JPS5858602B2 - ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ - Google Patents

ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ

Info

Publication number
JPS5858602B2
JPS5858602B2 JP50110493A JP11049375A JPS5858602B2 JP S5858602 B2 JPS5858602 B2 JP S5858602B2 JP 50110493 A JP50110493 A JP 50110493A JP 11049375 A JP11049375 A JP 11049375A JP S5858602 B2 JPS5858602 B2 JP S5858602B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
thickness
antenna
measured
constant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP50110493A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5235660A (en
Inventor
隆成 寺川
博 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Keiki Inc
Original Assignee
Tokyo Keiki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Keiki Co Ltd filed Critical Tokyo Keiki Co Ltd
Priority to JP50110493A priority Critical patent/JPS5858602B2/ja
Publication of JPS5235660A publication Critical patent/JPS5235660A/ja
Publication of JPS5858602B2 publication Critical patent/JPS5858602B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、誘電体材料の厚さ測定装置に係り、とくに、
マイクロ波を用いて測定される誘電体材料の厚さ測定装
置に関する。
従来、板の厚さを非破壊で測定し得る板厚計測装置とし
ては、超音波による板厚計測装置すなわち超音波厚さ計
がある。
しかしながら超音波厚さ計は、金属などの比較的密度の
高い物質の厚さ測定には適しているが、超音波の減衰の
大きい木材、紙、プラスチック又はFRPなとの比較的
密度の低い誘電体材料については、その正確な板厚の測
ノ 定が困難であり、又超音波の波長の制限を受けて1/1
0關乃至1/100間オーダーO厚さ測定は極めて困難
であり、さらに超音波振動子の振動面を被測定物に押圧
するか又は被測定物と超音波振動子との間に超音波伝播
体を介在させて空気層を排除しなければ板厚測定が不可
能であるという固有の欠点を常に有している。
また、マイクロ波を用いた板厚測定に関しては、従来よ
り、通信手段としての応用面の開発が先行しており1、
これがため、誘電体材料の板厚を測定する等Φ分野への
応用面はあまり注視されておらず、僅かにモノポールア
ンテナを用いた接触形の非破壊測定法が提唱されている
にすぎない。
しかしながら、モノボールアンテナでは電力放射方向が
アンテナ線に直角の方向であり且つその電界分布が円弧
状となることから、これを板厚測定に応用するには当該
アンテナの先端部に僅かに形成される平面波部分を使用
せざるを得ず、従って、必然的に被測定物を点接触にて
部分的にのみ測定し得るという状況を呈しており、これ
がため、例えば軟質で薄いフィルム状部材の厚さ測定に
は全く不適当なものとなっており、しかも、点接触であ
ることから全体的には軟質部材の連続的な板厚測定が非
常に困難なものとなっていた。
さらに、上記従来技術においては、マイクロ波発信源で
の出力レベルの変動による測定誤差については特に関心
が払われていない。
このため、かかる点から生じる測定の変動は、測定精度
の向上を著しく阻害するという不都合を生ぜしめている
本発明の目的は、上記従来技術0不都合を勘案し且つマ
イクロ波の有する固有の特性を利用することによって、
とくに軟質で薄い部材から成る誘電体材料の板厚を、非
接触で且つ連続的に測定するとともに、測定精度を向上
せしめることのできる誘電体材料の厚さ測定装置を提供
することにある。
そこで 本発明は、マイクロ波送受信用の電磁ホーン型
アンテナと、こめアンテナによって受信されるマイクロ
波の受信レベルをその送信マイクロ波に対するエネルギ
ー比として算出し表示する表示手段とを有し、前記アン
テナのマイクロ波発射面と被測定物の反射内とを常に平
行とし且つ両者間の空間離隔距離を常に一定とするため
の定距離設定機構を備え、前記表示手段の信号入力段に
は、前記マイクロ波の発信器における出力レベルの変動
を測定値段階にて補正する測定値補正手段を装備すると
いう構成を採用し、これによって前記目的を遠戚しよう
とするものである。
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第3図に基づい
て説明する。
マイクロ波発振器1は、任意の稼動期間中、定周波数C
W、RF信号を送信マイクロ波電力として発振する。
このマイクロ波発振器1の出力は、一方向の進行マイク
ロ波のみを通過させるアイソレータ2と前記マイクロ波
発振器2の出力を一定に保つレベラー3とを介してJマ
イクロ波分離回路としてのサーキュレータ4に加えられ
る。
このサーキュレータ4は発振マイクロ波と受信マイクロ
波とを各々分離して通過させるものであり、一方ラット
レース、マジックT又は、3dBカツプラ等によるハイ
ブリッド回路で構成してもよい。
こめサーキュレータ4を通過した発振マイクロ波は、特
定の方向へビームを形成する電磁形ホーン等めマイクロ
波用アンテナ5に伝送される。
このマイクロ波用アンテナ5は、該マイクロ波用アンテ
ナ5に近接して配置される被測定物たる誘電体材料6に
向けてマイクロ波を発射するとともに、該誘電体材料6
からの反射マイクロ波を受信するようになっている。
こめマイクロ波用アンテナ5で受信されたマイクロ波は
、前記サーキュレータ4で発振マイクロ波と分離されて
マイクロ波信号検波器lに伝送される。
このマイクロ波信号検波器γの出力は、増幅器8で増幅
され受信信号表示器9を駆動するようになっている。
この受信信号表示器9はデジタル表示又はメータ表示め
いずれでもよい。
前記マイクロ波用アンテナ5は箱体10の端部に装着さ
れ、この箱体10には前記マイクロ波用アンテナ5と被
測定物たる誘電体材料6との間の距離を一定に保つため
の調整可能な定距離設定機構11が設けられているもの
である。
一般に、マイクロ波の被測定物に対する反射係数は、被
測定物たる誘電体材料の厚さと比誘電率に関する連続的
