JPS5842358A - オリジナル上の像情報を電気信号へ変換するシステム - Google Patents
オリジナル上の像情報を電気信号へ変換するシステムInfo
- Publication number
- JPS5842358A JPS5842358A JP57146043A JP14604382A JPS5842358A JP S5842358 A JPS5842358 A JP S5842358A JP 57146043 A JP57146043 A JP 57146043A JP 14604382 A JP14604382 A JP 14604382A JP S5842358 A JPS5842358 A JP S5842358A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- original
- detector
- entrance surface
- scanned
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/024—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original
- H04N1/028—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up
- H04N1/0281—Details of scanning heads ; Means for illuminating the original for picture information pick-up with means for collecting light from a line or an area of the original and for guiding it to only one or a relatively low number of picture element detectors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、オリジナル上の像情報を電気信号へ羨換する
システムに係ゎシ、このシステムはオリジナルを光ビー
ムによって線状に走査する手段と、オリジナルによって
反射された光を検出して電気信号を発するデテクタと、
光伝送手段とを含み、この光伝送手段は光ビームによっ
て走査されるぺ自−に沿って伸張した入射面と、互〆に
対向し、かつ光ビームによって走査されるべき線に対し
て夾質的に平行である、入射面からデテクタまで伸張し
た二つの平行な反射面と、入射面、平行な反射面及びデ
テクタの間の空間を横方向において規定する二つの側面
とを含んでいる。仁の種のシステムは事実上公知である
d 実wt%光ビームは線走査装置においてレーザなどo’
it、*から発せられ、111または複数個のレンズ
1@または複数個のンラー、及びガルバノ走査装置など
O走査装鍛を経て、走査されるべきオリジナルへと送ら
れる。光ビームは該レンズの中0111によって必要な
大きさに・条束され、オリジナルはζO犬ビームで走査
され得る。ビームからの光はオリジナルの表面の走査領
域において、この領域に存在する情報に依り多量にまた
は少量だけ反射され、光伝送手段乃至集光器において集
められ、次いでデテクタへ送られる。上記のいわゆる集
光器の大きい平行面はしばしば研磨され、それによシ内
部におaて、これらの面に臨界角よシも大きい角度で尚
友る光が反射される。
システムに係ゎシ、このシステムはオリジナルを光ビー
ムによって線状に走査する手段と、オリジナルによって
反射された光を検出して電気信号を発するデテクタと、
光伝送手段とを含み、この光伝送手段は光ビームによっ
て走査されるぺ自−に沿って伸張した入射面と、互〆に
対向し、かつ光ビームによって走査されるべき線に対し
て夾質的に平行である、入射面からデテクタまで伸張し
た二つの平行な反射面と、入射面、平行な反射面及びデ
テクタの間の空間を横方向において規定する二つの側面
とを含んでいる。仁の種のシステムは事実上公知である
