JPS5859649A - 信号発生回路 - Google Patents

信号発生回路

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Publication number
JPS5859649A
JPS5859649A JP56157912A JP15791281A JPS5859649A JP S5859649 A JPS5859649 A JP S5859649A JP 56157912 A JP56157912 A JP 56157912A JP 15791281 A JP15791281 A JP 15791281A JP S5859649 A JPS5859649 A JP S5859649A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
code
stages
scrambler
Prior art date
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Pending
Application number
JP56157912A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimitsu Okano
岡野 良充
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP56157912A priority Critical patent/JPS5859649A/ja
Publication of JPS5859649A publication Critical patent/JPS5859649A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/03Shaping networks in transmitter or receiver, e.g. adaptive shaping networks
    • H04L25/03828Arrangements for spectral shaping; Arrangements for providing signals with specified spectral properties
    • H04L25/03866Arrangements for spectral shaping; Arrangements for providing signals with specified spectral properties using scrambling

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデータ伝送系の試験のためにループ構成を行う
ときに用いられるアドレス信号またはループ構成信号そ
の他の信号を発生する回路に関する。
データ伝送系では系の一部、例えば端末機器、モデムお
よび回線等に障害が発生すると、系のどの個所に障害が
発生したかを調査する必要がある。
従来、このような−書探索は、一方の端末側(試験端末
)と遠隔端末のモデム等(被試験端末)との関にループ
回路を構成し、試験端末から被試験端末に送出された信
号を試験端末から被試験端末に折り返し返送することK
より行なわれている。
このようなループ構成の方法としては、試験端末から被
試験端末にアドレス符号を送信し被試験端末でその符号
を識別してループを構成する方法が一般的である。試験
端末が被試験端末へループを構成させるために送信する
符号としては、一般にループを構成するように通知する
ループ構成符号と、被試験端末の中の一つを指定するア
ドレス符号と、ループ構成を示すモード符号とが用いら
れている。
第1図はこれらの符号の一例を示すタイムチャートであ
る。第1図(A)でループ構成符号1はある函数の!0
」または「1」のスクランブル符号a。
ビットから構成され、アドレス符号2は前記函数とは異
なる他の函数の「0」または「1」のスクランブル符号
す、ビットで構成されている。さらKその次に送信され
るモード符号3はC,ビットで構成され、もう一つの函
数の「0」または「1」のスクランブル符号とされる。
被試験端末では、第1図@に示すように受信された信号
からループ構成符号1、アドレス符号2およびモード符
号3の中のそれぞれ連続して正しく検出したビット数が
as%b3およびC3であし、これらがそれぞれ12ビ
ツト、b2ビットおよび0.ビットと同一またはそれ以
上であれば、その被試験端末はループを構成する。但し
a、≧a、≧2、b、≧b、≧2、C,≧02≧2 と
する。
このよう表従来方式により、ループ構成符号、n段のシ
フトレジスタを有するスクランブラを使用した場合には
、モード符号の種類がdllあると、すればn−1−6
のアドレス信号しか作ることができない。したがって、
その系に4要なアドレス信号の数がこれ以上必要になる
場合には対処できなくなる欠点がある0例えば既設の装
置があり通信を行う支店が増設された場合などに、アド
レス信号の数が不足するような場合には、システム全体
に影畳する変更を要することになるなど、きわめて不経
済になる。
本発明は上述の欠点を除去するもので、さらに多数のア
ドレス信号を発生できるアドレス信号発生回路を提供す
ることを目的とする。
本発明はm段(mは5以上の整数)のシフトレジスタか
らなるスクランブラを備え、このシフトレジスタの有効
段数をn段(nはmより小さい整数)に減らす手段を備
え、さらに、n段に減少させたシフトレジスタの指定さ
れる段に排他的論理和回路を介、して上記n段の一シフ
トレジスタの出力を帰還結合させることにより、生成す
る多項式の数を増加させることを特徴とすゐ。
次に一施例図面を参照して本発明をさらに詳しく説明す
る。
第2図および第3図は本発明実施例装置の回路構成図で
ある。第2図でタイマ回路5は制御回路6にタイミング
信号−を送る。制御回路6は、ループ構成符号、アドレ
ス符号、モード符1号などの送信符号のビット数を決定
し、段数決定用の制御信号72〜7m−1を送出する。
またこの制御回路6tljフイ一ドバツク段数決定用の
制御信号8.〜8 m−、を送出する。さらに制御回路
6拡、−クリア俳号9およびクロック信号lOを送出す
る。
この制御信号72〜yrn−、および8.〜5r11−
.ti第3図の゛右端の信号線72〜7m−1および8
.〜8.。
に供給される。
第3図に示す回路は、段数決定回路11と、ゲート回路
群12と、スクランブラ13と、フィードバック段数決
定回路14とから成る。段数−決定回路11は、セレク
タlL!〜11−m−,を含み、各出力!は前段の入力
AK接続される。ゲート回路12は、アンド回路12−
1〜12−m−、を含み、段数決定用の制御信号72〜
7m−4を図のように各セレクタ112〜11−m−,
の端子s4c与える・ スクランブラ13は、m段のシフトレジスタ13−1〜
13−mと、ナンド回路13aおよび13t+と、その
段間に接続されたm−1個の排他論理和回路13oと、
1個の排他論理和回路13dとを含み、図のように結線
される。また、フィードバック段数決定回路14拡m−
1個のセレクタ14−4〜14−、n−、を含み、各セ
レクタの端子8には前記制御信号8.〜8m−7がそれ
ぞれ与えられ、端子ムには段数決定回路11のセレクタ
112の出力Yが与えられ、端子BKはハイレベル「1
」が与えられる。各セレクタ14−4〜It、、の出力
YK現われる信号は、スクランブラ13の排他論理和回
路13 eの一方の入力に与えられて、この動作段数を
制御する。
入力信号21は排他的論理和回路23に与えられる。
この排他的論理和回路nの他方の入力には、上記段数決
定回路11の出力、す表わちシフトレジスタの出力信号
が与えられ、この排他的論理和回路おの出力24がこの
装置の出力となる。
第3図の構成において制御信号7Tn−、〜72が全て
「0」のときに杜、スクランブラ13のシフトレジスタ
段数は3段になるのでその生成多項式は1+X十X’ となり、全て「1」のときは同じくm段になるので 1+xi 1.+ 10.+ X ij+’z!IIと
なる。mはシフトレジスタの段数、11・・・1tはフ
ィードバックの段数である。また制御信号7゜−1〜7
m−1−jが「1」で制御信号7m+j+1〜7.が「
0」でさらに81.・・・81tが「0」のときは、生
成多項式は 1 +xi 1+・・・+xit+xj□ただし11・
・−14(j<m となる。通常入力端子21は「1」または「0」が入力
されるため、第3図で作られる信号の種類は全部で f(2’−1) −1 成の数を除いたものがアドレス信号として使用すること
ができる。例えばシフトレジスタの段数mを5とすると
、段数は5.4.3、および2段の計4種類変化でき、
フィードバック段数は5段に対して15種類、4段に対
して7種類3段に対して3種類2段に対して111類そ
れぞれ変化できる。
このため発生符号の種類は 15+7+4+1=26 となり、非常に多くの信号を作ることができる。
以上述べたように本発明によれば論理回路で構成される
スクランブル回路を追加することにより、符号の組合せ
数が大きくとれ、アドレスが増加したときに、システム
全体に影響することなくアドレス符号の数を増加させる
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の取扱う信号の一例を示すタイムチャ
ート。 第2図および第3図は本発明の一実施例を示す回路図。 應 1 口 一一一一−−===L−一 一一一一一一二二二しm− 72−−−7m−+   8+  −−−−8m−+ 
 9 10児 2 圓

