JPS59104582A - プロセス放射線測定装置 - Google Patents
プロセス放射線測定装置Info
- Publication number
- JPS59104582A JPS59104582A JP57213384A JP21338482A JPS59104582A JP S59104582 A JPS59104582 A JP S59104582A JP 57213384 A JP57213384 A JP 57213384A JP 21338482 A JP21338482 A JP 21338482A JP S59104582 A JPS59104582 A JP S59104582A
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- JP
- Japan
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- pressure
- fluid
- sampling
- measuring device
- pipe
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、原子力施設内で放射性物質を含むプロセス流
体の放射線を測定するプロセス放射純測定装置に関する
。
体の放射線を測定するプロセス放射純測定装置に関する
。
まず、従来のプロセス流体の放射線測定装置の一例を第
1図によシ説明する。
1図によシ説明する。
第1図において符号1は放射性物質を含んだプロセス流
体が流れる配管であり、この配管1内の一部の流体をサ
ンプリングするために、配Iuまたはサンプリング配管
2が接続さiしている。このサンプリング配管2は閉ル
ープをUi成し、サンプリング後の流体を配管1に戻す
ようになっている。
体が流れる配管であり、この配管1内の一部の流体をサ
ンプリングするために、配Iuまたはサンプリング配管
2が接続さiしている。このサンプリング配管2は閉ル
ープをUi成し、サンプリング後の流体を配管1に戻す
ようになっている。
この閉ループを4’f(成しているサンプリング配管2
上にはサンプリング流体の粒子、ヨウ素等を捕集するフ
ィルタ3、サンプリング流体の放射線を検出する放射線
検出器5を収納している収納容器4、サンプリング流量
を一足に訓1節する調節弁6、および配管1よシ流体を
ザンプリングするだめの吸引ポンプ7がこのj飢にすH
pされている。なお1、サンプリング配管2の両路1部
には開閉弁8,9が介装されている。
上にはサンプリング流体の粒子、ヨウ素等を捕集するフ
ィルタ3、サンプリング流体の放射線を検出する放射線
検出器5を収納している収納容器4、サンプリング流量
を一足に訓1節する調節弁6、および配管1よシ流体を
ザンプリングするだめの吸引ポンプ7がこのj飢にすH
pされている。なお1、サンプリング配管2の両路1部
には開閉弁8,9が介装されている。
前述した仔r成によれば、吸引ボンシフにより1配管1
からサンプリング配管2に吸引された015体は、フィ
ルタ3により粒子、ヨウ素を捕集された後、収納容器4
に導ひかれ、放射線検出器5によりび5体の放射線が検
出される。検出された信号は61(i定装置10に入力
され、放射りレベルが測定される。
からサンプリング配管2に吸引された015体は、フィ
ルタ3により粒子、ヨウ素を捕集された後、収納容器4
に導ひかれ、放射線検出器5によりび5体の放射線が検
出される。検出された信号は61(i定装置10に入力
され、放射りレベルが測定される。
ところでザンゾリングυ;1□−川−は吸引ボンシフに
より一定流吊で吸引されているが、フィルタ3による粒
子、ヨウ素等の捕集&:此により収納容器4内の圧力か
鼓動する。この圧力変動により、フィルタ3の上流およ
び下流のサンプリング配管2間にサンプリング流体の密
度が異なり、−リーンシリング流体の放射能濃度(μC
i fird )も異なる。
より一定流吊で吸引されているが、フィルタ3による粒
子、ヨウ素等の捕集&:此により収納容器4内の圧力か
鼓動する。この圧力変動により、フィルタ3の上流およ
び下流のサンプリング配管2間にサンプリング流体の密
度が異なり、−リーンシリング流体の放射能濃度(μC
i fird )も異なる。
また、放射線レベルの指示値はjp、 2図に示すよう
に中心値に対して統計的変動を伴うため特に放射線レベ
ルが低いときに顕著に現れるが、僅かに放射線レベルが
上昇した場合、辿常倹の放射線レベル指示値の統計的変
動範囲と干mtし、通常値レベルと同等なのか、あるい
は1%いのか判別できないときがある。
に中心値に対して統計的変動を伴うため特に放射線レベ
ルが低いときに顕著に現れるが、僅かに放射線レベルが
上昇した場合、辿常倹の放射線レベル指示値の統計的変
動範囲と干mtし、通常値レベルと同等なのか、あるい
は1%いのか判別できないときがある。
本発明は、前述した点を考Iスし、真の放射線レベルが
測定でき、しかも放射線レベルが低いときの6゛:逐度
変化の有無の判別機能を同上させるようにしたプロセス
放射線を用定装Di、:(を提fJ(することを目的と
する。
測定でき、しかも放射線レベルが低いときの6゛:逐度
