JPS5861655A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS5861655A
JPS5861655A JP16060281A JP16060281A JPS5861655A JP S5861655 A JPS5861655 A JP S5861655A JP 16060281 A JP16060281 A JP 16060281A JP 16060281 A JP16060281 A JP 16060281A JP S5861655 A JPS5861655 A JP S5861655A
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wiring
metallic wiring
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metal wiring
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Teruyoshi Mihara
輝儀 三原
Tamotsu Tominaga
富永 保
Hideo Muro
室 英夫
Masami Takeuchi
武内 正巳
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Nissan Motor Co Ltd
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Nissan Motor Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は耐圧特性を改善した半導体装置に関する。
従来の半導体装置として、例えば、第1図(イ)、(ロ
)に示すものがあり1例えば、アルミニウムの入力パッ
ド用金属配線−1(パッド部10および配線部20を有
する。以下省略)と、絶縁ゲート型電界効果トランジス
タのゲート電極(図示せず)k接続される多結晶シリコ
ン層3(所定の抵抗値を有し、入力ゲート保護回路とし
て働く)と。
多結晶シリコン層3を絶縁し、金属配線1と多結晶シリ
コン層3を接続するコンタクトホール2を有し東第1の
シリコン酸化膜層4と、多結晶シリコン層3とシリコン
基板5を絶縁する第2のシリコン酸化膜層6″f有して
いる。
以上の構成において、金属配線lから多結晶シリコン層
3を介して電界効果トランジスタのゲート電極rゲート
電圧を印加することによってドレイン電流を制御するこ
とができる。
しかし、従来の半導体装置にあっては、第1のシリコン
酸化膜層4が多結晶シリコン層3の、終端部で段状にな
っているため、金属配線lは裏面にエッヂ部aを有して
形成せざるを得なかった。また、従来パッド部は矩形状
に形成されエッヂ部すを有するように蒸着されている。
そのため1例えば、該半導体装置が車両に搭載された場
合、例えば、配電器のオン、オフ操作の電流変化によっ
て誘導される400〜500ボルトの高周波サージが金
属配ls1に入力すると該エッチ部a、blc電界が集
中して第1および第2のシリコン酸化膜層4.6が絶縁
破壊を生じる恐れがある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり入力パッド
用金属配線が高周波サージを入力゛しても第1、II2
のシリコン酸化膜すなわち酸化膜絶縁層が絶縁破壊を生
じないように耐圧特性を改善するため、多結晶シリコン
層等の抵抗層を前記金属配線の周縁輪郭線を含む範囲に
延ばすことにより入力パッド用金属配線に電界が集中す
るエッヂ部を形成しないよう圧した半導体装置を提供す
るものである。
以下本発明による半導体装置を詳細に説明する。
第2図s)、 tp)、 rうは本発明の第1よや第3
の実施例を示しているが、第1図(イ)、仲)と同一の
部分は同一の引用数字で示しているので重複する説明は
省略する。
第2図(へ)は本発明の第1の実施例を示し14.多結
晶シリプン層3を金属配線lの周縁を含むよう図中配線
五の左端の下まで延ばすことによって金属配線lの裏面
に基板5に対向するエッチ部を形成しないようにした本
のである。第2図←)は本発明の第2の実施例を示し、
方形の金属配線1(配線部20を有しない)の四すみを
円弧にして平面形状においてもエッヂ部を形成しないよ
うにしたものであり、第2図Oは本発明の第3の実施例
を示し、金属配線l(配線部20を有しない)を円形和
してエッヂ部を形成しないよ・うKしたものである(第
2、第3の実施例では、四角のエッチ部を有した金属配
線のものに比して20チ耐圧を向上することができた)
以上説明した通り1本発明による半導体装置によれば、
入出力パッド用金属配線に電界が集中するエッチ部を形
成しないようにしたため。
耐圧特性を改善して入出力パッド用金属配線が高周波サ
ージを入力しても酸化膜絶縁層が絶縁破壊を生じないよ
うにすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(へ)、(ロ)は従来の半導体装置を示し、(へ
)は平面図、(→はけ)におけるA−A断面図。第2図
(へ)、←)、f)は本発明の第1より第3の実施例を
示す説明図。 符号の説明 1・・・入力パッド用金属配線  10・・・パント部
20・・・配線部     2・・・コンタクトホール
3・・・多結晶シリコン層(抵抗層) 4 、6−−・シリコン酸化膜層(酸化膜絶縁層)5・
・・基板 特許出願人  8産自動車株式会社 j H’、’e已
゛ 代理人 弁理士 松 厚 伸 之 ° :・・代理人 
弁理士 平 1)忠 雄

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)酸化膜絶縁層を介して配置された抵抗層と、入力
    パッド用金属配線を該酸化膜絶縁層のコンタクトホール
    を介して接続した半導体装置において、 前記抵抗層が、少くとも前記入力パッド用金属配線の周
    縁輪郭線を含む範囲にわたって延びている構成を有する
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. (2)前記入力パッド用金属配線が、角部を有しない輪
    郭線によって形成されている特許請求の範囲の第1項記
    載の半導体装置。
JP16060281A 1981-10-08 1981-10-08 半導体装置 Granted JPS5861655A (ja)

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JP16060281A JPS5861655A (ja) 1981-10-08 1981-10-08 半導体装置

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JPS5861655A true JPS5861655A (ja) 1983-04-12
JPS64824B2 JPS64824B2 (ja) 1989-01-09

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61170048A (ja) * 1985-01-23 1986-07-31 Nec Corp 半導体装置
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JPH02216870A (ja) * 1989-02-16 1990-08-29 Mitsubishi Electric Corp 薄膜トランジスタ
JP2010509108A (ja) * 2006-11-14 2010-03-25 コロン グロテック,インコーポレイテッド 発熱ファブリックおよびその製造方法
US10734745B2 (en) 2015-12-25 2020-08-04 Autonetworks Technologies, Ltd. Connector

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US11309651B2 (en) 2015-12-25 2022-04-19 Autonetworks Technologies, Ltd Connector with a housing and a terminal having a conductive case, a conductive member in the case and a coil spring biasing the conductive member toward a meeting terminal

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JPS64824B2 (ja) 1989-01-09

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