JPS5915232B2 - 電話交換機の通話路系試験方式 - Google Patents
電話交換機の通話路系試験方式Info
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- JPS5915232B2 JPS5915232B2 JP52014627A JP1462777A JPS5915232B2 JP S5915232 B2 JPS5915232 B2 JP S5915232B2 JP 52014627 A JP52014627 A JP 52014627A JP 1462777 A JP1462777 A JP 1462777A JP S5915232 B2 JPS5915232 B2 JP S5915232B2
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- test signal
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Remote Monitoring And Control Of Power-Distribution Networks (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパルス符号変調(PCM)技術と時分割信号多
重(TDM)技術を利用した電話交換機において、通話
路系の符号器、復号器その他の電子回路素子の動作特性
試験を簡単かつ迅速に行なえる試験方式に関するもので
ある。
重(TDM)技術を利用した電話交換機において、通話
路系の符号器、復号器その他の電子回路素子の動作特性
試験を簡単かつ迅速に行なえる試験方式に関するもので
ある。
PCM電話交換機は、従来の空間分割スイッチを主体と
する電話交換機とは異なり、パルス符号変調(PCM)
と時分割信号多重(TDM)の両技術を駆使し、アクテ
ィブ電子回話素子を組合せて実現されるいわゆる電子交
換機である。
する電話交換機とは異なり、パルス符号変調(PCM)
と時分割信号多重(TDM)の両技術を駆使し、アクテ
ィブ電子回話素子を組合せて実現されるいわゆる電子交
換機である。
このようなPCM交換機は、電話利用者に対して便利で
多彩なサービスを容易に提供できるという点において画
期的であり、かつ、PCM伝送路を介して相互接続がで
きるために通信網の総合化が可能であるという点におい
て将来の発展が嘱望されているものである。このような
通信装置には、電子回路素子の故障や特性劣下による予
期せぬ障害が起り得る。
多彩なサービスを容易に提供できるという点において画
期的であり、かつ、PCM伝送路を介して相互接続がで
きるために通信網の総合化が可能であるという点におい
て将来の発展が嘱望されているものである。このような
通信装置には、電子回路素子の故障や特性劣下による予
期せぬ障害が起り得る。
そのため、障害個所を早期に発見し、しかも、自動的に
発見することが大いに望まれる。第1図は、本発明を適
用するPCM交換機を示す構成図の一例である。
発見することが大いに望まれる。第1図は、本発明を適
用するPCM交換機を示す構成図の一例である。
第1図において、置は電話機、SDSWは空間分割集線
スイツチ、Hは通話路のハイブリツド回路網、As,A
Rはそれぞれ送受信系の増幅器、ろ波器等を含む電子回
路、Gは標本化回路、Dは分配回路、CODは符号器、
DECは復号器、CODECは前記の符号器および復号
器DECから成る符号器復号器、HWsおよびHWRは
それぞれ送受信系の共通線、HWSWは共通線スイツチ
、Jl,J2はジヤンクタ、CDは制御装置、TEST
は試験装置である。また、第1図はPCM信号の時分割
多重数がmの場合を示し、一組の符号器復号器CODE
Clがm個の通話で多重使用されていることを例示して
いる。ここで、第1図により、PCM交換機の動作につ
いて説明する。
スイツチ、Hは通話路のハイブリツド回路網、As,A
Rはそれぞれ送受信系の増幅器、ろ波器等を含む電子回
路、Gは標本化回路、Dは分配回路、CODは符号器、
DECは復号器、CODECは前記の符号器および復号
器DECから成る符号器復号器、HWsおよびHWRは
それぞれ送受信系の共通線、HWSWは共通線スイツチ
、Jl,J2はジヤンクタ、CDは制御装置、TEST