変化の有無の判別機能を同上させるようにしたプロセス
放射線を用定装Di、:(を提fJ(することを目的と
する。
〔発明の41!を要〕
前述した目的は、本発明によれば放射線検出器の収納容
器を吸引ポンプの下流1111のサンプリング配管に介
装するとともに、収納容器に対する流体の圧力を一定圧
に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング配管に介装
し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れる配管お
よび収納容器内の流体の圧力および温度を入力するよう
にしたことにより達成される。
器を吸引ポンプの下流1111のサンプリング配管に介
装するとともに、収納容器に対する流体の圧力を一定圧
に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング配管に介装
し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れる配管お
よび収納容器内の流体の圧力および温度を入力するよう
にしたことにより達成される。
以下、本発明を図面に示す実施例によシ説明する。
なお、前述した従来のものと同一の構成については、図
面中に同一の符号を付し、その詳述は避ける。
面中に同一の符号を付し、その詳述は避ける。
第3図は本発明の実施例を示すものであり、プロセス流
体が流れる配管lに接続された閉ループのサンプリング
配管2には、開閉弁8、フィルタ3、配管2内の流量を
一定量に調節する調節弁6、吸引ポンプ7、放射線検出
器5を備えた収納容器4および開閉弁9がこの順に介装
されている。そして前記測定器4および開閉弁9の間の
サンプリング配管2VcI/′i、、この配管2内の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁11が介装され
ている。
体が流れる配管lに接続された閉ループのサンプリング
配管2には、開閉弁8、フィルタ3、配管2内の流量を
一定量に調節する調節弁6、吸引ポンプ7、放射線検出
器5を備えた収納容器4および開閉弁9がこの順に介装
されている。そして前記測定器4および開閉弁9の間の
サンプリング配管2VcI/′i、、この配管2内の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁11が介装され
ている。
一方、前記配管1には圧力計12および温度計13が取
付けられており、配管1内を流れる流体の圧力および温
度を測定するようになっている。この圧力計12および
温度計13が測定した圧力および温度は、前記放射線検
出器5が検出した放射線レベルを測定する測定装置10
へ入力されるようになっている。また、前記収納容器4
にも圧力計14および温度計15が取付けられており、
収納容器4内を流れる流体の圧力および温度を測定する
ようになっている。これらの圧力計14および温度計1
5の出力信号も前記測定装置10へ入力されるようにな
っている。
付けられており、配管1内を流れる流体の圧力および温
度を測定するようになっている。この圧力計12および
温度計13が測定した圧力および温度は、前記放射線検
出器5が検出した放射線レベルを測定する測定装置10
へ入力されるようになっている。また、前記収納容器4
にも圧力計14および温度計15が取付けられており、
収納容器4内を流れる流体の圧力および温度を測定する
ようになっている。これらの圧力計14および温度計1
5の出力信号も前記測定装置10へ入力されるようにな
っている。
つぎに、前述した実施例の作用について説明する0
吸引ポンプを駆動すると、配貰1内の流体がサンプリン
グ配管2内に吸引されるが、吸引ポンプ7の上流のサン
プリング配管2に弁装された調節弁6によりフィルタ3
の捕集程a[関係なくフィルタ3を通過する流体の流量
を一定量にすることができる01だ、吸引ポンプ7の下
流側の配管2はポンプ吐出側となり、サンプリング流体
は加圧される。そして、圧力鯛節弁11をコントロール
することにより収納容器4に加わる圧力を一定にするこ
とができる。この加圧の状態において収納容器4に収納
された放射線検出器5によシ検出される配管2内のサン
プリング流体の放射能濃度(μCi /crd)は、ヂ
イルーシャルルの法則により配管1側の流体の放射能濃
度(μCi、4f)と比較し、加圧された倍率に等しく
なシ、単位体積あたりの濃度は濃くなる。この配管1側
の放射能濃度(CoμCi /cr/l )とサンプリ
ング配管2側の放射能濃度(CμCi //7)の関係
は次の通シである。
グ配管2内に吸引されるが、吸引ポンプ7の上流のサン
プリング配管2に弁装された調節弁6によりフィルタ3
の捕集程a[関係なくフィルタ3を通過する流体の流量
を一定量にすることができる01だ、吸引ポンプ7の下
流側の配管2はポンプ吐出側となり、サンプリング流体
は加圧される。そして、圧力鯛節弁11をコントロール
することにより収納容器4に加わる圧力を一定にするこ
とができる。この加圧の状態において収納容器4に収納
された放射線検出器5によシ検出される配管2内のサン
