JPS5888611A - 高速自動利得制御回路 - Google Patents
高速自動利得制御回路Info
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- JPS5888611A JPS5888611A JP18796581A JP18796581A JPS5888611A JP S5888611 A JPS5888611 A JP S5888611A JP 18796581 A JP18796581 A JP 18796581A JP 18796581 A JP18796581 A JP 18796581A JP S5888611 A JPS5888611 A JP S5888611A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- output
- control circuit
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B11/00—Automatic controllers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高速自動利得制御回路に係り、竹に、鋼管等の
内径方向幅を測る幅測定装置βに適用するに最適な高速
自動利得ｍｌＪ側１側路回路する。
内径方向幅を測る幅測定装置βに適用するに最適な高速
自動利得ｍｌＪ側１側路回路する。
鋼管を製造する工程において、ｌｈにシームレス鋼管を
製造する場合、鋼管の外径、肉厚、長さ寺が重要な品質
管理項目となっている１、このような情報を得るために
、主要ミルの出側に夕］径計および長さ酎が設置される
。かかる外径側および長さ計による測定信号１ｌ−ｉ、
ミル制御装置に読込まれ、オンライン制御に用いられて
いる。
製造する場合、鋼管の外径、肉厚、長さ寺が重要な品質
管理項目となっている１、このような情報を得るために
、主要ミルの出側に夕］径計および長さ酎が設置される
。かかる外径側および長さ計による測定信号１ｌ−ｉ、
ミル制御装置に読込まれ、オンライン制御に用いられて
いる。
第１図は外径側の検出部のノセイゾに対する設置例図で
ある。第１図ではノ々イゾ１のパスラインの左右４５＃
上方に検出器２Ａ、２Ｂを設置し、移動中（管軸方向に
）のパイプ１から放射される赤外線を非躾触状態で検知
し、・々イノ１の外極を測定するものである。１奨出命
２ｈ、２ｎの各々には、第２図に示す如く光学走査ヘッ
ド（ＯＳ １４ ：０ｐｔｉｃａｌ Ｓｃａｎｎｉｎ
ｇ Ｈｅａｄ ）が２基設けられている。すなわち上
部０８Ｈ（Ｕ−０８１１）と下部ＯＳ Ｈ（Ｌ −ＯＳ
ｉ−ｆ ）がＤの間隔をもって並設配置されている。
ある。第１図ではノ々イゾ１のパスラインの左右４５＃
上方に検出器２Ａ、２Ｂを設置し、移動中（管軸方向に
）のパイプ１から放射される赤外線を非躾触状態で検知
し、・々イノ１の外極を測定するものである。１奨出命
２ｈ、２ｎの各々には、第２図に示す如く光学走査ヘッ
ド（ＯＳ １４ ：０ｐｔｉｃａｌ Ｓｃａｎｎｉｎ
ｇ Ｈｅａｄ ）が２基設けられている。すなわち上
部０８Ｈ（Ｕ−０８１１）と下部ＯＳ Ｈ（Ｌ −ＯＳ
ｉ−ｆ ）がＤの間隔をもって並設配置されている。
上部Ｏ８Ｈは（２ＸＡｌ）を走査範囲とし、下部ＯＳ
Ｈは（２ＸＡ２ ）を走査範囲とし、両端部位信号ＡＨ
，Ａ２を測定し、パイプ１の外径Ｗを Ｗ＝Ａ夏十Ａ２＋Ｄ として求める 光学走丘ヘッドには、光電検出素子とし
てＰｂＳ 等が用いられ、この出力はＱｆ定の増幅のの
ちＡ Ｇ Ｏ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａ１ｎ Ｃｏ
ｎｔｒｏｌ ）回路と呼ばれる自動利得制御回路に入力
され、とのＡＧＯ回路で出力電圧を一定にする処理を行
っている。
Ｈは（２ＸＡ２ ）を走査範囲とし、両端部位信号ＡＨ
，Ａ２を測定し、パイプ１の外径Ｗを Ｗ＝Ａ夏十Ａ２＋Ｄ として求める 光学走丘ヘッドには、光電検出素子とし
てＰｂＳ 等が用いられ、この出力はＱｆ定の増幅のの
ちＡ Ｇ Ｏ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｇａ１ｎ Ｃｏ