d 実wt%光ビームは線走査装置においてレーザなどo’
it、*から発せられ、111または複数個のレンズ
1@または複数個のンラー、及びガルバノ走査装置など
O走査装鍛を経て、走査されるべきオリジナルへと送ら
れる。光ビームは該レンズの中0111によって必要な
大きさに・条束され、オリジナルはζO犬ビームで走査
され得る。ビームからの光はオリジナルの表面の走査領
域において、この領域に存在する情報に依り多量にまた
は少量だけ反射され、光伝送手段乃至集光器において集
められ、次いでデテクタへ送られる。上記のいわゆる集
光器の大きい平行面はしばしば研磨され、それによシ内
部におaて、これらの面に臨界角よシも大きい角度で尚
友る光が反射される。
平面光伝送手段の形状及び仕上が、光デテクタにおいて
最適検出信号を得るために非常に重要であることは事実
上明白であるっ 即ち、デテクタにおいて得られる検出信号の振幅は、オ
リジナルとデテクタとの間の距離に依存。
最適検出信号を得るために非常に重要であることは事実
上明白であるっ 即ち、デテクタにおいて得られる検出信号の振幅は、オ
リジナルとデテクタとの間の距離に依存。
即ち反比例し、かつデテクタとオリジナル上の光点とを
結ぶ線とデテクタの主視野方向との間の角度に依存、即
ち亀反I比例する−0上記デテクタ信号は次01N件を
満足する必要がある: L 信号は可能な最大信号であって、即ち高い信号対雑
音比管有しなければならず、かつ2 信号は上段に定義
され九角度と無関係でなければならな込。
結ぶ線とデテクタの主視野方向との間の角度に依存、即
ち亀反I比例する−0上記デテクタ信号は次01N件を
満足する必要がある: L 信号は可能な最大信号であって、即ち高い信号対雑
音比管有しなければならず、かつ2 信号は上段に定義
され九角度と無関係でなければならな込。
第一の要件を満足し得る九めKは、オリジナルとデテク
タとの間の距離は可能な限り短くなくて拡ならない。第
二〇要件を構足し得るには、オリジナルとデテクタとの
間の距離は可能な限り長くなくてはならない。従って両
方の要件を同時に満足することは不可能であシ、第二の
要件を満たす九めに上記距離を長く取れば信号が小さく
なムさもなければ、第一の要件を満たすべく距離を短く
すゐと最大角が大きくな〕、走査線の中央と端部との間
で信号振−に甚だしい差異が生じる。
タとの間の距離は可能な限り短くなくて拡ならない。第
二〇要件を構足し得るには、オリジナルとデテクタとの
間の距離は可能な限り長くなくてはならない。従って両
方の要件を同時に満足することは不可能であシ、第二の
要件を満たす九めに上記距離を長く取れば信号が小さく
なムさもなければ、第一の要件を満たすべく距離を短く
すゐと最大角が大きくな〕、走査線の中央と端部との間
で信号振−に甚だしい差異が生じる。
本発明は、これらの間嘔点を除去し、かつオリジナルと
デテクタとの閣の距離を短ぐ取シながらも角度と無関係
の信号を得ることが可能であるよう1kyIIII及び
仕上を有するシステムを提供する仁とを目的とする。
デテクタとの閣の距離を短ぐ取シながらも角度と無関係
の信号を得ることが可能であるよう1kyIIII及び
仕上を有するシステムを提供する仁とを目的とする。
このため木偶r14に従い、冒瞑に述べ九類いのシステ
ムにおいて光伝送手段は、入射面付近の側面が走査され
るべき線の端部を結ぶ線に対して実質的Kli直であり
、またこれら〇−面の対向し合う側が、少なくとも入射
面付近において鏡面状であるように構成される。本発明
のこの真体例拡デテクタへの非常に良好な光透過を実現
し、咳デテクタにおける最適の強度プロフィールをもた
らす。
ムにおいて光伝送手段は、入射面付近の側面が走査され
るべき線の端部を結ぶ線に対して実質的Kli直であり
、またこれら〇−面の対向し合う側が、少なくとも入射
面付近において鏡面状であるように構成される。本発明
のこの真体例拡デテクタへの非常に良好な光透過を実現
し、咳デテクタにおける最適の強度プロフィールをもた
らす。
1最適(optlnxum)’という曙は、可能な限シ
高くかつ矩形であるプロフィールを差す。
