JPS5915232B2 - 電話交換機の通話路系試験方式 - Google Patents
電話交換機の通話路系試験方式Info
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- JPS5915232B2 JPS5915232B2 JP52014627A JP1462777A JPS5915232B2 JP S5915232 B2 JPS5915232 B2 JP S5915232B2 JP 52014627 A JP52014627 A JP 52014627A JP 1462777 A JP1462777 A JP 1462777A JP S5915232 B2 JPS5915232 B2 JP S5915232B2
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- test signal
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Remote Monitoring And Control Of Power-Distribution Networks (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパルス符号変調（ＰＣＭ）技術と時分割信号多
重（ＴＤＭ）技術を利用した電話交換機において、通話
路系の符号器、復号器その他の電子回路素子の動作特性
試験を簡単かつ迅速に行なえる試験方式に関するもので
ある。
重（ＴＤＭ）技術を利用した電話交換機において、通話
路系の符号器、復号器その他の電子回路素子の動作特性
試験を簡単かつ迅速に行なえる試験方式に関するもので
ある。
ＰＣＭ電話交換機は、従来の空間分割スイッチを主体と
する電話交換機とは異なり、パルス符号変調（ＰＣＭ）
と時分割信号多重（ＴＤＭ）の両技術を駆使し、アクテ
ィブ電子回話素子を組合せて実現されるいわゆる電子交
換機である。
する電話交換機とは異なり、パルス符号変調（ＰＣＭ）
と時分割信号多重（ＴＤＭ）の両技術を駆使し、アクテ
ィブ電子回話素子を組合せて実現されるいわゆる電子交
換機である。
このようなＰＣＭ交換機は、電話利用者に対して便利で
多彩なサービスを容易に提供できるという点において画
期的であり、かつ、ＰＣＭ伝送路を介して相互接続がで
きるために通信網の総合化が可能であるという点におい
て将来の発展が嘱望されているものである。このような
通信装置には、電子回路素子の故障や特性劣下による予
期せぬ障害が起り得る。
多彩なサービスを容易に提供できるという点において画
期的であり、かつ、ＰＣＭ伝送路を介して相互接続がで
きるために通信網の総合化が可能であるという点におい
て将来の発展が嘱望されているものである。このような
通信装置には、電子回路素子の故障や特性劣下による予
期せぬ障害が起り得る。
そのため、障害個所を早期に発見し、しかも、自動的に
発見することが大いに望まれる。第１図は、本発明を適
用するＰＣＭ交換機を示す構成図の一例である。
発見することが大いに望まれる。第１図は、本発明を適
用するＰＣＭ交換機を示す構成図の一例である。
第１図において、置は電話機、ＳＤＳＷは空間分割集線
スイツチ、Ｈは通話路のハイブリツド回路網、Ａｓ，Ａ
Ｒはそれぞれ送受信系の増幅器、ろ波器等を含む電子回
路、Ｇは標本化回路、Ｄは分配回路、ＣＯＤは符号器、
ＤＥＣは復号器、ＣＯＤＥＣは前記の符号器および復号
器ＤＥＣから成る符号器復号器、ＨＷｓおよびＨＷＲは
それぞれ送受信系の共通線、ＨＷＳＷは共通線スイツチ
、Ｊｌ，Ｊ２はジヤンクタ、ＣＤは制御装置、ＴＥＳＴ
は試験装置である。また、第１図はＰＣＭ信号の時分割
多重数がｍの場合を示し、一組の符号器復号器ＣＯＤＥ
Ｃｌがｍ個の通話で多重使用されていることを例示して
いる。ここで、第１図により、ＰＣＭ交換機の動作につ
いて説明する。
スイツチ、Ｈは通話路のハイブリツド回路網、Ａｓ，Ａ
Ｒはそれぞれ送受信系の増幅器、ろ波器等を含む電子回
路、Ｇは標本化回路、Ｄは分配回路、ＣＯＤは符号器、
ＤＥＣは復号器、ＣＯＤＥＣは前記の符号器および復号
器ＤＥＣから成る符号器復号器、ＨＷｓおよびＨＷＲは
それぞれ送受信系の共通線、ＨＷＳＷは共通線スイツチ
、Ｊｌ，Ｊ２はジヤンクタ、ＣＤは制御装置、ＴＥＳＴ
は試験装置である。また、第１図はＰＣＭ信号の時分割
多重数がｍの場合を示し、一組の符号器復号器ＣＯＤＥ
Ｃｌがｍ個の通話で多重使用されていることを例示して
いる。ここで、第１図により、ＰＣＭ交換機の動作につ