は試験装置である。また、第1図はPCM信号の時分割
多重数がmの場合を示し、一組の符号器復号器CODE
Clがm個の通話で多重使用されていることを例示して
いる。ここで、第1図により、PCM交換機の動作につ
いて説明する。
空間分割集線スイツチSDSWは、n個の通話機回線と
試験装置TEST系回線を任意の時分割チヤンネル系C
Hl,CH2・・・・・・CHmに接続するスイツチ網
である。例えば電話機置1と電話機置Rが通話する場合
、電話機置1は空間分割集線スイツチSDSWの経路R
1を通じてチヤンネルCHl系に接続され、電話機置k
は空間分割集線スイツチSDSWの経路R2を通じてチ
ヤンネルCH2系に接続されている。電話機置1の送信
音声は、チヤンネルCHl系のハイブリツド回話網H一
送信系の電子回路As一標本化回路G一符号器CODl
を経由してPCM符号化される。このPCM信号は、符
号器CODl共通線HWs一共通線スイツチHWSWの
スイツチ点a−スイツチ点b一共通線HWRを経由して
復号器DEClに入り、復号される。この復号された音
声信号は、復号器DECl−チヤンネルCH2の分配回
路D一電子回路AR−ハイブリツド回路網H一電話機置
kを経て受信音声となる。これらの動作は制御装置CC
によつて制御される。電話機置kからの送信音声も同様
に、符号器復号器CODEClを経由して電話機置1の
受信音声となる。また、他の通話が符号器復号器COD
EC2、共通線スイツチHWSWのスイツチ点cおよび
dを経由して行なわれる場合も同様である。PCM交換
機には多くの複雑な電子回路素子が通話路系に用いられ
ているが、装置設計にあたつては、充分な信頼性を持つ
ように考慮されるべきであることは言うまでもない。
試験装置TEST系回線を任意の時分割チヤンネル系C
Hl,CH2・・・・・・CHmに接続するスイツチ網
である。例えば電話機置1と電話機置Rが通話する場合
、電話機置1は空間分割集線スイツチSDSWの経路R
1を通じてチヤンネルCHl系に接続され、電話機置k
は空間分割集線スイツチSDSWの経路R2を通じてチ
ヤンネルCH2系に接続されている。電話機置1の送信
音声は、チヤンネルCHl系のハイブリツド回話網H一
送信系の電子回路As一標本化回路G一符号器CODl
を経由してPCM符号化される。このPCM信号は、符
号器CODl共通線HWs一共通線スイツチHWSWの
スイツチ点a−スイツチ点b一共通線HWRを経由して
復号器DEClに入り、復号される。この復号された音
声信号は、復号器DECl−チヤンネルCH2の分配回
路D一電子回路AR−ハイブリツド回路網H一電話機置
kを経て受信音声となる。これらの動作は制御装置CC
によつて制御される。電話機置kからの送信音声も同様
に、符号器復号器CODEClを経由して電話機置1の
受信音声となる。また、他の通話が符号器復号器COD
EC2、共通線スイツチHWSWのスイツチ点cおよび
dを経由して行なわれる場合も同様である。PCM交換
機には多くの複雑な電子回路素子が通話路系に用いられ
ているが、装置設計にあたつては、充分な信頼性を持つ
ように考慮されるべきであることは言うまでもない。
しかし、予期せぬ障害に対しては、その障害を早期発見
できるよう考慮もなされていなければならない。障害の
発生を発見するためには、平常時でも、常時、何らかの
方法で試験を行なわなければならない。通常は、試験に
より1正常であることの確認゛2を得るということにな
る。つまり大部分の試験結果は”異常なじということに
なり、もし6正常であることの確認゛が得られない場合
が8異常”ということになる。従つて、“正常であるこ
との確認゛(”異常なじ)を得る試験に対しては、簡単
で短時間な(試験延伸系の必要ステツプ数が少い)もの
が望まれる。本発明の目的は、PCM交換機の通話路系
を交換動作中に自動的に試験を行い、障害検出を容易に
行うことができる試験方式を提供するものである。
できるよう考慮もなされていなければならない。障害の
発生を発見するためには、平常時でも、常時、何らかの
方法で試験を行なわなければならない。通常は、試験に
より1正常であることの確認゛2を得るということにな
る。つまり大部分の試験結果は”異常なじということに
なり、もし6正常であることの確認゛が得られない場合
が8異常”ということになる。従つて、“正常であるこ
との確認゛(”異常なじ)を得る試験に対しては、簡単
