JPS5839350A - 複数の制御装置の診断制御方式 - Google Patents

複数の制御装置の診断制御方式

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Publication number
JPS5839350A
JPS5839350A JP56136694A JP13669481A JPS5839350A JP S5839350 A JPS5839350 A JP S5839350A JP 56136694 A JP56136694 A JP 56136694A JP 13669481 A JP13669481 A JP 13669481A JP S5839350 A JPS5839350 A JP S5839350A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control
diagnostic
control device
controllers
priority
Prior art date
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Pending
Application number
JP56136694A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Otsu
信一 大津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5839350A publication Critical patent/JPS5839350A/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)
  • Feedback Control In General (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高伽鯛性を要する腹数O制御装備が夫々並列に
運転される場合、1つの制御装置の障害時、直ちに他の
制御義歯の制御により運転が継続されることが出来る複
数の制御装置の診断制御方式Kr1Jす石ものである。
従来の方式では各制御装曾内に夫々診断部をおき、告々
の診断@e#断によシ1つの制御装置の障害時、上位装
置と下位装装置との接続制御を他の) 障害でない制御装置tK切替えて行4ことが出来る・@
1@は従来の診断ill #方式の一実施例な示すブn
ツク図である。図中、1u”1制御装置、2は#2制御
装置、3は11制御装置の論理部、4は同診断部、5は
Iff網竜柳部、6は81制御装置の下位装置、7は同
下位装置、8Fi”2制御装蓋の論理部%9は診断部、
10は同電1部、l xr!2制御装置の下位装置、1
2は同下位装置を示す・第1図において番1制御装置と
會2制御装憤とが2台並列に運転しており、書1制御装
置1は上位装fl16と下位装置7f制御し、12制御
装f12は上位装置111と下位装置1ll12を制御
している。番2制御装櫨の故障の場合、診断部9の診断
によシ上位装#16及び110指令及び信号系11制御
装肯lへ伝達され、$1制御装置j11が下位装置7及
び12tfltlllすることができる0この場合例え
ば%@i*システムにおいて制御装置は磁気ディスク制
御装置であり、下位装置は磁気ディスタW&量である・
制御装置が2台以上の表敷の場合でも同様の#新方式で
あるが、診断部も制御装置と同数の複数個が必要であ夛
、多数の制御装置を並列運転する場合は診断部の価格も
増大し1且つ診断部用の電−の消費電力も増大する・本
発明は複数O制御装置における座敷個の診断部管部約し
、診断部用電−の電力消費を節減し1制御装置0価格を
低減することを目的とする◎この目的を連成するため上
位装置と下位装置との中間に複数個もうけられ、上位装
置の指令および傷勺により夫々並列に下位装置を制御す
る制御装置において、該複数O制御装置に共通に、独立
Ow―を有する1個又は該縁数釧より少い*V診断部を
投雪し、該複数O制御装置Ow源投入時又は−作中必要
な時に蟲該診断SKよシ該嶺数の制御装置を診断し、1
つの制御装置が障害O場合、他の制御装置によシ、障害
の制御装fllK警続された下位装置、下位装置の制御
を行うことを特徴とする・ 第2図は不発@による麿数の制御装置の診断制御方式の
一実施例を示すブロック図である・図中、1は會1制御
飯置、2は$2制御装置、3#i’1制御装値の論TI
A*s 5は同電1[if@、 6は11制御装雪の土
位装−17は同下位装置、8は番2制御装雪O#a理部
、lOは同電鍵部、11け12制御義置O上位装置、1
2a同下位鋲筺、13は不発―による共通O診断部、1
4#′i診断部用の電#を示す・制御装置が2個以上n
l!ある場合は、n個の制御装置に共通におかれる診断
部%診断部用電源は1個又社n個より少い個数でもよい
・第2図において番1制御装置のみ、あるいは番2制御
懺ilのみ又は”1.$2制御装置両方01E@!i、
100投入と同時に診断部用の電−14も投入され一一
源投入直Ik#断@13[よル#1制御装置と02制御
装置の診断を行う・1.#断結果が良0場合は診断部用
$1114を断とし、制御#c[1および2は動作状態
に人b・診断結果が不良の場合はその旨をなんらかの方
法で表示する・(この時診断部用電鍵14は投入された
壕\でも断となうてもいづれでも良い。)すた制御装置
1および2が動作中にあるjl’X’診断を必要とする
場合に本、診断部用電源14Yr投入して診断を奥行す
る制御手段をもつこともできる0診断部13および診断
部用電#14ははは制御装置1.2のw#ii投入時か
ら診断完了★での若干時間のみ動作するため、制御装置 雪動作紳間に附して非′ltk少い動作時間に力る。
従来方式に比して診断部が1個であるため、これが故障
すると制御装置全体が故障となる欠虚を持つが、診断部
の動作時間は上記の如く非常に少諭時間ですむので見か
け上は従来方式と同郷゛ア:為魁はそれ以上の信頼度を
持うことkなる0以上のように本発明による方式ではn
個の制御装gIk対し診断部が1個ですむため低価格で
あり1又制御装置動作中に診断部用電鍵は断と1にフて
いるため電力O省力化がはかられ、従来に比し診断用O
t―容蓋も少くてすむため電力消費上からも効果があゐ
【図面の簡単な説明】
第1mlは従来の診断制御方式の一実施例を示すブロッ
ク図であり、第2mは本発明による診断制御方式の一実
施例を示すブロック図であるO図中11は番1制御懐置
、2#i”2制御飯鎗、3は番1制御装會の論理部、4
#i同診断部、5は同電鍵部、6は同下位装置、7け同
下位装置、8は$2制御装置Iの論理部、9は同診断部
、10は同電源部、11は同下位装置、12は同下位装
置113は共通用診断部、14け診断部用の電源を示す
e稟 l  図 第 21!]

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 上位装置と下位装置との中間Kll数個もうけられ、下
    位装置の指令および信号により夫々並列に下位錬置管制
    御す為制御装置にシいて、該座敷の制御装置に共通に、
    独立O電mを有すゐ1個又は該複数個より少い数の診断
    部を設置し、該複数の制御装置の電鍵投入時又は動作中
    必要な時に尚眩診断W6によシuI複数の制御装置を診
    断し−1つの制御装置が障害の場合、他の制御ttll
    Kより1陣害の制御値@に接続された下位装置、下位装
    filO制御を行うことを特徴とする座敷の制#装置の
    診断制御方式・
JP56136694A 1981-08-31 1981-08-31 複数の制御装置の診断制御方式 Pending JPS5839350A (ja)

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JP56136694A JPS5839350A (ja) 1981-08-31 1981-08-31 複数の制御装置の診断制御方式

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6172346A (ja) * 1984-09-17 1986-04-14 Nec Corp メモリ診断制御方式
JPS6392970U (ja) * 1986-12-04 1988-06-15
CN110134000A (zh) * 2018-02-09 2019-08-16 横河电机株式会社 控制***、诊断装置、诊断方法、以及存储有诊断程序的计算机可读介质

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6172346A (ja) * 1984-09-17 1986-04-14 Nec Corp メモリ診断制御方式
JPS6392970U (ja) * 1986-12-04 1988-06-15
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