JPS5839915A - 光センサ分光感度測定装置 - Google Patents

光センサ分光感度測定装置

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JPS5839915A
JPS5839915A JP13815481A JP13815481A JPS5839915A JP S5839915 A JPS5839915 A JP S5839915A JP 13815481 A JP13815481 A JP 13815481A JP 13815481 A JP13815481 A JP 13815481A JP S5839915 A JPS5839915 A JP S5839915A
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light
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Nobuyuki Asano
浅野 宣行
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光センサ全般、即ちOODイメージセンナ、
mowイメージセンサ、フォトダイオード、7オシマル
チプライヤ等の分光感度測定を短時闘にかつ自動的に行
う装置に関する。
従来、光センサの分光感度測定は、例えば毫/りνメー
タの光を、測定サンプルにあててのその出力を読み、か
つ測定サンプルの光量を、別のあらかじめ較正されたパ
ワーメータによって測定することによって、その出力/
光量から求め、波長を変えて、上記操作を繰り返すこと
により行うのが常であった。
このような方法においては、第1に測定系と、光源及び
周囲との充分な遮光が必要であり、サンプルの出力値、
光量値を読むのに注意を要した。第2にサンプルと光量
測定パワーメータを交互に入れかえる必要があり、再現
性が低下すると共に、測定時間が長くなる。第3に受光
面積の大きいものはよいが、例えばOOD 、 )10
8等リニアイメージセンナ等のように、10〜数10μ
論の輻で数謔〜数10mrnEわたり1列に並んでいる
ようなセン量においては、上記方法においては、正確に
受光面に光を入射することが困難で、その精度及び再現
性において信頼性が損われるという欠点がある。
本発明は上記の欠点を除去すると共に光センすの分光感
度特性を測定を簡単な構成で、しかも、短時間に高精度
で行うことを可能とした光センナ分光感度測定装置の提
供を目的としている。
以下、図面によって本発明の具体的実施例を詳細に説明
する。
第11!Iは、本発明の基本構成である。lは例えばハ
ロゲンランプなどの光源、2は分光装置で、モノクロメ
ータあるいは干渉フィルタを用いることが出来る。3は
廖状可変アパーチャ、4は光路シャッタ、5は光量調節
器、・は形状可変アパーチャ3をサンプル及び光量検出
器に投影するための投影レンズ、7はハーフミラ−1S
は光量検出器、9は被測定サンプル、1oは細隙、11
は対物レンズである。
光源1かも出射した光は分光装置2によって任意の波長
の光のみとり出され、形状可変アパーチャ3に入射する
。アパーチャの形状可変方法としては、2つの幅可変出
射スリットを互に直角に設けて、夫々のスリット輻を変
えることにより、矩形のアパーチャの寸法を変える。あ
るいは、測定サンプルが丸型の場合にはカメラ等に用い
る絞りを用いることも可能である。
又いろいろな形、大きさの穴をあけた板を幾種類も準備
してセンサ形状に合わせて用いる等がある。
以上のように単独あるいは複数の方法を組み合わせてア
パーチャ形状を変えることができる。
アパーチャ3の形状はレンズ6によって光量検出器8及
び被測定サンプル9に投影される。光量検出器8、被測
定サンプル9の出力値が飽和することなく、かつ精度を
上げるため光量が過少にならないように調節するために
光量調節器5が設けられ、光量調節器5は例えばカメラ
に用いる絞り、あるいはNDフィルタを幾種類か円板に
とりつけて切換えて用いる。光量調節器5に光を完全に
遮光する機能を設けておけば、光路シャッタ4を別に設
ける必要はない。光量調節は又光源に供給する電圧を関
節することによっても可能である。カメラ用レンズのよ
うに絞りの組み込まれたレンズを用いれば、焦点の合っ
たアパーチャ像が光量検出器8、被測定サンプル9に結
ばれる。光量検出器3としてはフォトダイオード、フォ
ト!ルチプライヤ等を用いることが可能で゛あるが、ハ
ーフミラ−は広範囲の波長にわたり完全に反射率/透過
率を1にすることが出来ないので、あらかじめ各測定波
長で反射率/透過率の比を求めておいて、光量検出器に
各波長毎5乗算して補正し゛て受光面の真の光量を求め
ることが必要÷ある。
測定手−としては、光路シャッタ4により、光路を閉じ
て暗状態の光量検出器8、サンプル9の出力を求め、次
いで光路を開き、各波長毎に、光量を調節しつつ、“サ
ンプルの出力、光量検出器の出力を求め、暗状態時の出
力を差し引いて、かつ光量検出器8の出力にサンプル面
光量を求める補正係数を乗算することによって、サンプ
ル面光量を求め、サンプル出力/光量から分光感度を求
めていく。各波長毎にこの手順を繰り返す。
サンプルが比較的大きい場合は、細Ill Os対物レ
ンズ11は光軸よりはずしておく。なお光量検出器8、
被測定サンプル9F1′位置は逆であっても何ら差支え
ない。
第2図は第1図において光学系部分のみを抜き□出した
図であり、投影レンズ6によって光量検出器8、サンプ
ル9上に結ばれたアパーチャ3の像を斜線を施して示し
ている。このように被測定サンプルの受光面が大きい場
合は拡大投影をする。