ｎｔｒｏｌ ）回路と呼ばれる自動利得制御回路に入力
され、とのＡＧＯ回路で出力電圧を一定にする処理を行
っている。
第３図は従来の自動利得制御回路の構成を示すブロック
図である。
図である。
光学走査ヘッド（０８Ｈ）の出力盆増幅する増幅器３の
出力は、篭界効米トランジスタ（ＦｇＴ）等によって構
成される可変制御回路４を介して増（３） 幅器５に印加される。可変制御回路４は、アナログゲー
ト６、平均化回路７および比較回路８より成る制御信号
回路によって増幅器５の出力電圧が一定となるように制
御する。かかるｔｌｉ制御は、ノ々イブの温度：Ａ−動
により増幅器３の出力信号の電圧レベルが変動するのを
防止するｉめに設けらルるものであり、かかる制御によ
り測定精度を尚めることかできる。グー１−信号ＳＧの
ＯＮ時にアナログゲート６を開いて増幅器５の出力を平
均化回路７に出力する１平均化回路７はアナログゲート
６の出力を槓勺し、この積分値を比較器８で基準電圧Ｖ
ｓと比較し、その偏差で可変制御回路４を制御し、増幅
器５０入力電圧を一定部に開側１する９、この場合、ゲ
ー） ＠刊Ｓｃの生成に、増幅器３の出力信号を再度増
幅器９で増幅し、この増幅出力を単安定マルチバイブレ
ータ１０でワンショットノぐルスを発生し、このパルス
信号を遅延回路１１によって遅延した遅延ノ々ルス信号
を発生し、この信号をゲート信号ＳＧとしている。増幅
器５の出力はｌ−ＩＪガー回路１２に印加され、該増幅
器５の出（４） 力信号の立上り信号と同期信号ＳＣとに基づいて測定ノ
ξルス幅信号ＳＷが生成される。同期信号ＳＣは走査ス
リットのスキャン速度に対応して出力され、１走査の測
に原点１Ｈ号となる。
出力は、篭界効米トランジスタ（ＦｇＴ）等によって構
成される可変制御回路４を介して増（３） 幅器５に印加される。可変制御回路４は、アナログゲー
ト６、平均化回路７および比較回路８より成る制御信号
回路によって増幅器５の出力電圧が一定となるように制
御する。かかるｔｌｉ制御は、ノ々イブの温度：Ａ−動
により増幅器３の出力信号の電圧レベルが変動するのを
防止するｉめに設けらルるものであり、かかる制御によ
り測定精度を尚めることかできる。グー１−信号ＳＧの
ＯＮ時にアナログゲート６を開いて増幅器５の出力を平
均化回路７に出力する１平均化回路７はアナログゲート
６の出力を槓勺し、この積分値を比較器８で基準電圧Ｖ
ｓと比較し、その偏差で可変制御回路４を制御し、増幅
器５０入力電圧を一定部に開側１する９、この場合、ゲ
ー） ＠刊Ｓｃの生成に、増幅器３の出力信号を再度増
幅器９で増幅し、この増幅出力を単安定マルチバイブレ
ータ１０でワンショットノぐルスを発生し、このパルス
信号を遅延回路１１によって遅延した遅延ノ々ルス信号
を発生し、この信号をゲート信号ＳＧとしている。増幅
器５の出力はｌ−ＩＪガー回路１２に印加され、該増幅
器５の出（４） 力信号の立上り信号と同期信号ＳＣとに基づいて測定ノ
ξルス幅信号ＳＷが生成される。同期信号ＳＣは走査ス
リットのスキャン速度に対応して出力され、１走査の測
に原点１Ｈ号となる。
かかる構成においては、平均化回路７で積分するに際し
、アナログゲート６の出力信号をコンデンサに充電し何
走査目かの入力信号の電荷を積分するため、この積分時
間だけ応答速度が遅くなる。
、アナログゲート６の出力信号をコンデンサに充電し何
走査目かの入力信号の電荷を積分するため、この積分時
間だけ応答速度が遅くなる。
また、充電々荷が所定１１１までに充電される昔で、出
力４８号が飽和１７徐々に安定レベルに収束する。
力４８号が飽和１７徐々に安定レベルに収束する。
このため、例えば鋼管の長手方向の外径値を測定する場
合、その被」１１定物の移動速度が速いときに長手方向
先端部の外径を測定し、出力が安定になる迄に数メート
ルも移動するので、その期間は正確な測定値が得られな
い。
合、その被」１１定物の移動速度が速いときに長手方向
先端部の外径を測定し、出力が安定になる迄に数メート
ルも移動するので、その期間は正確な測定値が得られな
い。
このように従来の自動利得制御回路では、フィートノセ
