JPS59163545A - Inspecting device for external appearance of capsule - Google Patents
Inspecting device for external appearance of capsuleInfo
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- JPS59163545A JPS59163545A JP3751183A JP3751183A JPS59163545A JP S59163545 A JPS59163545 A JP S59163545A JP 3751183 A JP3751183 A JP 3751183A JP 3751183 A JP3751183 A JP 3751183A JP S59163545 A JPS59163545 A JP S59163545A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、例えば医薬用カプセルの如き、カプセル表面
の外観検査装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of the Invention] The present invention relates to an apparatus for inspecting the appearance of a capsule surface, such as a pharmaceutical capsule.
医薬用カプセルの表面には、その製造時に微細な傷を生
じることがあるが、かかる傷のあるカプセルは不良品と
して排除されなければならない。Minute scratches may occur on the surface of pharmaceutical capsules during manufacture, and capsules with such scratches must be rejected as defective products.
傷の種類としては、０．１φ〜２φ程度のピンホールや
穴になる寸前の薄肉状態の部分（以下、スインスポット
という）など、数多くの種類がある。従来この種の傷は
、人聞による目視検査で発見されているが、近年は自動
外観検査装置による傷検査も提案されている。There are many types of scratches, such as pinholes of about 0.1φ to 2φ and thin parts on the verge of becoming holes (hereinafter referred to as swing spots). Conventionally, this type of flaw has been discovered through visual inspection by humans, but in recent years, flaw inspection using an automatic visual inspection device has also been proposed.
かかる外観検査装置に用いられる光学的検査器（センサ
）の一つとして、特開昭５６−５７９３９号公報に記載
の如きものがすでに提案されている。As one of the optical inspection devices (sensors) used in such an appearance inspection device, the one described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-57939 has already been proposed.
この提案例による検査器を仮に拡散反射形検査器と呼ぶ
ことにする。The tester according to this proposed example will be temporarily referred to as a diffuse reflection tester.
第１図はかかる拡散反射形検査器の構成説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of the configuration of such a diffuse reflection type inspection device.
同図において、光学的検査器は照明用のランプ３とこの
ランプ３からの光をカプセル１の表面の一部分に強いス
ポット光として照射する集光レンズ４からなる照明系お
よび拡大レンズ５を介してカプセル表面の特定された面
積、例えば直径０．５ｍｍの特定部分からの反射光のみ
が光センサ６に入射するように構成した光センサ系とか
らなる。光センサ６としてはホトダイオードなどが用い
られる。In the figure, the optical inspection device uses an illumination system consisting of a lamp 3 for illumination, a condensing lens 4 that irradiates light from the lamp 3 as a strong spot light onto a part of the surface of the capsule 1, and a magnifying lens 5. It consists of an optical sensor system configured so that only reflected light from a specified area of the capsule surface, for example, a specific part with a diameter of 0.5 mm, enters the optical sensor 6. As the optical sensor 6, a photodiode or the like is used.
なお、２は搬送ドラムであり、７は回転ローラであって
カプセル１を自転させるためのものである。Note that 2 is a conveyance drum, and 7 is a rotating roller for rotating the capsule 1.
かかる検査器を用いて自転する不透明カプセルを光スポ
ットによりらせん状に走査したときに得られる検査器出
力波形を第２図（ａ）に示す。不透明カプセルでなく、
透明カプセルを同じくらせん状に走査したときに得られ
る検査器出力波形を＠２図（ｂ）に示す。FIG. 2(a) shows the output waveform of the tester obtained when a rotating opaque capsule is scanned in a spiral manner with a light spot using such a tester. Not an opaque capsule,
Figure 2 (b) shows the output waveform of the tester obtained when the transparent capsule is similarly scanned in a spiral manner.
これらの図において、１０１は不透明カプセルの本体、
１０３は同キャップ部からの反射光に対応し、１０５は
同カプセル表面の小孔（傷）からの反射光に対応してい
る。また１０７は透明カプセルの本体、１０９は同キャ
ップ部、１１１は同カプセル表面の小孔からの透過光し
こそれぞれ対応している。In these figures, 101 is the body of the opaque capsule;
Reference numeral 103 corresponds to the light reflected from the cap, and reference numeral 105 corresponds to the light reflected from the small holes (scratches) on the surface of the capsule. Further, 107 corresponds to the main body of the transparent capsule, 109 corresponds to the cap portion thereof, and 111 corresponds to the light transmitted through the small holes on the surface of the capsule.
