JPS5911659A - 半導体用リ−ド材 - Google Patents
半導体用リ−ド材Info
- Publication number
- JPS5911659A JPS5911659A JP12091582A JP12091582A JPS5911659A JP S5911659 A JPS5911659 A JP S5911659A JP 12091582 A JP12091582 A JP 12091582A JP 12091582 A JP12091582 A JP 12091582A JP S5911659 A JPS5911659 A JP S5911659A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead material
- conductivity
- heat resistance
- lead
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、すぐれたメッキ性、プレス打抜き性、放熱
性、耐繰り返し曲げ性、および導電性を有し、かつ耐熱
性にもすぐれた半導体用リード材に関するものである。
性、耐繰り返し曲げ性、および導電性を有し、かつ耐熱
性にもすぐれた半導体用リード材に関するものである。
一般に、半導体としてはl・ランジスクやICなどが知
られているが、例えばICなどの半導体は、(a、)
まず、 Cu合金ストリップの表面[Ni 、 Sn
。
られているが、例えばICなどの半導体は、(a、)
まず、 Cu合金ストリップの表面[Ni 、 Sn
。
A1およびその合金などのメッキ層を形成したものから
なるリード素材を用意し。
なるリード素材を用意し。
(b) 上記リード累月よりプレス打抜き加工により
製造せんとする半導体の形状に適合したリードフレーム
を成形し。
製造せんとする半導体の形状に適合したリードフレーム
を成形し。
(c)ついで、上記リードフレームの所定箇所に高純度
S1あるいはGeなどの素子を順次約350〜500℃
の温度で上記メッキ層を介して熱圧着し。
S1あるいはGeなどの素子を順次約350〜500℃
の温度で上記メッキ層を介して熱圧着し。
(d) 上記素子と上記リードフレームに渡ってコレ
クタおよびエミッタ用の結線ヲ施し、(θ)引続いて、
上記素子、結線、および素子が取付けられた部分のリー
ドフレームを樹脂で被覆し・ (f)最終的に上記リードフレームにおける相互に連な
る部分を切除して、 Ou合金リード材を有する半導体
とする5以上(a)〜(f)の主要工程によって製造さ
れている。
クタおよびエミッタ用の結線ヲ施し、(θ)引続いて、
上記素子、結線、および素子が取付けられた部分のリー
ドフレームを樹脂で被覆し・ (f)最終的に上記リードフレームにおける相互に連な
る部分を切除して、 Ou合金リード材を有する半導体
とする5以上(a)〜(f)の主要工程によって製造さ
れている。
したがって、半導体のリード拐となる上記リード素材に
は、良好なメッキ性とプレス打抜き性、半導体素子の約
350〜500℃での熱圧着に際して熱歪および熱軟化
が生じ−ない耐熱性、良好な放熱性と導電性、半導体の
輸送あるいは電気機器への組込みに際して破損が生じな
い耐繰り返し曲げ性などが要求されること[なる。
は、良好なメッキ性とプレス打抜き性、半導体素子の約
350〜500℃での熱圧着に際して熱歪および熱軟化
が生じ−ない耐熱性、良好な放熱性と導電性、半導体の
輸送あるいは電気機器への組込みに際して破損が生じな
い耐繰り返し曲げ性などが要求されること[なる。
従来、これらの要求を満足すべく開発された半導体用リ
ード相としては、Ou−Sn系合金やC!u −Fe系
合金が提案されているが、これらのCu合金は、メッキ
性、プレス打抜き性、放熱性、耐繰り返し曲げ性、およ
び導電性にすぐれているものの、耐熱性に劣るため、上
記(c)工程における350〜500℃の温度範囲内で
の半導体素子の熱圧着時、特に前記温度範囲の高温側で
の熱圧着に際して熱軟化および熱歪音生じ易いものであ
った。
ード相としては、Ou−Sn系合金やC!u −Fe系
合金が提案されているが、これらのCu合金は、メッキ
性、プレス打抜き性、放熱性、耐繰り返し曲げ性、およ
び導電性にすぐれているものの、耐熱性に劣るため、上
記(c)工程における350〜500℃の温度範囲内で
の半導体素子の熱圧着時、特に前記温度範囲の高温側で
の熱圧着に際して熱軟化および熱歪音生じ易いものであ
った。
そこで1本発明者等は、上述のような観点から、従来リ
ード相のもつすぐれた特性、特に導電性を損なうことな
く、これにすぐれた耐熱性を付与すべく研究を行なった
結果、Fe : 0.10〜030%。
ード相のもつすぐれた特性、特に導電性を損なうことな
く、これにすぐれた耐熱性を付与すべく研究を行なった
結果、Fe : 0.10〜030%。
P : 0.03〜0.08 %、 Zr: 0.00
5〜0.10%全含有し、残シがCuと不可避不純物と
からなる組成(以上重量係、以下係はすべて重量%を意
味する)を有するCu合金は半導体用リード拐に要求さ
れるすべての特性、すなわちすぐれたメッキ性。
5〜0.10%全含有し、残シがCuと不可避不純物と
からなる組成(以上重量係、以下係はすべて重量%を意
味する)を有するCu合金は半導体用リード拐に要求さ
れるすべての特性、すなわちすぐれたメッキ性。
プレス打抜き性、放熱性、耐繰り返し曲げ性、および導
電性を有し、さらにすぐれた耐熱性を具備するという知
見を得たのである。