いて説明する。
空間分割集線スイツチＳＤＳＷは、ｎ個の通話機回線と
試験装置ＴＥＳＴ系回線を任意の時分割チヤンネル系Ｃ
Ｈｌ，ＣＨ２・・・・・・ＣＨｍに接続するスイツチ網
である。例えば電話機置１と電話機置Ｒが通話する場合
、電話機置１は空間分割集線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ
１を通じてチヤンネルＣＨｌ系に接続され、電話機置ｋ
は空間分割集線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ２を通じてチ
ヤンネルＣＨ２系に接続されている。電話機置１の送信
音声は、チヤンネルＣＨｌ系のハイブリツド回話網Ｈ一
送信系の電子回路Ａｓ一標本化回路Ｇ一符号器ＣＯＤｌ
を経由してＰＣＭ符号化される。このＰＣＭ信号は、符
号器ＣＯＤｌ共通線ＨＷｓ一共通線スイツチＨＷＳＷの
スイツチ点ａ−スイツチ点ｂ一共通線ＨＷＲを経由して
復号器ＤＥＣｌに入り、復号される。この復号された音
声信号は、復号器ＤＥＣｌ−チヤンネルＣＨ２の分配回
路Ｄ一電子回路ＡＲ−ハイブリツド回路網Ｈ一電話機置
ｋを経て受信音声となる。これらの動作は制御装置ＣＣ
によつて制御される。電話機置ｋからの送信音声も同様
に、符号器復号器ＣＯＤＥＣｌを経由して電話機置１の
受信音声となる。また、他の通話が符号器復号器ＣＯＤ
ＥＣ２、共通線スイツチＨＷＳＷのスイツチ点ｃおよび
ｄを経由して行なわれる場合も同様である。ＰＣＭ交換
機には多くの複雑な電子回路素子が通話路系に用いられ
ているが、装置設計にあたつては、充分な信頼性を持つ
ように考慮されるべきであることは言うまでもない。
試験装置ＴＥＳＴ系回線を任意の時分割チヤンネル系Ｃ
Ｈｌ，ＣＨ２・・・・・・ＣＨｍに接続するスイツチ網
である。例えば電話機置１と電話機置Ｒが通話する場合
、電話機置１は空間分割集線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ
１を通じてチヤンネルＣＨｌ系に接続され、電話機置ｋ
は空間分割集線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ２を通じてチ
ヤンネルＣＨ２系に接続されている。電話機置１の送信
音声は、チヤンネルＣＨｌ系のハイブリツド回話網Ｈ一
送信系の電子回路Ａｓ一標本化回路Ｇ一符号器ＣＯＤｌ
を経由してＰＣＭ符号化される。このＰＣＭ信号は、符
号器ＣＯＤｌ共通線ＨＷｓ一共通線スイツチＨＷＳＷの
スイツチ点ａ−スイツチ点ｂ一共通線ＨＷＲを経由して
復号器ＤＥＣｌに入り、復号される。この復号された音
声信号は、復号器ＤＥＣｌ−チヤンネルＣＨ２の分配回
路Ｄ一電子回路ＡＲ−ハイブリツド回路網Ｈ一電話機置
ｋを経て受信音声となる。これらの動作は制御装置ＣＣ
によつて制御される。電話機置ｋからの送信音声も同様
に、符号器復号器ＣＯＤＥＣｌを経由して電話機置１の
受信音声となる。また、他の通話が符号器復号器ＣＯＤ
ＥＣ２、共通線スイツチＨＷＳＷのスイツチ点ｃおよび
ｄを経由して行なわれる場合も同様である。ＰＣＭ交換
機には多くの複雑な電子回路素子が通話路系に用いられ
ているが、装置設計にあたつては、充分な信頼性を持つ
ように考慮されるべきであることは言うまでもない。
しかし、予期せぬ障害に対しては、その障害を早期発見
できるよう考慮もなされていなければならない。障害の
発生を発見するためには、平常時でも、常時、何らかの
方法で試験を行なわなければならない。通常は、試験に
より１正常であることの確認゛２を得るということにな
る。つまり大部分の試験結果は”異常なじということに
なり、もし６正常であることの確認゛が得られない場合
が８異常”ということになる。従つて、“正常であるこ
との確認゛（”異常なじ）を得る試験に対しては、簡単
で短時間な（試験延伸系の必要ステツプ数が少い）もの
が望まれる。本発明の目的は、ＰＣＭ交換機の通話路系
を交換動作中に自動的に試験を行い、障害検出を容易に
行うことができる試験方式を提供するものである。
できるよう考慮もなされていなければならない。障害の
発生を発見するためには、平常時でも、常時、何らかの
方法で試験を行なわなければならない。通常は、試験に
より１正常であることの確認゛２を得るということにな
る。つまり大部分の試験結果は”異常なじということに
なり、もし６正常であることの確認゛が得られない場合
が８異常”ということになる。従つて、“正常であるこ
との確認゛（”異常なじ）を得る試験に対しては、簡単
