JPS59138916A - 距離測定装置 - Google Patents
距離測定装置Info
- Publication number
- JPS59138916A JPS59138916A JP1347583A JP1347583A JPS59138916A JP S59138916 A JPS59138916 A JP S59138916A JP 1347583 A JP1347583 A JP 1347583A JP 1347583 A JP1347583 A JP 1347583A JP S59138916 A JPS59138916 A JP S59138916A
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- JP
- Japan
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- angle
- light
- axis
- lense
- imaging lens
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
この発明は光切断法を応用した光学的な距離測定装置に
関する。
関する。
第１図の如く対象面（４）に平行ビーム光（１１を投光
し、対象面での反射スポットの像を斜め方向からレンズ
（２）を通して一次元光検出器１３）上に結像させてそ
の像の位置から対象面までの距離を算出し測定する光切
断法による距離測定装置において、同一分解能の一次元
光検出器（３）を用いながらも測定精度をさらに向上さ
せる光切断法による距離測定装置を提供することを目的
とする。
し、対象面での反射スポットの像を斜め方向からレンズ
（２）を通して一次元光検出器１３）上に結像させてそ
の像の位置から対象面までの距離を算出し測定する光切
断法による距離測定装置において、同一分解能の一次元
光検出器（３）を用いながらも測定精度をさらに向上さ
せる光切断法による距離測定装置を提供することを目的
とする。
光切断法を応用した光学的な距離測定方法としては、従
来第１図に示すごとくレーザー発振器（５）の出すレー
ザー光をコリメータ（６）により小径の平行ビーム光（
１１として、距離測定方向に対象面〔４）に投光し、こ
れによって住じた反射スポットを観察角θ１で撮像レン
ズ（７）を用いてＰＳＤや一次元イメージセン→ノー等
の一次元光検出器上に結像させ、その像位置から対象面
（４１までの距離を測定する方法か知られている。
来第１図に示すごとくレーザー発振器（５）の出すレー
ザー光をコリメータ（６）により小径の平行ビーム光（
１１として、距離測定方向に対象面〔４）に投光し、こ
れによって住じた反射スポットを観察角θ１で撮像レン
ズ（７）を用いてＰＳＤや一次元イメージセン→ノー等
の一次元光検出器上に結像させ、その像位置から対象面
（４１までの距離を測定する方法か知られている。
そしてこの場合、対象面（４）が距離測定方向（前後）
に変位しても一次元光検出器上に常にピント良く結像さ
ゼる為に、撮像レンズ（ア）の面と一次元光検出器（３
）の受光面が、投光せる平行ビーム軸ｆｉｌ上で交わる
ようにしなければならないというシャインプルーグ条件
を満すように光学系を構成する必要があることも知られ
ている。（共立全書「写真計測法」藤波重次著Ｐ１２４
参照） また−次元光検出器（３）の分解能は一般に内蔵される
受光素子の大きさによって決定されるか、距１１ｉ１１
測定精度を向上させる為には撮像レンズ（７）の焦点距
離を大きくし、−次元光検出器（３）と撮像レンズ（７
）の間隔を大きくとって撮像倍率を拡大すればよい。
に変位しても一次元光検出器上に常にピント良く結像さ
ゼる為に、撮像レンズ（ア）の面と一次元光検出器（３
）の受光面が、投光せる平行ビーム軸ｆｉｌ上で交わる
ようにしなければならないというシャインプルーグ条件
を満すように光学系を構成する必要があることも知られ
ている。（共立全書「写真計測法」藤波重次著Ｐ１２４
参照） また−次元光検出器（３）の分解能は一般に内蔵される
受光素子の大きさによって決定されるか、距１１ｉ１１
測定精度を向上させる為には撮像レンズ（７）の焦点距
離を大きくし、−次元光検出器（３）と撮像レンズ（７
）の間隔を大きくとって撮像倍率を拡大すればよい。
しかるに従前は観察軸（反射ビームＸｌ０）に面を垂直
にして撮像レンズ（７）を配置していたので、撮像レン
ズ（７１の焦点距離を大きくして前述のシャインプルー
グ条件を成立させる為には一次元光検出器（３）の受光
面は撮像レンズ（７）の面と投光ビーム軸（１）の交点
Ｐに向けて設置されねはならずそのためには光の入射角
θ２か大きくなり、−次元（３）上で表面反射か大きく
なり受光句が低下してＳ／Ｎ比が悪化する欠点があった
。
にして撮像レンズ（７）を配置していたので、撮像レン
ズ（７１の焦点距離を大きくして前述のシャインプルー
グ条件を成立させる為には一次元光検出器（３）の受光
面は撮像レンズ（７）の面と投光ビーム軸（１）の交点
Ｐに向けて設置されねはならずそのためには光の入射角
θ２か大きくなり、−次元（３）上で表面反射か大きく
なり受光句が低下してＳ／Ｎ比が悪化する欠点があった
。
この発明は上記欠点を除去せんとするものであり、その
要旨とするところは対象面に平行ビーム光を投光し、そ
の反射ビームをシャインプルーグ条件を満すように配し
た撮像レンズを介して一次元光検出器に結像し、電気的
処理により距離を検出する距離測定装置において、撮像
レンズの面を観察軸に対して観察側に鋭角に傾けて配し
て成ることを特徴とする距離測定装置である。
要旨とするところは対象面に平行ビーム光を投光し、そ
の反射ビームをシャインプルーグ条件を満すように配し
た撮像レンズを介して一次元光検出器に結像し、電気的
処理により距離を検出する距離測定装置において、撮像
レンズの面を観察軸に対して観察側に鋭角に傾けて配し
て成ることを特徴とする距離測定装置である。
以下この発明を第２図に［Ｕｌ示ぜる一実施例に基つき
説明する。
説明する。
図面において、（５）はへリウムーネオンレーザーの発
振器であり、該発振器（５）に対応してコリメータ（６
）が配されている。
振器であり、該発振器（５）に対応してコリメータ（６
）が配されている。
（４）はコリメータ（６）に対向する反射面（４）で、
平行ビーム光＋１１が垂直に入射する。
平行ビーム光＋１１が垂直に入射する。
（７）は撮像レンズで、上記平行ビーム光（１）が角度
θ】で反射する反射ビーム（観察軸）（１０）にその面
を角度ψたけ傾けて配されている。この角度ψは観察軸
（１０）に対して観察側から０＜４＜９０度鋭角となる
ように配する。
θ】で反射する反射ビーム（観察軸）（１０）にその面
を角度ψたけ傾けて配されている。この角度ψは観察軸