で短時間な(試験延伸系の必要ステツプ数が少い)もの
が望まれる。本発明の目的は、PCM交換機の通話路系
を交換動作中に自動的に試験を行い、障害検出を容易に
行うことができる試験方式を提供するものである。
以下、図面を参照して、本発明の実施例について説明す
る。
る。
第2図は、第1図の試験装置TESTを詳細に示した構
成図であり、Htはハイブリツド回路網、CODtは符
号器、DECtは復号器、Al,A2,A3は増幅器、
Sl,S2,S3,S4はスイツチ、SGは試験信号発
生器、DETは試験信号受信器である。
成図であり、Htはハイブリツド回路網、CODtは符
号器、DECtは復号器、Al,A2,A3は増幅器、
Sl,S2,S3,S4はスイツチ、SGは試験信号発
生器、DETは試験信号受信器である。
第1図および第2図はよりチヤンネルCHl系の試験動
作について説明する。
作について説明する。
試験信号は試験信号発生器SGからPCM符号形式でス
イツチS3を通り、試験装置TESTOxから出力され
、共通線HWSl共通線スイツチ点eおよびfを経由し
て、復号器DEClに供給される。試験信号は復号器D
EClを復号され、分配回路D1受信系の電子回路AR
を経由してハイブリツド回路網Hに供給される。復号さ
れた試験信号は、あらかじめ接続されている空間分割集
線スイツチSDSWの経路R3を通して試験装置TES
Tのqに供給される。試験装置TESTO)qからハイ
ブリツド回路網Htに供給された復号された試験信号を
スイツチS1、増幅器AぃスイツチS2、ハイブリツド
回路網Htを経由して空間分割集線スイツチSDSWに
返送し、再度、経路R3を通じて通話路のハイブリツド
回路網Hに返送される。この返送された試験信号は、チ
ヤンネルCHl系の電子回路ASl標本化回路Gを経由
して符号器CODlに供給され、PCM符号化される。
さらに、この符号化された試験信号は、共通線スイツチ
HWSWのスイツチ点aおよびgを経由して試験装置T
ESTO)yに供給され、試験装置TESTのスイツチ
S4を通して試験信号受信器DETに供給される。被試
験系(通話路系)の電子回路素子の動作および電気的特
性が゛正常”の場合、試験信号受信器DETで検出され
る信号は、試験信号発生器SGから送出される試験信号
ときわめてよく一致するはずであり、試験信号受信器D
ETはその一致の程度を検定する機能をもつている。
イツチS3を通り、試験装置TESTOxから出力され
、共通線HWSl共通線スイツチ点eおよびfを経由し
て、復号器DEClに供給される。試験信号は復号器D
EClを復号され、分配回路D1受信系の電子回路AR
を経由してハイブリツド回路網Hに供給される。復号さ
れた試験信号は、あらかじめ接続されている空間分割集
線スイツチSDSWの経路R3を通して試験装置TES
Tのqに供給される。試験装置TESTO)qからハイ
ブリツド回路網Htに供給された復号された試験信号を
スイツチS1、増幅器AぃスイツチS2、ハイブリツド
回路網Htを経由して空間分割集線スイツチSDSWに
返送し、再度、経路R3を通じて通話路のハイブリツド
回路網Hに返送される。この返送された試験信号は、チ
ヤンネルCHl系の電子回路ASl標本化回路Gを経由
して符号器CODlに供給され、PCM符号化される。
さらに、この符号化された試験信号は、共通線スイツチ
HWSWのスイツチ点aおよびgを経由して試験装置T
ESTO)yに供給され、試験装置TESTのスイツチ
S4を通して試験信号受信器DETに供給される。被試
験系(通話路系)の電子回路素子の動作および電気的特
性が゛正常”の場合、試験信号受信器DETで検出され
る信号は、試験信号発生器SGから送出される試験信号
ときわめてよく一致するはずであり、試験信号受信器D
ETはその一致の程度を検定する機能をもつている。
なお、通常は大部分の通話路が正常動作をしていると考
えられ、各チヤンネルについて、制御装置CCの制御に
より順次1正常1の確認が得られる。また、送信系のみ
を独立に試験する場合は、制御装置CCの制御により試
験装置TESTのスイツチS2,S3を第2図に示した
状態から切換え、試験信号発生器SGからのPCM符号
形式の試験信号を試験装置TESTの復号器DECtで
復号し、復号器DECt一増幅器A3−スイツチS2−
ハイブリツド回路網Ht一空間分割集線スイツチSDS