第２図（ａ）と（ｂ）を比較してみた場合、次のことが
云える。すなわち、透明カプセルを走査して得られる出
力波形（ｂ）は、不透明カプセルのそれ（ａ）に比し、
直流成分が低く、傷部（小孔）に対応した出力波形も、
１０５と１１１に見られる如く、一方を立下る負極性と
すれば、他方は立上る正極性となっており、極性が反対
である。When comparing FIGS. 2(a) and (b), the following can be said. That is, the output waveform (b) obtained by scanning the transparent capsule is compared to that of the opaque capsule (a),
The DC component is low, and the output waveform corresponds to scratches (small holes).
As seen in 105 and 111, if one has a falling negative polarity, the other has a rising positive polarity, so the polarities are opposite.
これは透明カプセルと不透明カプセルでは、反射のメカ
ニズムが異なるからである。すなわち、不透明カプセル
には酸化チタンという不透明な物質が多方向に混入して
いるので照射された光量の一部はカプセル表面から検査
器の光軸方向に向けて多量に反射される。一方、透明カ
プセルには酸化チタンが含まれていないので、カプセル
表面から検査器の光軸方向に向けて反射される先負は少
ない。不透明カプセルにスクレープホールなどの***が
おいている場合は、その部分に関し反射面がなくなるの
で反射光量はなくなる。透明カプセルに穴がある場合は
、その穴としての反射面の有無に関係なく反射光量は低
いが、穴の周縁部の一部に、検査器の光軸と照明光軸の
中間に法線の位置する反射面があると、照明光の一部が
該反射面から反射され検査器の光軸方向に反射される。This is because the reflection mechanisms are different between transparent capsules and opaque capsules. That is, since the opaque capsule contains an opaque substance called titanium oxide in many directions, a large amount of the irradiated light is reflected from the capsule surface toward the optical axis direction of the inspection device. On the other hand, since the transparent capsule does not contain titanium oxide, there is little reflected light from the capsule surface toward the optical axis of the inspection device. If the opaque capsule has a small hole such as a scrape hole, there will be no reflective surface in that area, so the amount of reflected light will disappear. If there is a hole in the transparent capsule, the amount of reflected light is low regardless of the presence or absence of a reflective surface as a hole, but there is a part of the periphery of the hole with a normal between the optical axis of the inspection device and the optical axis of the illumination. If there is a reflective surface located, a portion of the illumination light is reflected from the reflective surface and reflected in the optical axis direction of the inspection device.
以上述べたように、従来公知の拡散反射形検査器では、
検査対象とするカプセルが不透明カプセルであるか、透
明カプセルであるかにより、検査出力波形が相違し、従
ってその後の傷の有無判定のための信号処理回路も異な
ったものになる。As mentioned above, in the conventionally known diffuse reflection type inspection device,
Depending on whether the capsule to be inspected is an opaque capsule or a transparent capsule, the inspection output waveform differs, and therefore the signal processing circuit for subsequent determination of the presence or absence of flaws also differs.
他方、検査対象としてのカプセルが不運［すｌカプセル
であっても透明カプセルであっても、検査出力波形が同
様な出力波形となり、その後の信号処理の容易な光学的
検査器もすでに提案（特願昭５７−１５８１７８号参照
）されている。かかる検査器を仮に同軸反射形検査器と
呼ぶことにする。On the other hand, an optical inspection device has already been proposed (specially (See Application No. 57-158178). Such an inspection device will be temporarily called a coaxial reflection type inspection device.
第３図はかかる同軸反射形検査器の構成説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of the configuration of such a coaxial reflection type inspection device.
同図において、光源１３から放射された光はコンデンサ
レンズ８で集光された後、ノ１−７ミラー９で光路を４
５°曲げられ、レンズ１０を介してカプセ／Ｉ／１に照
射される０力プセル表面で反射された光はレンズ１０、
ハーフミラ−９、アノく一チャ１１を介してホトダイオ
ード１２に入射する。ホトダイオード１２で入射光量は
光電変換され、その出力は傷の有無判定のための信号処
理回路に導かれることになる。In the figure, light emitted from a light source 13 is condensed by a condenser lens 8, and then divided into four optical paths by a mirror 9.
The light reflected by the zero force capsule surface is bent by 5 degrees and is irradiated to the capsule/I/1 through the lens 10.
The light enters the photodiode 12 via the half mirror 9 and the anode 11. The amount of incident light is photoelectrically converted by the photodiode 12, and its output is led to a signal processing circuit for determining the presence or absence of scratches.