（１０）に対して観察側から０＜４＜９０度鋭角となる
ように配する。
点Ｐは撮像レンズ（７）の面と平行ビーム光（１１の元
軸上の交点である。
軸上の交点である。
（３）は−次元イメージセンサやＰＳＤ、さらにはテレ
ビカメラ等の少なくとも光により一次元の付性検出がで
きる一次元光検出器で反射ビーム（１０）に対して角度
θを持たせると共にその受光面が前記Ｐ点を通過するよ
うに配置されている。
ビカメラ等の少なくとも光により一次元の付性検出がで
きる一次元光検出器で反射ビーム（１０）に対して角度
θを持たせると共にその受光面が前記Ｐ点を通過するよ
うに配置されている。
（８）は反射ビーム（１０）を受けた一次元光検出器（
３）のピークアドレスを検出する回路であり、（９）は
そのピークアドレスを補正するリニア補正回路である。
３）のピークアドレスを検出する回路であり、（９）は
そのピークアドレスを補正するリニア補正回路である。
斜上の如く撮像レンズ（７）を観察軸（１０）に対して
Ｏくψ〈９０度の鋭角となるように伸けて設置すると撮
像レンズ面と一次元光検出器の表面との交角が大きくな
りシャインプルーグ条件の点Ｐは、投光軸（１）上を投
光方向と逆の方向に移動する。
Ｏくψ〈９０度の鋭角となるように伸けて設置すると撮
像レンズ面と一次元光検出器の表面との交角が大きくな
りシャインプルーグ条件の点Ｐは、投光軸（１）上を投
光方向と逆の方向に移動する。
この為、−次元光検出器（３）と撮像レンズ（７）の間
隔を従来例と比べて大きくしても、光の入射角θを小さ
くする事ができる。
隔を従来例と比べて大きくしても、光の入射角θを小さ
くする事ができる。
而してレーザー発振器（５）の出す光はコリメータ（６
）により平行ビーム光（１）として対象面（４）に投射
され、その反射ビームは観察軸（１０）上に配された撮
像レンズ（７）を介して一次元光検出器（３）上に結像
し、検出回路、リニア補正回路により電気的処理がなさ
れ距離として測定されるのである。
）により平行ビーム光（１）として対象面（４）に投射
され、その反射ビームは観察軸（１０）上に配された撮
像レンズ（７）を介して一次元光検出器（３）上に結像
し、検出回路、リニア補正回路により電気的処理がなさ
れ距離として測定されるのである。
以上の如くこの発明による撮像レンズ（７）を観察軸（
１０）に対して観察側にＯ〈ψ〈９０度の鋭角の傾きと
なるよう傾けて設置しているので、シャインプルーグ条
件を満足させても撮像レンズ面と一次元光検出器の受光
面との交角が大きくなり、−次元光検出器（３）を表面
反射を小さくしたまま撮像レンズ（７）から離せるので
、撮像レンズの焦点距離を大きくでき、拡大して撮像で
き同一分解能の一次元光検出器（３）を用いてより高精
度の距離測定か可能となるのである。
１０）に対して観察側にＯ〈ψ〈９０度の鋭角の傾きと
なるよう傾けて設置しているので、シャインプルーグ条
件を満足させても撮像レンズ面と一次元光検出器の受光
面との交角が大きくなり、−次元光検出器（３）を表面
反射を小さくしたまま撮像レンズ（７）から離せるので
、撮像レンズの焦点距離を大きくでき、拡大して撮像で
き同一分解能の一次元光検出器（３）を用いてより高精
度の距離測定か可能となるのである。
第１図は従来例を示す概略図、第２図はこの発明の一実
施例を示す概略図である。
施例を示す概略図である。
Claims (1)
- （１１対象面に平行ビーム光を投光し、その反射ビーム
をシャインプルーグ条件を満すように配した撮像レンズ
を介して一次元光検出器に結像し、電気的処理により距
離を検出する距離測定装置において、撮像レンズの面を
観察軸に対してｔ＆察側に鋭角に傾けて配して成ること
を特徴とする距離測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347583A JPS59138916A (ja) | 1983-01-28 | 1983-01-28 | 距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1347583A JPS59138916A (ja) | 1983-01-28 | 1983-01-28 | 距離測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59138916A true JPS59138916A (ja) | 1984-08-09 |
Family
ID=11834149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1347583A Pending JPS59138916A (ja) | 1983-01-28 | 1983-01-28 | 距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59138916A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005067281A (ja) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Toshiba Corp | 距離検出装置、エアバッグ制御装置および距離検出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5767815A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-24 | Mitsuhiro Ueda | Measuring method for position of reflector using light |
-
1983
- 1983-01-28 JP JP1347583A patent/JPS59138916A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5767815A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-24 | Mitsuhiro Ueda | Measuring method for position of reflector using light |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005067281A (ja) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Toshiba Corp | 距離検出装置、エアバッグ制御装置および距離検出方法 |
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