Wの経路R3一通話路のハイブリツド回路網Hを経由し
て、チヤンネルCHl系の送信系に供給する。
えられ、各チヤンネルについて、制御装置CCの制御に
より順次1正常1の確認が得られる。また、送信系のみ
を独立に試験する場合は、制御装置CCの制御により試
験装置TESTのスイツチS2,S3を第2図に示した
状態から切換え、試験信号発生器SGからのPCM符号
形式の試験信号を試験装置TESTの復号器DECtで
復号し、復号器DECt一増幅器A3−スイツチS2−
ハイブリツド回路網Ht一空間分割集線スイツチSDS
Wの経路R3一通話路のハイブリツド回路網Hを経由し
て、チヤンネルCHl系の送信系に供給する。
この復号された試験信号は符号器CODlで符号化され
、共通線スイツチHWSWを経て、試験装置TESTの
試験信号受信器DETで検定される。さらに、受信系の
みを独立に試験する場合は、制御装置CCの制御により
試験装置TESTのスイツチSl,S4を第2図に示し
た状態から切換え、試験信号発生器SGからのPCM符
号形式の試験信号を、スイツチS3一共通線スイツチH
WSWのe点、f点を経由して、復号器DEClで復号
する。
、共通線スイツチHWSWを経て、試験装置TESTの
試験信号受信器DETで検定される。さらに、受信系の
みを独立に試験する場合は、制御装置CCの制御により
試験装置TESTのスイツチSl,S4を第2図に示し
た状態から切換え、試験信号発生器SGからのPCM符
号形式の試験信号を、スイツチS3一共通線スイツチH
WSWのe点、f点を経由して、復号器DEClで復号
する。
復号された試験信号は、チヤンネルCHl系の分配回路
D一電子回路AR−ハイブリツド回路H一空間分割集線
スイツチSDSWの経路R3−試験装置TESTのハイ
ブリツド回路網HtースイツチS1一増幅器A2を経由
して、符号器CODtに供給され、符号化される。この
符号化された信号は、スイツチS4を経由して試験信号
受信器DETに供給され、検定される。このように、試
験は送受信系、送信系、受信系′の3種類がある。
D一電子回路AR−ハイブリツド回路H一空間分割集線
スイツチSDSWの経路R3−試験装置TESTのハイ
ブリツド回路網HtースイツチS1一増幅器A2を経由
して、符号器CODtに供給され、符号化される。この
符号化された信号は、スイツチS4を経由して試験信号
受信器DETに供給され、検定される。このように、試
験は送受信系、送信系、受信系′の3種類がある。
ここで;送受信系の試験で゛異常゛が認められた場合、
障害の可能性は、1チヤンネルCHlの送信系(As,
G)、2符号器CODl系、3復号器DECl系、4チ
ヤンネルCHlの受信系(AR,D)にあることになる
。
障害の可能性は、1チヤンネルCHlの送信系(As,
G)、2符号器CODl系、3復号器DECl系、4チ
ヤンネルCHlの受信系(AR,D)にあることになる
。
この場合は、チヤンネルCH2(CH3,・・・,CH
mのいずれでもよい)系の試験を行い、障害の可能性の
細分化を行う。チヤンネルCH2系の試験が゛正常゛で
であれば、前述の2,3ば正常゛である。すなわち障害
の可能性は、5前述の1チヤンネルCHlの送信系(A
s,G)又は4チヤンネルCHlの受信系(AR,D)
にある。もしチヤンネルCH2系の試験が”異常”であ
れば、異常の可能性は、6前述の2符号器CODl系又
は3復号器DECl系にある。したがつて、さらに障害
の細分化を望む場合は、チヤンネルCH2系の試験結果
のいずれの場合も、チヤンネルCHl系の送信系か受信
系のいずれかを独立に試験をしなければならない。
mのいずれでもよい)系の試験を行い、障害の可能性の
細分化を行う。チヤンネルCH2系の試験が゛正常゛で
であれば、前述の2,3ば正常゛である。すなわち障害
の可能性は、5前述の1チヤンネルCHlの送信系(A
s,G)又は4チヤンネルCHlの受信系(AR,D)
にある。もしチヤンネルCH2系の試験が”異常”であ
れば、異常の可能性は、6前述の2符号器CODl系又
は3復号器DECl系にある。したがつて、さらに障害
の細分化を望む場合は、チヤンネルCH2系の試験結果
のいずれの場合も、チヤンネルCHl系の送信系か受信
系のいずれかを独立に試験をしなければならない。
前述の5の場合で、送信系の試験で゛異常゛の場合は1