このように、同軸反射形検査器では、照明光の光軸と検
査器の光軸が同軸になっておりこのため、照射された光
量はカプセル表面から正反射される。In this way, in the coaxial reflection type inspection device, the optical axis of the illumination light and the optical axis of the inspection device are coaxial, and therefore, the amount of irradiated light is specularly reflected from the capsule surface.
従って、その反射光量は反射面が透明であると不透明で
あるとにかかわらずほぼ一定であり、従って検査出力波
形もは丈同じになるわけである。Therefore, the amount of reflected light is approximately constant regardless of whether the reflective surface is transparent or opaque, and therefore the test output waveform has the same length.
ここで、前述した従来の拡散反射形検査器と同軸反射形
検査器の機能を整理して示すと、次の表に示す如くなる
。Here, the functions of the conventional diffuse reflection type tester and coaxial reflection type tester described above are summarized and shown in the following table.
表
ここで、○印は良好であることを、Δ印は余り良好とは
云えないが何とか可能であることを、Ｘ印は不適である
ことを、それぞれ示す。In the table, the mark ◯ indicates that the test is good, the mark ∆ indicates that the test is not very good but it is possible, and the mark X indicates that the test is unsuitable.
上の表から分かるとおり、カプセル検査の項目によって
は、拡散反射形が適し、また他の項目では同軸反射形が
適している。つまり拡散反射形と同軸反射形の両検査器
は、カプセル検査の機能に関して相補的な関係にあると
云える。As can be seen from the table above, the diffuse reflection type is suitable for some capsule inspection items, and the coaxial reflection type is suitable for other items. In other words, both the diffuse reflection type and coaxial reflection type inspection devices can be said to have a complementary relationship in terms of capsule inspection functions.
そこで萬能的なカプセル検査器として、拡散反射形と同
軸反射形を併用したもの（以下、併用形検査器と云う）
が考えられる。Therefore, as a versatile capsule inspection device, we have developed a device that combines a diffuse reflection type and a coaxial reflection type (hereinafter referred to as a combination type inspection device).
is possible.
第４図は、かかる単純な併用形検査器の構成説明図であ
り、第４Ａ図は第４図における要部の断面図、である。FIG. 4 is an explanatory diagram of the configuration of such a simple combination type inspection device, and FIG. 4A is a sectional view of the main part in FIG. 4.
これらの図において、１６は拡散反射形検査器、１７は
同軸反射形検査器、１８゜１８ はそれぞれスピンロー
ラ、１はカプセルである。In these figures, 16 is a diffuse reflection type inspection device, 17 is a coaxial reflection type inspection device, 18° and 18 are spin rollers, and 1 is a capsule.
第４図においては、自転しながら搬送されているカプセ
ル１の外観を光スポットにより走査して検査するという
ヘリカルスキャン方式の検査を採用している。カプセル
１を回転させるために１対のローラ１８，１８を用いて
おり、該ローラの長さは最小でも、カプセル１の長さＬ
ｃの２倍と２個の検査器１６．１７の配列ピッチＬｐと
の和だけ必要となる。すなわちローラ長さが必然的に長
くなるＯ
以上のような次第で、併用形検査器の欠点としては次の
事項が挙げられる。In FIG. 4, a helical scan method of inspection is employed in which the appearance of the capsule 1 being transported while rotating is scanned and inspected using a light spot. A pair of rollers 18, 18 is used to rotate the capsule 1, and the length of the rollers is at least the length L of the capsule 1.
The sum of twice c and the arrangement pitch Lp of the two testers 16 and 17 is required. In other words, the length of the roller inevitably increases O.In light of the above, the following are drawbacks of the combination type inspection device.
（１）カプセルを自転させるためのローラの形状が細長
くなり、該ローラを高速回転させたときに回転振動を生
じ易い。(1) The shape of the roller for rotating the capsule becomes elongated, and rotational vibration is likely to occur when the roller is rotated at high speed.
（２）２個の別個の検査器を必要とし複雑な構成となる
。(2) Two separate testers are required, resulting in a complicated configuration.
（３）単位時間当りのカプセルの検査処理数を高くする
には、検査器を設置する検査列の数を多列にすることが
有効であるが、１列で２個の検査器を使用するものとす
ると、多列では数多くの検査器を用いることになり、全
体として組立、調整も複雑になる。(3) In order to increase the number of capsule inspections per unit time, it is effective to install multiple inspection lines with inspection instruments, but it is recommended to use two inspection instruments per line. If this is the case, a large number of inspection devices will be used in multiple rows, and the assembly and adjustment will become complicated as a whole.