ック方式を採用しているため、応答速度は例えば０．２
秒程度を要し、第４図に示す如くＡＧＯ出力′…：圧は
測定の開始よりおよび０．２秒後に一定値に整定される
という応答性の悪いものであった。この応答時間に加え
、測定値の安定性を得るための測定時間に１００ｍ５ｅ
ｃを要することから、総合応答速度に０．３秒を要して
いた。この結果、・々イブの先端部に測定不感帯（ライ
ンの搬送速度が約２ ｍ ／ ｓｅｃの場合に約６００
ｒａｎ ）ができていた。
ック方式を採用しているため、応答速度は例えば０．２
秒程度を要し、第４図に示す如くＡＧＯ出力′…：圧は
測定の開始よりおよび０．２秒後に一定値に整定される
という応答性の悪いものであった。この応答時間に加え
、測定値の安定性を得るための測定時間に１００ｍ５ｅ
ｃを要することから、総合応答速度に０．３秒を要して
いた。この結果、・々イブの先端部に測定不感帯（ライ
ンの搬送速度が約２ ｍ ／ ｓｅｃの場合に約６００
ｒａｎ ）ができていた。
応答時間を速くする手段として、ザンゾリング時間を長
くシ、あるいは積分Ｎ路の（’］Ｒ時定数を小ざくする
ことが考えられるが、いずれも出力電圧にハンチング現
象が生じ、出力レベルの安定性が損われるという欠点が
ある。
くシ、あるいは積分Ｎ路の（’］Ｒ時定数を小ざくする
ことが考えられるが、いずれも出力電圧にハンチング現
象が生じ、出力レベルの安定性が損われるという欠点が
ある。
本発明の目的は、応答時間の改善を図って測定不感帯を
短縮し、上り己した従来の欠点を解消１−だ高速自動利
得制御回路を提供するにある。
短縮し、上り己した従来の欠点を解消１−だ高速自動利
得制御回路を提供するにある。
すなわち本発明は、フィートノセック系および比較手段
を除去し、フィードフォワード糸を形成して入力信号の
大きさに対応した制御信号にょシ可変制御回路で出力電
圧が一定となるように制御するものである。具体的には
、測定信号の立上り位置より一定時間後にサンプルノ々
ルスを出方し、このタイミングでＡ（３０出力市１圧を
一定にするようにしている。ここでサンプル点の信号は
検出素子の応答性、測定信号の状態および測定信号の立
上り部から所定の遅延時間に関係し、変動し得るもので
あるが、測定信号の立上り部の傾斜部においてサンプル
信号を発生さぜるように構成することが望せしい。
を除去し、フィードフォワード糸を形成して入力信号の
大きさに対応した制御信号にょシ可変制御回路で出力電
圧が一定となるように制御するものである。具体的には
、測定信号の立上り位置より一定時間後にサンプルノ々
ルスを出方し、このタイミングでＡ（３０出力市１圧を
一定にするようにしている。ここでサンプル点の信号は
検出素子の応答性、測定信号の状態および測定信号の立
上り部から所定の遅延時間に関係し、変動し得るもので
あるが、測定信号の立上り部の傾斜部においてサンプル
信号を発生さぜるように構成することが望せしい。
第５図は本発明の実施例を示すブロック図である。第５
図においては第３ ｉＪで示したと同一部材であるもの
には同一符号ケ付している。盪だ、第６図（Ａ）、（ｉ
Ｊ ）、（（Ｊ）、（１））、（Ｅ）、（ド）％（（」
）、（■１）、（Ｉ）、（Ｊ）、（Ｉ〈）、（Ｉ、）、
（Ｍ）、（Ｎ）の夫々は本実施例の各部の動作波形図で
ある。図中、ｆ ）ｌ ｌは論理１（ルベルを示し、士
は正電圧、−は負電圧を示す。増幅器３より出力される
信号波形は第６図（Ａ）の如くであ）、この信号ｓ１は
７９２７７回路１３およびスライス回路１４に印加され
る。スライス回ｗ５１４は、増幅器３の出力信号が有す
るサグ及び立上り時点の波形のな捷り等の影響を除去す
るために成るレベル以下をスラ（７） イスするものである。スライス回路１４より出力される
スライスレベル以上の信号成分は増幅器１５で増幅され
、第６図（Ｂ）の過飽和信号Ｓ２を出力する。この過飽
オロ信号は比較回路１６で基準電圧発生回路１７より出
力さ１する基準電圧ＶＬと比較される。比較器１６よシ
出力される４に号Ｓ３は第６図（０）の如くであり、こ
の信号Ｓ３の立上りのタイミングにより遅延回路１８で
ノ方定の時間ｔだけ遅延した信号Ｓ４を第６図（１））
の如く出力する。この遅延信号の立下りのタイミングに
