JPS5847001B2 - 修正装置を有する測長器 - Google Patents

修正装置を有する測長器

Info

Publication number
JPS5847001B2
JPS5847001B2 JP53064479A JP6447978A JPS5847001B2 JP S5847001 B2 JPS5847001 B2 JP S5847001B2 JP 53064479 A JP53064479 A JP 53064479A JP 6447978 A JP6447978 A JP 6447978A JP S5847001 B2 JPS5847001 B2 JP S5847001B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lever
scale
errors
link
correction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53064479A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS542766A (en
Inventor
アルフオンス・エルンスト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Original Assignee
Dr Johannes Heidenhain GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dr Johannes Heidenhain GmbH filed Critical Dr Johannes Heidenhain GmbH
Publication of JPS542766A publication Critical patent/JPS542766A/ja
Publication of JPS5847001B2 publication Critical patent/JPS5847001B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04GELECTRONIC TIME-PIECES
    • G04G17/00Structural details; Housings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
    • G01B5/0009Guiding surfaces; Arrangements compensating for non-linearity there-of
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/32Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
    • G01D5/34Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
    • G01D5/347Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
    • G01D5/34746Linear encoders
    • G01D5/34753Carriages; Driving or coupling means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、精密機械及び計測器における誤差、即ち機械
の案内誤差及びスケールの目盛誤差を外筐内で補正する
ため、特に精密機械のベッドと移動台により構成される
2つの対象物の相対位置を計測する際に上記誤差により
生ずる読取誤差を補正する装置に関するものである。
これら2つの対象物は精密機械のベッドと移動台とから
構成されうるものである。
2つの対象物の相対位置を計測するための測長器は通常
、細分割された目盛りを有するスケールを有し、2つの
対象物はベッドと移動台との間に介在する案内面により
相互に平行移動可能に形成されている。
この場合、測長器に対して通常要求されている精度に到
達するためには、目盛線の巾が1/1000ミリメータ
ーの数倍程度でありそして目盛り線の間隔も17100
0ミリメーターの数倍程度のものでなければならない。
この様に微細な目盛りの製造は非常に困難であり、目盛
り線の形成に不規則性が導入されるのを避けることがで
きない。
即ち、例えば個々の目盛り線の間隔が精確に等しくなら
ず、或いは目盛線の巾が種々異るものが形成される。
この場合には目盛り線と目盛読取ユニットとの相対推移
運動に際し、一定量の推移が目盛り線の一定数に対応し
ないことになる。
この様な差異は高い精密さを持つレーザー干渉計によっ
て比較測定され得るもので、スケールの目盛り誤差と呼
ばれる。
次に2つの対象物の間に介在する案内面が平坦でないこ
とおよび避けることができない不正確さによっても機械
によって惹起される、並進運動からの偏差によって生ず
る誤差が発生し、これはいわゆる案内誤差と呼ばれるも
のである。
これらの誤差は倒れも、高い精密さを持つ測定器と比較
測定によって発見されそして補正装置によって補正する
ことが可能である。
通常これらの誤差は合成されたものとして現われる。
機械の誤差を補正するための補正装置は既に知られてい
る。
ドイツ国特許第866402号明細書には現在の技術レ
ベルを示す補正定規を有する計測装置が明示されている
が、その読み取りマークはスピンドルの各誤差に対応す
る位置でスケールに向い合うように機械的に制御される
ものである。
米国特許第3039032号明細書から測定値指示計(