高くかつ矩形であるプロフィールを差す。
通常、デテクタにおける光度プロフィールの高さはまた
、幅広の主要面における光ビームの反射の数によっても
決定される。デテクタによって検出され得る鏡像が多い
ほど、得られる強度プロフィールは高い。これらの反射
は強度プロフィールに対して、集光器プレートがよシ厚
い場合に更に集められる光の総量よりも多大に寄与する
、本発明の有利な一具体例では、主要面は研磨されてシ
シ、寸法は比較的長いプレートを構成するO狭い儒藺は
入射面からの僅かな距離にわたって研磨され、ゆら「を
伴わない直線状の強度プロフィールが提供される。
、幅広の主要面における光ビームの反射の数によっても
決定される。デテクタによって検出され得る鏡像が多い
ほど、得られる強度プロフィールは高い。これらの反射
は強度プロフィールに対して、集光器プレートがよシ厚
い場合に更に集められる光の総量よりも多大に寄与する
、本発明の有利な一具体例では、主要面は研磨されてシ
シ、寸法は比較的長いプレートを構成するO狭い儒藺は
入射面からの僅かな距離にわたって研磨され、ゆら「を
伴わない直線状の強度プロフィールが提供される。
本発明の別の有利な具体例では、主要面は研磨されてお
p1寸法は比較的短いプレートを構成すゐぺ〈例えば2
10X200X6目と選択され、また幅0Ijll!い
側面は全体を研磨され、幾らかのゆらぎを伴ったよ〉高
い、かつ完全には直線状でない強度プロフィールが提供
される。
p1寸法は比較的短いプレートを構成すゐぺ〈例えば2
10X200X6目と選択され、また幅0Ijll!い
側面は全体を研磨され、幾らかのゆらぎを伴ったよ〉高
い、かつ完全には直線状でない強度プロフィールが提供
される。
入射面は、ビームが媒質界面Kll直に当友るように凹
状にされることも可能であシ、それによって入射−にお
ける反射は最小限に蘭定される。また射出量は、デテク
タ周@まで白色の拡散反射を及ぼすべく構成され得、そ
の結果光に関して一様な強度プロフィールの上昇が得ら
れる。
状にされることも可能であシ、それによって入射−にお
ける反射は最小限に蘭定される。また射出量は、デテク
タ周@まで白色の拡散反射を及ぼすべく構成され得、そ
の結果光に関して一様な強度プロフィールの上昇が得ら
れる。
本発明を、添付図面に即して以下に詳述する。
システム蝶、光ビームがレーザから、レンズ系。
ミラー及びガルバノ走査装鐙を経てドラムへと発せられ
るように構成され得る。再生されるべきオリジナル6は
ドラム上に巻付けられている。オリジナルによって反射
された光は光伝送手段乃至集光器によって集められ、デ
テクタへともたらされる。集光器は、集光器−ドラム間
の距離を変更せずに角度的に移動するべく構成され九移
動台に支持され得る。レンズ系は、レーザビームをPラ
ム霧− 上に集中することを目的とする。デテクタUDT600
であシ得、このデテクタの信号は例えば46Jimなど
の比例増幅器によって増幅される。このデテクター増幅
器システムの帯域幅は±750 kHzであ〉、増幅率
は±10,000である。所望であれば。
るように構成され得る。再生されるべきオリジナル6は
ドラム上に巻付けられている。オリジナルによって反射
された光は光伝送手段乃至集光器によって集められ、デ
テクタへともたらされる。集光器は、集光器−ドラム間
の距離を変更せずに角度的に移動するべく構成され九移
動台に支持され得る。レンズ系は、レーザビームをPラ
ム霧− 上に集中することを目的とする。デテクタUDT600
であシ得、このデテクタの信号は例えば46Jimなど
の比例増幅器によって増幅される。このデテクター増幅
器システムの帯域幅は±750 kHzであ〉、増幅率
は±10,000である。所望であれば。
ドラムを回転するのにステップモータが使用され得る。
速度並びKs倫力は1本発明の範囲内ではさほど重要な
問題ではない。
問題ではない。
第1図に、光源lからのビームCがオリジナル6へ、法
線に関して一定の角度で導かれる様を比較的概略的に示
す。符号23は多角形ミラーを示し、このきラーは回転
する六角形ミラーであシ得。
