以下モードレジスタと記す）内に格納するデ
ータ（以下モードデータと記す）で設定される。

第１図は従来のシングルテップマイクロコンビーータの
テスト方法を説明するためのブロック図である。

テスト装置１００がマイクロコンピュータ１０１内のＩ
１０装置１１０３　をテストする場合、テスト装置１０
０はモードデータやテストに必要なその他のデータ＠　
Ｉ　／　Ｏ装置１０３内のモードレジスタなどのレジス
タに設定しなければならない。しかし、従来の方法では
、テスＨ装置１００がら、Ｉ１０装置１０３内にデータ
を直接設定できないので、マイクロコンピュータ１０１
のＣＰＵ１０２がテスト装置１００からモードデータな
どのデータを入力端子１０４　”ｉｋ介して受取り、そ
のデータ２０ＰＵｉ０２の制御で■１０装置１０３内に
設定するという手順でデータ設定全行なっていた。

また、Ｉ１０装置１０３として、Ａ／Ｄコンバータなど
の計測装置のテストにおいては、測定値全テスト装置１
００に転送する為に、マイクロコンピュータ１０１が持
つ出力端子１０５　を特別にデータ転送用に割り当てな
ければならなかった。っまシ、マイクロコンピュータ１
０１は、テスト装置１００との間でデータのやシと多用
として、特別に端子全割当て、さらに、この端子を制御
するプログラムや受取ったデータを所定レジスタに設定
するプログラムや、テスト装置１００にデータを転送す
る為に所定レジスタからデータを読み出すプログラムを
必らず用意しなければならなかった。

従って、単にＩ１０装置１０３のテストにもかかわらず
、テストの対象でないＣＰＵ１０２や入力端子１０４を
用いてテスト装置とのデータ転送プログラム及びＩ１０
装置との転送プログラムを実行させねばならない。この
為、マイクロコンピュータのテストでは、これらの制御
プログラム全作成するのに多大の時間を要するばかシで
なく、テスト時間の大部分が入力端子１０４の制御によ
るＩ１０装置１０３とテスト装置１００との間のデータ
の授受に費され、テスト時間全増大させる大きな原因に
なっていた。ｔｆｃ、チップの内部状態を端子からの出
力状態で判定するほかに方法がなく、さらに端子数に制
御があるマイクロコンビー−夕にとっては、特定端子を
モードデータの受取多用や、測定データの転送用に特別
に割シ当てる事はテスト効率の大幅な低下の原因になっ
ている。

さらに、データの授受用の制御プログラムを含むテスト
プログラムは、テストの対象になっているマイクロコン
ビエータ固有の機械語で書かれているので、他のマイク
ロコンビエータとの互換性がすく、他のマイクロコンビ
エータのテスト時には。

新うしくそのマイクロコンビエータ固有の機械語で制御
プログラムを作成しなければならず、非常に膨大な時間
と労力を必要としていた。すなわち。

５− 従来のシングルチップマイクロコンピュータのテストで
は、（１）端子数に制限があるにもかかわらず特定端子
をテスト装置とのデータ授受用に割シ当てなければなら
ないこと、（２）上記の端子の制御プログラムが必要と
なシ、テストプログラムを複雑かつ、大きなものにして
いること、（３）テスト時間の中で上述の端子制御に多
くの時間を費やし、テスト時間を増大させていること、
（４）テストプログラムが異なるマイクロコンピュータ
の機種間で互換性がなく別のマイクロコンピュータのテ
ストではヶ別のテストプログラムを作成しなければなら
ないことなどの欠点があった。

本発明の目的は上記欠点を除去し、特定端子全設定しな
くても他の装置とのデータの授受が可能で端子制御プロ
グラムも必要とせず、極めて短時間でテストが可能でテ
スト効率の高いシングルチップマイクロコンビエータを
提供することにおる。

本発明は、中央処理装置とメモリと周辺装置を有するシ
ングルチップマイクロコンピュータにおいて、前記中央
処理装置が他の装置のアドレスｔ指定し、前記中央処理
装置と前記他の装置との間でデータの転送を行なう手段
と、他の情報処理装置から前記メモりと、前記周辺装置
のアドレスを指定し、前記他の情報処理装置で指定され
た前記メモリまたは前記周辺装置と前記他の情報処理装
置との間でデータの転送を行なう手段とを備えたこと全
特徴とする。