ファンクション・ジェネレータ)に直接作用するセンサ
ーによって走査される補正型を有する位置測定システム
が知られている。
またドイツ国特許第1231595号公報には可動の機
械構成部分の運動を電気的に遠隔指示するための装置が
示されており、この場合誤差を補正するためにトランス
ミツターによって走査される変形可能な金属バンドを備
えた補正システムが記載されている。
更に別の誤差補正システムがドイツ国特許公開公報第2
042505号に記載されている。
それにあっては機械の数的計測系は、補正型を走査する
機構により、機械スピンドルの各誤差値に相応する運動
を付加されるものである。
上述した補正装置は付加的電気的設定部材又は回転トラ
ンスミツターで作動するものであるが又は直接機械に連
結されているものである。
しかしながらこれらの装置はどんな場合においても構造
的に非常に経費のかかるものであり、それ相応に高価で
ある。
本発明の目的は、簡単即ち価格的に望ましい程度に構成
さへ所要空間が節約され且つ補正範囲が広く、非直線的
な補正も可能でその固有誤差は無視し得る程小さく、そ
して測定の長さが長くでも使用出来るような補正装置を
有する測長器を創ることである。
本発明によればこの課題は次の様にして解決される。
即ち移動台側には相対的に移動可能な目盛読取ユニット
、ベッド側にはスケールおよび計測方向に対して直角方
向に調節可能な如く取付けられている誤差を補正するた
めの面を備え、誤差補正量を目盛読取ユニットに伝達す
るためのレバーにより構成される伝達エレメントを有し
、伝達エレメントであるレバーの一方の自由端が前記面
に接し、前記レバーの別の自由端が他の対象物に接する
か又は前記レバーの支点が他の対象物に設けられること
により、レバーの回動が目盛読取ユニットに伝達される
様に構成した補正機構を有する装置であって誤差を補正
する面は計測方向に延びているリンクチェーンによって
形成され、該リンクチェーンのリンクは計測方向に対し
て直角方向に調節可能になっていることによって解決さ
れる。
本発明に従う別の特徴というものは、リンクチェーンが
外筐の内部に配設されており、個々のリンクは修正すべ
き誤差走行に対応して外筐の外側から偏心輪を用いて折
り曲げ可能となっているという点である。
次に本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第1図に簡単に示した部分断面図には外筐1に収納され
た測長器が示されており、前記測長器の外筐は工作機械
あるいは計測器ベッド2に任意の方法でしっかりと取り
付けられている。
工作機械あるいは計測器の移動台3は組立台4を有し、
この組立台は例えばネジ5で移動台3に固定されている
組立台4は、スリツHaを通ってその他の部分は完全に
密閉されている外筐1の中に突き出ている剣状体6を備
えている。
外筐1の内面には弾性的粘着層7を介して計測標準器を
形成するスケール8が取り付けられている。
スケール8上には目盛読取ユニット9が支承されている
が、この目盛読取ユニットは第1図には図示されていな
いそれ自体周知の手段を用いてスケールの目盛を走査す
るものである。
ベッド2と移動台3の相対運動は組立台4及び剣状体6
及び連行部材6′からレバー系10を介して目盛読取ユ
ニット9に伝達される。
ベット2の案内面が理想平面から偏差しているために発
生する移動台3の並進運動から偏差によって生ずる案内
誤差は補正装置がなければ前同様に目盛読取ユニット9
に完全に伝達され、測定結果に誤差として入り込んでし
、、まう。
従って本発明の測長器は外筐の内部に配設されている補
正装置を備えている。
即ちそれ自身硬い個々のリンク11′はリンクチェーン
11を形成し、このチェーンは外部から計測方向に垂直
に個々に折り曲げることができる。
レバー10は軸10′の周りで旋回可能に目盛読取ユニ
ット9と結合されている。
レバー10の一方の自由端にはローラ13があり、この
ローラは目盛読取ユニットがスケール8を走査する際、
リンク・チェーンのカーブに従いそして軸10′の周り
にレバー10を旋回する。
レバー10の旋回運動は補正すべき案内誤差走行弁に対
応する。
この補正は偏心輪14としても形成することのできるレ
バー10の第2のアームによって行われるが、この第2
のアームはレバーの旋回運動を目盛読取ユニット9と剣
状体6の間の相対運動に変換する。
外筐のスリット1aを通して突出する剣状体6は屋根型
に配設されたパツキン・リップ15によって緊密に取り
囲まれているので、この位置においても計測装置が外部
の環境から完全に遮蔽されていることになる。
第2図にはより分り易いように構成エレメントの一部分
だけを側面図で示しtも固定ネジ用の穿孔4′を有する
組立台4は剣状体6を有し、その上側に円筒状の連行部
材6′が設けられており、この連行部材に偏心輪14を
有するレバー10が係合する。
目盛読取ユニット9は、該走査ユニットにレバー10が
軸10′を介して結合されていることが判明する程度に
断片として図示した。
今絹立台4が矢印方向に移動されると、目盛読取ユニッ
ト9はこの長手方向運動に従い、レバー10はローラー
13でリンク・チェーン11を走査し、そのチェーンの
リンク11′は偏心輪12を介して誤差走行外に応じて
折り曲げられている。
従ってその際レバー10はその軸10′の周りに旋回し
、偏心輪14によって目盛読取ユニット9と円筒状連行
部材61従って、組立台との間の距離を変化させる。
移動台3に取付けられた組立台4が受ける案内誤差は従
って調節可能なリンク・チェーンにより惹起される目盛
読取ユニット9と組立台4との間の相対運動によって補
正される。
第3図には誤差を補正する面が示されているが、この場