で短時間な（試験延伸系の必要ステツプ数が少い）もの
が望まれる。本発明の目的は、ＰＣＭ交換機の通話路系
を交換動作中に自動的に試験を行い、障害検出を容易に
行うことができる試験方式を提供するものである。
以下、図面を参照して、本発明の実施例について説明す
る。
る。
第２図は、第１図の試験装置ＴＥＳＴを詳細に示した構
成図であり、Ｈｔはハイブリツド回路網、ＣＯＤｔは符
号器、ＤＥＣｔは復号器、Ａｌ，Ａ２，Ａ３は増幅器、
Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４はスイツチ、ＳＧは試験信号発
生器、ＤＥＴは試験信号受信器である。
成図であり、Ｈｔはハイブリツド回路網、ＣＯＤｔは符
号器、ＤＥＣｔは復号器、Ａｌ，Ａ２，Ａ３は増幅器、
Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４はスイツチ、ＳＧは試験信号発
生器、ＤＥＴは試験信号受信器である。
第１図および第２図はよりチヤンネルＣＨｌ系の試験動
作について説明する。
作について説明する。
試験信号は試験信号発生器ＳＧからＰＣＭ符号形式でス
イツチＳ３を通り、試験装置ＴＥＳＴＯｘから出力され
、共通線ＨＷＳｌ共通線スイツチ点ｅおよびｆを経由し
て、復号器ＤＥＣｌに供給される。試験信号は復号器Ｄ
ＥＣｌを復号され、分配回路Ｄ１受信系の電子回路ＡＲ
を経由してハイブリツド回路網Ｈに供給される。復号さ
れた試験信号は、あらかじめ接続されている空間分割集
線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ３を通して試験装置ＴＥＳ
Ｔのｑに供給される。試験装置ＴＥＳＴＯ）ｑからハイ
ブリツド回路網Ｈｔに供給された復号された試験信号を
スイツチＳ１、増幅器ＡぃスイツチＳ２、ハイブリツド
回路網Ｈｔを経由して空間分割集線スイツチＳＤＳＷに
返送し、再度、経路Ｒ３を通じて通話路のハイブリツド
回路網Ｈに返送される。この返送された試験信号は、チ
ヤンネルＣＨｌ系の電子回路ＡＳｌ標本化回路Ｇを経由
して符号器ＣＯＤｌに供給され、ＰＣＭ符号化される。
さらに、この符号化された試験信号は、共通線スイツチ
ＨＷＳＷのスイツチ点ａおよびｇを経由して試験装置Ｔ
ＥＳＴＯ）ｙに供給され、試験装置ＴＥＳＴのスイツチ
Ｓ４を通して試験信号受信器ＤＥＴに供給される。被試
験系（通話路系）の電子回路素子の動作および電気的特
性が゛正常”の場合、試験信号受信器ＤＥＴで検出され
る信号は、試験信号発生器ＳＧから送出される試験信号
ときわめてよく一致するはずであり、試験信号受信器Ｄ
ＥＴはその一致の程度を検定する機能をもつている。
イツチＳ３を通り、試験装置ＴＥＳＴＯｘから出力され
、共通線ＨＷＳｌ共通線スイツチ点ｅおよびｆを経由し
て、復号器ＤＥＣｌに供給される。試験信号は復号器Ｄ
ＥＣｌを復号され、分配回路Ｄ１受信系の電子回路ＡＲ
を経由してハイブリツド回路網Ｈに供給される。復号さ
れた試験信号は、あらかじめ接続されている空間分割集
線スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ３を通して試験装置ＴＥＳ
Ｔのｑに供給される。試験装置ＴＥＳＴＯ）ｑからハイ
ブリツド回路網Ｈｔに供給された復号された試験信号を
スイツチＳ１、増幅器ＡぃスイツチＳ２、ハイブリツド
回路網Ｈｔを経由して空間分割集線スイツチＳＤＳＷに
返送し、再度、経路Ｒ３を通じて通話路のハイブリツド
回路網Ｈに返送される。この返送された試験信号は、チ
ヤンネルＣＨｌ系の電子回路ＡＳｌ標本化回路Ｇを経由
して符号器ＣＯＤｌに供給され、ＰＣＭ符号化される。
さらに、この符号化された試験信号は、共通線スイツチ
ＨＷＳＷのスイツチ点ａおよびｇを経由して試験装置Ｔ
ＥＳＴＯ）ｙに供給され、試験装置ＴＥＳＴのスイツチ
Ｓ４を通して試験信号受信器ＤＥＴに供給される。被試
験系（通話路系）の電子回路素子の動作および電気的特
性が゛正常”の場合、試験信号受信器ＤＥＴで検出され
る信号は、試験信号発生器ＳＧから送出される試験信号
ときわめてよく一致するはずであり、試験信号受信器Ｄ
ＥＴはその一致の程度を検定する機能をもつている。
なお、通常は大部分の通話路が正常動作をしていると考
えられ、各チヤンネルについて、制御装置ＣＣの制御に
より順次１正常１の確認が得られる。また、送信系のみ
を独立に試験する場合は、制御装置ＣＣの制御により試
験装置ＴＥＳＴのスイツチＳ２，Ｓ３を第２図に示した
状態から切換え、試験信号発生器ＳＧからのＰＣＭ符号