線に関して一定の角度で導かれる様を比較的概略的に示
す。符号23は多角形ミラーを示し、このきラーは回転
する六角形ミラーであシ得。
こ0<ラーによって、オリジナル上の走査されるぺ音線
が走査される。拡散反射後に得られる光ビームbは、入
射1jllを経て集光器8によって集められ、デテクタ
lOへもたらされる。集光器ポデーは透明材料によって
有利に形成され得る。
が走査される。拡散反射後に得られる光ビームbは、入
射1jllを経て集光器8によって集められ、デテクタ
lOへもたらされる。集光器ポデーは透明材料によって
有利に形成され得る。
鍵述Oように、デテクタにおける光の強度プロフィール
のレベルは1幅広の主要面における光ビームの反射数の
影響を大いに受けて決定される。
のレベルは1幅広の主要面における光ビームの反射数の
影響を大いに受けて決定される。
デテクタによって検出され得る鏡像が多いはど、発せら
れる全強度は高まる。これらの反射は強度プロフィール
に対して、入射面乃至窓をよシ厚くすることによって集
められる1よシ以上のl光の総量よりも多大に寄与し、
このことはオリジナルから同一距離にある場合に成立す
る。従って薄い。
れる全強度は高まる。これらの反射は強度プロフィール
に対して、入射面乃至窓をよシ厚くすることによって集
められる1よシ以上のl光の総量よりも多大に寄与し、
このことはオリジナルから同一距離にある場合に成立す
る。従って薄い。
例えば6■厚のプレートは、22mJIO厚いプレート
より180−多い信号を発する。両プレートの長さはこ
の場合297■である。通常の如く。
より180−多い信号を発する。両プレートの長さはこ
の場合297■である。通常の如く。
幅広の主要面は全体tたは一部分を研磨され得る。
最適の強度プロフィールを得るには、幅の狭い側面が研
磨される、入射面からの特定の距離との関連において適
正なプレートの形状を選択することが非常に重責である
。本発明によるプレートの特定の形状は、検出されるべ
き情報の感知され易さ如何によって、及び灰色のくもシ
が検出されるかどうか、検出されるとすればどの程度で
あるかによって選択される。
磨される、入射面からの特定の距離との関連において適
正なプレートの形状を選択することが非常に重責である
。本発明によるプレートの特定の形状は、検出されるべ
き情報の感知され易さ如何によって、及び灰色のくもシ
が検出されるかどうか、検出されるとすればどの程度で
あるかによって選択される。
電子システムの増幅が、デテクタにおいて最大光度を得
ることによって低く維持され得ることは明白であシ、こ
れKよって高い帯域幅が得られる。
ることによって低く維持され得ることは明白であシ、こ
れKよって高い帯域幅が得られる。
第2a、gb及び2clQにおいて、異なる形状のプレ
ートを使用した場合のデテクタにおける強度プロフィー
ルを互いに比較する。強度工は距離X(単位簡)に対し
て、走査された線の中央から縁部までが描かれている。
ートを使用した場合のデテクタにおける強度プロフィー
ルを互いに比較する。強度工は距離X(単位簡)に対し
て、走査された線の中央から縁部までが描かれている。
実lIはプレートの幅の狭い儒両が研磨されている場合
を表わし、破線はプレー)0幅の狭い側面が研磨されて
いない場合を表わす。第gallは長−8200■の集
光器のプロフィール値を示し、第2b図は長さ250−
の集光器のプロフィール値を示し、第2C図は長さ30
0鴎の集光*ofayイール値を示す。これらの集光−
1てにおいて、入射面付近の側面は走査されるべ龜−の
端部を結ぶ纏に対して実質的KI&直であゐ。輻O狭い
側面が完全く研磨されている集光器と幅の狭い側面が研
磨されていない集光器との強度プロフィールの差異は明
瞭である、 プレートの形状及び仕上は、次の条件に従って選択され
るニ ー検出されるべき情報の感知され易さ、及び−灰色のく
もpが検出されるかどうか、4L検出されるならどの程
度か。
を表わし、破線はプレー)0幅の狭い側面が研磨されて
いない場合を表わす。第gallは長−8200■の集
光器のプロフィール値を示し、第2b図は長さ250−
