JPS59104582A - プロセス放射線測定装置 - Google Patents
プロセス放射線測定装置Info
- Publication number
- JPS59104582A JPS59104582A JP57213384A JP21338482A JPS59104582A JP S59104582 A JPS59104582 A JP S59104582A JP 57213384 A JP57213384 A JP 57213384A JP 21338482 A JP21338482 A JP 21338482A JP S59104582 A JPS59104582 A JP S59104582A
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- fluid
- sampling
- measuring device
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、原子力施設内で放射性物質を含むプロセス流
体の放射線を測定するプロセス放射純測定装置に関する
。
体の放射線を測定するプロセス放射純測定装置に関する
。
まず、従来のプロセス流体の放射線測定装置の一例を第
１図によシ説明する。
１図によシ説明する。
第１図において符号１は放射性物質を含んだプロセス流
体が流れる配管であり、この配管１内の一部の流体をサ
ンプリングするために、配Ｉｕまたはサンプリング配管
２が接続さｉしている。このサンプリング配管２は閉ル
ープをＵｉ成し、サンプリング後の流体を配管１に戻す
ようになっている。
体が流れる配管であり、この配管１内の一部の流体をサ
ンプリングするために、配Ｉｕまたはサンプリング配管
２が接続さｉしている。このサンプリング配管２は閉ル
ープをＵｉ成し、サンプリング後の流体を配管１に戻す
ようになっている。
この閉ループを４’ｆ（成しているサンプリング配管２
上にはサンプリング流体の粒子、ヨウ素等を捕集するフ
ィルタ３、サンプリング流体の放射線を検出する放射線
検出器５を収納している収納容器４、サンプリング流量
を一足に訓１節する調節弁６、および配管１よシ流体を
ザンプリングするだめの吸引ポンプ７がこのｊ飢にすＨ
ｐされている。なお１、サンプリング配管２の両路１部
には開閉弁８，９が介装されている。
上にはサンプリング流体の粒子、ヨウ素等を捕集するフ
ィルタ３、サンプリング流体の放射線を検出する放射線
検出器５を収納している収納容器４、サンプリング流量
を一足に訓１節する調節弁６、および配管１よシ流体を
ザンプリングするだめの吸引ポンプ７がこのｊ飢にすＨ
ｐされている。なお１、サンプリング配管２の両路１部
には開閉弁８，９が介装されている。
前述した仔ｒ成によれば、吸引ボンシフにより１配管１
からサンプリング配管２に吸引された０１５体は、フィ
ルタ３により粒子、ヨウ素を捕集された後、収納容器４
に導ひかれ、放射線検出器５によりび５体の放射線が検
出される。検出された信号は６１（ｉ定装置１０に入力
され、放射りレベルが測定される。
からサンプリング配管２に吸引された０１５体は、フィ
ルタ３により粒子、ヨウ素を捕集された後、収納容器４
に導ひかれ、放射線検出器５によりび５体の放射線が検
出される。検出された信号は６１（ｉ定装置１０に入力
され、放射りレベルが測定される。
ところでザンゾリングυ；１□−川−は吸引ボンシフに
より一定流吊で吸引されているが、フィルタ３による粒
子、ヨウ素等の捕集＆：此により収納容器４内の圧力か
鼓動する。この圧力変動により、フィルタ３の上流およ
び下流のサンプリング配管２間にサンプリング流体の密
度が異なり、−リーンシリング流体の放射能濃度（μＣ
ｉ ｆｉｒｄ ）も異なる。
より一定流吊で吸引されているが、フィルタ３による粒
子、ヨウ素等の捕集＆：此により収納容器４内の圧力か
鼓動する。この圧力変動により、フィルタ３の上流およ
び下流のサンプリング配管２間にサンプリング流体の密
度が異なり、−リーンシリング流体の放射能濃度（μＣ
ｉ ｆｉｒｄ ）も異なる。
また、放射線レベルの指示値はｊｐ、 ２図に示すよう
に中心値に対して統計的変動を伴うため特に放射線レベ
ルが低いときに顕著に現れるが、僅かに放射線レベルが
上昇した場合、辿常倹の放射線レベル指示値の統計的変
動範囲と干ｍｔし、通常値レベルと同等なのか、あるい
は１％いのか判別できないときがある。
に中心値に対して統計的変動を伴うため特に放射線レベ
ルが低いときに顕著に現れるが、僅かに放射線レベルが
上昇した場合、辿常倹の放射線レベル指示値の統計的変
動範囲と干ｍｔし、通常値レベルと同等なのか、あるい
は１％いのか判別できないときがある。
本発明は、前述した点を考Ｉスし、真の放射線レベルが
測定でき、しかも放射線レベルが低いときの６゛：逐度
変化の有無の判別機能を同上させるようにしたプロセス
放射線を用定装Ｄｉ、：（を提ｆＪ（することを目的と
する。
測定でき、しかも放射線レベルが低いときの６゛：逐度
変化の有無の判別機能を同上させるようにしたプロセス
放射線を用定装Ｄｉ、：（を提ｆＪ（することを目的と