形式の試験信号を試験装置ＴＥＳＴの復号器ＤＥＣｔで
復号し、復号器ＤＥＣｔ一増幅器Ａ３−スイツチＳ２−
ハイブリツド回路網Ｈｔ一空間分割集線スイツチＳＤＳ
Ｗの経路Ｒ３一通話路のハイブリツド回路網Ｈを経由し
て、チヤンネルＣＨｌ系の送信系に供給する。
えられ、各チヤンネルについて、制御装置ＣＣの制御に
より順次１正常１の確認が得られる。また、送信系のみ
を独立に試験する場合は、制御装置ＣＣの制御により試
験装置ＴＥＳＴのスイツチＳ２，Ｓ３を第２図に示した
状態から切換え、試験信号発生器ＳＧからのＰＣＭ符号
形式の試験信号を試験装置ＴＥＳＴの復号器ＤＥＣｔで
復号し、復号器ＤＥＣｔ一増幅器Ａ３−スイツチＳ２−
ハイブリツド回路網Ｈｔ一空間分割集線スイツチＳＤＳ
Ｗの経路Ｒ３一通話路のハイブリツド回路網Ｈを経由し
て、チヤンネルＣＨｌ系の送信系に供給する。
この復号された試験信号は符号器ＣＯＤｌで符号化され
、共通線スイツチＨＷＳＷを経て、試験装置ＴＥＳＴの
試験信号受信器ＤＥＴで検定される。さらに、受信系の
みを独立に試験する場合は、制御装置ＣＣの制御により
試験装置ＴＥＳＴのスイツチＳｌ，Ｓ４を第２図に示し
た状態から切換え、試験信号発生器ＳＧからのＰＣＭ符
号形式の試験信号を、スイツチＳ３一共通線スイツチＨ
ＷＳＷのｅ点、ｆ点を経由して、復号器ＤＥＣｌで復号
する。
、共通線スイツチＨＷＳＷを経て、試験装置ＴＥＳＴの
試験信号受信器ＤＥＴで検定される。さらに、受信系の
みを独立に試験する場合は、制御装置ＣＣの制御により
試験装置ＴＥＳＴのスイツチＳｌ，Ｓ４を第２図に示し
た状態から切換え、試験信号発生器ＳＧからのＰＣＭ符
号形式の試験信号を、スイツチＳ３一共通線スイツチＨ
ＷＳＷのｅ点、ｆ点を経由して、復号器ＤＥＣｌで復号
する。
復号された試験信号は、チヤンネルＣＨｌ系の分配回路
Ｄ一電子回路ＡＲ−ハイブリツド回路Ｈ一空間分割集線
スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ３−試験装置ＴＥＳＴのハイ
ブリツド回路網ＨｔースイツチＳ１一増幅器Ａ２を経由
して、符号器ＣＯＤｔに供給され、符号化される。この
符号化された信号は、スイツチＳ４を経由して試験信号
受信器ＤＥＴに供給され、検定される。このように、試
験は送受信系、送信系、受信系′の３種類がある。
Ｄ一電子回路ＡＲ−ハイブリツド回路Ｈ一空間分割集線
スイツチＳＤＳＷの経路Ｒ３−試験装置ＴＥＳＴのハイ
ブリツド回路網ＨｔースイツチＳ１一増幅器Ａ２を経由
して、符号器ＣＯＤｔに供給され、符号化される。この
符号化された信号は、スイツチＳ４を経由して試験信号
受信器ＤＥＴに供給され、検定される。このように、試
験は送受信系、送信系、受信系′の３種類がある。
ここで；送受信系の試験で゛異常゛が認められた場合、
障害の可能性は、１チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａｓ，
Ｇ）、２符号器ＣＯＤｌ系、３復号器ＤＥＣｌ系、４チ
ヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）にあることになる
。
障害の可能性は、１チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａｓ，
Ｇ）、２符号器ＣＯＤｌ系、３復号器ＤＥＣｌ系、４チ
ヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）にあることになる
。
この場合は、チヤンネルＣＨ２（ＣＨ３，・・・，ＣＨ
ｍのいずれでもよい）系の試験を行い、障害の可能性の
細分化を行う。チヤンネルＣＨ２系の試験が゛正常゛で
であれば、前述の２，３ば正常゛である。すなわち障害
の可能性は、５前述の１チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａ
ｓ，Ｇ）又は４チヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）
にある。もしチヤンネルＣＨ２系の試験が”異常”であ
れば、異常の可能性は、６前述の２符号器ＣＯＤｌ系又
は３復号器ＤＥＣｌ系にある。したがつて、さらに障害
の細分化を望む場合は、チヤンネルＣＨ２系の試験結果
のいずれの場合も、チヤンネルＣＨｌ系の送信系か受信
系のいずれかを独立に試験をしなければならない。
ｍのいずれでもよい）系の試験を行い、障害の可能性の
細分化を行う。チヤンネルＣＨ２系の試験が゛正常゛で