基づいてタイマー回路１９によって、第６図（Ｅ）の正
極性のサンプリング信号Ｓ ５ （／ξルス＋ｐＢ
ＰＷ ）及び第６図（Ｆ ）の負極性のサンプリング信
号Ｓ６（ノクルス幅ＦＷ）を同時に発生さゼ−る。正極
性のサンプリング信号Ｓ５はタイマー回路２０に送出さ
れ、負極性のサンプリング信号Ｓ６は後述するサンプル
ホールド回路２１に送出される。
図においては第３ ｉＪで示したと同一部材であるもの
には同一符号ケ付している。盪だ、第６図（Ａ）、（ｉ
Ｊ ）、（（Ｊ）、（１））、（Ｅ）、（ド）％（（」
）、（■１）、（Ｉ）、（Ｊ）、（Ｉ〈）、（Ｉ、）、
（Ｍ）、（Ｎ）の夫々は本実施例の各部の動作波形図で
ある。図中、ｆ ）ｌ ｌは論理１（ルベルを示し、士
は正電圧、−は負電圧を示す。増幅器３より出力される
信号波形は第６図（Ａ）の如くであ）、この信号ｓ１は
７９２７７回路１３およびスライス回路１４に印加され
る。スライス回ｗ５１４は、増幅器３の出力信号が有す
るサグ及び立上り時点の波形のな捷り等の影響を除去す
るために成るレベル以下をスラ（７） イスするものである。スライス回路１４より出力される
スライスレベル以上の信号成分は増幅器１５で増幅され
、第６図（Ｂ）の過飽和信号Ｓ２を出力する。この過飽
オロ信号は比較回路１６で基準電圧発生回路１７より出
力さ１する基準電圧ＶＬと比較される。比較器１６よシ
出力される４に号Ｓ３は第６図（０）の如くであり、こ
の信号Ｓ３の立上りのタイミングにより遅延回路１８で
ノ方定の時間ｔだけ遅延した信号Ｓ４を第６図（１））
の如く出力する。この遅延信号の立下りのタイミングに
基づいてタイマー回路１９によって、第６図（Ｅ）の正
極性のサンプリング信号Ｓ ５ （／ξルス＋ｐＢ
ＰＷ ）及び第６図（Ｆ ）の負極性のサンプリング信
号Ｓ６（ノクルス幅ＦＷ）を同時に発生さゼ−る。正極
性のサンプリング信号Ｓ５はタイマー回路２０に送出さ
れ、負極性のサンプリング信号Ｓ６は後述するサンプル
ホールド回路２１に送出される。
一方、バッファ回路１３は入力信号を緩働増幅したのち
サンプルボール１回路２１に第６図（Ｇ）の如き信号Ｓ
７を出力する。サンプルホールド同（８） 路２１は、タイマー回路１９より出力される負極性のサ
ンプリング信号によってサンプルコマンド後にホールド
、すなわち第６図（１ｆ）の如くの電圧レベルを保持す
る１、このホールドは次走査のサンプリング信号が来る
葦で継続される。サンプルホールＦ′回路２１の出力ｓ
８は非線形回路２２によって非線形出力電圧を出力する
。この非線形出力電圧Ｓ９は、第７図に示す可変制御回
路４を構成する電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）Ｑの入
カ電圧ｅ、−ゲート電圧ＣＧ％性に対応して第８図の如
き多点折点補正曲線（ｏ＋ ＡＩ Ｂ＋・・・・・
）で近似させた第６図（Ｉ）の電圧信号であｐ１加算回
路２３に送出される。加算回路２３には更に基準電圧発
生回路２４より基準電圧■ｒ（第８図の０−０’Ｋａ
”Ａ ｆ ルｅｃ ＝ Ｋ １ｅＬ？Ｌ十Ｋ ２ ）’
ＲＬ圧）が入力されている。７ＪＩＩ巽回路２３は両人
力信号に基づいて第８図に示すｅ、、、−ｃｏ％性の（
０−Ａ−Ｂ・・・・・）曲線の出力信号ＳＩＯを得、ア
ナログゲート６を介して可変制御回路４に送出する。ア
ナログゲート６は、タイマー回路２ｏの第６図（Ｋ）（
９） に示す信号Ｓ１１が連続して発生している場合にゲート
は開く。
サンプルボール１回路２１に第６図（Ｇ）の如き信号Ｓ
７を出力する。サンプルホールド同（８） 路２１は、タイマー回路１９より出力される負極性のサ
ンプリング信号によってサンプルコマンド後にホールド
、すなわち第６図（１ｆ）の如くの電圧レベルを保持す
る１、このホールドは次走査のサンプリング信号が来る
葦で継続される。サンプルホールＦ′回路２１の出力ｓ
８は非線形回路２２によって非線形出力電圧を出力する
。この非線形出力電圧Ｓ９は、第７図に示す可変制御回
路４を構成する電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）Ｑの入
カ電圧ｅ、−ゲート電圧ＣＧ％性に対応して第８図の如