する。
〔発明の４１！を要〕
前述した目的は、本発明によれば放射線検出器の収納容
器を吸引ポンプの下流１１１１のサンプリング配管に介
装するとともに、収納容器に対する流体の圧力を一定圧
に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング配管に介装
し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れる配管お
よび収納容器内の流体の圧力および温度を入力するよう
にしたことにより達成される。
器を吸引ポンプの下流１１１１のサンプリング配管に介
装するとともに、収納容器に対する流体の圧力を一定圧
に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング配管に介装
し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れる配管お
よび収納容器内の流体の圧力および温度を入力するよう
にしたことにより達成される。
以下、本発明を図面に示す実施例によシ説明する。
なお、前述した従来のものと同一の構成については、図
面中に同一の符号を付し、その詳述は避ける。
面中に同一の符号を付し、その詳述は避ける。
第３図は本発明の実施例を示すものであり、プロセス流
体が流れる配管ｌに接続された閉ループのサンプリング
配管２には、開閉弁８、フィルタ３、配管２内の流量を
一定量に調節する調節弁６、吸引ポンプ７、放射線検出
器５を備えた収納容器４および開閉弁９がこの順に介装
されている。そして前記測定器４および開閉弁９の間の
サンプリング配管２ＶｃＩ／′ｉ、、この配管２内の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁１１が介装され
ている。
体が流れる配管ｌに接続された閉ループのサンプリング
配管２には、開閉弁８、フィルタ３、配管２内の流量を
一定量に調節する調節弁６、吸引ポンプ７、放射線検出
器５を備えた収納容器４および開閉弁９がこの順に介装
されている。そして前記測定器４および開閉弁９の間の
サンプリング配管２ＶｃＩ／′ｉ、、この配管２内の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁１１が介装され
ている。
一方、前記配管１には圧力計１２および温度計１３が取
付けられており、配管１内を流れる流体の圧力および温
度を測定するようになっている。この圧力計１２および
温度計１３が測定した圧力および温度は、前記放射線検
出器５が検出した放射線レベルを測定する測定装置１０
へ入力されるようになっている。また、前記収納容器４
にも圧力計１４および温度計１５が取付けられており、
収納容器４内を流れる流体の圧力および温度を測定する
ようになっている。これらの圧力計１４および温度計１
５の出力信号も前記測定装置１０へ入力されるようにな
っている。
付けられており、配管１内を流れる流体の圧力および温
度を測定するようになっている。この圧力計１２および
温度計１３が測定した圧力および温度は、前記放射線検
出器５が検出した放射線レベルを測定する測定装置１０
へ入力されるようになっている。また、前記収納容器４
にも圧力計１４および温度計１５が取付けられており、
収納容器４内を流れる流体の圧力および温度を測定する
ようになっている。これらの圧力計１４および温度計１
５の出力信号も前記測定装置１０へ入力されるようにな
っている。
つぎに、前述した実施例の作用について説明する０
吸引ポンプを駆動すると、配貰１内の流体がサンプリン
グ配管２内に吸引されるが、吸引ポンプ７の上流のサン
プリング配管２に弁装された調節弁６によりフィルタ３
の捕集程ａ［関係なくフィルタ３を通過する流体の流量
を一定量にすることができる０１だ、吸引ポンプ７の下
流側の配管２はポンプ吐出側となり、サンプリング流体
は加圧される。そして、圧力鯛節弁１１をコントロール
することにより収納容器４に加わる圧力を一定にするこ
とができる。この加圧の状態において収納容器４に収納
された放射線検出器５によシ検出される配管２内のサン
プリング流体の放射能濃度（μＣｉ ／ｃｒｄ）は、ヂ
イルーシャルルの法則により配管１側の流体の放射能濃
度（μＣｉ、４ｆ）と比較し、加圧された倍率に等しく
なシ、単位体積あたりの濃度は濃くなる。この配管１側
の放射能濃度（ＣｏμＣｉ ／ｃｒ／ｌ ）とサンプリ
ング配管２側の放射能濃度（ＣμＣｉ ／／７）の関係
は次の通シである。
グ配管２内に吸引されるが、吸引ポンプ７の上流のサン
プリング配管２に弁装された調節弁６によりフィルタ３
の捕集程ａ［関係なくフィルタ３を通過する流体の流量
を一定量にすることができる０１だ、吸引ポンプ７の下
流側の配管２はポンプ吐出側となり、サンプリング流体
は加圧される。そして、圧力鯛節弁１１をコントロール
することにより収納容器４に加わる圧力を一定にするこ
とができる。この加圧の状態において収納容器４に収納
された放射線検出器５によシ検出される配管２内のサン
プリング流体の放射能濃度（μＣｉ ／ｃｒｄ）は、ヂ