であれば、前述の２，３ば正常゛である。すなわち障害
の可能性は、５前述の１チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａ
ｓ，Ｇ）又は４チヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）
にある。もしチヤンネルＣＨ２系の試験が”異常”であ
れば、異常の可能性は、６前述の２符号器ＣＯＤｌ系又
は３復号器ＤＥＣｌ系にある。したがつて、さらに障害
の細分化を望む場合は、チヤンネルＣＨ２系の試験結果
のいずれの場合も、チヤンネルＣＨｌ系の送信系か受信
系のいずれかを独立に試験をしなければならない。
前述の５の場合で、送信系の試験で゛異常゛の場合は１
チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａｓ，Ｇ）に６異常゛があ
り、試験力げ正常”゜の場合は４チヤンネルＣＨｌの受
信系（ＡＲ，Ｄ）に”異常１がある。
チヤンネルＣＨｌの送信系（Ａｓ，Ｇ）に６異常゛があ
り、試験力げ正常”゜の場合は４チヤンネルＣＨｌの受
信系（ＡＲ，Ｄ）に”異常１がある。
同様に、６の場合で、試験が６異常゛の場合は２符号器
ＣＯＤｌ系に１異常゛があり、試験が゛正常１の場合は
３復号器ＤＥＣｌ系に゛異常゛がある。また、受信系の
試験において、前述の５の場合で試験が゛異常゛の場合
は４チヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）に“異常゛
があり、゛正常゛の場合は１チヤンネルＣＨｌの送信系
に６異常゛゜がある。
ＣＯＤｌ系に１異常゛があり、試験が゛正常１の場合は
３復号器ＤＥＣｌ系に゛異常゛がある。また、受信系の
試験において、前述の５の場合で試験が゛異常゛の場合
は４チヤンネルＣＨｌの受信系（ＡＲ，Ｄ）に“異常゛
があり、゛正常゛の場合は１チヤンネルＣＨｌの送信系
に６異常゛゜がある。
同じく受信系の試験において、６の場合で、試験が“異
常゛の場合は３復号器ＤＥＣｌ系に゛異常゛があり、試
験が゛正常゛の場合は２符号器ＣＯＤｌ系に６異常”が
ある。このようにして、以上のような試験を制御装置Ｃ
Ｃの制御のもとに全チヤンネルについて行うことにより
、障害個所を自動的にかつ早期に発見することができる
。
常゛の場合は３復号器ＤＥＣｌ系に゛異常゛があり、試
験が゛正常゛の場合は２符号器ＣＯＤｌ系に６異常”が
ある。このようにして、以上のような試験を制御装置Ｃ
Ｃの制御のもとに全チヤンネルについて行うことにより
、障害個所を自動的にかつ早期に発見することができる
。
つぎに、試験信号について説明する。
第３図は試験信号の一例であり、第３図ａにおいてアナ
ログ的に表現される試験信号波形をＦ。とすると、この
信号は第３図ｂの如く３種類の正弦波Ｆｌ，Ｆ３，ｆ９
の加算で表わされる。３周波の選定の条件として、５第
１周波数ｆ１を低域周波領域の試験用、第２の周波波Ｆ
３を中域周波領域の試験用、第３の周波数Ｆ９を高域周
波領域の試験用とし、５３周波の間に簡単な整数比があ
り、［Ｆ］音声信号の標本化周波数である８ｋＨｚとの
間にも簡単な整数比をもたせることが、試験信号発生器
ＳＧの構成を簡単化するために効果的である。
ログ的に表現される試験信号波形をＦ。とすると、この
信号は第３図ｂの如く３種類の正弦波Ｆｌ，Ｆ３，ｆ９
の加算で表わされる。３周波の選定の条件として、５第
１周波数ｆ１を低域周波領域の試験用、第２の周波波Ｆ
３を中域周波領域の試験用、第３の周波数Ｆ９を高域周
波領域の試験用とし、５３周波の間に簡単な整数比があ
り、［Ｆ］音声信号の標本化周波数である８ｋＨｚとの
間にも簡単な整数比をもたせることが、試験信号発生器
ＳＧの構成を簡単化するために効果的である。
これらの条件３，５およびのを満足するには、第１の周
波数ｆ１を０．３３３ｋＨｚ正弦波、第２の周波数Ｆ３
を１．０ｋＨｚ正弦波、第３の周波数Ｆ９を３．０ｋＨ
ｚ正弦波とすることがもつとも望ましい。ＰＣＭ符号形
式の試験信号をＦ。
波数ｆ１を０．３３３ｋＨｚ正弦波、第２の周波数Ｆ３
を１．０ｋＨｚ正弦波、第３の周波数Ｆ９を３．０ｋＨ
ｚ正弦波とすることがもつとも望ましい。ＰＣＭ符号形
式の試験信号をＦ。
Ｐとすると、ＦＯｐは、アナログ試験信号Ｆ。を第３図
ａのように時間軸ｔ上のＯ〜２３の各点で標本化し、各
標本値をＰＣＭ符号化して得られる。これらのＰＣＭ符
号化標本値は第３図に示す基本周期を１周期としてくり
かえされるものである。実際の発生方法としては、これ
らの２４種類のＰＣＭ符号を読み出し専用メモリから循