次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。

第２図は本発明の一実施例のブロック図である。

マイクロコンピュータ２００は、双方向リードライト（
読出書込み）制御回路２０２．双方向ア）”Ｌ／スバッ
ファ２０３．プログラム全格納するプログラムメモ１Ｊ
２０４．演算データを格納するデータメモリ２０５１　
双方向データバスバッファ２０６゜中央処理装置（ＣＰ
［Ｊ）２０７．Ｉ１０装置２０９゜内部アドレスａ、内
部データバスｂ２含んで構成される。

双方向リードライト制御回路２０２は、テスト端子２１
００入力状態に応じてＣＰＵ２０７から出力されるリー
ド信号とライト信号またはリード信号端子２１１とライ
ト信号端子２１２から入力するリード信号とライト信号
を切シ換えて、プログラムメモリ２０４とデータメモリ
２０５　とＩ１０装置２０９に供給する。

テスト端子２１０にインアクティブノベルが入力されて
いる時は、マイクロコンピユーＪ　２００は通常の動作
状態にある。すなわち、双方向ＩＪ−ドライド制御回路
２０２は、ＣＰＵ２０７から出力される。リード信号と
ライト信号を、プログラムメモリ２０４とデータメモリ
２０５と工１０装置２０９に供給する。ＣＰＵ２０７は
プログラムメモリ２０４に格納されたプログラムメモリ
ヲ遂次実行し、必要に応じてデータメモリ２０５や、ｌ
１０Ｈ置２０９に対するアドレス信号を、内部アドレス
バスａ上に出力し、リード信号、ライト信号を制御し、
内部データバスａを介して指定された装置との間でデー
タの転送全行なう。

シングルチップマイクロコンピュータ２００が外部に接
続されたプログラムメモリやデータメモリをアクセスす
る時は、双方向リードライト制御回路２０２の制御で内
部アドレスバスａ上のアドレス信号を外部アドレスバス
２１３上に出力する。

同時に、双方向リードライト制御回路２０２はＣＰＵ２
０７のリードサイクルとライトサイクルに応じてＣＰＵ
２０７から出力されたリード信号とライト信号をリード
信号端子２１１とライト信号端子２１２から外部に出力
する。双方向データバスバッファ２０６は、双方向リー
ドライト制御回路２０２の制御でＣＰＵ２０７のリード
サイクルとライトサイクルに応じて、外部データバス２
１４上のデータを内部データバスｂに入力したり、内部
データバスｂのデータを外部データバス２１４に出力す
る。

テスト端子２１０にアクティブレベルを入力すると、Ｃ
ＰＵ２０７は停止状態になるとともに双方向アト７スバ
スバツフア２０３は入力状態となｎ、外ｓアドレスバス
２１３上のアドレス信号を内部アドレスバスａ上に供給
する。双方向リードライト制御回路２０２は、リード信
号端子２１１９− とライト信号端子２１２から入力するリード信号とライ
ト信号を、プログラムメモリ２０４とデータメモリ２０
５とＩ１０装置２０９に供給する。

双方向データバスバッファ２０６は双方向リードライト
制御回路２０２の制御で、リード信号が入力した時には
内部データバスｂ上のデータ全外部データバス２１４上
に出力し、ライト信号が入力した時には、外部データバ
ス２１４上のデータを内部データバスｂに入力する。

マイクロコンピュータ２００　のテスト時には、テスト
端子２１０にアクティブレベルを入力するとともにテス
ト装置１００からリード信号とライト信号ヲリード信号
端子２１１　とライト信号端子２１２にそれぞれ供給し
、アドレス信号を双方向アドレスバスバッファ２０３　
’に介して内部アドレスバスａに供給する、テスト装置
１００からデータ金データメモリ２０５や工１０装置２
０９に書込む時には、テス）［置１００から上記のデー
タメモリ２０５やＩ１０装置２０９のアドレス信号を双
方向アドレスバスバッファ２０３を介して内−１〇− 部アドレスバスａに供給し、書き込みデータを双方向デ
ータバスバッファ２０６上に供給し、ライト信号をライ
ト信号端子２１２から双方向リードライト制御回路２０
２に供給することにより指定された装置への書込みが行
なわれる。

