JPS5844377B2 - 三次元物体での放射線吸収度測定装置 - Google Patents
三次元物体での放射線吸収度測定装置Info
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- JPS5844377B2 JPS5844377B2 JP53069399A JP6939978A JPS5844377B2 JP S5844377 B2 JPS5844377 B2 JP S5844377B2 JP 53069399 A JP53069399 A JP 53069399A JP 6939978 A JP6939978 A JP 6939978A JP S5844377 B2 JPS5844377 B2 JP S5844377B2
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体を照射する第１放射線源と、該物体を通過
した放射線を検出する二次元の放射線検出装置とを少な
くとも具え、前記放射線源および検出装置を前記物体の
反対側に互いに対向させて配置し、第１平面内に位置付
けられる前記放射線源の多数の位置から前記物体を該放
射線源により照射せしめ、各放射線源の位置に対し、前
記検出装置が前記物体を通過した放射線の一連の局部的
な強度値を供給するようにして三次元物体での放射線吸
収度を測定する装置に関するものである。
した放射線を検出する二次元の放射線検出装置とを少な
くとも具え、前記放射線源および検出装置を前記物体の
反対側に互いに対向させて配置し、第１平面内に位置付
けられる前記放射線源の多数の位置から前記物体を該放
射線源により照射せしめ、各放射線源の位置に対し、前
記検出装置が前記物体を通過した放射線の一連の局部的
な強度値を供給するようにして三次元物体での放射線吸
収度を測定する装置に関するものである。
二次元平面での放射線吸収分布特性を再生（復元）する
コンピュータートモグラフィ装置は例えばドイツ国特許
公開公報２，４４２，８０９号から既知である。
コンピュータートモグラフィ装置は例えばドイツ国特許
公開公報２，４４２，８０９号から既知である。
この場合には診断平面に対し垂直方向に狭くした放射線
ビームを放出するＸ−線源により物体を照射し、このビ
ームが少なくとも一方向において物体を完全に照射し、
かっこのビームが診断平面の物体とは反対側に設けた検
出装置ｐこよって測定されるようにしている。
ビームを放出するＸ−線源により物体を照射し、このビ
ームが少なくとも一方向において物体を完全に照射し、
かっこのビームが診断平面の物体とは反対側に設けた検
出装置ｐこよって測定されるようにしている。
Ｘ−線放射器／検出器系は診断平面に対して垂直に延在
している軸線のまわりにて回転させて、このようにして
得られる検出装置の出力信号を用いて診断平面での放射
線吸収度を再生している。
している軸線のまわりにて回転させて、このようにして
得られる検出装置の出力信号を用いて診断平面での放射
線吸収度を再生している。
しかし、このような装置を用いても、三次元物体の僅か
１個のスライス、または（第２の検出装置を設ける場合
に）多くても２個の隣接するスライスでの放射線吸収度
分布をその都度測定し得るに過ぎない。
１個のスライス、または（第２の検出装置を設ける場合
に）多くても２個の隣接するスライスでの放射線吸収度
分布をその都度測定し得るに過ぎない。
隣接スライスをこのような装置によって順次走査する場
合、診断すべき被験体の移動による変位が生じ易くて、
検出器出力信号に基いて再生される放射線の吸収分布特
性は連続的にならなくなる。
合、診断すべき被験体の移動による変位が生じ易くて、
検出器出力信号に基いて再生される放射線の吸収分布特
性は連続的にならなくなる。
Ｒ６Ｅ、Ｓ ｔｕｒｍ 外１名著による「Ｃａｒｄｉｏ
ｖａｓｃｕｉａｒＩｍａｇｉｎｇ ａｎｄ Ｉｍａｇ
ｅ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｔｈｅｏｒｙ ａｎｄＰｒ
ａｃｔｉｃｅ １９７５ Ｊ （ｖｏｌ、 ７２ 、
第１０３−１２２頁：の論文に記載されている冒頭で述
べた装置は三次元物体での放射線吸収分布特性を再生す
ることに限られている。
ｖａｓｃｕｉａｒＩｍａｇｉｎｇ ａｎｄ Ｉｍａｇ
ｅ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｔｈｅｏｒｙ ａｎｄＰｒ
ａｃｔｉｃｅ １９７５ Ｊ （ｖｏｌ、 ７２ 、
第１０３−１２２頁：の論文に記載されている冒頭で述
べた装置は三次元物体での放射線吸収分布特性を再生す
ることに限られている。
この装置および前記既知の装置に共通な点は、物体を一
平面内に位置する多数の位置から可変照射し、このよう
にして得られる検出装置の一連の信号を放射線の吸収分
布を再生するのに用いる点にあるが、冒頭で述べた装置
ではドイツ国公開公報第２，４４２，８０９号に開示さ
れている検出装置に反し、物体を照射する放射線源を設
定する位置が存在する平面に対し垂直方向における放射
線の強度分布も測定する二次元検出装置を用いている。
平面内に位置する多数の位置から可変照射し、このよう
にして得られる検出装置の一連の信号を放射線の吸収分
布を再生するのに用いる点にあるが、冒頭で述べた装置
ではドイツ国公開公報第２，４４２，８０９号に開示さ
れている検出装置に反し、物体を照射する放射線源を設