本発明は、上述のような従来の技術的事情にかんがみな
されたものであり、従って本発明の目的は、拡散反射形
検査器と同軸反射形検査器を一体化し、カプセルを自転
駆動するためのローラの長さを長くすることを要せず、
構成の簡素化を可能にした萬能形のカプセル外観検査装
置を提供することにある。The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional technical circumstances, and therefore, an object of the present invention is to integrate a diffuse reflection type inspection device and a coaxial reflection type inspection device, and to provide a system for rotating a capsule. No need to increase the length of the roller,
It is an object of the present invention to provide a capsule external appearance inspection device of multifunction type that enables a simplified configuration.
上記目的を達成するため、本発明によるカプセル外観検
査装置は、軸を中心として回転しながら軸方向に搬送さ
れるカプセルの表面に対し、カプセル軸を含む平面上で
かつカプセル軸と垂直な方向から照明する第１の照明手
段と、前記カプセル軸に対し所定角度をなす少なくも２
方向から照明する第２の照明手段と、前記第１および第
２の各照明手段へそれぞれ光を導く第１および第２の各
導光路と、共通のまたはそれぞれの光源から前記第１お
よび第２の各導光路へ交互に光を導く第１の切換手段と
、前記カプセル表面からの反射光を入力とする共通の光
電変換手段と、前記第１および第２の各照明手段にそれ
ぞれ対応した第１および第２の信号処理回路と、前記光
電変換手段からの変換出力を前記第１および第２の各信
号処理回路へ交互に導く第２の切換手段と、前記第１お
よび第２の各切換手段による切換動作を同期させる同期
手段とを有して成ることを特徴としている。In order to achieve the above object, the capsule visual inspection device according to the present invention inspects the surface of a capsule that is being conveyed in the axial direction while rotating around the axis, on a plane that includes the capsule axis and from a direction perpendicular to the capsule axis. a first illumination means for illuminating; and at least two illumination means forming a predetermined angle with respect to the capsule axis.
a second illumination means for illuminating from a direction; first and second light guide paths guiding light to each of the first and second illumination means, respectively; a first switching means that alternately guides light to each of the light guide paths; a common photoelectric conversion means that inputs reflected light from the capsule surface; and a first switching means corresponding to each of the first and second illumination means. a second switching means that alternately guides the conversion output from the photoelectric conversion means to each of the first and second signal processing circuits, and each of the first and second switching circuits; It is characterized by comprising a synchronizing means for synchronizing the switching operations by the means.
次に図を参照して本発明の一実施例を説明する。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
第５図は本発明の一実施例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing one embodiment of the present invention.
同図において、１はカプセル、２５はレンズ、２６はハ
ーフミラ−１２７はアパーチャ、２８は光電変換器、２
９．３０はそれぞれライトガイド、３１は光源、３２は
光路切換板、３５はモータ、３６はホトセンサ、３７は
サンプラ、３８は拡散系前処理回路、３９は同軸反射系
前処理回路、４０は判定回路、４１は仕分装置、である
。In the figure, 1 is a capsule, 25 is a lens, 26 is a half mirror, 127 is an aperture, 28 is a photoelectric converter, and 2
9. 30 is a light guide, 31 is a light source, 32 is an optical path switching plate, 35 is a motor, 36 is a photo sensor, 37 is a sampler, 38 is a diffusion system preprocessing circuit, 39 is a coaxial reflection system preprocessing circuit, and 40 is a judgment The circuit 41 is a sorting device.
第６図は第５図における光路切換板３２の正面図であり
、（ａ）と（ｂ）は、それぞれ半回転前と後の正面図で
ある。同図において、３３．３４はそれぞれスリット、
２９．３０はそれぞれライトガイド、３６はホトセンサ
、である０
第５図、第６図を参照する。被検査物としてのカプセル
１の上部にはその外観表面に、適当な倍率でピントの合
う位置にレンズ２５、アパーチャ２７、光電変換器２８
を設ける０被検査物としてのカプセル１には、２種類の
照明を交互に切り換えて与えている。光源３１より発射
された光は、光路切換板３２を介して２種のライトガイ
ド２９または３０へ照射されｚＯライＦガイド２９は、
光学系光軸より、カプセル１の長手方向には’（４５傾
いた照射口２９ａ 、２９ｂをもち、これら照射口の各
照明軸の交点がカプセル１の表面の観測点Ｐに一致して
いる。FIG. 6 is a front view of the optical path switching plate 32 in FIG. 5, and (a) and (b) are front views before and after a half rotation, respectively. In the same figure, 33 and 34 are respectively slits,
29 and 30 are light guides, and 36 is a photo sensor.0 See FIGS. 5 and 6. A lens 25, an aperture 27, and a photoelectric converter 28 are provided on the outer surface of the capsule 1 as an object to be inspected at a focused position with an appropriate magnification.