次に被測定サンプルがリニアイメージセンサのように、
例えば輻10〜数10μm、長さ数mtm〜数10mm
 のセンナの場合には、第1図に示す系ではアパーチャ
の投影像が大き過ぎて、受光面よりはるかにはみ出して
しまい、測定が出来ない。この時は、細11o及び、対
物レンズ11を光軸上に入れて、細隙の縮小像をすンプ
ル上に結ぶ□ことによって、サンプルの受光面内に光を
当てることが出来る。開時に、細隙を通過した光の一部
は光量検出器に入射し、光量を測定することが出来る。
この時は“、対物レンズ11が入ることにより、レンズ
の吸収分だけ光量が減るので、光量検出器から被測定サ
ンプルに入射する光の真の光量を計算するためには、第
1図に示した場合のハーフミラ−の反射率/透過率の比
に加えて、対物レンズの各波長における吸収率も考慮し
た係数を各測定波長毎に乗算すればよい。
また、この系では測定サンプルの受光面が微小であるか
ら、第3図12に示すようなw!眼レンズを用いて、蛍
光画内に確実に細隙像が収まっていることを*aするこ
とによって精度を向上させることが出来る。さらに細@
[1@が光軸に入るのに連動して、対物レンズ11が光
軸上に入るような機構にし、1度光軸上に人ったらll
A!Iのみは独立に多少の移動及び、光軸に直角に回転
可能な機構にすることにより被測定すンプルの形状、傾
き等に合わせて、細隙の位置、角度を調節することが可
能で使い易いものとなる。
第4図に第3!lOに示した糸の光学系のみを示す。細
@1Gは対物レンズ11によって縮小像を被測定サンプ
ル9上に結ぶ。一方、光量検出器8の方には、対物レン
ズはなく、従って形状可変アパーチャの細隙10によっ
て光量の絞られた像が結ばれている。従って、この場合
もアパーチャはその像が光量検出器の受光面をはみ出な
い大きさに調節しておく。又、測定サンプ#9が、Vの
ように例えば直角になっている時は、細191Gは同じ
ように回転して10’のようにすることにより、容易に
測定サンプルの受光面状態に対応出来るし、又細隙10
が対物レンズ11に対して、独立に移動させることが可
能であることにより、被測定サンプルの位置に容易に対
応出来ることは明らかである。更に、コンピュータ等を
用いて自動化することによって一層短時間に測定を可能
とすることが容易である。第5図はコンピュータ13に
よって、自動測定を行う場合の系を示している。コンピ
ュータで制御するのは、分光装置2.光路シャッタ4、
光量調節器5.細a10の移動とそれに連動した財物レ
ンズ11であり、又測定サンプル9及び、光量検出器8
の出力をψコンバータ14によって夫々の値をコンビエ
ータ13に取込む。分光装置としてモノクロメータを用
いる場合は、例えばグレーティングの角度をモータで変
える、又干渉フィルタの場合には、いくつもの干渉フィ
ルタを円板に組み込んでおいて、七−一で円板を回転さ
せて波長を選択する。光量調節器5は、測定サンプル9
、光量検出6Sからの出力をみて光量が大きい時は絞る
ようにし、又過少の場合は光量を増すように調節する。
又コンピュータにあらかじめ、光量検出6Sの出力から
演算して測定サンプル9の真の光量を算するための係数
を記憶させておけば、直ちに演算してその結果を、図示
していないが、XYプロッタ上に図示又はプリンタに数
値を打出すことは容易である。ここで〜乍変換は、コン
ピュータ13からの指令で入力を切換えて測定サンプル
の出力、光量検出器の出力をコンに’ z −夕にとり
込むようになっているが2つのい変換器を用いてもよい
又、光量調節は紋りあるいはNDフィルタのついた円板
をモータで駆動して行うが、特にコンピュータを用いる
場合などは、光源に供給する電源の電圧を調節するのが
便利である。第6図は、この関係を示す図であり、この
時は光量調節器4は省略し、電源電圧調整器15を光量
調節器として用いる。特に近頃はコンピュータによる制
御を目的としたGP−LBババスもった電源等が存在す
るので、これらを用いれば更にシステ^の構成がより容
易となる。
以上のように、本発明の装置は波長の興なる光を発生す
る発生手段(−光源分光装置)9発生手段からの光を2
方向に分割する分割手段(ハーフtラー)及び分割され
た方の光の光量を検ハ 出する光量検出器とを有し、もう一方の光を光センナに
投影しているので光センナの出力と光量検出器の出力と
により種々の波長に対する光センサの感度の測定をして
いる。
以上の如き構成により、光量検出器と光七ンす両方の出
力な同時に検出できるので、短時間で分光感度測定が可
能となる。しかも同一の光発生手段からの光を同時に検
出しているので高精度の測定ができ、しかもハーフミラ
−等の分割手段を設けるだけでよいので構成が簡略化さ
れるものである。更に形状可変アパーチャを設ければい
ろいろな形状の光センサの分光感度が測定でき、又光源
以降をおおってしまうことにより、通常の室内での測定
を可能にする。そしてコンピュータを用いることによっ
て一層短時間に精度よく、測定が司能なことが明らかで
ある・
【図面の簡単な説明】
第1図は本実施例の分光感度測定装置の構成図、第2図
は第1図に示す基本光学系部分図、第3図は本発明の別
の分光感度測定装置の構成図、第4図は第3図に示す基
本光学系部分図、第5図はコンピュータを用いた装置の
自動化測定系の構成図、第6図は光源の電鯨電圧をコン
ビエータで調節する場合の構成図である。 図において 1は光源、2は分光装置、3は形状可変アパーチャ、4
は光路シャッタ、5は光量調節器、鳴ハ投影レンズ、フ
はハーフミラ−18は光量検出器、9は被測定サンプル
、10は細隙、11は対物レンズ、12は接眼レンズを
夫々示すO 出願人   キャノン株式会社 代理人弁理士丸 島 儀 −F′3 −4よ(