定する位置が存在する平面に対し垂直方向における放射
線の強度分布も測定する二次元検出装置を用いている。
前記ドイツ国公開公報第２，４４２，８０９号による既
知の装置では、検出装置に用いる個々の検出素子の寸法
が限定されるため、この検出装置も上記放射線源の設定
平面に対して垂直方向に延在させるが、この場合に得ら
れる出力信号は斯る平面に垂直な放射線残置、すなわち
吸収分布特性には無関係である。
知の装置では、検出装置に用いる個々の検出素子の寸法
が限定されるため、この検出装置も上記放射線源の設定
平面に対して垂直方向に延在させるが、この場合に得ら
れる出力信号は斯る平面に垂直な放射線残置、すなわち
吸収分布特性には無関係である。
これがためこれらの検出装置は以後「二次元検出装置」
と称して用いる検出装置にはあてはまらない。
と称して用いる検出装置にはあてはまらない。
前記Ｒ０Ｅ、Ｓｔｕｒｍ 等による論文に記載されてい
るような三次元物体での放射線吸収分布特性を測定する
装置は、放射線ビームの開口角が前記放射線源の設定平
面に垂直な方向に対−して大き過ぎる場合に再生問題を
引きおこす。
るような三次元物体での放射線吸収分布特性を測定する
装置は、放射線ビームの開口角が前記放射線源の設定平
面に垂直な方向に対−して大き過ぎる場合に再生問題を
引きおこす。
さらに、検出装置内に設ける検出素子の測定誤差が、再
生像を得るのに影響を及ぼす。
生像を得るのに影響を及ぼす。
本発明の目的は、放射線の吸収分布特性（こ関する再生
問題並びに再生時における検出素子の測定誤差の影響を
軽減し得るようにした三次元物体での放射線吸収度を測
定する装置を提供せんとするにある。
問題並びに再生時における検出素子の測定誤差の影響を
軽減し得るようにした三次元物体での放射線吸収度を測
定する装置を提供せんとするにある。
本発明は物体を照射する第１放射線源と、該物体を通過
した放射線を検出する二次元の放射線検出装置とを少な
くとも具え、前記放射線源および検出装置を前記物体の
反対側に互いに対向させて配置し、第１平面内に位置付
けられる前記放射線源の多数の位置から前記物体を該放
射線源により照射せしめ、各放射線源の位置に対し、前
記検出装置が前記物体を通過した放射線の一連の局部的
な強度値を供給するようにして三次元物体での放射線吸
収度を測定する装置において、前記二次元の放射線検出
装置の片側を前記第１平面に対し垂直の方向にて該第１
平面によって画成し、かつ前記二次元の放射線検出装置
の他側を前記第１平面に平行な第２千面ｌこよって画成
せしめるようにし、前記放射線吸収度測定装置にはさら
に少なくとも１個の第２放射線源を設け、該第２放射線
源を前記第２平面内に位置させて、前記第２平面内に位
置付けられる多数の位置から該第２放射線源により前記
物体を照射せしめるようにし、前記第１および第２放射
線源を前記第１および第２平面の双方に対し垂直に延在
する回転軸線のまわりを回転し得る支持体に取付けて、
該支持体を回転させることにより前記第１および第２放
射線源をそれらの連続放射位置に動かせるようにし、前
記放射線吸収度測定装置にはさらに前記第１平面と第２
平面との間に垂直に延在し、かつ前記回転軸線に対して
前記第２放射線源の反対側に位置付けられる第２の二次
元の放射線検出器も設けるようにしたことを特徴とする
。
した放射線を検出する二次元の放射線検出装置とを少な
くとも具え、前記放射線源および検出装置を前記物体の
反対側に互いに対向させて配置し、第１平面内に位置付
けられる前記放射線源の多数の位置から前記物体を該放
射線源により照射せしめ、各放射線源の位置に対し、前
記検出装置が前記物体を通過した放射線の一連の局部的
な強度値を供給するようにして三次元物体での放射線吸
収度を測定する装置において、前記二次元の放射線検出
装置の片側を前記第１平面に対し垂直の方向にて該第１
平面によって画成し、かつ前記二次元の放射線検出装置
の他側を前記第１平面に平行な第２千面ｌこよって画成
せしめるようにし、前記放射線吸収度測定装置にはさら
に少なくとも１個の第２放射線源を設け、該第２放射線
源を前記第２平面内に位置させて、前記第２平面内に位
置付けられる多数の位置から該第２放射線源により前記
物体を照射せしめるようにし、前記第１および第２放射
線源を前記第１および第２平面の双方に対し垂直に延在
する回転軸線のまわりを回転し得る支持体に取付けて、
該支持体を回転させることにより前記第１および第２放
射線源をそれらの連続放射位置に動かせるようにし、前
記放射線吸収度測定装置にはさらに前記第１平面と第２
平面との間に垂直に延在し、かつ前記回転軸線に対して
前記第２放射線源の反対側に位置付けられる第２の二次
元の放射線検出器も設けるようにしたことを特徴とする
。
図面につき本発明を説明する。
第１図は三次元物体での放射線吸収度を測定する従来装
置の幾何学的構造を示し、こ＼に符号１にて示す円の弧
上には診断中に被験体を照射する放射線源（図示せず）
を位置１ａ・・・・・・１ｈに位置付けする。
置の幾何学的構造を示し、こ＼に符号１にて示す円の弧
上には診断中に被験体を照射する放射線源（図示せず）
を位置１ａ・・・・・・１ｈに位置付けする。
ＲｌＥ、Ｓ ｔｕｒｍ等による論文（こ記載されている
装置では、位置１ａ・・・・・・１ｈに位置付けられる
多数の放射線源（Ｘ−線管）によって放射線を発生させ
るが、単一の放射線源を用い、これを位置１ａ・・・・
・・１ｈに順次位置付けすることもできる。