な周期関数として表わされ、同時にこの反射係数は、比
誘電率が一定の場合は厚さの大小lこ、又厚さが一定の
場合は比誘電率の大小に各々略比例するという特性を備
えている。
従って、このようなマイクロ波の反射理論を応用し、前
述のような構成でマイクロ波Φ反射電力を測定すると、
誘電体材料の厚さ又は比誘電率を測定することができる
一方、本実施例では、上述した第1図Φ基本的構成に加
えて、測定精度の向上を図るために、更に次の如き技術
手段を採用している。
すなわち、前述した第1図の基本的構成において、さら
に前記マイクロ波発振器1の出力変動分を検知する差動
増幅器12を併設するとともに、該差動増幅器12の出
力を、前述した表示器9の入力段側に装備された増幅器
8に印加し、前記マイクロ波発振器1の出力の変動に起
因する前記増幅器8の出力の変動を修正したものである
次に、このような構成を有する本実施例の動作について
説明する。
まず、マイクロ波発信器1を作動させると、その出力は
アイソレータ2を通過してレベラー3に送られる。
こ0レベラー3はマイクロ波発振器1め出力を一定に保
つ作用をなす。
このレベラー3で出力を一定にされ、安定化された発振
マイクロ波はサーキュレータ4へ送られ、該サーキュレ
ータ4からそのままマイクロ波用アンテナ5へ送られる
と共に該マイクロ波用アンテナ5から被測定物としての
誘電体材料6に向けて発射される。
この間、レベラー3およびサーキュレータ4より一部微
少反射が生じ、その内部反射マイクロ波が前記マイクロ
波発振器1方向へ伝播する。
しかしながら、前記アイソレータ2は、これらの内部反
射マイクロ波が前記マイクロ波発振器1へ伝播するのを
阻止しマイクロ波発振器1の動作を安定化させる作用を
なす。
前記誘電体材料6に向けて発射されたマイクロ波は、誘
電体材料6で一部は透過伝播してゆき一部は反射される
ここで、この反射マイクロ波の反射率は誘電体材料6の
厚さ及び比誘電率に対応して変化する。
すなわち、被測定物が板状の誘電体材料6であるので、
この比誘電率が一定の場合は厚さに略比例する。
この反射マイクロ波をマイクロ波用アンテナ5が受信し
、サーキュレータ4を経てそのままマイクロ波信号検波
器γへ送る。
このマイクロ波信号検波器lで検出された信号は増幅器
8で増幅され受信信号表示器9へ送られ表示されるもの
である。
従って、比誘電率が既知の場合、又は比誘電率が不明で
あっても予め測定した値を基準として各々厚さ測定する
ことができる。
この間、定距離設定機構11はマイクロ波用アンテナ5
と被測定物たる誘電体材料6との間の距離を常に一定に
保ち、誘電体材料6のマイクロ波反射面の傾きを防止す
る作用をなしている。
なお、マイクロ波発振器1としてトランジスタの逓倍発
振器を用い、サーキュレータ4はストリップラインを用
いたサーキュレータ又は3dBカツプラーを用い、マイ
クロ波用アンテナ5はスロットアンテナとすると小形化
されて都合がよい。
また、前記受信信号表示器9に受信信号の大小を検知し
警報を発するブザーを接続してもよい。
以上0ように、本発明は、マイクロ波送受信用の電磁ホ
ーン型アンテナと、こめアンテナによって受信されるマ
イクロ波Φ受信レベルをその送信マイクロ波に対するエ
ネルギー比として算出し表示する表示手段とを有し、前
記アンテナ0マイクロ波発射而と被測定物の反射面とを
常に平行とし且つ両者間の空間離隔距離を常に一定とす
るための定距離設定機構を備え、前記表示手段の信号入
力段には、前記マイクロ波の発信器における出力レベル
の変動を測定値段階にて補正する測定値補正手段を装備
したので、従来、非常に困難とされていた軟質の誘電体
材料の板厚を非接触で連続的に、しかも比較的高速度に
測定することができ、非接触形であることから特に薄い
フィルム状の軟質誘電体材料の厚さも能率よく連続測定
することができ、アンテナとして、電磁ホーン型のもの
を採用したので、電磁波エネルギー利用率の向上すなわ
ちマイクロ波信号源の電力源の小容量化を図ることがで
き、従って装置全体0小形化を図ることができ、定距離
設定機構を設けてアンテナ0マイクロ波発射而と被測定
物の反射面とを常に平行とし且つ両者間の空間離隔距離
を常に一定としたので、取扱いが簡便となり、被測定物
が例えo、i7n以下0つ誘電体フィルムであっても、
これに対し常に90°の入射角をもってマイクロ波を入
射せしめることができ、当該入射マイクロ波が平面波を
形成する位置に前記被測定物を設定し得るめで、連続測
定の精度の向上を図ることができ、さらに、前述した如
く、マイクロ波発振器における出力レベルの変動を測定
値処理段階にて補正する測定値補正手段を前記表示手段
の信号入力段に装備した0で、マイクロ波発振器の出力
変動分が表示手段の信号入力段にて相殺されることとな
り、これがため測定値の測定誤差が少なくなり、安定か
つ高精度に誘電体材料の厚さを測定することができると
いう優れた誘電体材料の厚さ測定装置を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の基本構成部分を示すブロッ
ク図、第2図は定距離設定機構を示す説明図、第3図は
実施例の全体を示すブロック図である。 1・・・・・・マイクロ波発振器、5・・・・・・電磁
ホーン型アンテナ、6・・・・・・被測定物としての誘
電体材料、9・・・・・・表示手段としての受信信号表
示器、11・・・・・・定距離設定機構、12・・・・
・・測定値補正手段0主要部をなす差動増幅器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 マイクロ波送受信用Qつ電磁ホーン型アンテナと、
    このアンテナによって受信されるマイクロ波の受信レベ
    ルをその送信マイクロ波に対するエネルギー比として算
    出し表示する表示手段とを有し、前記アンテナ0マイク
    ロ波発射而と被測定物の反射面とを常に平行とし且つ両
    者間の空間離隔距離を常に一定とするための定距離設定
    機構を備え、前記表示手段の信号入力段には、前記マイ
    クロ波の発信器における出力レベルの変動を測定値処理
    段階にて補正する測定値補正手段を装備したことを特徴
    とする誘電体材料の厚さ測定装置。
JP50110493A 1975-09-13 1975-09-13 ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ Expired JPS5858602B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50110493A JPS5858602B2 (ja) 1975-09-13 1975-09-13 ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50110493A JPS5858602B2 (ja) 1975-09-13 1975-09-13 ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5235660A JPS5235660A (en) 1977-03-18
JPS5858602B2 true JPS5858602B2 (ja) 1983-12-26