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 分光感度が測定される光センサ、波長の興なる光を発生
    する発生手段、前記波長の興なる光を2方向に分割する
    分割手段、前記分割手段より分割された一方向の光の光
    量を検出する光量検出器を有し、前記分割手段により分
    割されたもう一方の光を前記光センサに投影し、前記光
    センサの出力と前記光量検出器の出力とにより光センナ
    の分光感度を測定する光センサ分光感度測定装置。
JP13815481A 1981-09-02 1981-09-02 光センサ分光感度測定装置 Granted JPS5839915A (ja)

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JP13815481A JPS5839915A (ja) 1981-09-02 1981-09-02 光センサ分光感度測定装置

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JP13815481A JPS5839915A (ja) 1981-09-02 1981-09-02 光センサ分光感度測定装置

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Publication Number Publication Date
JPS5839915A true JPS5839915A (ja) 1983-03-08
JPH0549930B2 JPH0549930B2 (ja) 1993-07-27

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ID=15215277

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62260866A (ja) * 1986-05-07 1987-11-13 Shinto Paint Co Ltd 耐候性鋼の錆安定化表面処理法
US7037388B2 (en) 1998-09-30 2006-05-02 Kobe Steel, Ltd. Steel plate for paint use and manufacturing method thereof
JP2011196750A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Seiko Epson Corp 分光感度特性測定装置、および分光感度特性測定方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4890578A (ja) * 1972-03-03 1973-11-26
JPS5581320A (en) * 1978-12-16 1980-06-19 Toshiba Corp Optical information reader

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JPH0549930B2 (ja) 1993-07-27

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