装置では、位置１ａ・・・・・・１ｈに位置付けられる
多数の放射線源（Ｘ−線管）によって放射線を発生させ
るが、単一の放射線源を用い、これを位置１ａ・・・・
・・１ｈに順次位置付けすることもできる。
説明の便宜上こ＼では僅か８個の位置を示しただけであ
るが、適切な空間解像度を得るためには十分多数の位置
を必要とする。
るが、適切な空間解像度を得るためには十分多数の位置
を必要とする。
位置１Ｃにて停止させた放射線源（図示せず）からの放
射線ビームを第１図では符号４ｃにて示しである。
射線ビームを第１図では符号４ｃにて示しである。
このビームはピラミッド状であり、円１の弧が位置する
平面はピラミッド状放射線ビームの対称平面である。
平面はピラミッド状放射線ビームの対称平面である。
放射線ビームは位置１ｃの反対側に配置させる二次元検
出装置３によって測定される。
出装置３によって測定される。
この検出装置は円１の弧の中心軸線のまわりに湾曲して
おり、かつ円の弧によって囲まれる平面に垂直に延在し
ている。
おり、かつ円の弧によって囲まれる平面に垂直に延在し
ている。
第２図は円の弧と垂直で、かつ診断すべき領域、すなわ
ち被験体２の中心を経て延在する平面での放射線吸収度
測定装置の幾何学的形状を示し、位置１ｃにて停止させ
た放射線源からの放射線ビーム４ｃ並びに検出装置３を
実線にて示し、また位置１ｇにて停止させた放射線源か
らの放射線ビーム４ｇおよびこのビームに関連する検出
装置３′を破線にて示しである。
ち被験体２の中心を経て延在する平面での放射線吸収度
測定装置の幾何学的形状を示し、位置１ｃにて停止させ
た放射線源からの放射線ビーム４ｃ並びに検出装置３を
実線にて示し、また位置１ｇにて停止させた放射線源か
らの放射線ビーム４ｇおよびこのビームに関連する検出
装置３′を破線にて示しである。
この第２図から明らかなように、放射線により極めて弱
くしか照射されない領域■と、この領域■の放射線照射
量の約２倍の量で照射される領域Ｉとがある。
くしか照射されない領域■と、この領域■の放射線照射
量の約２倍の量で照射される領域Ｉとがある。
領域■の外側の点、例えば点５の個所での放射線吸収度
は放射線源（Ｎ）の１つの位置、この場合位置１ｇにお
ける放射線源からの放射線に対して測定されるだけであ
り、この点５は他の位置にて停止させた放射線源からの
楔状放射線ビームには照射されない。
は放射線源（Ｎ）の１つの位置、この場合位置１ｇにお
ける放射線源からの放射線に対して測定されるだけであ
り、この点５は他の位置にて停止させた放射線源からの
楔状放射線ビームには照射されない。
この個所に位置する物体の細部を十分に再生（復元）す
るのは困難である。
るのは困難である。
その理由はこれら物体の細部についての情報はごく僅か
しか得られないからである。
しか得られないからである。
さらに、測定誤差が生ずる場合には物体の再生像を決定
するのに長時間かかり、しかも不正確である。
するのに長時間かかり、しかも不正確である。
第３および４図は本発明による装置の幾何学的な関係を
示したものである。
示したものである。
この場合には１個の円弧の代りに円１および６の２つの
弧を設け、これらの円弧を互いに平行に延在している平
面内に位置させると共に、これらの平面に対して互いに
垂直に変位させ、診断すべき領域、すなわち被験体２を
円１の皿上に位置する位置（位置１ａからｌｈ）並びに
円６の皿上に位置する位置（６ａから６ｈ）から照射す
る。
弧を設け、これらの円弧を互いに平行に延在している平
面内に位置させると共に、これらの平面に対して互いに
垂直に変位させ、診断すべき領域、すなわち被験体２を
円１の皿上に位置する位置（位置１ａからｌｈ）並びに
円６の皿上に位置する位置（６ａから６ｈ）から照射す
る。
検出装置３を円１および６の２つの弧によって形成され
る各平面に対して垂直方向に配置されるように設計して
、この検出装置が上記平面によって画成されるようにす
る。
る各平面に対して垂直方向に配置されるように設計して
、この検出装置が上記平面によって画成されるようにす
る。
この場合、円１および６の皿上の放射線源（ｎ）の種々
の位置（こて放射される放射線ビームも底部が正方形を
威すピラミッド状にするが、このピラミッドは特に第４
図に示されるように、円１および６の弧を含むこれら円
弧によって形成される各平面、またはこれらの平面に平
行な平面に対して対称ではない。
の位置（こて放射される放射線ビームも底部が正方形を
威すピラミッド状にするが、このピラミッドは特に第４
図に示されるように、円１および６の弧を含むこれら円
弧によって形成される各平面、またはこれらの平面に平
行な平面に対して対称ではない。
この場合楔形のピラミッド状放射線ビームの一側面は円
１または６の弧を含む平面と一致する。
１または６の弧を含む平面と一致する。
第４図は、被験体２を位置６ｃおよび１ｇから照射する
際に発生させる楔状の放射線を実線および破線にてそれ
ぞれ示したものである。
際に発生させる楔状の放射線を実線および破線にてそれ
ぞれ示したものである。
これらの位置６ｃおよび１ｇは各国の２つの弧を経て垂
直に延在している中心軸線に対して互いに１８００回転
させ、かつ２つの円の弧によって形成される各平面間の
距離にわたって変位させた位置である。
直に延在している中心軸線に対して互いに１８００回転
させ、かつ２つの円の弧によって形成される各平面間の
距離にわたって変位させた位置である。