電性を有し、さらにすぐれた耐熱性を具備するという知
見を得たのである。
この発明は、上記知見にもとづいてなされたものであっ
て、以下に成分組成範囲全上記の通”シに限定した理由
を説明する。
て、以下に成分組成範囲全上記の通”シに限定した理由
を説明する。
(a) Fe
Fe成分にはり一ド拐の耐熱性と強度を改善する作用が
あるが、その含有量が0.10%未満では前記作用に所
望の効果が得られず、一方0.30 % ’z越えて含
有させると導電性が劣化するようになることから、その
含有量を0.10−0.301’と定めた。
あるが、その含有量が0.10%未満では前記作用に所
望の効果が得られず、一方0.30 % ’z越えて含
有させると導電性が劣化するようになることから、その
含有量を0.10−0.301’と定めた。
(b) p
P成分にはFeと鉄りん化物を形成してリード材の耐熱
性と導電率と強度とを向上させる作用があるが、その含
有量が0.03%未満では、相対的に鉄シん化物の生成
が少なく、前記作用に所望の向上効果が得られず、一方
0.081 i越えて含有させると、鉄りん化物を形成
するFeとの相対含有量において、余剰のPがCu素地
中に固溶してリード拐の導電性が低下するようになるこ
とから、その含有量を0.03〜0.08%と定めた。
性と導電率と強度とを向上させる作用があるが、その含
有量が0.03%未満では、相対的に鉄シん化物の生成
が少なく、前記作用に所望の向上効果が得られず、一方
0.081 i越えて含有させると、鉄りん化物を形成
するFeとの相対含有量において、余剰のPがCu素地
中に固溶してリード拐の導電性が低下するようになるこ
とから、その含有量を0.03〜0.08%と定めた。
(c) Zr
Zrはリード材の耐熱性を改善するために含有されるが
、その含有量が0.0051未満では所望の耐熱性改善
効果を得ることができず、一方0.10係を越えて含有
させると、導電性が低下するようになることから、その
含有量1o、oos〜010係と定めた。
、その含有量が0.0051未満では所望の耐熱性改善
効果を得ることができず、一方0.10係を越えて含有
させると、導電性が低下するようになることから、その
含有量1o、oos〜010係と定めた。
ナオ、この発明の半導体用リード拐において、最大限の
鉄りん化物の生成を可能とし、もって安定的にすぐれた
導電性を確保するためには、Fe(@/P@)の含有比
を35〜5.5にするのが望ましい。
鉄りん化物の生成を可能とし、もって安定的にすぐれた
導電性を確保するためには、Fe(@/P@)の含有比
を35〜5.5にするのが望ましい。
これはFe (%) / P (%)の含有比が3.5
未満でも、5.5を越えても、鉄りん化物形成に際して
、FeとPの相対バランスがくずれ、余剰のFef)る
いはPがCu素地中に固溶するようKなってリード相の
導電性に低下傾向が現われるようになるという理由によ
るものである。
未満でも、5.5を越えても、鉄りん化物形成に際して
、FeとPの相対バランスがくずれ、余剰のFef)る
いはPがCu素地中に固溶するようKなってリード相の
導電性に低下傾向が現われるようになるという理由によ
るものである。
つぎに、この発明の半導体用リード拐を実施例により比
較例と対比しながら説明する。
較例と対比しながら説明する。
実施例
低周波溝型溶解炉を用い、それぞれ第1表に示される成
分組成をもったCu合金を溶製し、半連続鋳造法により
鋳造して厚さ150mmX幅400w+1×長さ140
0mmの寸法をもった鋳塊とし、ついでこの鋳塊に85
0℃の温度で熱間圧延を施して板厚10+n+nの熱延
板とした後、水冷し、前記熱延板の上下面を各0.2
mmづつ面側し、引続いて冷間圧延工程によシ焼鈍と圧
延を繰り返し仕上圧延率30ヂで板厚0.25tamと
し、厳終的にこれを410〜585℃に60分間保持後
、空冷の熱処理を施して平均結晶粒度i0.010mm
に調整することによって本発明リード拐用板材1〜5お
よび比較リード材用板材1〜3をそれぞれ製造した。な
お、比較リード材用板材1〜3は、構成成分のうちのい
ずれかの成分含有量(第1表に※印を付したもの)がこ
の発明の範囲から外れた組成をもつものである。
分組成をもったCu合金を溶製し、半連続鋳造法により
鋳造して厚さ150mmX幅400w+1×長さ140
0mmの寸法をもった鋳塊とし、ついでこの鋳塊に85
0℃の温度で熱間圧延を施して板厚10+n+nの熱延
板とした後、水冷し、前記熱延板の上下面を各0.2
mmづつ面側し、引続いて冷間圧延工程によシ焼鈍と圧
延を繰り返し仕上圧延率30ヂで板厚0.25tamと
し、厳終的にこれを410〜585℃に60分間保持後
、空冷の熱処理を施して平均結晶粒度i0.010mm
に調整することによって本発明リード拐用板材1〜5お
よび比較リード材用板材1〜3をそれぞれ製造した。な
お、比較リード材用板材1〜3は、構成成分のうちのい
ずれかの成分含有量(第1表に※印を付したもの)がこ
の発明の範囲から外れた組成をもつものである。
ついで、この結果得られた本発明リード利用板材1〜5
および比較リード利用仮相1〜3について、引張強さ、
耐力、伸び、導電力、および軟化温度をそれぞれ測定し
た。この測定結果を第1表に合わせて示した。
および比較リード利用仮相1〜3について、引張強さ、
耐力、伸び、導電力、および軟化温度をそれぞれ測定し
た。この測定結果を第1表に合わせて示した。
第1表に示されるように、本発明リード材用板材1〜5
は、いずれも半導体用リード拐に要求される特性を兼ね
備え、特に導電性および耐熱性のすぐれたものであるの