イルーシャルルの法則により配管１側の流体の放射能濃
度（μＣｉ、４ｆ）と比較し、加圧された倍率に等しく
なシ、単位体積あたりの濃度は濃くなる。この配管１側
の放射能濃度（ＣｏμＣｉ ／ｃｒ／ｌ ）とサンプリ
ング配管２側の放射能濃度（ＣμＣｉ ／／７）の関係
は次の通シである。
ただし、Ｐｏ、Ｔｏ：配管１を流れる流体の圧力および
温度、 Ｐ 、Ｔ：測定容器４のサンプリング流体の圧力および
温度。
温度、 Ｐ 、Ｔ：測定容器４のサンプリング流体の圧力および
温度。
また、サンプリング放射能濃度（ＣμＣｉ ／ｃｒｌｌ
）は、放射線検出器５によシ検出された信号に測定装
置１０であらかじめ決められた換算係数Ｋ〔μＣｉΔ７
ｔｔ／ｃｐｓ）（注： ｃｐｓは測定単位を示す）を乗
することにより求められる。ここでｃｐｓは測定単位で
ある。この関係式は次式の通りである。
）は、放射線検出器５によシ検出された信号に測定装
置１０であらかじめ決められた換算係数Ｋ〔μＣｉΔ７
ｔｔ／ｃｐｓ）（注： ｃｐｓは測定単位を示す）を乗
することにより求められる。ここでｃｐｓは測定単位で
ある。この関係式は次式の通りである。
Ｃ（μｃ ｉ／７） ＝ Ｋ （μｃ ｉ／ｃｆｆｌ／
ｃ ｐｓ ）ｘＮ（ｃｐ ｓ ） ”ｆ２）ただし、Ｎ
：計測時の計数率。
ｃ ｐｓ ）ｘＮ（ｃｐ ｓ ） ”ｆ２）ただし、Ｎ
：計測時の計数率。
さらに、配管１の流体の圧力および温朋を圧力計１２お
よび温度計１３により、また測定容器４内のサンプリン
グ流体の圧力および温度を圧力計１４および温度計１５
によりそれぞれ測定された信号を測定装置１０へ入力す
ることにより、前述した式（１）。
よび温度計１３により、また測定容器４内のサンプリン
グ流体の圧力および温度を圧力計１４および温度計１５
によりそれぞれ測定された信号を測定装置１０へ入力す
ることにより、前述した式（１）。
（２）に示すように、配管１を流れる流体の放射能濃度
を測定することができるし、また、被測定物の放射線レ
ベルが一定値を示しているときに、僅かに放射能レイル
が上昇した場合、前述したように、サンプリング流体が
加圧されているため、上昇分のレベル差が、加圧されな
いときのレベル差に加圧された倍率と同程度の倍率を乗
じたレベル差となり、僅かにしＲルが上昇したとしても
、レベル差が増巾され、上昇分の判別が可能となる。す
なわち、兵のレベル差をΔＣｏ 、加圧されたときのレ
ベル差をΔＣとすると（４）式よシ Ｐ ＴＯ ΔｃニーＸ−ＸΔＣｏ ・・・・・・・・・（３）Ｐ
ｏ Ｔ となシ、との式（３）にＰ−ｎＰｏ（ただし、ｎは加圧
倍率）を代入すると ＴＯ ΔＣ＝ｎＡＣθ〜 ・１山・・（４）となる。
を測定することができるし、また、被測定物の放射線レ
ベルが一定値を示しているときに、僅かに放射能レイル
が上昇した場合、前述したように、サンプリング流体が
加圧されているため、上昇分のレベル差が、加圧されな
いときのレベル差に加圧された倍率と同程度の倍率を乗
じたレベル差となり、僅かにしＲルが上昇したとしても
、レベル差が増巾され、上昇分の判別が可能となる。す
なわち、兵のレベル差をΔＣｏ 、加圧されたときのレ
ベル差をΔＣとすると（４）式よシ Ｐ ＴＯ ΔｃニーＸ−ＸΔＣｏ ・・・・・・・・・（３）Ｐ
ｏ Ｔ となシ、との式（３）にＰ−ｎＰｏ（ただし、ｎは加圧
倍率）を代入すると ＴＯ ΔＣ＝ｎＡＣθ〜 ・１山・・（４）となる。
しかるに、配管１内の流体の温度Ｔｏと、測定容器４内
の流体の温度Ｔとはほぼ等しいので、ＴＯ＋ Ｔを式（
４）に代入すると ΔＣキｎΔＣｏ ・・・・・印・（５）と
なる。
の流体の温度Ｔとはほぼ等しいので、ＴＯ＋ Ｔを式（
４）に代入すると ΔＣキｎΔＣｏ ・・・・・印・（５）と
なる。
この式（５）の状態か第４図に示されておυ、左方に示
す放射線レベルの兵のレスル差（ΔＣ）においては、通
常値と上昇値がΔＣの差しがないため、通常値の統ｄＩ
的変動範囲内に上昇値が位置し、真の放射線レベルが−
り定しにくいのに対し、右の方にては位置が全くずれる
ため、通常値の単なる統計的変動か、あるいは上昇した
のかを明瞭に区別することができる。
す放射線レベルの兵のレスル差（ΔＣ）においては、通
常値と上昇値がΔＣの差しがないため、通常値の統ｄＩ
的変動範囲内に上昇値が位置し、真の放射線レベルが−
り定しにくいのに対し、右の方にては位置が全くずれる
ため、通常値の単なる統計的変動か、あるいは上昇した
のかを明瞭に区別することができる。
以上説明したように、本発明に係るプロセス放射線測定
装置は、収納容器を吸引ポンプの下流側のサンプリング
配管に介装するとともに、収納容器に対する流体の圧力
を一定圧に維持するための圧力調節弁をサンプリング配
管に介装し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れ
る配管および収納容器内の流体の圧力および温度を入力
するようにしたので、真の放射線レベルを測定でき、し
かも放射線レベルが低いときの濃度変化の有無の判別機
能を向上させることができるという優れた効果を奏する
。
装置は、収納容器を吸引ポンプの下流側のサンプリング