き多点折点補正曲線（ｏ＋ ＡＩ Ｂ＋・・・・・
）で近似させた第６図（Ｉ）の電圧信号であｐ１加算回
路２３に送出される。加算回路２３には更に基準電圧発
生回路２４より基準電圧■ｒ（第８図の０−０’Ｋａ
”Ａ ｆ ルｅｃ ＝ Ｋ １ｅＬ？Ｌ十Ｋ ２ ）’
ＲＬ圧）が入力されている。７ＪＩＩ巽回路２３は両人
力信号に基づいて第８図に示すｅ、、、−ｃｏ％性の（
０−Ａ−Ｂ・・・・・）曲線の出力信号ＳＩＯを得、ア
ナログゲート６を介して可変制御回路４に送出する。ア
ナログゲート６は、タイマー回路２ｏの第６図（Ｋ）（
９） に示す信号Ｓ１１が連続して発生している場合にゲート
は開く。
可変制御量ｗｊ４のＦ Ｅ’１’のゲートに入力電圧ｅ
Ｌｎに対応するゲート電圧”ａ （Ｓ＋ｏ ）が入力さ
れることにより、抵抗ＲとＦＥＴの内部抵抗とにより分
圧された出力信号ｅ、−スは一定レベルで且つ一定立上
シ波形（又は立下り波形）の第６図（Ｌ ）に示す信号
８１２となる。この信号８１２は増幅器５で増幅し第６
図（Ｍ）に示す信号８１３ を得たのち、トリガー回
Ｍ、１２によって立上り（又は立下り）位置が一定な方
形波の第６図（Ｎ）に示す出力信号８１４を得る。
Ｌｎに対応するゲート電圧”ａ （Ｓ＋ｏ ）が入力さ
れることにより、抵抗ＲとＦＥＴの内部抵抗とにより分
圧された出力信号ｅ、−スは一定レベルで且つ一定立上
シ波形（又は立下り波形）の第６図（Ｌ ）に示す信号
８１２となる。この信号８１２は増幅器５で増幅し第６
図（Ｍ）に示す信号８１３ を得たのち、トリガー回
Ｍ、１２によって立上り（又は立下り）位置が一定な方
形波の第６図（Ｎ）に示す出力信号８１４を得る。
一般に入力信号が無信号状態の期間においては、可変制
御回ｊｉｆ’５４の利得は最大となり、ノイズレベルま
で増幅しようとするため、外米ノイズ等があった場合に
は容易に出力されてし盪い誤動作の原因となるものであ
る。しかし本発明によればＨｌ」記入力信号が無信号状
態になれば、アナログゲート６が閉じられるので可変？
ｔｊｌＪ １１１４１回路４のゲート′酸圧は０ポルト
になり、出力１８号は一雉の低レベル以１１八１ 下に減殺され、外米ノイズ峠による誤動作は防止される
。
御回ｊｉｆ’５４の利得は最大となり、ノイズレベルま
で増幅しようとするため、外米ノイズ等があった場合に
は容易に出力されてし盪い誤動作の原因となるものであ
る。しかし本発明によればＨｌ」記入力信号が無信号状
態になれば、アナログゲート６が閉じられるので可変？
ｔｊｌＪ １１１４１回路４のゲート′酸圧は０ポルト
になり、出力１８号は一雉の低レベル以１１八１ 下に減殺され、外米ノイズ峠による誤動作は防止される
。
なお、図示を省略したが第５図において、増幅器３の前
段（−またｉｊ： ”Ｊ変制御回路の前段）に苓Ｂ生回
路を設けることにより、人力信号の半レベルを正確に決
めることができ、次段以神の補止回路のレベル設定を容
易かつ正確に行うことができる３、以上詳述したように
本発明によれば、検出信号の入力レベルお上ひ立上り時
間（又は立ドシ時間）が変動しても、出力１ｄ号の１ケ
出位置は変動しないため、常に一定位置で速い応答速度
で検出１６号を得ることができる。本開明により得られ
る効果を更に具体的に列挙すれは仄の夕日＜である。
段（−またｉｊ： ”Ｊ変制御回路の前段）に苓Ｂ生回
路を設けることにより、人力信号の半レベルを正確に決
めることができ、次段以神の補止回路のレベル設定を容
易かつ正確に行うことができる３、以上詳述したように
本発明によれば、検出信号の入力レベルお上ひ立上り時
間（又は立ドシ時間）が変動しても、出力１ｄ号の１ケ
出位置は変動しないため、常に一定位置で速い応答速度
で検出１６号を得ることができる。本開明により得られ
る効果を更に具体的に列挙すれは仄の夕日＜である。
（１）入力１ｄ号の走査繰返し冴度筺で尚速走査が可能
となり、最近の尚速測定に充分なスロ従性を持たせるこ
とができる。
となり、最近の尚速測定に充分なスロ従性を持たせるこ
とができる。
（２）可変′訓側ｊ回路に用いられる屯界効釆トフンジ
スタ（Ｆ Ｅ ｉ” ）等の非直線性を非線形回路の採
用により補正することができ、人力情＋ｊＶ（対応する