図面から明らかなように、物体の厚いスライスは高度に
均一に照射される。
均一に照射される。
さらに円１および６の皿内に同軸的に配置され、かつ扁
平な端面を具えている円筒と見なすことができる診断領
域内の各点は、位置１ｇまたは６ｃの何れかで停止させ
た放射源からの楔状放射線ビームによっておおわれる。
平な端面を具えている円筒と見なすことができる診断領
域内の各点は、位置１ｇまたは６ｃの何れかで停止させ
た放射源からの楔状放射線ビームによっておおわれる。
このように放射線源を２つの円の各皿上に互いに１８０
０にわたって変位させて配置し、第４図に示すと同じ放
射線分布が得られるようにする一対の位置関係は多数の
方向（こて得ることができる。
０にわたって変位させて配置し、第４図に示すと同じ放
射線分布が得られるようにする一対の位置関係は多数の
方向（こて得ることができる。
均一照射の結果、診断領域内の成る点の放射線吸収度に
関して得られる情報量は診断領域内のこの点の位置には
殆ど無関係となる。
関して得られる情報量は診断領域内のこの点の位置には
殆ど無関係となる。
このために再生像を非常に得易くなり、さらに測定誤差
が偉の再生には殆ど問題でなくなる。
が偉の再生には殆ど問題でなくなる。
さらにまた、診断領域のスペース（前述したように扁平
な端面を具えている円筒と見なし得る）は数学的に簡単
に限定することができるため、偉の再生（こ際し、物体
の像を円筒座標系によって描くことができると３う利点
もある。
な端面を具えている円筒と見なし得る）は数学的に簡単
に限定することができるため、偉の再生（こ際し、物体
の像を円筒座標系によって描くことができると３う利点
もある。
円の一方の皿上の各放射線源設定位置に対し、これらの
各位置は必ずしもこの円の円弧の中心軸線に対して正確
に１８００回転させた円の他方の皿上に対応する他方の
円の皿上に位置させる必要はない。
各位置は必ずしもこの円の円弧の中心軸線に対して正確
に１８００回転させた円の他方の皿上に対応する他方の
円の皿上に位置させる必要はない。
この場合には第４図に示すような放射線の形状は全く得
られない。
られない。
その理由は正確に１８０゜回転させた位置関係でないと
、２つの円の各皿上の対を威す位置が互いに直接対向せ
ず、常に２つの位置が多少ずれて対向するからである。
、２つの円の各皿上の対を威す位置が互いに直接対向せ
ず、常に２つの位置が多少ずれて対向するからである。
しかし一般に１つの円の皿上には放射線源を設置する多
数の位置を設定する必要があるため、斯様（こ位置が多
少ずれても測定が不正確になることはない。
数の位置を設定する必要があるため、斯様（こ位置が多
少ずれても測定が不正確になることはない。
放射線源を位置付けする各位置は必ずしも各国の両皿の
全周に分配する必要はない。
全周に分配する必要はない。
すなわち、円の一方の皿上の各位置が円の他方の皿上の
相補的な位置、つまりこの他方の弧に対して約１８０゜
変位した位置を占めるようにする限り、円の弧の一部分
（これは円の半周より大きくする必要がある）のみを斯
る放射線源設定位置とするだけで一般に十分である。
相補的な位置、つまりこの他方の弧に対して約１８０゜
変位した位置を占めるようにする限り、円の弧の一部分
（これは円の半周より大きくする必要がある）のみを斯
る放射線源設定位置とするだけで一般に十分である。
原理的には放射線源を各位置に配置して種々の位置から
物体２を照射することができる。
物体２を照射することができる。
しかしこれは極めて経費のかかることである。
これに対し、例えば先ず一方の円１の皿上の種々の円周
位置に順次配置され、ついで他方の円６の皿上の種種の
位置に順次配置される単一の放射線源によって照射を行
うこともできる。
位置に順次配置され、ついで他方の円６の皿上の種種の
位置に順次配置される単一の放射線源によって照射を行
うこともできる。
この場合、一方の円の弧から他方の円の弧へと放射線源
を切り換える際に、第４図に示すような関係を再び得る
ために放射線ビームの阻止（境界）領域を変える必要が
ある。
を切り換える際に、第４図に示すような関係を再び得る
ために放射線ビームの阻止（境界）領域を変える必要が
ある。
これら２つの方法の有効な折衷策は、各国の弧に対して
放射線源を別々に設け、これらの放射線源を回転軸線の
まわりに一緒に動かして、これらの放射線源が円の皿上
の各位置を順次通過するようにすることである。
放射線源を別々に設け、これらの放射線源を回転軸線の
まわりに一緒に動かして、これらの放射線源が円の皿上
の各位置を順次通過するようにすることである。
この場合各楔状放射線の境界は２つの各放射線源の凡ゆ
る位置において検出装置の寸法に適うように規定するこ
とができる。
る位置において検出装置の寸法に適うように規定するこ
とができる。
このような方法による実施例を第５および６図に示す。
この例では支持リング１４を、ベース１２に堅牢に接続
した軸受リング１１内で軸受１３によってリング１４の
中心軸線１０のまわりを既知の方法で回転し得るように
ジャーナル軸受させる。
した軸受リング１１内で軸受１３によってリング１４の
中心軸線１０のまわりを既知の方法で回転し得るように
ジャーナル軸受させる。
第１Ｘ−線源１５を支持リング１４に接続される保持器
２２に取付ける。
２２に取付ける。
このＸ−線源１５の上記中心軸線１０に対する反対側に
は第１検出装置３を設け、この検出装置も保持器２３を