Two types of illumination are alternately switched and applied to the capsule 1 as the object to be inspected. The light emitted from the light source 31 is irradiated to two types of light guides 29 or 30 via the optical path switching plate 32, and the zO-Light F guide 29 is
The capsule 1 has irradiation ports 29a and 29b inclined by 45 in the longitudinal direction from the optical axis of the optical system, and the intersection of the illumination axes of these irradiation ports coincides with the observation point P on the surface of the capsule 1.
またライトガイド３０より発射された光はハーフミラ−
２６、レンズ２５を介してカプセルｌの観測点Ｐを照射
する。光路切換板３２には、半円弧状のスリット３３．
３４がその半径を異にして切られており、そのスリット
上で円板の中心を通る直線上に、ライトガイド２９．３
０の各先端をセットしている。円板−ヒでその中心に関
し、ライトガイド２９．３０とは反対の側に、円板の回
転位置の状態を検出するためのホトセンサ３６を設けて
いる。Also, the light emitted from the light guide 30 is a half mirror.
26, illuminate the observation point P of the capsule l through the lens 25. The optical path switching plate 32 has a semicircular arc-shaped slit 33.
34 are cut with different radii, and the light guide 29.3 is placed on the straight line passing through the center of the disk on the slit.
Each tip of 0 is set. A photosensor 36 for detecting the state of the rotational position of the disk is provided on the side opposite to the light guide 29, 30 with respect to the center of the disk.
光電変換器２８の出力は、ホトセンサ３６の出力で切り
換えられるサンプラ３７によって、拡散反射系前処理回
路３８または同軸反射系前処理回路３９へ接続される。The output of the photoelectric converter 28 is connected to a diffuse reflection system preprocessing circuit 38 or a coaxial reflection system preprocessing circuit 39 by a sampler 37 that is switched by the output of the photosensor 36.
この２つの前処理囲路の出力は判定回路４０へ導かれ、
総合判定される１゜次に本実施列による検査動作につい
て説明する〇被検査物であるカプセル１として第７図に
示したとおり、そのボデー５１は透明でその一部に穴５
２がおいており、キャップ５３は不透明でスインスポッ
ト（薄肉状態の部分）５４のある医薬用カプセル（薬剤
の入っていない状態）を想定する。The outputs of these two preprocessing circuits are led to a determination circuit 40,
Comprehensive Judgment 1゜Next, we will explain the inspection operation by this implementation sequence〇 As shown in Fig. 7 for the capsule 1 which is the object to be inspected, its body 51 is transparent and has a hole 5 in a part of it.
2, the cap 53 is opaque, and the cap 53 is assumed to be a pharmaceutical capsule (in a state in which no drug is contained) with a swing spot (thin-walled part) 54.
説明を簡単にするためにへ第５図に示した構成から光路
切換板３２、ライトガイド３０を除去し、ライトガイド
２９だけを用いて上記カプセル１を検査したときの光電
変換器２８の出力波形を第８図（ａ）に示す。To simplify the explanation, the optical path switching plate 32 and the light guide 30 are removed from the configuration shown in FIG. 5, and the output waveform of the photoelectric converter 28 is shown when the capsule 1 is inspected using only the light guide 29. is shown in FIG. 8(a).
又第５図に示した構成からライトガイド２９を除去し１
ライトガイド３０を用いたときの出力波形を第９図（ａ
）に示す。Also, by removing the light guide 29 from the configuration shown in FIG.
Figure 9 (a) shows the output waveform when using the light guide 30.
).
次に光路切換板３２、ライトガイド２９ 、３０を用い
たときの動作条件について説明する。被検査物であるカ
プセル１の長手方向搬送速度を■、自転する回転数をＮ
ｃ１１回転する間に搬送される距離をＰ、１回転するに
要する時間をＴとするとこれらの間には次の関係式が成
立する。Next, operating conditions when using the optical path switching plate 32 and the light guides 29 and 30 will be explained. The transport speed in the longitudinal direction of the capsule 1, which is the object to be inspected, is ■, and the number of rotations is N.