の集光器のプロフィール値を示し、第2C図は長さ30
0鴎の集光*ofayイール値を示す。これらの集光−
1てにおいて、入射面付近の側面は走査されるべ龜−の
端部を結ぶ纏に対して実質的KI&直であゐ。輻O狭い
側面が完全く研磨されている集光器と幅の狭い側面が研
磨されていない集光器との強度プロフィールの差異は明
瞭である、 プレートの形状及び仕上は、次の条件に従って選択され
るニ ー検出されるべき情報の感知され易さ、及び−灰色のく
もpが検出されるかどうか、4L検出されるならどの程
度か。
デテクタにおいて最大光度を得るには、例えば210
X 200 X 6■の比較的短い集光器が選択され。
X 200 X 6■の比較的短い集光器が選択され。
この集光器の幅の狭い側面は(熱論幅広の主l!藺4)
全体を研磨されている。反射を行なうlITMはプロフ
ィールを縁部において高め、その結果絨プロフィールは
、わるいは幾分かの高低を有しつつ実質的に直線状であ
る。例えば210X300X6mのよシ長い集光器は灰
色の階調の最大検出用に選択され、その幅の狭い側面は
入射面から数−にわたってしか研磨されていない。これ
によって、幾分低くはなるがなお適当な強度プロフィー
ルが高低を伴わずに得られる。便号処理は、幾分低めの
信号に鍾みて幾分高めの要件を満足しなければならない
。
全体を研磨されている。反射を行なうlITMはプロフ
ィールを縁部において高め、その結果絨プロフィールは
、わるいは幾分かの高低を有しつつ実質的に直線状であ
る。例えば210X300X6mのよシ長い集光器は灰
色の階調の最大検出用に選択され、その幅の狭い側面は
入射面から数−にわたってしか研磨されていない。これ
によって、幾分低くはなるがなお適当な強度プロフィー
ルが高低を伴わずに得られる。便号処理は、幾分低めの
信号に鍾みて幾分高めの要件を満足しなければならない
。
オリジナルの走査に係わる上掲例において入射面の長さ
く乃至集光器の走査線側の幅)は有利K。
く乃至集光器の走査線側の幅)は有利K。
走査線の長さに等しくされる。射出面は、デテクタの位
置する場所の周囲まで白色の拡散反射をもたらすように
有利に形成され得る。他の場合にはプレートを離れる光
ビームが具備された反射面によって専らデテクタの方へ
送られ、それによって強度プロフィールが一様KIO1
lb高まる。
置する場所の周囲まで白色の拡散反射をもたらすように
有利に形成され得る。他の場合にはプレートを離れる光
ビームが具備された反射面によって専らデテクタの方へ
送られ、それによって強度プロフィールが一様KIO1
lb高まる。
第3図に、集光器80入射面乃至窓11の可能なrlJ
状KiIれ方を示す。凹状にされた結果、入射ビームが
オリジナル上で反射されて得られる光ビームは厳質界1
1KII11に入射し、それによって入射1111K>
ける反射は最小限に留められる。
状KiIれ方を示す。凹状にされた結果、入射ビームが
オリジナル上で反射されて得られる光ビームは厳質界1
1KII11に入射し、それによって入射1111K>
ける反射は最小限に留められる。
集光器を信号の伝送に影響しないように設定すること4
ま九重畳である。例えば入射面付近での集光器とOII
触といった一定の原因が強度プロフィールに特定の結果
を招く。プロフィールはまた、汚れによっても悪影響を
及ぼされる。第4図に、集光1)8が例えば(直IIO
画角内に位置しない)デテクタlO付近に2個の杭穴!
3によって固定され得、かつ棒14によって中央で支持
され得る様子を示す。この場合集光器は、強度プロフィ
ールへのあらゆる効果を確実に一様にするためにそO全
幅にわ九って支持されなければならない。幅の狭い側面
の僅少部分のみが研磨されておればよい場合、残部は、
所望であれば1s4図に破線で示されたようにして傾斜
を付けられ得る。
ま九重畳である。例えば入射面付近での集光器とOII
触といった一定の原因が強度プロフィールに特定の結果
を招く。プロフィールはまた、汚れによっても悪影響を
及ぼされる。第4図に、集光1)8が例えば(直IIO
画角内に位置しない)デテクタlO付近に2個の杭穴!