介して支持リング１４に接続して、Ｘ−線源１５が検出
装置３と一緒に回転軸線１０のまわりを回転し得るよう
にする。
は第１検出装置３を設け、この検出装置も保持器２３を
介して支持リング１４に接続して、Ｘ−線源１５が検出
装置３と一緒に回転軸線１０のまわりを回転し得るよう
にする。
第２Ｘ−線１５′を第１Ｘ−線源１５に対して９００変
位させて、保持器２２′を介して支持リング１４に取付
ける。
位させて、保持器２２′を介して支持リング１４に取付
ける。
この保持器２２′は第１Ｘ−線源１５を支持する保持器
２２よりも十分に長くする。
２２よりも十分に長くする。
この第２Ｘ−線源１５′の反対側にも第２検出装置３′
を設け、これを同じく保持器２３′を介して支持リング
１４に接続する。
を設け、これを同じく保持器２３′を介して支持リング
１４に接続する。
２個の検出装置３および３′は回転軸線１０（第６図）
に垂直で、Ｘ線源１５および１５′の各中心（すなわち
焦点と見なし得る点）を通って延在する両平面間に延在
させる。
に垂直で、Ｘ線源１５および１５′の各中心（すなわち
焦点と見なし得る点）を通って延在する両平面間に延在
させる。
Ｘ−線源１５および１５′の放射線をコリメータ（図示
せず）によって絞って、各検出装置３および３勿全有効
測定領域をおおう（この測定領域よりも大きくない）円
錐状の放射線ビーム２１および２１′が形成されるよう
にする。
せず）によって絞って、各検出装置３および３勿全有効
測定領域をおおう（この測定領域よりも大きくない）円
錐状の放射線ビーム２１および２１′が形成されるよう
にする。
前記Ｒ，Ｅ、 Ｓ ｔｕｒｍ等による論文から既知のよ
うに、２個の各検出装置はそれぞれ扁平なけい光スクリ
ーン１７ 、１７’を具えており、これらスクリーンの
後方には鏡１８ 、１８’がそれぞれ配置され、これら
の鏡はレンズ系１９ 、１９’を介して放射線の局部的
な強度に依存して、可視儂を、例えばイソコン（ｌ５ｏ
ｋｏｎ ）タイプのテレビジョンカメラ２０ 、２０’
にそれぞれ投射する。
うに、２個の各検出装置はそれぞれ扁平なけい光スクリ
ーン１７ 、１７’を具えており、これらスクリーンの
後方には鏡１８ 、１８’がそれぞれ配置され、これら
の鏡はレンズ系１９ 、１９’を介して放射線の局部的
な強度に依存して、可視儂を、例えばイソコン（ｌ５ｏ
ｋｏｎ ）タイプのテレビジョンカメラ２０ 、２０’
にそれぞれ投射する。
この際ビーム通路に像増強装置を配置することもできる
。
。
各テレビジョンカメラ２０ 、２０’はそれぞれけい光
スクリーン１７ 、１７’（７）発光表面を線状に走査
し、従って各信号電極２４ 、２４’から導出される出
力信号は、物体２を通過した放射線の強度（従って物体
での放射線ビーム）を位置（相対的に直角の２方向の位
置）の関数として表わしたものである。
スクリーン１７ 、１７’（７）発光表面を線状に走査
し、従って各信号電極２４ 、２４’から導出される出
力信号は、物体２を通過した放射線の強度（従って物体
での放射線ビーム）を位置（相対的に直角の２方向の位
置）の関数として表わしたものである。
このような検出装置の代りに、多数の検出器を列状に隣
接させて配置し、これらの各検出器を多数の個々の検出
素子で構成した検出装置を用いることもできる。
接させて配置し、これらの各検出器を多数の個々の検出
素子で構成した検出装置を用いることもできる。
第１図は従来装置の幾何学的形状を示す斜視図、第２図
は円の弧によって形成される第１平面に対して垂直な平
面における従来装置の幾何学的形状を示す説明図、第３
図は本発明による装置の幾何学的形状を示す斜視図、第
４図は２つの円の弧によって形成される側平面に垂直な
平面での本発明による装置の幾何学的形状を示す説明図
、第５図は本発明装置の一例を図解的に示す正面図、第
６図は第５図の側面図である。 １．６・・・・・・放射線源設定円弧、３・・・・・・
第１検出装置、３′・・・・・・第２検出装置、１０・
・・・・・回転軸線、１１・・・・・・軸受リング、１
２・・・・・・ベース、１３・・・・・・軸受、１４・
・・・・・支持リング、１５・・・・・・第１Ｘ−線源
、１５′−・・・・・第２Ｘ−線源、１７ 、１７’・
・・・・けい光スクリーン、１８ 、１８’・・・・・
鏡、１９ 、１９’・・・・・レンズ系、２０．２０／
−・・・・・テレビジョンカメラ、２１．２１′−・・
・・・放射線、２２．２２’、２３．２３’・・・・・
・保持器、２４．２４／−・・・・・信号電極。
は円の弧によって形成される第１平面に対して垂直な平
面における従来装置の幾何学的形状を示す説明図、第３
図は本発明による装置の幾何学的形状を示す斜視図、第
４図は２つの円の弧によって形成される側平面に垂直な
平面での本発明による装置の幾何学的形状を示す説明図
、第５図は本発明装置の一例を図解的に示す正面図、第
６図は第５図の側面図である。 １．６・・・・・・放射線源設定円弧、３・・・・・・
第１検出装置、３′・・・・・・第２検出装置、１０・
・・・・・回転軸線、１１・・・・・・軸受リング、１
２・・・・・・ベース、１３・・・・・・軸受、１４・
・・・・・支持リング、１５・・・・・・第１Ｘ−線源
、１５′−・・・・・第２Ｘ−線源、１７ 、１７’・
・・・・けい光スクリーン、１８ 、１８’・・・・・
鏡、１９ 、１９’・・・・・レンズ系、２０．２０／
−・・・・・テレビジョンカメラ、２１．２１′−・・
・・・放射線、２２．２２’、２３．２３’・・・・・