配管に介装するとともに、収納容器に対する流体の圧力
を一定圧に維持するための圧力調節弁をサンプリング配
管に介装し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れ
る配管および収納容器内の流体の圧力および温度を入力
するようにしたので、真の放射線レベルを測定でき、し
かも放射線レベルが低いときの濃度変化の有無の判別機
能を向上させることができるという優れた効果を奏する
。
第１図は従来のプロセス放射線測定装置を示す説明図、
第２図は放射線レベルの指示値の分布状放射線測定装置
の実施例を示す説明図、第４図は通常の放射線レベルの
指示値と流体が加圧されたときの放射線レベルのＪｋｉ
示値の分布状態を示すグラフである。 １・・・配管、２・・・サンプリング配管、３・・・フ
ィルタ、４・・・収納容器、５・・・放射線検出器、６
・・・−１１１）弁、７・・・吸引ポンプ、ｌＯ・・・
測定装置、１１・・・圧力調節弁、１２ 、１４・・・
圧力計、１３ 、１５・・・温度計。 出願人代理人 波 多 野 久 （ｎｃ）
第２図は放射線レベルの指示値の分布状放射線測定装置
の実施例を示す説明図、第４図は通常の放射線レベルの
指示値と流体が加圧されたときの放射線レベルのＪｋｉ
示値の分布状態を示すグラフである。 １・・・配管、２・・・サンプリング配管、３・・・フ
ィルタ、４・・・収納容器、５・・・放射線検出器、６
・・・−１１１）弁、７・・・吸引ポンプ、ｌＯ・・・
測定装置、１１・・・圧力調節弁、１２ 、１４・・・
圧力計、１３ 、１５・・・温度計。 出願人代理人 波 多 野 久 （ｎｃ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、プロセス流体の流れる配管に閉ループのサンプリン
グ配管を接続し、このサンプリング配管に放射線検出器
を収納した収納容器とを介装し、さらに前記放射線検出
器の検出した信号が入力され放射線レベルを測定する測
定装置を有してなるプロセス放射線測定装置において、
前記収納容器を前記吸引ポンプ下流側のサンプリング配
管忙介装するとともに、前記収納容器に対する流体の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング
配管に介装し、さらに前記測定装置には、前記のプロセ
ス流体の流れる配管および収納容器内の流体の圧力およ
び温既を入力するようにしたことを特徴とするプロセス
放射線測定装置。 ２、圧力調節弁は測定容器の下流側サンプリング配管圧
介装されている特許請求の範囲第１項記載のプロセス放
射線測定装置。 ３、吸引、Ｉ？ンプの上流側のサンプリング配管にはフ
ィルタが介装されている特許請求の範囲第１項または第
２項記載のプロセス放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57213384A JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57213384A JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59104582A true JPS59104582A (ja) | 1984-06-16 |
Family
ID=16638302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57213384A Pending JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59104582A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578855U (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-26 | 株式会社大井製作所 | 自動車用ドアのクロージャ装置 |
| WO2009138360A2 (en) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
-
1982
- 1982-12-07 JP JP57213384A patent/JPS59104582A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0578855U (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-26 | 株式会社大井製作所 | 自動車用ドアのクロージャ装置 |
| WO2009138360A2 (en) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
| WO2009138360A3 (en) * | 2008-05-12 | 2010-09-10 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
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