Family

ID=14537134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50110493A Expired JPS5858602B2 (ja) 1975-09-13 1975-09-13 ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5858602B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2820206B2 (ja) * 1987-10-26 1998-11-05 東ソー株式会社 ジペプチドエステルの精製方法
JPH0648179B2 (ja) * 1989-09-29 1994-06-22 日本無線株式会社 積層構造における厚さ測定方法
US10478846B2 (en) * 2016-05-02 2019-11-19 Lockheed Martin Corporation Dynamic coating thickness measurement and control

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3482160A (en) * 1965-10-14 1969-12-02 Magnaflux Corp Microwave dielectric material testing system

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3482160A (en) * 1965-10-14 1969-12-02 Magnaflux Corp Microwave dielectric material testing system

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5235660A (en) 1977-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7187183B2 (en) Apparatus and method for microwave determination of at least one physical parameter of a substance
US4161731A (en) Thickness measurement system
US6466168B1 (en) Differential time of flight measurement system
AU2002304283A1 (en) Apparatus and method for microwave determination of at least one physical parameter of a substance
US4126047A (en) Surface acoustic wave rate sensor and position indicator
US4131845A (en) Microwave moisture sensor chute
RU2387051C1 (ru) Датчик физической величины на поверхностных акустических волнах
US3913012A (en) Microwave moisture measuring system with reflection suppressing means
US2660054A (en) Ultrasonic thickness measuring device
US3460030A (en) Method and apparatus for measuring the percent moisture content in process material utilizing microwave absorption and a diverse radiant energy absorption technique
US2819613A (en) Ultrasonic thickness measuring device
US3694800A (en) Acoustical gauge
JPS5858602B2 (ja) ユウデンタイザイリヨウノイタアツトウノケイソクソウチ
US6448513B1 (en) Electronic weighing apparatus utilizing surface acoustic waves
JPH0758178B2 (ja) 超音波継目検出器
GB1600079A (en) Liquid level measuring
JPS6338652B2 (ja)
JP2879991B2 (ja) 距離測定装置
JPH08136321A (ja) 超音波距離測定装置
JPH0367195A (ja) 波動伝播を利用した大気の温度及び湿度測定方法及び装置
JPH0666620A (ja) 超音波レベル計
JPH02249958A (ja) 物体中に含まれる水分量の計測方法及びその計測装置
JPH0136898B2 (ja)
CA2546634A1 (en) Apparatus and method for measuring strip velocity
JP2023090361A (ja) 水分量測定装置及び水分量測定方法