・保持器、２４．２４／−・・・・・信号電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 物体を照射する第１放射線源と、該物体を通過した
放射線を検出する二次元の放射線検出装置とを少なくと
も具え、前記放射線源および検出装置を前記物体の反対
側に互（ハに対向させて配置し、第１平面内に位置付け
られる前記放射線源の多数の位置から前記物体を該放射
線源により照射せしめ、各放射線源の位置に対し、前記
検出装置が前記物体を通過した放射線の一連の局部的な
強度値を供給するようにして三次元物体での放射線吸収
度を測定する装置（こおいて、前記二次元の放射線検出
装置３−３切片側を前記第１千面１に対し垂直の方向に
て該第１千面１によって画成し、かつ前記二次元の放射
線検出装置の他側を前記第１千面１に平行な第２千面６
によって画成せしめるようｔこし、＠記放射線吸収度測
定装置ｐこはさらｔこ少なくとも１個の第２放射線源１
５′を設け、該第２放射線源を前記第２平面６内に位置
させて、前記第２平面６内に位置付けられる多数の位置
６ａ〜６ｈから該第２放射線源により前記物体を照射せ
しめるようにし、前記第１および第２放射線源１５ 、
１５’を前記第１および第２平而１，６の双方（こ対し
垂直（こ延在する回転軸線のまわりを回転し得る支持体
１４に取付けて、該支持体１４を回転させることにより
前記第１および第２放射線源１５ 、１５’をそれらの
連続放射位置１ａ〜１ｈ。 ６ａ〜６ｈに動かせるようにし、前記放射線吸収変測定
装置にはさらに前記第：平面１と第２平面６との間に垂
直に延在し、かつ前記回転軸線１０（こ対して前記第２
放射線源１５勿反対側に位置付けられる第２の二次元の
放射線検出器も設けるようにしたことを特徴とする三次
元物体での放射線吸収度測定装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2726635A DE2726635C3 (de) | 1977-06-14 | 1977-06-14 | Tomographische Vorrichtung zur Ermittlung der Absorption einer Strahlung in einem dreidimensionalen Untersuchungsbereich |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS546491A JPS546491A (en) | 1979-01-18 |
| JPS5844377B2 true JPS5844377B2 (ja) | 1983-10-03 |
Family
ID=6011427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53069399A Expired JPS5844377B2 (ja) | 1977-06-14 | 1978-06-10 | 三次元物体での放射線吸収度測定装置 |
Country Status (13)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4204124A (ja) |
| JP (1) | JPS5844377B2 (ja) |
| AU (1) | AU516373B2 (ja) |
| BE (1) | BE868051A (ja) |
| BR (1) | BR7803747A (ja) |
| CA (1) | CA1102015A (ja) |
| DE (1) | DE2726635C3 (ja) |
| ES (1) | ES470703A1 (ja) |
| FR (1) | FR2394285A1 (ja) |
| GB (1) | GB2000415B (ja) |
| IL (1) | IL54884A (ja) |
| IT (1) | IT1095158B (ja) |
| NL (1) | NL7806329A (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2819237C2 (de) * | 1978-05-02 | 1986-09-11 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur Ermittlung der Absorption von Röntgenstrahlung in einem dreidimensionalen Untersuchungsbereich |
| DE2831311C2 (de) * | 1978-07-17 | 1986-10-30 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Vorrichtung zur Ermittlung innerer Körperstrukturen mittels Streustrahlung |
| DE2852968A1 (de) * | 1978-12-07 | 1980-06-19 | Siemens Ag | Schichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern eines aufnahmeobjektes |