プリング流体の放射能濃度(μCi /crd)は、ヂ
イルーシャルルの法則により配管1側の流体の放射能濃
度(μCi、4f)と比較し、加圧された倍率に等しく
なシ、単位体積あたりの濃度は濃くなる。この配管1側
の放射能濃度(CoμCi /cr/l )とサンプリ
ング配管2側の放射能濃度(CμCi //7)の関係
は次の通シである。
ただし、Po、To:配管1を流れる流体の圧力および
温度、 P 、T:測定容器4のサンプリング流体の圧力および
温度。
温度、 P 、T:測定容器4のサンプリング流体の圧力および
温度。
また、サンプリング放射能濃度(CμCi /crll
)は、放射線検出器5によシ検出された信号に測定装
置10であらかじめ決められた換算係数K〔μCiΔ7
tt/cps)(注: cpsは測定単位を示す)を乗
することにより求められる。ここでcpsは測定単位で
ある。この関係式は次式の通りである。
)は、放射線検出器5によシ検出された信号に測定装
置10であらかじめ決められた換算係数K〔μCiΔ7
tt/cps)(注: cpsは測定単位を示す)を乗
することにより求められる。ここでcpsは測定単位で
ある。この関係式は次式の通りである。
C(μc i/7) = K (μc i/cffl/
c ps )xN(cp s ) ”f2)ただし、N
:計測時の計数率。
c ps )xN(cp s ) ”f2)ただし、N
:計測時の計数率。
さらに、配管1の流体の圧力および温朋を圧力計12お
よび温度計13により、また測定容器4内のサンプリン
グ流体の圧力および温度を圧力計14および温度計15
によりそれぞれ測定された信号を測定装置10へ入力す
ることにより、前述した式(1)。
よび温度計13により、また測定容器4内のサンプリン
グ流体の圧力および温度を圧力計14および温度計15
によりそれぞれ測定された信号を測定装置10へ入力す
ることにより、前述した式(1)。
(2)に示すように、配管1を流れる流体の放射能濃度
を測定することができるし、また、被測定物の放射線レ
ベルが一定値を示しているときに、僅かに放射能レイル
が上昇した場合、前述したように、サンプリング流体が
加圧されているため、上昇分のレベル差が、加圧されな
いときのレベル差に加圧された倍率と同程度の倍率を乗
じたレベル差となり、僅かにしRルが上昇したとしても
、レベル差が増巾され、上昇分の判別が可能となる。す
なわち、兵のレベル差をΔCo 、加圧されたときのレ
ベル差をΔCとすると(4)式よシ P TO ΔcニーX−XΔCo ・・・・・・・・・(3)P
o T となシ、との式(3)にP−nPo(ただし、nは加圧
倍率)を代入すると TO ΔC=nACθ〜 ・1山・・(4)となる。
を測定することができるし、また、被測定物の放射線レ
ベルが一定値を示しているときに、僅かに放射能レイル
が上昇した場合、前述したように、サンプリング流体が
加圧されているため、上昇分のレベル差が、加圧されな
いときのレベル差に加圧された倍率と同程度の倍率を乗
じたレベル差となり、僅かにしRルが上昇したとしても
、レベル差が増巾され、上昇分の判別が可能となる。す
なわち、兵のレベル差をΔCo 、加圧されたときのレ
ベル差をΔCとすると(4)式よシ P TO ΔcニーX−XΔCo ・・・・・・・・・(3)P
o T となシ、との式(3)にP−nPo(ただし、nは加圧
倍率)を代入すると TO ΔC=nACθ〜 ・1山・・(4)となる。
しかるに、配管1内の流体の温度Toと、測定容器4内
の流体の温度Tとはほぼ等しいので、TO+ Tを式(
4)に代入すると ΔCキnΔCo ・・・・・印・(5)と
なる。
の流体の温度Tとはほぼ等しいので、TO+ Tを式(
4)に代入すると ΔCキnΔCo ・・・・・印・(5)と
なる。
この式(5)の状態か第4図に示されておυ、左方に示
す放射線レベルの兵のレスル差(ΔC)においては、通
常値と上昇値がΔCの差しがないため、通常値の統dI
的変動範囲内に上昇値が位置し、真の放射線レベルが−
り定しにくいのに対し、右の方にては位置が全くずれる
ため、通常値の単なる統計的変動か、あるいは上昇した
のかを明瞭に区別することができる。
す放射線レベルの兵のレスル差(ΔC)においては、通
常値と上昇値がΔCの差しがないため、通常値の統dI
的変動範囲内に上昇値が位置し、真の放射線レベルが−
り定しにくいのに対し、右の方にては位置が全くずれる
ため、通常値の単なる統計的変動か、あるいは上昇した
のかを明瞭に区別することができる。
以上説明したように、本発明に係るプロセス放射線測定
装置は、収納容器を吸引ポンプの下流側のサンプリング
配管に介装するとともに、収納容器に対する流体の圧力
を一定圧に維持するための圧力調節弁をサンプリング配
管に介装し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れ
る配管および収納容器内の流体の圧力および温度を入力
するようにしたので、真の放射線レベルを測定でき、し
かも放射線レベルが低いときの濃度変化の有無の判別機
能を向上させることができるという優れた効果を奏する
。
装置は、収納容器を吸引ポンプの下流側のサンプリング