3によって固定され得、かつ棒14によって中央で支持
され得る様子を示す。この場合集光器は、強度プロフィ
ールへのあらゆる効果を確実に一様にするためにそO全
幅にわ九って支持されなければならない。幅の狭い側面
の僅少部分のみが研磨されておればよい場合、残部は、
所望であれば1s4図に破線で示されたようにして傾斜
を付けられ得る。
第5図に、オリジナルを走査する際の正反射の除去が、
集光器付近で偏光効果を利用することによって実施され
る様子を示す。オリジナルによって反射された光は通常
二つの成分、即ち正反射成分すと拡散反射成分aとから
成る。正反射成分は。
集光器付近で偏光効果を利用することによって実施され
る様子を示す。オリジナルによって反射された光は通常
二つの成分、即ち正反射成分すと拡散反射成分aとから
成る。正反射成分は。
集光器の入射面に直接入射した場合問題を惹起し得る。
その場合集光器の反対側に配置されたデテクタへ入射す
る光は比較的高い強度を有する。その結果デテクタは飽
和し、情報の損失が生じる。
る光は比較的高い強度を有する。その結果デテクタは飽
和し、情報の損失が生じる。
この正反射成分鉱二様に除去され得る。
第一の方法:光源lからのビームCは、走査線に対して
働直な平面において偏光フィルタ21によって直線状に
偏光されつつ、オリジナル6へこのオリジナルにとって
の法線に関しゾル−スター角αで導かれる。拡散反射さ
れた光は、反射過程0@に任意に偏光される。拡散反射
成分1の、走査線に平行な偏光方向は、何ら影響を受け
ないまtKデテクタに達する。他方正反射成分すは、オ
リジナルに依りて完全にまたは実質的に完全に弱化され
る。これ状、拡散反射と正反射との本質的な相違及びブ
ルースター角の法則性の結果である。
働直な平面において偏光フィルタ21によって直線状に
偏光されつつ、オリジナル6へこのオリジナルにとって
の法線に関しゾル−スター角αで導かれる。拡散反射さ
れた光は、反射過程0@に任意に偏光される。拡散反射
成分1の、走査線に平行な偏光方向は、何ら影響を受け
ないまtKデテクタに達する。他方正反射成分すは、オ
リジナルに依りて完全にまたは実質的に完全に弱化され
る。これ状、拡散反射と正反射との本質的な相違及びブ
ルースター角の法則性の結果である。
第二〇方法:レーザビームCは偏光されずにオリジナル
6へ、法線に関しブルースター角αで導かれる。反射光
拡偏光フィルタ22を経て、入射w11で集められる。
6へ、法線に関しブルースター角αで導かれる。反射光
拡偏光フィルタ22を経て、入射w11で集められる。
こうして、拡散反射に由来する成分のみがデテクタに達
し得る。
し得る。
上記どちらの場合にも、走査線に平行に偏光された成分
が検出の際に存在しないことを保証するべく注意が払わ
れなければならない。検出される光量は、第一の場合に
おいて最大である。
が検出の際に存在しないことを保証するべく注意が払わ
れなければならない。検出される光量は、第一の場合に
おいて最大である。
第1[1a本発明によるシステムの構成を示す概略的説
明図、第2a e 2b及び2C図は異なる集光器の強
度プロフィールのグラフ、第3図は集光器の入射面が、
反射ビームの最適入射の丸めに如何に仕上げられ得るか
を示す親羽図、第4図は集光器が如何に構成され設置さ
れ得るかを示す説明図。 第5図は正反射を除去する次めの、偏光フィルタの光ビ
ーム通路における使用を示す説明図である。 l・・・光 源、6・・・オリジナル、8・・・集光器
。 10・−・デテクタ、11・・・入射面、13・・・柄
穴。 14°°°棒 、 21 、22・・・偏光フィルタ、
囚・・・多角形ミラー。 代理人lP−士今 村 元
明図、第2a e 2b及び2C図は異なる集光器の強
度プロフィールのグラフ、第3図は集光器の入射面が、
反射ビームの最適入射の丸めに如何に仕上げられ得るか
を示す親羽図、第4図は集光器が如何に構成され設置さ
れ得るかを示す説明図。 第5図は正反射を除去する次めの、偏光フィルタの光ビ
ーム通路における使用を示す説明図である。 l・・・光 源、6・・・オリジナル、8・・・集光器
。 10・−・デテクタ、11・・・入射面、13・・・柄
穴。 14°°°棒 、 21 、22・・・偏光フィルタ、
囚・・・多角形ミラー。 代理人lP−士今 村 元
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)オリジナル上の像情報を電気信号へ変換するシス
テムであって、オリジナルを光ビームによりて線状に走
査する手段と、オリジナルによりて反射された光を検出
して電気信号を発するデテクタと、光伝送手段とを含み
、この光伝送手段は光ビームによって走査されるべき−
に沿って伸張した入射面と、亙いに対向し、かり光ビー
ムによって走査されるべき−に対して実質的に平行であ
る、入射面からデテクタまで伸張した二つの平行な反射
面と。 入射面、平行な反射藺及びデテクタの閏の空間を横方向
において規定すみ二つの側面とを含んでJj)、更に骸
光伝送手段は、入射面付近O儒菖が走査されるぺii*
の端*1−鞘ぷ1llK。 対して実質的に働直であシ、を九これらの側面O対向し
合う側が、少なくとも入射面付近において鏡面状である
ように構成されることを特徴とするシステム。 (2)鍵記OII及び入射面を含む光伝送手段が光伝送
ボデーを形成し、この光伝送ボデーは透明材料から成る
ことを特徴とする特許請求O範sg11[Kle載のシ
ステム。 (勾 光体送手RO側面の全体が研磨されていることを
特徴とする特許請求の範囲館1項または第2項Ki!載
oVステム。 (4)入射Wが、光ビームが媒質界mKIil直に轟た