| DE2938289A1 (de) * | 1979-09-21 | 1981-04-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern eines aufnahmeobjektes |
| DE3021757A1 (de) * | 1980-06-10 | 1981-12-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgeraet |
| US4662379A (en) * | 1984-12-20 | 1987-05-05 | Stanford University | Coronary artery imaging system using gated tomosynthesis |
| FR2615619B1 (fr) * | 1987-05-21 | 1991-07-19 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif d'imagerie tridimentionnelle a partir de mesures bidimensionnelles de l'attenuation d'un rayonnement |
| US5068882A (en) * | 1990-08-27 | 1991-11-26 | General Electric Company | Dual parallel cone beam circular scanning trajectories for reduced data incompleteness in three-dimensional computerized tomography |
| US5187659A (en) * | 1990-09-04 | 1993-02-16 | General Electric Company | Cone beam scanning trajectories for three-dimensional computerized tomography data acquisition where object is larger than the field of view |
| JP3382941B2 (ja) * | 1992-04-01 | 2003-03-04 | ソニー株式会社 | 放射線診断装置 |
| US5596197A (en) * | 1995-05-11 | 1997-01-21 | Adac Laboratories | Dual synchronized sliding transmission detection windows for dual transmission line sources |
| JP4892673B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2012-03-07 | フィリップス メディカル システムズ テクノロジーズ リミテッド | 時間的に一貫した大きい照射範囲のためのｃｔスキャナ |
| US20070009088A1 (en) * | 2005-07-06 | 2007-01-11 | Edic Peter M | System and method for imaging using distributed X-ray sources |
| SE529961C2 (sv) * | 2006-03-21 | 2008-01-15 | Xcounter Ab | Avbildningsanordning och metod för att erhålla tidsupplöst avbildningsdata av ett objekt |
| WO2007110793A1 (en) * | 2006-03-28 | 2007-10-04 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Scanning unit, tomography apparatus and tomography method |
| WO2008024586A2 (en) * | 2006-08-25 | 2008-02-28 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Multi-tube x-ray detection |
| DE102009019514A1 (de) * | 2009-04-30 | 2010-11-11 | Siemens Aktiengesellschaft | CT-System und Verfahren zur Phasenkontrast- und Absorptionsbildgebung |
| DE102013221415A1 (de) | 2013-10-22 | 2015-04-23 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines Objekts |
| WO2016122660A1 (en) * | 2015-01-30 | 2016-08-04 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Agent calibration |