配管に介装するとともに、収納容器に対する流体の圧力
を一定圧に維持するための圧力調節弁をサンプリング配
管に介装し、さらに測定装置には、プロセス流体の流れ
る配管および収納容器内の流体の圧力および温度を入力
するようにしたので、真の放射線レベルを測定でき、し
かも放射線レベルが低いときの濃度変化の有無の判別機
能を向上させることができるという優れた効果を奏する
。
第1図は従来のプロセス放射線測定装置を示す説明図、
第2図は放射線レベルの指示値の分布状放射線測定装置
の実施例を示す説明図、第4図は通常の放射線レベルの
指示値と流体が加圧されたときの放射線レベルのJki
示値の分布状態を示すグラフである。 1・・・配管、2・・・サンプリング配管、3・・・フ
ィルタ、4・・・収納容器、5・・・放射線検出器、6
・・・−111)弁、7・・・吸引ポンプ、lO・・・
測定装置、11・・・圧力調節弁、12 、14・・・
圧力計、13 、15・・・温度計。 出願人代理人 波 多 野 久 (nc)
第2図は放射線レベルの指示値の分布状放射線測定装置
の実施例を示す説明図、第4図は通常の放射線レベルの
指示値と流体が加圧されたときの放射線レベルのJki
示値の分布状態を示すグラフである。 1・・・配管、2・・・サンプリング配管、3・・・フ
ィルタ、4・・・収納容器、5・・・放射線検出器、6
・・・−111)弁、7・・・吸引ポンプ、lO・・・
測定装置、11・・・圧力調節弁、12 、14・・・
圧力計、13 、15・・・温度計。 出願人代理人 波 多 野 久 (nc)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、プロセス流体の流れる配管に閉ループのサンプリン
グ配管を接続し、このサンプリング配管に放射線検出器
を収納した収納容器とを介装し、さらに前記放射線検出
器の検出した信号が入力され放射線レベルを測定する測
定装置を有してなるプロセス放射線測定装置において、
前記収納容器を前記吸引ポンプ下流側のサンプリング配
管忙介装するとともに、前記収納容器に対する流体の圧
力を一定圧に維持するだめの圧力調節弁をサンプリング
配管に介装し、さらに前記測定装置には、前記のプロセ
ス流体の流れる配管および収納容器内の流体の圧力およ
び温既を入力するようにしたことを特徴とするプロセス
放射線測定装置。 2、圧力調節弁は測定容器の下流側サンプリング配管圧
介装されている特許請求の範囲第1項記載のプロセス放
射線測定装置。 3、吸引、I?ンプの上流側のサンプリング配管にはフ
ィルタが介装されている特許請求の範囲第1項または第
2項記載のプロセス放射線測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57213384A JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57213384A JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59104582A true JPS59104582A (ja) | 1984-06-16 |
Family
ID=16638302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57213384A Pending JPS59104582A (ja) | 1982-12-07 | 1982-12-07 | プロセス放射線測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59104582A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0578855U (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-26 | 株式会社大井製作所 | 自動車用ドアのクロージャ装置 |
WO2009138360A2 (en) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
-
1982
- 1982-12-07 JP JP57213384A patent/JPS59104582A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0578855U (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-26 | 株式会社大井製作所 | 自動車用ドアのクロージャ装置 |
WO2009138360A2 (en) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
WO2009138360A3 (en) * | 2008-05-12 | 2010-09-10 | Technology Nuclear Electronics S.P.A. | Radioactivity monitoring system |
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