JPS5837573U - 半導体集積回路の試験装置 - Google Patents
半導体集積回路の試験装置Info
- Publication number
- JPS5837573U JPS5837573U JP13150881U JP13150881U JPS5837573U JP S5837573 U JPS5837573 U JP S5837573U JP 13150881 U JP13150881 U JP 13150881U JP 13150881 U JP13150881 U JP 13150881U JP S5837573 U JPS5837573 U JP S5837573U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- circuit testing
- testing equipment
- switch
- Prior art date
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- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来のICテスタの一例の斜視図、第2図は本
考案の一実施例の一部切欠き斜視図である。 。 1・・・・・・ICテスタ、2・・・・・・ソケット、
3・・−起動スイッチ、4.5・・・・・・表示灯、1
1・・・・・・半導体集積回路の試験装置、12・・・
・・・ソケット、13・・・・・・起動スイッチ、14
.15・・曲表示灯、16・・・・・・穴、17・・・
・・・棒、18・・・・・・スイッチ、19・曲・初期
設定回路。
考案の一実施例の一部切欠き斜視図である。 。 1・・・・・・ICテスタ、2・・・・・・ソケット、
3・・−起動スイッチ、4.5・・・・・・表示灯、1
1・・・・・・半導体集積回路の試験装置、12・・・
・・・ソケット、13・・・・・・起動スイッチ、14
.15・・曲表示灯、16・・・・・・穴、17・・・
・・・棒、18・・・・・・スイッチ、19・曲・初期
設定回路。
Claims (1)
- 被試験の半導体集積回路が挿入されるソケットに前記半
導体集積回路の底面に垂直方向に設けられた穴と、前記
穴を通り前記ソケットの上面及び下面よりも両端が突出
る棒と、前記体の下端に接続し、前記体の上下運動によ
り開閉を行うスイッチと、前記スイッチに接続され、前
記スイッチの開閉により前の試験状態を解除して次の試
験の初期設定を行う初期設定回路とを含むことを特徴と
する半導体集積回路の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13150881U JPS5837573U (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 半導体集積回路の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13150881U JPS5837573U (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 半導体集積回路の試験装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5837573U true JPS5837573U (ja) | 1983-03-11 |
Family
ID=29925082
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13150881U Pending JPS5837573U (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 半導体集積回路の試験装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5837573U (ja) |
-
1981
- 1981-09-04 JP JP13150881U patent/JPS5837573U/ja active Pending
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