合側々のリンク11′は偏心輪12によって折り曲げら
れている。
゛この折れ曲りによって長さの変化が生ずるので個々の
リンクにはピン16と切込み17が設けられていてヒン
ジ部を形成し、そこで長手方向の摺動が可能となる。
長手方向の運動を可能にするヒンジ部の変形例が第4図
に示されている。
リンク11′の端には櫛状の互に入り込んで係合する弾
性的成形部品18が設けられている。
第5図には目盛19を設けた走査プレート9′が示され
ている。
この実施態様は第1図のものと同様な光電的デジタル測
長器を表わすものである。
簡単な構造のものでは目盛読取ユニット9はスケール8
上を案内されるのではなく、連行部材20を介して直接
上記対象物の一つと結合されている。
走査プレート9′は板バネ21を介して連行部材20と
連結されているので、このプレートは伝達ニレメン)1
0、13及び14によって測定方向に動かされうろこと
になる。
本発明は光電的デジタル測長器に限定されるものではな
く、本発明のものは光学的、誘導的容量的及び磁気的計
測装置にも有利に装着可能である点を強調しておく。
また本発明は勿論案内誤差の修正に限定されるものでな
く、スケールの目盛誤差の補正にも適するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は外筐に収納され外部の環境から遮蔽された測長
器の断面図であり、第2図は組立台、剣状体、レバー及
び部分的に示した誤差を修正する面等の配置を示す正面
図であり、第3図は折り曲げられたリンクにより形成さ
れた誤差を補正する面を示す図であり、第4図は櫛状に
互に入り込み係合した弾性的ヒンジ部を有するリンク・
チェーンの部分図であり、第5図は目盛を有する走査プ
レートの正面図である。 次に図面の参照番号と明細書中の用語の主なものを以下
に列記する。 1・・・・・・外筐、3・・・・・・移動台、4・・・
・・・組立台、6・・・・・・剣状体、8・・・・・・
スケール、9・・・・・・目盛読取ユニット、1o・・
曲レバー、11・・・・・・リンクチェーン、11′・
・聞リンク、12・・・・・・偏心輪、13・・・、・
・ローラ、18・・曲櫛状弾性的成形部品、19・・・
・・泪盛。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 精密機械及び計測器における誤差、即ち機械の案内
    誤差及びスケールの目盛誤差を外筐内で補正するため、
    特に精密機械のベッドと移動台により構成される2つの
    対象物の相対位置を計測する際に上記誤差により生ずる
    読取誤差を補正するため、移動台側には相対的に移動可
    能な目盛読取ユニット、ベッド側にはスケールおよび計
    測方向に対して直角方向に調節可能な如く取付けられて
    いる誤差を補正するための面を備え、誤差補正量を目盛
    読取ユニットに伝達するためのレバー10により構成さ
    れる伝達エレメントを有し、伝達エレメントであるレバ
    ー10の一方の自由端が前記面に接し、前記レバーの別
    の自由端が他の対象物に接するか又は前記レバーの支点
    が他の対象物に設けられることにより、レバーの回動が
    目盛読取ユニットに伝達される様に構成した補正機構を
    有する装置であって、誤差を補正する面は計測方向に延
    びているリンクチェーン11によって形成され、該リン
    クチェーンのリンク11′は計測方向に対して直角方向
    に調節可能になっていることを特徴とする補正装置を有
    する測長器 2 外筐1の内部にリンクチェーン11が配置されてい
    ることおよび個々のリンク11′は補正すべき誤差走行
    外に対応して外筐1の外側から偏心輪12を用いて折り
    曲げ可能になっていることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項・記載の測長器。 3 個々のリンク11′のヒンジ部はリンク11′が長
    手方向に摺動できる様に構成されていることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の測長器。 4 ヒンジ部は櫛状に互に入り込み係合している弾性的
    成形部品18によって形成されていることを特徴とする
    特許請求の範囲第3項記載の測長器。
JP53064479A 1977-06-02 1978-05-31 修正装置を有する測長器 Expired JPS5847001B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19772724858 DE2724858A1 (de) 1977-06-02 1977-06-02 Laengenmessgeraet mit korrektureinrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS542766A JPS542766A (en) 1979-01-10
JPS5847001B2 true JPS5847001B2 (ja) 1983-10-20

Family

ID=6010495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53064479A Expired JPS5847001B2 (ja) 1977-06-02 1978-05-31 修正装置を有する測長器

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4170828A (ja)