If the distance traveled during one rotation is P, and the time required for one rotation is T, the following relational expression holds between them.
又１光路切換板３２の回転数をＮｓＸ円−牛径上にある
スリットのペア数をｍとすると、ＮＣ＋ ＮＳの間には
次の関係をもたせることができる。Further, if the number of rotations of the optical path switching plate 32 is NsX, and the number of pairs of slits on the diameter is m, then the following relationship can be established between NC+NS.
Ｎｓ ＝ Ｎｃ／ （２・ｍ）
第６図に示した光路切換板３２は）ｍ＝１の場合を示し
ており、従って
Ｎ５＝Ｎｃ／２
なる関係が成立する。Ns = Nc/ (2·m) The optical path switching plate 32 shown in FIG. 6 shows the case where m=1, so the relationship N5=Nc/2 holds true.
この条件で第７図に示した如きカプセルを検査したとき
の動作を説明する。光路切換板３２の状態が、第６図（
ａ） ）こ示した状態にあるときは、ホトセンサ３６が
オン状態となり、サンプラ３７は前処理回路３８へ接続
される。このときライトガイド２９にはスリット３３を
介して、光源３１より光が照射される。The operation when inspecting a capsule as shown in FIG. 7 under these conditions will be explained. The state of the optical path switching plate 32 is shown in FIG.
a)) In the state shown above, the photosensor 36 is turned on and the sampler 37 is connected to the preprocessing circuit 38. At this time, the light guide 29 is irradiated with light from the light source 31 through the slit 33.
同様にして光路切換板３２が第６図（ｂ）の状態にある
ときは、ライトガイド３０へ光が照射され１サンプラ３
７は前処理回路３９を選択する。従って前処理回路３８
．３９には第８図（ｂ）、第９図（ｂ）に示した如き断
続波形を得る。すなわち被検査物であるカプセル１の外
観の検査出力を切換板３２の１回転おきに取り込むこと
ができる。第８図、第９図にそれぞれ示した偏部５５．
５６の詳細を第１０図に示す。Similarly, when the optical path switching plate 32 is in the state shown in FIG.
7 selects the preprocessing circuit 39. Therefore, the preprocessing circuit 38
．． 39, intermittent waveforms as shown in FIGS. 8(b) and 9(b) are obtained. That is, the inspection output of the appearance of the capsule 1, which is the object to be inspected, can be taken in every other rotation of the switching plate 32. The eccentric portion 55 shown in FIGS. 8 and 9, respectively.
56 is shown in detail in FIG.
本方式ではカプセル表面で１回転おきに検査しない領域
を生ずるように見えるが、実際には視野の大きさＤとカ
プセルが１回転する間にすすむ距離Ｐとの間の関係を
Ｄ工２Ｐ
とすることにより、無検査領域は無くなる。Although this method appears to produce areas that are not inspected every other revolution on the capsule surface, in reality, the relationship between the field of view size D and the distance P that the capsule travels during one revolution is defined as D(2P). This eliminates the non-inspection area.
次に本発明の変形例を述べる。Next, a modification of the present invention will be described.
（１）光路切換板３２の形状を、第１１図に示したとお
り、スリットの数を増やしたものとすればそれに反比例
して光路切換板の回転数を減らすことができる。(1) If the shape of the optical path switching plate 32 is such that the number of slits is increased as shown in FIG. 11, the number of rotations of the optical path switching plate can be reduced in inverse proportion to the number of slits.
（２）上記の説明では光路切換板を利用したが、光源と
してＬＥＤ（発光ダイオード）を用い、各ｉＤそのもの
を各ライトガイドの代りにセットし、被検査物であるカ
プセルの回転に合わせて電気的に各ＬＥＤの発光タイミ
ングを制御するようにしても、１逮の方式と全く同じ効
果が得られる。(2) In the above explanation, an optical path switching plate was used, but an LED (light emitting diode) is used as a light source, and each iD itself is set in place of each light guide, and the electrical Even if the light emission timing of each LED is controlled selectively, exactly the same effect as the one-stop method can be obtained.
本発明によれば、拡散反射形検査器と同軸反射形検査器
の有している特徴のすべてを備えるという利点の他に、
次の効果を期待できる。According to the present invention, in addition to the advantage of having all the features of a diffuse reflection type tester and a coaxial reflection type tester,
You can expect the following effects.