| DE102015221418A1 (de) * | 2015-11-02 | 2017-05-04 | Siemens Healthcare Gmbh | Tomographieanlage und Verfahren für großvolumige Aufnahmen |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1283915A (en) * | 1968-08-23 | 1972-08-02 | Emi Ltd | A method of and apparatus for examination of a body by radiation such as x or gamma radiation |
| US4002917A (en) * | 1974-08-28 | 1977-01-11 | Emi Limited | Sources of X-radiation |
| DE2442809A1 (de) * | 1974-09-06 | 1976-03-18 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur ermittlung der absorption in einem koerper |
| US4045672A (en) * | 1975-09-11 | 1977-08-30 | Nihon Denshi Kabushiki Kaisha | Apparatus for tomography comprising a pin hole for forming a microbeam of x-rays |
| DE2646118A1 (de) * | 1976-10-13 | 1978-04-20 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur erzeugung zwei- und/oder dreidimensionaler bilder dreidimensionaler gegenstaende |
-
1977
- 1977-06-14 DE DE2726635A patent/DE2726635C3/de not_active Expired
-
1978
- 1978-04-18 US US05/897,448 patent/US4204124A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-06-08 CA CA305,029A patent/CA1102015A/en not_active Expired
- 1978-06-09 AU AU36989/78A patent/AU516373B2/en not_active Expired
- 1978-06-09 IT IT24419/78A patent/IT1095158B/it active
- 1978-06-09 IL IL54884A patent/IL54884A/xx unknown
- 1978-06-10 JP JP53069399A patent/JPS5844377B2/ja not_active Expired
- 1978-06-12 BE BE188514A patent/BE868051A/xx unknown
- 1978-06-12 BR BR7803747A patent/BR7803747A/pt unknown
- 1978-06-12 ES ES470703A patent/ES470703A1/es not_active Expired
- 1978-06-12 NL NL7806329A patent/NL7806329A/xx not_active Application Discontinuation
- 1978-06-13 FR FR7817615A patent/FR2394285A1/fr active Granted
- 1978-06-13 GB GB7826763A patent/GB2000415B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| IT7824419A0 (it) | 1978-06-09 |
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| GB2000415A (en) | 1979-01-04 |
| DE2726635A1 (de) | 1978-12-21 |
| GB2000415B (en) | 1982-01-20 |
| IT1095158B (it) | 1985-08-10 |
| CA1102015A (en) | 1981-05-26 |
| BR7803747A (pt) | 1979-03-20 |
| US4204124A (en) | 1980-05-20 |
| DE2726635C3 (de) | 1981-05-27 |
| NL7806329A (nl) | 1978-12-18 |
| IL54884A0 (en) | 1978-08-31 |
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| AU516373B2 (en) | 1981-05-28 |
| AU3698978A (en) | 1979-12-13 |
| FR2394285A1 (fr) | 1979-01-12 |
| JPS546491A (en) | 1979-01-18 |
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