出力信号のダイナミックレンジを拡大すること（１１） ができる。
スタ（Ｆ Ｅ ｉ” ）等の非直線性を非線形回路の採
用により補正することができ、人力情＋ｊＶ（対応する
出力信号のダイナミックレンジを拡大すること（１１） ができる。
（３） ザンプリング・は号を利用してアナログゲート
を制御することにより口」゛変ｈ１制御回路の利得を最
小にできるの″Ｃ１外米ノイズ件の影曽を除去すること
ができる。、
を制御することにより口」゛変ｈ１制御回路の利得を最
小にできるの″Ｃ１外米ノイズ件の影曽を除去すること
ができる。、
第１図は外径計の検出Ｈの・ゼイゾに対する設置図、第
２図は第１図の検出部を構Ｊ戊する検出器の設置ｄ図、
第３図は従来の自動オＤ得制御回路の構成を示すブロッ
ク図、第４図は従来における出力′市圧特１タト図、第
５図は本発明の実施例をボすブロック図、第６図（Ａ
）、（１３）、（０）、（１））、（１号）、ロバ）、
（０）、（ＩＪ）、（１）、（Ｊ’）、（ｌ（）、（１
，）、（Ｍ）％ （Ｎ） の夫々は第５図の実施例の
谷部動作波形図、第７図は本発明に係る口」変制御回路
の回路図、第８図ｔゴ本発明に係る補正曲線図である８
゜２Ａ、２Ｂ・・・検出器、３，５，１３５，１５・・
増幅器、４・・・可変制御回路、６・・・ゲート、１２
・トリガー回路、１４・・スライス回路、１６・・・比
軟回路、１７．２４・・・基準電圧発生凹陥、１８・・
・遅処回路（１２） １９．２０・・タイマー回路、２１−・・ザンプルホー
ルド（ロ）路、２２・・非線形回路、２３・加算回路。 代理人 鵜 沼 辰 之 （ほか２名） 第 １ 図 １′ 第 ２ テ 第６図 （Ｎ）５１４ ｍ 第７図 ＋ 第８図 第１頁の続き ０発 明 者 菊田武治 東京都板橋区蓮沼町７５番１号東 京光学機械株式会社内 ■出 願 人 東京光学機械株式会社 東京都板橋区蓮沼町七五番−号 ５６一
２図は第１図の検出部を構Ｊ戊する検出器の設置ｄ図、
第３図は従来の自動オＤ得制御回路の構成を示すブロッ
ク図、第４図は従来における出力′市圧特１タト図、第
５図は本発明の実施例をボすブロック図、第６図（Ａ
）、（１３）、（０）、（１））、（１号）、ロバ）、
（０）、（ＩＪ）、（１）、（Ｊ’）、（ｌ（）、（１
，）、（Ｍ）％ （Ｎ） の夫々は第５図の実施例の
谷部動作波形図、第７図は本発明に係る口」変制御回路
の回路図、第８図ｔゴ本発明に係る補正曲線図である８
゜２Ａ、２Ｂ・・・検出器、３，５，１３５，１５・・
増幅器、４・・・可変制御回路、６・・・ゲート、１２
・トリガー回路、１４・・スライス回路、１６・・・比
軟回路、１７．２４・・・基準電圧発生凹陥、１８・・
・遅処回路（１２） １９．２０・・タイマー回路、２１−・・ザンプルホー
ルド（ロ）路、２２・・非線形回路、２３・加算回路。 代理人 鵜 沼 辰 之 （ほか２名） 第 １ 図 １′ 第 ２ テ 第６図 （Ｎ）５１４ ｍ 第７図 ＋ 第８図 第１頁の続き ０発 明 者 菊田武治 東京都板橋区蓮沼町７５番１号東 京光学機械株式会社内 ■出 願 人 東京光学機械株式会社 東京都板橋区蓮沼町七五番−号 ５６一
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１１人力信号の立上りから一定時間だけ遅延させてサ
ンプリング信号を生成する第１の信号処理部と、該回路
より出力されるサンプリング信号のタイミングにより前
記人力信号をホールトゝするサンプルホールド回路と、
該サンプルホールド回路の出力信号に応じて非線形特性
を有する補正信号を出力する第２のｆｇ号処理部と、該
第２の信号処理部の出力イｇ号を開側ｊ信号として前記
入力信号に基づく出力信号のレベルが一定値を保つよう
に制御する可変制御回路とを具備することを特徴とする
高速自動利得開側ｊ（ロ）路。 （２） 前記入力信号が無信号状態の期間、前記第２
の信号処理部の出力信号を前ｄ己可変制御回路に入力さ
せないアナログゲートを＋ＩＪ記第２の処理部の後段に
設けることを特徴とする特１Ｆｆａｓボの範囲第１項１
己載の尚速自動利得副側Ｉ１ｇ回路。 （３） 前記入力信号の入力端に苓１ｊ］〕生回路を
設けたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の高
速自動利得制御回路
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18796581A JPS5888611A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 高速自動利得制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18796581A JPS5888611A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 高速自動利得制御回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5888611A true JPS5888611A (ja) | 1983-05-26 |
| JPH0161162B2 JPH0161162B2 (ja) | 1989-12-27 |
Family
ID=16215250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18796581A Granted JPS5888611A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 高速自動利得制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5888611A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006263796A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| CN100416329C (zh) * | 2003-12-05 | 2008-09-03 | 日本电产三协株式会社 | 透镜驱动装置及其制造方法 |
| US7630151B2 (en) | 2004-01-08 | 2009-12-08 | Nidec Sankyo Corporation | Lens drive unit |
| JP2013087039A (ja) * | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Ftb Research Institute Co Ltd | 単結晶インゴット直径制御方法 |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP18796581A patent/JPS5888611A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100416329C (zh) * | 2003-12-05 | 2008-09-03 | 日本电产三协株式会社 | 透镜驱动装置及其制造方法 |
| US7630151B2 (en) | 2004-01-08 | 2009-12-08 | Nidec Sankyo Corporation | Lens drive unit |
| JP2006263796A (ja) * | 2005-03-25 | 2006-10-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| JP4543386B2 (ja) * | 2005-03-25 | 2010-09-15 | 住友金属工業株式会社 | 管材の外面疵検出方法及び装置 |
| JP2013087039A (ja) * | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Ftb Research Institute Co Ltd | 単結晶インゴット直径制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0161162B2 (ja) | 1989-12-27 |
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