チヤンネルCHlの送信系(As,G)に6異常゛があ
り、試験力げ正常”゜の場合は4チヤンネルCHlの受
信系(AR,D)に”異常1がある。
チヤンネルCHlの送信系(As,G)に6異常゛があ
り、試験力げ正常”゜の場合は4チヤンネルCHlの受
信系(AR,D)に”異常1がある。
同様に、6の場合で、試験が6異常゛の場合は2符号器
CODl系に1異常゛があり、試験が゛正常1の場合は
3復号器DECl系に゛異常゛がある。また、受信系の
試験において、前述の5の場合で試験が゛異常゛の場合
は4チヤンネルCHlの受信系(AR,D)に“異常゛
があり、゛正常゛の場合は1チヤンネルCHlの送信系
に6異常゛゜がある。
CODl系に1異常゛があり、試験が゛正常1の場合は
3復号器DECl系に゛異常゛がある。また、受信系の
試験において、前述の5の場合で試験が゛異常゛の場合
は4チヤンネルCHlの受信系(AR,D)に“異常゛
があり、゛正常゛の場合は1チヤンネルCHlの送信系
に6異常゛゜がある。
同じく受信系の試験において、6の場合で、試験が“異
常゛の場合は3復号器DECl系に゛異常゛があり、試
験が゛正常゛の場合は2符号器CODl系に6異常”が
ある。このようにして、以上のような試験を制御装置C
Cの制御のもとに全チヤンネルについて行うことにより
、障害個所を自動的にかつ早期に発見することができる
。
常゛の場合は3復号器DECl系に゛異常゛があり、試
験が゛正常゛の場合は2符号器CODl系に6異常”が
ある。このようにして、以上のような試験を制御装置C
Cの制御のもとに全チヤンネルについて行うことにより
、障害個所を自動的にかつ早期に発見することができる
。
つぎに、試験信号について説明する。
第3図は試験信号の一例であり、第3図aにおいてアナ
ログ的に表現される試験信号波形をF。とすると、この
信号は第3図bの如く3種類の正弦波Fl,F3,f9
の加算で表わされる。3周波の選定の条件として、5第
1周波数f1を低域周波領域の試験用、第2の周波波F
3を中域周波領域の試験用、第3の周波数F9を高域周
波領域の試験用とし、53周波の間に簡単な整数比があ
り、[F]音声信号の標本化周波数である8kHzとの
間にも簡単な整数比をもたせることが、試験信号発生器
SGの構成を簡単化するために効果的である。
ログ的に表現される試験信号波形をF。とすると、この
信号は第3図bの如く3種類の正弦波Fl,F3,f9
の加算で表わされる。3周波の選定の条件として、5第
1周波数f1を低域周波領域の試験用、第2の周波波F
3を中域周波領域の試験用、第3の周波数F9を高域周
波領域の試験用とし、53周波の間に簡単な整数比があ
り、[F]音声信号の標本化周波数である8kHzとの
間にも簡単な整数比をもたせることが、試験信号発生器
SGの構成を簡単化するために効果的である。
これらの条件3,5およびのを満足するには、第1の周
波数f1を0.333kHz正弦波、第2の周波数F3
を1.0kHz正弦波、第3の周波数F9を3.0kH
z正弦波とすることがもつとも望ましい。PCM符号形
式の試験信号をF。
波数f1を0.333kHz正弦波、第2の周波数F3
を1.0kHz正弦波、第3の周波数F9を3.0kH
z正弦波とすることがもつとも望ましい。PCM符号形
式の試験信号をF。
Pとすると、FOpは、アナログ試験信号F。を第3図
aのように時間軸t上のO〜23の各点で標本化し、各
標本値をPCM符号化して得られる。これらのPCM符
号化標本値は第3図に示す基本周期を1周期としてくり
かえされるものである。実際の発生方法としては、これ
らの24種類のPCM符号を読み出し専用メモリから循
環的に読み出すことによつて得られるものである。この
ようなPCM符号形式の試験信号F。
aのように時間軸t上のO〜23の各点で標本化し、各
標本値をPCM符号化して得られる。これらのPCM符
号化標本値は第3図に示す基本周期を1周期としてくり
かえされるものである。実際の発生方法としては、これ
らの24種類のPCM符号を読み出し専用メモリから循
環的に読み出すことによつて得られるものである。この
ようなPCM符号形式の試験信号F。
Pは、第2図における試験信号発生器SGの出力として
現われ、試験装置TESTの復号器DECtに供給され
る場合には、復号器DECtの出力には試験信号F。が