環的に読み出すことによつて得られるものである。この
ようなＰＣＭ符号形式の試験信号Ｆ。
ａのように時間軸ｔ上のＯ〜２３の各点で標本化し、各
標本値をＰＣＭ符号化して得られる。これらのＰＣＭ符
号化標本値は第３図に示す基本周期を１周期としてくり
かえされるものである。実際の発生方法としては、これ
らの２４種類のＰＣＭ符号を読み出し専用メモリから循
環的に読み出すことによつて得られるものである。この
ようなＰＣＭ符号形式の試験信号Ｆ。
Ｐは、第２図における試験信号発生器ＳＧの出力として
現われ、試験装置ＴＥＳＴの復号器ＤＥＣｔに供給され
る場合には、復号器ＤＥＣｔの出力には試験信号Ｆ。が
現われる。実際の符号器復号器ＣＯＤＥＣ（第１図に示
す）の動作は圧伸特性（ＰＣＭ通信の分野ではμ法、Ａ
法という標準法則が一般的である）をもつているため、
アナログ試験信号Ｆ。．（！：ＰＣＭ符号形式の試験信
号Ｆ。Ｐの間にもその圧伸特性を加昧した関係がなけれ
ばならない。以上の説明では試験信号Ｆ。
現われ、試験装置ＴＥＳＴの復号器ＤＥＣｔに供給され
る場合には、復号器ＤＥＣｔの出力には試験信号Ｆ。が
現われる。実際の符号器復号器ＣＯＤＥＣ（第１図に示
す）の動作は圧伸特性（ＰＣＭ通信の分野ではμ法、Ａ
法という標準法則が一般的である）をもつているため、
アナログ試験信号Ｆ。．（！：ＰＣＭ符号形式の試験信
号Ｆ。Ｐの間にもその圧伸特性を加昧した関係がなけれ
ばならない。以上の説明では試験信号Ｆ。
がＦｌ，ｆ３，ｆ，の加算合成波として表わされる場合
を例示したが、試験信号としてはＦｌ，ｆ３，ｆ９それ
ぞれの単一正弦波をＰＣＭ符号化して用いても目的を達
成することができる。しかし、加算合成波を用いること
により、３周波についての試験を同時に行うことが可能
となり、試験に要する時間を短縮することができる。つ
ぎに、゛ＰＣＭ符号形式の試験信号Ｆ。
を例示したが、試験信号としてはＦｌ，ｆ３，ｆ９それ
ぞれの単一正弦波をＰＣＭ符号化して用いても目的を達
成することができる。しかし、加算合成波を用いること
により、３周波についての試験を同時に行うことが可能
となり、試験に要する時間を短縮することができる。つ
ぎに、゛ＰＣＭ符号形式の試験信号Ｆ。
Ｐの具体的な発生方法について説明する。第４図は第２
図における試験信号発生器ＳＧの部分の構成図である。
第４図？おいて、ＣＴＮｓは標本化周期クロツクを計数
するカウンタ、ＲＯＭにカウンタＣＮＴ８の内容でアド
レス指定される読み出し専用メモリＲＯＭには、前述し
た通り、第３図に示した２４種類のＰＣＭ符号があらか
じめ記憶されていて、カウンタＣＮＴｓからのアドレス
指定により、頓次、当該指定されたＰＣＭ符号を出力す
る。これらの符号系列がＰＣＭ符号形式の試験信号とな
る。つぎは、試験信号受信器ＤＥＴについて説明する。
図における試験信号発生器ＳＧの部分の構成図である。
第４図？おいて、ＣＴＮｓは標本化周期クロツクを計数
するカウンタ、ＲＯＭにカウンタＣＮＴ８の内容でアド
レス指定される読み出し専用メモリＲＯＭには、前述し
た通り、第３図に示した２４種類のＰＣＭ符号があらか
じめ記憶されていて、カウンタＣＮＴｓからのアドレス
指定により、頓次、当該指定されたＰＣＭ符号を出力す
る。これらの符号系列がＰＣＭ符号形式の試験信号とな
る。つぎは、試験信号受信器ＤＥＴについて説明する。
第５図は試験信号受信器ＤＥＴの構成図である。第５図
において、ＮＬは非直線圧伸符号化されているＰＣＭ符
号を直線符号化形式に変換する符号変換器、ＭＵＬは乗
算器、ＳＵＭは連続する２４個の標本値を加算する累算
器、ＳＱＲは二乗乗算器、ＡＤＤは加算器、ＤＣＮは判
定器、ＣＮＴＤは標本化周期クロツクを計数をカウンタ
、ＲＯＭは前述した３種類の周波数Ｆｌ，ｆ２およびＦ
３のＰＣＭ符号形式基準信号を発生する読み出し専用メ
モリであり、添字のｓは正弦波に、またｃは当該周波数
と直交する信号すなわち余弦波に対して、ＰＣＭ符号化
することを意味し、添字の各数字はそれぞれ第１、第２
および第３の周波数に関するものである。試験信号受信
器ＤＥＴの動作は、離散的プーリ工変換を行うことによ
り、受信された試験信号に３周波成分が規定の信号レベ
ル範囲に存在するか否かを検定することである。
において、ＮＬは非直線圧伸符号化されているＰＣＭ符
号を直線符号化形式に変換する符号変換器、ＭＵＬは乗
算器、ＳＵＭは連続する２４個の標本値を加算する累算
器、ＳＱＲは二乗乗算器、ＡＤＤは加算器、ＤＣＮは判
定器、ＣＮＴＤは標本化周期クロツクを計数をカウンタ