テスト装置１００からデータメモ１Ｊ２０５．　　プロ
グラムメモリ２０４．Ｉ１０装置２０９からデータを読
出す時には、テスト装置１００から上記装置のアドレス
信号ｔ″、双方向アドレスバスバッファ２０３を介して
内部アドレスバスａに供給し、リード信号全リード信号
端子２１１から双方向リードライト制御回路２０２に供
給する。このリード信号に同期してアドレス信号で指定
された装置からデータが内部データバスｂ上に出力され
、双方向データバスバッファ２０６を介して外部データ
バス２１４上に出力される。テスト装置１００はリード
信号に同期して、そのデータを取り込む。

例えば、ｌ１０ｆｉ置２０９をテストする時には。

テスト装置１００からＩ１０装置２０９のアドレス信号
とモードデータを、双方向アドレスバスバッファ２０３
と双方向データバスバッファ２０６に入力し、ライト信
号をライト信号端子２１２に入力することにより、ｌ１
０ｉ置２０９内にモードデータ全直接設定でき、Ｉ１０
装置２０９が計測装置の場合には、テスト装置１．００
からＩ１０装置２０９のアドレス信号を双方向アドレス
バスバッファ２０３に入力し、リード信号をリード信号
端子２１１に入力することによ１）Ｉ１０装置２０９か
ら測定データ全直接端子に出方できる。

以上詳細に説明したように１本発明によるシングルチッ
プマイクロコンピュータは、テスト装置とマイクロコン
ピュータのアト１／スバス端子、データバス端子及びリ
ード信号端子、ライト信号端子を接続することにより、
マイクロコンピータが内蔵するプログラムメモリ、デー
タメモリ、工１０装置との間で直接データのやシと）を
することができる。従って、（１）特定端子をデータ授
受用に特別に設定する必要がなくなった、（２）端子制
御用プログラムやデータ設定用のプログラムが一切。

不要になった。（３）評価装置からモードデータの設定
や、測定データの引き取シが非常に簡単に、しかも短時
間で完了するのでテスト時間が大幅に短縮される、（４
）データ授受用端子の制御プログラムなどマイクロコン
ピュータ自体が実行しなければならないプログラムが不
要となるので、異なるマイクロコンピュータの機種間の
互換性の問題が解決される。（５）前記（４）に原因し
て機種毎のテストプログラム作成に費やしていた時間が
不要になシ、プログラム作成上製していた時間と労力が
大幅に削減できる夕等の効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のシングルチップマイクロコンピュータの
テスト方法全説明するためのブロック図、第２図は本発
明の一実施例のブロック図である。 １００・・・・・・テスト装置、１０１・・・・・・マ
イクロコンピュータ、１０２・・・・・・ＣＰＵ、１０
３・・・・・・■１０装置、１０４・・・・・・入力端
子、１０５・・・・・・出力端子、２００−＝−・マイ
クロコンピュータ、２０２・・・・・・双方向リードラ
イト制御回路、２０３・・・・・・双方１３− 向アドレスバスバッファ、２０４・・・・・・プロクラ
ムメモリ、２０５・・・・・・データメモリハ　２０６
・川・・双方向データバスバッファ、２ｏ７・・団・Ｃ
ＰＵ。 ２０９・・・・・・Ｉ１０装置、２１ｏ・・・・・・テ
スト端子、２１１　・・団・リード信号端子、２１２・
旧・・ライト信号端子、２１３・・・・・・外部アドレ
スバス、２１４・・・・・・外部データバス、ａ・・・
・・・内部アドレスバス、ｂ・・・・・・内部データバ
ス。 １４−

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 中央処理装置とメモリと、周辺装置を有するシングルチ
   ップマイクロコンピュータにおいて、前記中央処理装置
   が他の装置のアドレス金指定し。 前記中央処理装置と前記他の装置との間でデータの転送
   を行なう手段と、他の情報処理装置から前記メモリと前
   記周辺装置のアドレスを指定し、前記他の情報処理装置
   で指定された前記メモリまたは前記周辺装置と前記他の
   情報処理装置との間でデータの転送を行なう手段とを備
   えたことｆ：特徴とするシングルチップマイクロコンピ
   ュータ。