（１）被検査物を回転駆動するローラの長さを短くでき
、被検査物を安定に回転駆動することができる。(1) The length of the roller that rotationally drives the object to be inspected can be shortened, and the object to be inspected can be stably rotationally driven.
（２）光学系を１糸絖にできることにより、光学系調整
が容易になる。(2) Since the optical system can be made into a single thread, adjustment of the optical system becomes easier.
（３）検査部が全体としてコンパクトな構成にな、る。(3) The inspection section has a compact structure as a whole.
第１図は従来公知の拡散反射形検査器の構成説明図、第
２図（ａ）は拡散反射形検査器により不透明カブ化Ａ・
を走査して得られる検査音出力の波形図１第２図（ｂ）
は同じく透明カプセルを走査し。て得られる検査器用力
の波形図、第３図は従来の同軸反射形検査器の構成説明
図、第４図は従来の検査器を寄せ集めて構成した併用形
検査器の構成説明図、第４Ａ図は第４図における要部の
断面図、第５図は本発明の一実施例を示す説明図、第６
図は第５図における光路切換板の正面図、第７図は被検
査物としてのカプセルの外観説明図、第８図、第９図は
それぞれ本発明の実施例による検査出力波形を示した波
形図、第１０図は第８図、第９図における偏部５５，５
６の拡大波形図、第１１図は光路切換板３２の他の形状
例を示した説明図、である。
符号説明
１・・曲カプセル、２・・・・・・搬送ドラム、３・・
曲照明用ランプ、４・・・・・・集光レンズ、５・・・
・・・拡大レンズ、６・・・・・・光センサ、７・・・
・・・回転ローラ、８・・・・・・コンデンサレンズ、
９・・・・・・ハーフミラ−１１ｏ・・・・・・レンズ
、１１・・・・・・アパーチャ、１２・・・・・・ホト
ダイオード、１３・・・・・・光源、１６・・・・・・
拡散反射形検査器、１７・・・・・・同軸反射形検査器
、１８・・曲スピンローラ、２５・・・・・・レンズ、
２Ｇ・川・−ハーフミラ−１２７・・・・・・アパーチ
ャ、２８・・凹九厄変換器、２９．３０・・・・・・ラ
イトガイド、３１・・曲元源、３２・・・・・・光路切
換板、３３．３４・・曲スリット、３５・・・・・・モ
ータ、３６・・・・・・ホトセンサ、３７・・・・・・
サンプラ、３８・・・・・・拡散反射系前処理回路、３
９・・・・・・同軸反射系前炒理回路、４ｏ・・曲判定
回路、４１・・曲仕分装置
代理人 弁理士 松 崎 清
ｌ
湾２図
（σ）
０１
第３図
２
第４図
１６／７
） （
１−ｃＬｐ ＬＣ
第 ５ 図
ｆＸ ６ 図
（ｃＬ） （ｂ）第 ７ 図
男 ８ 図
第 ９ 図Fig. 1 is an explanatory diagram of the configuration of a conventionally known diffuse reflection type inspection device, and Fig. 2(a) shows opaque cubing A/D by the diffuse reflection type inspection device.
Waveform of test sound output obtained by scanning Figure 1 Figure 2 (b)
also scans the transparent capsule. Figure 3 is an explanatory diagram of the configuration of a conventional coaxial reflection type inspection instrument; Figure 4 is an explanatory diagram of the configuration of a combination type inspection instrument constructed by assembling conventional inspection instruments; 4A is a sectional view of the main part in FIG. 4, FIG. 5 is an explanatory diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
The figure is a front view of the optical path switching plate in FIG. 5, FIG. 7 is an explanatory view of the appearance of a capsule as an object to be inspected, and FIGS. 8 and 9 are waveforms showing test output waveforms according to embodiments of the present invention. Figure 10 shows the eccentric portions 55 and 5 in Figures 8 and 9.
6 is an enlarged waveform diagram, and FIG. 11 is an explanatory diagram showing another example of the shape of the optical path switching plate 32. Code explanation 1... Song capsule, 2... Transport drum, 3...
Lamp for curved illumination, 4... Condensing lens, 5...
... Magnifying lens, 6... Optical sensor, 7...
... Rotating roller, 8... Condenser lens,
9...Half mirror 11o...Lens, 11...Aperture, 12...Photodiode, 13...Light source, 16...・・・
Diffuse reflection type inspection device, 17... Coaxial reflection type inspection device, 18... Curved spin roller, 25... Lens,
2G・River・-Half Mirror-127・・・Aperture, 28・・Concave nine evil converter, 29.30・・・Light guide, 31・・Music source, 32・・・・・Optical path switching plate, 33.34...Curved slit, 35...Motor, 36...Photo sensor, 37...