現われる。実際の符号器復号器CODEC(第1図に示
す)の動作は圧伸特性(PCM通信の分野ではμ法、A
法という標準法則が一般的である)をもつているため、
アナログ試験信号F。.(!:PCM符号形式の試験信
号F。Pの間にもその圧伸特性を加昧した関係がなけれ
ばならない。以上の説明では試験信号F。
現われ、試験装置TESTの復号器DECtに供給され
る場合には、復号器DECtの出力には試験信号F。が
現われる。実際の符号器復号器CODEC(第1図に示
す)の動作は圧伸特性(PCM通信の分野ではμ法、A
法という標準法則が一般的である)をもつているため、
アナログ試験信号F。.(!:PCM符号形式の試験信
号F。Pの間にもその圧伸特性を加昧した関係がなけれ
ばならない。以上の説明では試験信号F。
がFl,f3,f,の加算合成波として表わされる場合
を例示したが、試験信号としてはFl,f3,f9それ
ぞれの単一正弦波をPCM符号化して用いても目的を達
成することができる。しかし、加算合成波を用いること
により、3周波についての試験を同時に行うことが可能
となり、試験に要する時間を短縮することができる。つ
ぎに、゛PCM符号形式の試験信号F。
を例示したが、試験信号としてはFl,f3,f9それ
ぞれの単一正弦波をPCM符号化して用いても目的を達
成することができる。しかし、加算合成波を用いること
により、3周波についての試験を同時に行うことが可能
となり、試験に要する時間を短縮することができる。つ
ぎに、゛PCM符号形式の試験信号F。
Pの具体的な発生方法について説明する。第4図は第2
図における試験信号発生器SGの部分の構成図である。
第4図?おいて、CTNsは標本化周期クロツクを計数
するカウンタ、ROMにカウンタCNT8の内容でアド
レス指定される読み出し専用メモリROMには、前述し
た通り、第3図に示した24種類のPCM符号があらか
じめ記憶されていて、カウンタCNTsからのアドレス
指定により、頓次、当該指定されたPCM符号を出力す
る。これらの符号系列がPCM符号形式の試験信号とな
る。つぎは、試験信号受信器DETについて説明する。
図における試験信号発生器SGの部分の構成図である。
第4図?おいて、CTNsは標本化周期クロツクを計数
するカウンタ、ROMにカウンタCNT8の内容でアド
レス指定される読み出し専用メモリROMには、前述し
た通り、第3図に示した24種類のPCM符号があらか
じめ記憶されていて、カウンタCNTsからのアドレス
指定により、頓次、当該指定されたPCM符号を出力す
る。これらの符号系列がPCM符号形式の試験信号とな
る。つぎは、試験信号受信器DETについて説明する。
第5図は試験信号受信器DETの構成図である。第5図
において、NLは非直線圧伸符号化されているPCM符
号を直線符号化形式に変換する符号変換器、MULは乗
算器、SUMは連続する24個の標本値を加算する累算
器、SQRは二乗乗算器、ADDは加算器、DCNは判
定器、CNTDは標本化周期クロツクを計数をカウンタ
、ROMは前述した3種類の周波数Fl,f2およびF
3のPCM符号形式基準信号を発生する読み出し専用メ
モリであり、添字のsは正弦波に、またcは当該周波数
と直交する信号すなわち余弦波に対して、PCM符号化
することを意味し、添字の各数字はそれぞれ第1、第2
および第3の周波数に関するものである。試験信号受信
器DETの動作は、離散的プーリ工変換を行うことによ
り、受信された試験信号に3周波成分が規定の信号レベ
ル範囲に存在するか否かを検定することである。
において、NLは非直線圧伸符号化されているPCM符
号を直線符号化形式に変換する符号変換器、MULは乗
算器、SUMは連続する24個の標本値を加算する累算
器、SQRは二乗乗算器、ADDは加算器、DCNは判
定器、CNTDは標本化周期クロツクを計数をカウンタ
、ROMは前述した3種類の周波数Fl,f2およびF
3のPCM符号形式基準信号を発生する読み出し専用メ
モリであり、添字のsは正弦波に、またcは当該周波数
と直交する信号すなわち余弦波に対して、PCM符号化
することを意味し、添字の各数字はそれぞれ第1、第2
および第3の周波数に関するものである。試験信号受信
器DETの動作は、離散的プーリ工変換を行うことによ
り、受信された試験信号に3周波成分が規定の信号レベ
ル範囲に存在するか否かを検定することである。