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)m段(m社5以上の整数)の7リツプ70ツブが
    各段間に排他的論理和回路を介して縦続接続されてなる
    シフトレジスタを含むスクランブラと、このシフトレジ
    スタの有効段をn段(nは2以上であってmより小さい
    整数)K減少させるように制御する段数決定回路と、前
    記n段に減少させた前記シフトレジスタの出力信号をフ
    ィードバック段数決定用の制御信号に従って前記排他的
    論理和回路の他方の入力に与えるフィードバック段数決
    定回路と、前記シフトレジスタの出力信号と入力信号の
    排他的論理和をとり出力信号とするとともKこの出力信
    号を前記スクランブラの入力信号とする回路とを備えた
    信号発生回路。
JP56157912A 1981-10-02 1981-10-02 信号発生回路 Pending JPS5859649A (ja)

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JP56157912A JPS5859649A (ja) 1981-10-02 1981-10-02 信号発生回路

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JPS5859649A true JPS5859649A (ja) 1983-04-08

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ID=15660162

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JP56157912A Pending JPS5859649A (ja) 1981-10-02 1981-10-02 信号発生回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0669623A1 (en) * 1994-02-24 1995-08-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Test circuit of semiconductor memory device having data scramble function

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0669623A1 (en) * 1994-02-24 1995-08-30 Kabushiki Kaisha Toshiba Test circuit of semiconductor memory device having data scramble function
US5748641A (en) * 1994-02-24 1998-05-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Test circuit of semiconductor memory device having data scramble function

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