Sampler, 38... Diffuse reflection system pre-processing circuit, 3
9... Coaxial reflection system pre-distortion circuit, 4o... Song judgment circuit, 41... Song sorting device representative Patent attorney Kiyoshi Matsuzaki Figure 2 (σ) 01 Figure 3 2 Figure 4 16/7) (1-cLp LC Fig. 5 fX 6 Fig. (cL) (b) Fig. 7 Male 8 Fig. 9
Claims (1)
プセルの表面に対し、カプセル軸を含む平面上でかつカ
プセル軸と垂直な゛方向から照明する第１の照明手段と
、前記カプセル軸に対し所定角度をなす少なくも２方向
から照明する第２の照明手段と、前記第１および第２の
各照明手段へそれぞれ光を導く第１および第２の各導光
路と、共通またはそれぞれの光源から前記第１および第
２の各導光路へ交互ｊこ光を導く第１の切換手段と１前
記力プセル表面からの反射光を入力とする共通の光電変
換手段と、前記第１お−よび第２の各照明手段にそれぞ
れ対応した第１および第２の信号処理回路と、前記光電
変換手段からの変換出力を前記第１および第２の各信号
処理回路へ交互に導く第２の切換手段と、前記第１およ
び第２の各切換手段による切換動作を同期させる同期手
段とを有して成ることを特徴とするカプセル外観検査装
置０1) a first illumination means that illuminates the surface of the capsule that is being transported in the axial direction while rotating around the axis on a plane that includes the capsule axis and from a direction perpendicular to the capsule axis; a second illumination means for illuminating from at least two directions forming a predetermined angle with respect to the first and second illumination means, first and second light guide paths respectively guiding light to the first and second illumination means, and a common or respective light source. (1) a first switching means for alternately guiding light from the first and second light guides to each of the first and second light guide paths; (1) a common photoelectric conversion means that inputs the reflected light from the surface of the power cell; First and second signal processing circuits respectively corresponding to each of the second illumination means, and a second switching means that alternately guides the conversion output from the photoelectric conversion means to each of the first and second signal processing circuits. and a synchronizing means for synchronizing the switching operations of the first and second switching means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751183A JPS59163545A (en) | 1983-03-09 | 1983-03-09 | Inspecting device for external appearance of capsule |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3751183A JPS59163545A (en) | 1983-03-09 | 1983-03-09 | Inspecting device for external appearance of capsule |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59163545A true JPS59163545A (en) | 1984-09-14 |
| JPH0120373B2 JPH0120373B2 (en) | 1989-04-17 |
Family
ID=12499555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3751183A Granted JPS59163545A (en) | 1983-03-09 | 1983-03-09 | Inspecting device for external appearance of capsule |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59163545A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004079346A1 (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Warner-Lambert Company Llc | Method and device for the analysis of products in the form of a capsule and of empty capsules by means of nir reflection spectroscopy |
| EP1462792A1 (en) * | 2003-03-26 | 2004-09-29 | Pfizer GmbH Arzneimittelwerk Gödecke | Method and device for the analysis of products in the form of a capsule and of empty capsules by means of NIR reflection spectroscopy |
| US7142307B1 (en) * | 1991-03-01 | 2006-11-28 | Stark Edward W | Method and apparatus for optical interactance and transmittance measurements |
-
1983
- 1983-03-09 JP JP3751183A patent/JPS59163545A/en active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7142307B1 (en) * | 1991-03-01 | 2006-11-28 | Stark Edward W | Method and apparatus for optical interactance and transmittance measurements |
| US7397566B2 (en) | 1991-03-01 | 2008-07-08 | Stark Edward W | Method and apparatus for optical interactance and transmittance measurements |
| WO2004079346A1 (en) * | 2003-03-07 | 2004-09-16 | Warner-Lambert Company Llc | Method and device for the analysis of products in the form of a capsule and of empty capsules by means of nir reflection spectroscopy |
| EP1462792A1 (en) * | 2003-03-26 | 2004-09-29 | Pfizer GmbH Arzneimittelwerk Gödecke | Method and device for the analysis of products in the form of a capsule and of empty capsules by means of NIR reflection spectroscopy |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0120373B2 (en) | 1989-04-17 |
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