つまり、受信された試験信号は、各読み出し専用メモリ
ROMから送出される基準信号と剰算器MULにおいて
乗算され、その後、累算器SUMにおいて基本周期期間
にわたつて累積加算され、その結果が二乗乗算器SQR
で二乗乗算される。各周波数Fl,f3およびF9の各
系について、それぞれ、同相成分(正弦波基準信号系)
と直交成分(余弦波基準信号系)が加算器ADDによつ
て加算され、被試験系が6正常1である限り、これらの
加算結果は常に一定値の出力となる。しかし、それぞれ
の周波数領域(Fl,f3,f,)の近傍に゛異常1が
生じている場合、試験信号受信器DETにおけるいずれ
かの加算器ADDの出力に変動が現われる。判定器DC
Nはこの変動を検出し検定するものである。以上の試験
を行うにあたり、被試験系の信号レベルダイヤグラムに
合わせて、試験信号レベルと試験装置TEST内の増幅
器Al,A2およびA3の増幅利得を設定しなければな
らない。これらの関係を一例として第6図に示す。試験
信号の基準レベル(正常な復号器で復号した場合の信号
レベル)を0bBとすると第1図および第2図に示す各
信号通過位置における相対信号レベルは第6図のように
なる。
ROMから送出される基準信号と剰算器MULにおいて
乗算され、その後、累算器SUMにおいて基本周期期間
にわたつて累積加算され、その結果が二乗乗算器SQR
で二乗乗算される。各周波数Fl,f3およびF9の各
系について、それぞれ、同相成分(正弦波基準信号系)
と直交成分(余弦波基準信号系)が加算器ADDによつ
て加算され、被試験系が6正常1である限り、これらの
加算結果は常に一定値の出力となる。しかし、それぞれ
の周波数領域(Fl,f3,f,)の近傍に゛異常1が
生じている場合、試験信号受信器DETにおけるいずれ
かの加算器ADDの出力に変動が現われる。判定器DC
Nはこの変動を検出し検定するものである。以上の試験
を行うにあたり、被試験系の信号レベルダイヤグラムに
合わせて、試験信号レベルと試験装置TEST内の増幅
器Al,A2およびA3の増幅利得を設定しなければな
らない。これらの関係を一例として第6図に示す。試験
信号の基準レベル(正常な復号器で復号した場合の信号
レベル)を0bBとすると第1図および第2図に示す各
信号通過位置における相対信号レベルは第6図のように
なる。
例えば、試験信号発生器SGの出力と試験信号受信器D
ETの入力における信号レベルをいずれも0dBとし、
ハイブリツド回路網HおよびHtの挿入損失を3dBと
するならば、試験装置TEST内の増幅器A,,A2,
A3の増幅利得は、それぞれ12dB,6dB,6dB
である。以上詳細に説明したように、本発明は、PCM
交換機の動作中であつても、非通話中のチヤンネルから
順次自動試験を行うことにより、障害個所の早期発見を
行なうことができる。
ETの入力における信号レベルをいずれも0dBとし、
ハイブリツド回路網HおよびHtの挿入損失を3dBと
するならば、試験装置TEST内の増幅器A,,A2,
A3の増幅利得は、それぞれ12dB,6dB,6dB
である。以上詳細に説明したように、本発明は、PCM
交換機の動作中であつても、非通話中のチヤンネルから
順次自動試験を行うことにより、障害個所の早期発見を
行なうことができる。
第1図は本発明を適用するPCM交換機の構成図、第2
図は本発明を実施する試験装置の一実施例を示す構成図
、第3図は試験信号の一例を示す波形図、第4図は試験
信号発生器の構成図、第5図は試験信号受信器の構成図
、第6図は試験装置内の増幅器利得決定のための説明図
である。
図は本発明を実施する試験装置の一実施例を示す構成図
、第3図は試験信号の一例を示す波形図、第4図は試験
信号発生器の構成図、第5図は試験信号受信器の構成図
、第6図は試験装置内の増幅器利得決定のための説明図
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パルス符号変調(PCM)技術と時分割信号多重(
TDM)技術を基本とした電話交換機において、第1の
周波数、第2の周波数、第3の周波数が標本化周波数及
び相互間に簡単な整数比を有し前記3周波の加算で表わ
される信号がディジタル符号化された試験信号を発生し
送出する第1の手段、アナログ信号を受信し送出する第
2の手段、およびディジタル符号系列から特定の信号成