、ＲＯＭは前述した３種類の周波数Ｆｌ，ｆ２およびＦ
３のＰＣＭ符号形式基準信号を発生する読み出し専用メ
モリであり、添字のｓは正弦波に、またｃは当該周波数
と直交する信号すなわち余弦波に対して、ＰＣＭ符号化
することを意味し、添字の各数字はそれぞれ第１、第２
および第３の周波数に関するものである。試験信号受信
器ＤＥＴの動作は、離散的プーリ工変換を行うことによ
り、受信された試験信号に３周波成分が規定の信号レベ
ル範囲に存在するか否かを検定することである。
つまり、受信された試験信号は、各読み出し専用メモリ
ＲＯＭから送出される基準信号と剰算器ＭＵＬにおいて
乗算され、その後、累算器ＳＵＭにおいて基本周期期間
にわたつて累積加算され、その結果が二乗乗算器ＳＱＲ
で二乗乗算される。各周波数Ｆｌ，ｆ３およびＦ９の各
系について、それぞれ、同相成分（正弦波基準信号系）
と直交成分（余弦波基準信号系）が加算器ＡＤＤによつ
て加算され、被試験系が６正常１である限り、これらの
加算結果は常に一定値の出力となる。しかし、それぞれ
の周波数領域（Ｆｌ，ｆ３，ｆ，）の近傍に゛異常１が
生じている場合、試験信号受信器ＤＥＴにおけるいずれ
かの加算器ＡＤＤの出力に変動が現われる。判定器ＤＣ
Ｎはこの変動を検出し検定するものである。以上の試験
を行うにあたり、被試験系の信号レベルダイヤグラムに
合わせて、試験信号レベルと試験装置ＴＥＳＴ内の増幅
器Ａｌ，Ａ２およびＡ３の増幅利得を設定しなければな
らない。これらの関係を一例として第６図に示す。試験
信号の基準レベル（正常な復号器で復号した場合の信号
レベル）を０ｂＢとすると第１図および第２図に示す各
信号通過位置における相対信号レベルは第６図のように
なる。
ＲＯＭから送出される基準信号と剰算器ＭＵＬにおいて
乗算され、その後、累算器ＳＵＭにおいて基本周期期間
にわたつて累積加算され、その結果が二乗乗算器ＳＱＲ
で二乗乗算される。各周波数Ｆｌ，ｆ３およびＦ９の各
系について、それぞれ、同相成分（正弦波基準信号系）
と直交成分（余弦波基準信号系）が加算器ＡＤＤによつ
て加算され、被試験系が６正常１である限り、これらの
加算結果は常に一定値の出力となる。しかし、それぞれ
の周波数領域（Ｆｌ，ｆ３，ｆ，）の近傍に゛異常１が
生じている場合、試験信号受信器ＤＥＴにおけるいずれ
かの加算器ＡＤＤの出力に変動が現われる。判定器ＤＣ
Ｎはこの変動を検出し検定するものである。以上の試験
を行うにあたり、被試験系の信号レベルダイヤグラムに
合わせて、試験信号レベルと試験装置ＴＥＳＴ内の増幅
器Ａｌ，Ａ２およびＡ３の増幅利得を設定しなければな
らない。これらの関係を一例として第６図に示す。試験
信号の基準レベル（正常な復号器で復号した場合の信号
レベル）を０ｂＢとすると第１図および第２図に示す各
信号通過位置における相対信号レベルは第６図のように
なる。
例えば、試験信号発生器ＳＧの出力と試験信号受信器Ｄ
ＥＴの入力における信号レベルをいずれも０ｄＢとし、
ハイブリツド回路網ＨおよびＨｔの挿入損失を３ｄＢと
するならば、試験装置ＴＥＳＴ内の増幅器Ａ，，Ａ２，
Ａ３の増幅利得は、それぞれ１２ｄＢ，６ｄＢ，６ｄＢ
である。以上詳細に説明したように、本発明は、ＰＣＭ
交換機の動作中であつても、非通話中のチヤンネルから
順次自動試験を行うことにより、障害個所の早期発見を
行なうことができる。
ＥＴの入力における信号レベルをいずれも０ｄＢとし、
ハイブリツド回路網ＨおよびＨｔの挿入損失を３ｄＢと
するならば、試験装置ＴＥＳＴ内の増幅器Ａ，，Ａ２，
Ａ３の増幅利得は、それぞれ１２ｄＢ，６ｄＢ，６ｄＢ
である。以上詳細に説明したように、本発明は、ＰＣＭ
交換機の動作中であつても、非通話中のチヤンネルから
順次自動試験を行うことにより、障害個所の早期発見を
行なうことができる。
第１図は本発明を適用するＰＣＭ交換機の構成図、第２
図は本発明を実施する試験装置の一実施例を示す構成図
、第３図は試験信号の一例を示す波形図、第４図は試験
信号発生器の構成図、第５図は試験信号受信器の構成図
、第６図は試験装置内の増幅器利得決定のための説明図
である。
図は本発明を実施する試験装置の一実施例を示す構成図
、第３図は試験信号の一例を示す波形図、第４図は試験
信号発生器の構成図、第５図は試験信号受信器の構成図
、第６図は試験装置内の増幅器利得決定のための説明図
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ パルス符号変調（ＰＣＭ）技術と時分割信号多重（
ＴＤＭ）技術を基本とした電話交換機において、第１の