に対して、Pの含有量がこの発明の範囲から低い方に外
れ、かつZrf含有しない比較リード椙用板材1におい
ては、導電性および耐熱性とも劣ったものになっており
、またPおよびZrの含有量がそれぞれこの発明の範囲
を外れて多い比較リード材用仮相2.3ではすぐれた面
J熱性を示すものの、導電率が低く、この種の半導体用
リード材に要求される90%lAC3以上の導電率を有
さないものである。
は、いずれも半導体用リード拐に要求される特性を兼ね
備え、特に導電性および耐熱性のすぐれたものであるの
に対して、Pの含有量がこの発明の範囲から低い方に外
れ、かつZrf含有しない比較リード椙用板材1におい
ては、導電性および耐熱性とも劣ったものになっており
、またPおよびZrの含有量がそれぞれこの発明の範囲
を外れて多い比較リード材用仮相2.3ではすぐれた面
J熱性を示すものの、導電率が低く、この種の半導体用
リード材に要求される90%lAC3以上の導電率を有
さないものである。
均上のように、この発明の半導体用リード材は、導電率
:90%lAC3以上のすぐれた導電性、並びに半導体
素子の熱圧着に際して、熱歪や熱軟化の発生を完全に回
避することのできるtぐれた耐熱性を兼ね備え、かつそ
の他半導体用リード材に要求される特性をすべて具備し
ているのである。
:90%lAC3以上のすぐれた導電性、並びに半導体
素子の熱圧着に際して、熱歪や熱軟化の発生を完全に回
避することのできるtぐれた耐熱性を兼ね備え、かつそ
の他半導体用リード材に要求される特性をすべて具備し
ているのである。
出願人6.玉川機械金属株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Fe: 0.10〜0.30%、 P : 0.03〜
0.08%。 Zr: 0.005〜0.10 ’Iyを含有し、残り
がcuと不可避不純物からなる組成C以上重量係)を有
することを特徴とする半導体用リード材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12091582A JPS5911659A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体用リ−ド材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12091582A JPS5911659A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体用リ−ド材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5911659A true JPS5911659A (ja) | 1984-01-21 |
Family
ID=14798138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12091582A Pending JPS5911659A (ja) | 1982-07-12 | 1982-07-12 | 半導体用リ−ド材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5911659A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104717A (ja) * | 1987-10-19 | 1989-04-21 | Nkk Corp | 成形性に優れたフェライト系ステンレス鋼板の製造方法 |
JPH03219055A (ja) * | 1989-11-29 | 1991-09-26 | Nippon Steel Corp | 耐食性の優れたエンジン排ガス系材料用ステンレス鋼 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57157554A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-29 | Tamagawa Kikai Kinzoku Kk | Lead material with excellent heat resistance and conductivity for semiconductor device |
-
1982
- 1982-07-12 JP JP12091582A patent/JPS5911659A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57157554A (en) * | 1981-03-25 | 1982-09-29 | Tamagawa Kikai Kinzoku Kk | Lead material with excellent heat resistance and conductivity for semiconductor device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01104717A (ja) * | 1987-10-19 | 1989-04-21 | Nkk Corp | 成形性に優れたフェライト系ステンレス鋼板の製造方法 |
JPH03219055A (ja) * | 1989-11-29 | 1991-09-26 | Nippon Steel Corp | 耐食性の優れたエンジン排ガス系材料用ステンレス鋼 |
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