分を検出する第3の手段から成る装置を具備し、ディジ
タル符号化試験信号を第1の手段により交換機通話路系
に供給し、該試験信号を通話路系の復号系でアナログ信
号に復号し、該アナログ信号を第2の手段を介して通話
路系の符号化系に供給し、符号化されたディジタル符号
系列を第3の手段により受信し検定することを特徴とす
る電話交換機の通話系試験方式。 2 パルス符号変調(PCM)技術と時分割信号多重(
TDM)技術を基本とした電話交換機において、第1の
周波数、第2の周波数、第3の周波数が標本化周波数及
び相互間に簡単な整数比を有し前記3周波の加算で表わ
される信号がディジタル符号化された試験信号を発生し
送出する第1の手段、ディジタル符号系列から特定の信
号成分を検出する第3の手段、通話路系の符号化系へア
ナログ信号化された試験信号を供給する第4の手段、通
話路系の復号系によりアナログ信号化した試験信号をデ
ィジタル化する第5の手段、前記第1の手段からのディ
ジタル符号化された試験信号を通話路系の復号系又は前
記第4の手段へ選択接続する第1のスイッチ手段と、前
記通話路系の符号化系から又は前記第5の手段からのデ
ィジタル化した試験信号を第3の手段へ選択入力する第
2のスイッチ手段とから成る装置を具備し、通話路系の
符号化系及び復号化系を撰世試験することを特徴とする
電話交換機の通話路系試験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52014627A JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52014627A JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS53100710A JPS53100710A (en) | 1978-09-02 |
JPS5915232B2 true JPS5915232B2 (ja) | 1984-04-07 |
Family
ID=11866426
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52014627A Expired JPS5915232B2 (ja) | 1977-02-15 | 1977-02-15 | 電話交換機の通話路系試験方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5915232B2 (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4826405A (ja) * | 1971-08-11 | 1973-04-07 | ||
JPS49123709A (ja) * | 1973-03-31 | 1974-11-27 | ||
JPS5061909A (ja) * | 1973-09-27 | 1975-05-27 | ||
JPS5389307A (en) * | 1977-01-17 | 1978-08-05 | Hitachi Ltd | Test system for communicating line system |
-
1977
- 1977-02-15 JP JP52014627A patent/JPS5915232B2/ja not_active Expired
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4826405A (ja) * | 1971-08-11 | 1973-04-07 | ||
JPS49123709A (ja) * | 1973-03-31 | 1974-11-27 | ||
JPS5061909A (ja) * | 1973-09-27 | 1975-05-27 | ||
JPS5389307A (en) * | 1977-01-17 | 1978-08-05 | Hitachi Ltd | Test system for communicating line system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53100710A (en) | 1978-09-02 |
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