るようEll状にされ、それによって入射面での反射が
最小@KIII定されることを特徴とする特許請求op
s第1項乃JII菖3項のいずれかに記載Oシステム。 (5)オリジナルへ導かれる光ビームが、走査線に喬直
な平面において直線上に偏光された光から成ることを特
徴とする特許請求の範i!I第1項乃至第4項のいずれ
かく記載のシステム。 (6)偏光フィルタが、光源とオリジナルとの関O光路
内に具備される仁とを特徴とする特許請求の範囲第5項
に記載のシステム。 (7)偏光フィルタが、拡散反射に由−する光成分のみ
がデテクタに違す゛るようにしてオリジナルと入射面と
の間の光路内に配置されることを特徴とする特許請求の
1lii囲第1項第1第4項のいずれかく記載のシステ
ム (8)入射面の長さが、走査されるべき線の長さに勢し
く選択されることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃
至第7.!Jのいずれかに記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8103918 | 1981-08-24 | ||
NL8103918A NL8103918A (nl) | 1981-08-24 | 1981-08-24 | Stelsel voor het in een electrisch signaal omzetten van de beeldinformatie op een origineel. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5842358A true JPS5842358A (ja) | 1983-03-11 |
Family
ID=19837961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57146043A Pending JPS5842358A (ja) | 1981-08-24 | 1982-08-23 | オリジナル上の像情報を電気信号へ変換するシステム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4477836A (ja) |
EP (1) | EP0073086A1 (ja) |
JP (1) | JPS5842358A (ja) |
NL (1) | NL8103918A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01178699A (ja) * | 1988-01-06 | 1989-07-14 | Daiho Constr Co Ltd | 掘削用カッター |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4809062A (en) * | 1984-11-14 | 1989-02-28 | Microtek Lab., Inc. | Optical color line scanning and imaging device having a roller drive |
US4667253A (en) * | 1984-11-14 | 1987-05-19 | Chen Philip L | Optical line scanning imaging device |
US4827129A (en) * | 1987-02-17 | 1989-05-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Sweep device for a storage luminescent screen |
EP0357083B1 (en) * | 1988-09-02 | 1994-06-15 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Image reading device |
CN111272153A (zh) * | 2020-03-03 | 2020-06-12 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种被动调平结构的检平装置与方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1070216B (de) * | 1955-02-04 | 1959-12-03 | International Standard Electric Corporation, New York, N. Y. (V.St.A.) | Faksimile-Sender |
NL135702C (ja) * | 1963-06-24 | |||
US3566119A (en) * | 1967-10-06 | 1971-02-23 | California Computer Products | Infrared scanning device using a spherical lens |
US3617752A (en) * | 1969-11-06 | 1971-11-02 | Hazeltine Corp | Light collection and detection apparatus comprising plural light sensors so spaced that the composite response is independent of source position |