JP (1) JPS5847001B2 (ja)
AT (1) AT376036B (ja)
CH (1) CH632592A5 (ja)
DE (1) DE2724858A1 (ja)
FR (1) FR2393264A1 (ja)
GB (1) GB1591009A (ja)
IT (1) IT1104247B (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2820753C2 (de) * 1978-05-12 1980-03-06 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Einrichtung zur Fehlerkorrektur bei Positionsmeßsystemen
DE3136981C1 (de) * 1981-09-17 1983-01-13 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Fehlerkompensationseinrichtung
DE3201005A1 (de) * 1982-01-15 1983-07-28 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Einrichtung zur fehlerkorrektur bei positionsmesssystemen
DE3208591C2 (de) * 1982-03-10 1986-06-05 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Digitales elektrisches Längen- oder Winkelmeßsystem
DE3210962A1 (de) * 1982-03-25 1983-10-20 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Laengen- oder winkelmesssystem
DE3215336C1 (de) * 1982-04-24 1983-06-09 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Gekapselte Messeinrichtung
DE3216616C2 (de) * 1982-05-04 1985-06-27 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Elektrisches Längen- oder Winkelmeßsystem
DE3229846C2 (de) * 1982-08-11 1984-05-24 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
DE3379112D1 (en) * 1983-02-12 1989-03-09 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Encapsulated measuring device
DE3311562C1 (de) * 1983-03-30 1984-05-24 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Messsystem mit einer Einrichtung zur Fehlerkorrektur
AT395070B (de) * 1983-11-22 1992-09-10 Emr Elektronische Mess Und Reg Laengenmesseinrichtung, insbesondere gekapselte laengenmesseinrichtung
AT379449B (de) * 1984-07-03 1986-01-10 R S F Elektronik Ohg Rechtsfor Laengenmesseinrichtung
AT393030B (de) * 1989-05-23 1991-07-25 Rsf Elektronik Gmbh Inkrementales messsystem
DE10046818B4 (de) * 2000-09-20 2008-02-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
CN110375607B (zh) * 2019-08-07 2021-01-08 天津市增益达精锻齿轮科技有限公司 一种汽车锥齿轮自动检测跳动装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US226162A (en) * 1880-04-06 Island
US2336550A (en) * 1943-05-01 1943-12-14 Fisher Scientific Co Compensating spectrophotometer
DE866402C (de) * 1944-02-29 1953-02-09 Leitz Ernst Gmbh Messeinrichtung mit einer Vorrichtung zur Berichtigung des Messstreckenfehlers
CH266408A (de) * 1945-09-01 1950-01-31 Gmbh Ernst Leitz Vorrichtung zur Berichtigung der Messfehler von mit optischen Messeinrichtungen versehenen Maschinen und Instrumenten.