周波数、第２の周波数、第３の周波数が標本化周波数及
び相互間に簡単な整数比を有し前記３周波の加算で表わ
される信号がディジタル符号化された試験信号を発生し
送出する第１の手段、アナログ信号を受信し送出する第
２の手段、およびディジタル符号系列から特定の信号成
分を検出する第３の手段から成る装置を具備し、ディジ
タル符号化試験信号を第１の手段により交換機通話路系
に供給し、該試験信号を通話路系の復号系でアナログ信
号に復号し、該アナログ信号を第２の手段を介して通話
路系の符号化系に供給し、符号化されたディジタル符号
系列を第３の手段により受信し検定することを特徴とす
る電話交換機の通話系試験方式。 ２ パルス符号変調（ＰＣＭ）技術と時分割信号多重（
ＴＤＭ）技術を基本とした電話交換機において、第１の
周波数、第２の周波数、第３の周波数が標本化周波数及
び相互間に簡単な整数比を有し前記３周波の加算で表わ
される信号がディジタル符号化された試験信号を発生し
送出する第１の手段、ディジタル符号系列から特定の信
号成分を検出する第３の手段、通話路系の符号化系へア
ナログ信号化された試験信号を供給する第４の手段、通
話路系の復号系によりアナログ信号化した試験信号をデ
ィジタル化する第５の手段、前記第１の手段からのディ
ジタル符号化された試験信号を通話路系の復号系又は前
記第４の手段へ選択接続する第１のスイッチ手段と、前
記通話路系の符号化系から又は前記第５の手段からのデ
ィジタル化した試験信号を第３の手段へ選択入力する第
２のスイッチ手段とから成る装置を具備し、通話路系の
符号化系及び復号化系を撰世試験することを特徴とする
電話交換機の通話路系試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52014627A JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52014627A JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53100710A JPS53100710A (en) | 1978-09-02 |
| JPS5915232B2 true JPS5915232B2 (ja) | 1984-04-07 |
Family
ID=11866426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52014627A Expired JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5915232B2 (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4826405A (ja) * | 1971-08-11 | 1973-04-07 | ||
| JPS49123709A (ja) * | 1973-03-31 | 1974-11-27 | ||
| JPS5061909A (ja) * | 1973-09-27 | 1975-05-27 | ||
| JPS5389307A (en) * | 1977-01-17 | 1978-08-05 | Hitachi Ltd | Test system for communicating line system |
-
1977
- 1977-02-15 JP JP52014627A patent/JPS5915232B2/ja not_active Expired
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4826405A (ja) * | 1971-08-11 | 1973-04-07 | ||
| JPS49123709A (ja) * | 1973-03-31 | 1974-11-27 | ||
| JPS5061909A (ja) * | 1973-09-27 | 1975-05-27 | ||
| JPS5389307A (en) * | 1977-01-17 | 1978-08-05 | Hitachi Ltd | Test system for communicating line system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53100710A (en) | 1978-09-02 |
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