DE2151529A1 (de) * | 1971-10-15 | 1973-04-19 | Sick Erwin Fa | Verfahren und vorrichtung zur optischen fehlerueberwachung von transparentem bahnmaterial |
US4220978A (en) * | 1977-07-08 | 1980-09-02 | Burroughs Corporation | Electro-optical document reader |
FR2401567A1 (fr) * | 1977-08-26 | 1979-03-23 | Cit Alcatel | Dispositif d'analyse d'un document, en particulier pour emetteur de fac-simile |
-
1981
- 1981-08-24 NL NL8103918A patent/NL8103918A/nl not_active Application Discontinuation
-
1982
- 1982-08-18 US US06/409,318 patent/US4477836A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-08-18 EP EP82201039A patent/EP0073086A1/en not_active Ceased
- 1982-08-23 JP JP57146043A patent/JPS5842358A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01178699A (ja) * | 1988-01-06 | 1989-07-14 | Daiho Constr Co Ltd | 掘削用カッター |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4477836A (en) | 1984-10-16 |
NL8103918A (nl) | 1983-03-16 |
EP0073086A1 (en) | 1983-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4681435A (en) | Contact pattern observation apparatus | |
US4601576A (en) | Light collector for optical contaminant and flaw detector | |
JPH02249537A (ja) | 歯科用x線イメージ検出システム | |
US4522497A (en) | Web scanning apparatus | |
CN1214116A (zh) | 表面晶体缺陷的测量方法及装置 | |
JPS5842358A (ja) | オリジナル上の像情報を電気信号へ変換するシステム | |
US20230358688A1 (en) | Foreign Substance Detection Device and Detection Method | |
JP2700454B2 (ja) | 光学レンズの性能を特徴づける方法および装置 | |
KR20040105831A (ko) | 화상 형성 방법 및 장치 | |
JPH0228803B2 (ja) | ||
CA1232071A (en) | Direct finger reading | |
US4736099A (en) | Scan device with light mixer and diffusing means for half-tone transparency originals | |
EP0580155A2 (en) | A scanning optical apparatus | |
JP2873450B2 (ja) | 光による欠点検査装置 | |
US3470319A (en) | Flying spot scanner employing fiber optics | |
US5706081A (en) | Apparatus for inspecting surface defects with regularly reflected light and peripherally scattered light | |
JPH0541407Y2 (ja) | ||
JPS6337323B2 (ja) | ||
JP2004163240A (ja) | 表面評価装置 | |
JP2784260B2 (ja) | テレセントリック光学系を用いた透明蓄積蛍光体走査 | |
JP3326645B2 (ja) | 検出ヘッド浮上量測定装置および測定方法 | |
US5502300A (en) | Compound optically tipped detectors | |
US6765660B2 (en) | System and method for measuring the quality of an illumination field from a laser line illumination system | |
JPH0587681A (ja) | 被覆状態測定方法及び装置 | |
US7477434B2 (en) | Process and apparatus for retrieving information projected image-wise on a photo-stimulable phosphor imaging substrate utilizing a non-orthogonal pentaprism |