US3039032A (en) * 1960-03-30 1962-06-12 Andrew H Fowler Error compensator for a position transducer
US2995826A (en) * 1960-05-13 1961-08-15 Optomcchanisms Inc Work layout means
DE1157877B (de) * 1960-12-14 1963-11-21 Wenczler & Heidenhain Vorrichtung zur Geradfuehrung eines verschiebbaren Organs, z.B. Taster, Schlitten od. dgl. bei Praezisionsmaschinen
US3347116A (en) * 1965-02-23 1967-10-17 Pratt & Whitney Inc Automatic measuring lead screw compensator
DE2042505A1 (de) * 1970-08-27 1972-03-02 Werkzeugmasch Heckert Veb Korrektureinrichtung für numerische Meßsysteme
DE2059957A1 (de) * 1970-12-05 1972-06-15 Scharmann & Co Einrichtung zur Fehlerkompensation an Drehtischen von Werkzeugen,insbesondere von Horizontal-Bohr- und Fraeswerken
GB1393035A (en) * 1971-07-09 1975-05-07 Olivetti & Co Spa Precision measuring apparatus with aerostatic bearings
US3816003A (en) * 1973-03-12 1974-06-11 Dynamics Res Corp Sealed linear encoder
US4047586A (en) * 1976-03-23 1977-09-13 Pitney-Bowes, Inc. Zero load adjustment apparatus for spring weighing scale

Also Published As

Publication number Publication date
GB1591009A (en) 1981-06-10
DE2724858B2 (ja) 1979-03-22
ATA306378A (de) 1984-02-15
AT376036B (de) 1984-10-10
CH632592A5 (de) 1982-10-15
DE2724858A1 (de) 1978-12-07
FR2393264B1 (ja) 1981-11-06
FR2393264A1 (fr) 1978-12-29
JPS542766A (en) 1979-01-10
US4170828A (en) 1979-10-16
IT7812638A0 (it) 1978-05-31
DE2724858C3 (ja) 1979-11-22
IT1104247B (it) 1985-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5847001B2 (ja) 修正装置を有する測長器
JPS6215801B2 (ja)
US6008902A (en) Method and device for heterodyne interferometer error correction
US7408650B2 (en) Optical-axis deflection type laser interferometer, calibration method thereof, correcting method thereof, and measuring method thereof
CN104040288A (zh) 轮廓形状表面粗糙度测定装置以及轮廓形状表面粗糙度测定方法
GB1571397A (en) Arrangement for ascertaining deviations from straightness or planeness
GB1602891A (en) Length-measuring devices with longitudinally displaceable scales
JP2649306B2 (ja) 位置測定装置
US4262423A (en) Error correction apparatus for a length-measuring instrument and method for generating an error correction profile
PT2248611E (pt) Máquina para dobrar continuamente uma peça de obra alongada em raios predeterminados
CN107514986A (zh) 一种基于气浮平台的位移传感器校准装置
JPH047814B2 (ja)
JP3400393B2 (ja) レーザ干渉装置
US4584773A (en) Linear measuring system
JPH0244366B2 (ja)
CN207197480U (zh) 一种基于气浮平台的位移传感器校准装置
EP0197173B1 (en) A measuring device for a figure
US5616917A (en) Device for measuring an angle between pivotally-connected members
US4184262A (en) Device for determining the exact position of two members linearly displaceable relative to each other
JPS6225965B2 (ja)
EP1959226A2 (en) Optical axis polarization type laser interferometer
US4430799A (en) Error compensation system
JPH08338708A (ja) 測定手段
US4608758A (en) Error correction system for measuring instrument
NL2015307B1 (en) Optoelectronic Linear Position Sensor and wheel truing indicating instrument.