JPS5826245B2 - 密閉形開閉設備の絶縁耐力試験装置 - Google Patents

密閉形開閉設備の絶縁耐力試験装置

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Publication number
JPS5826245B2
JPS5826245B2 JP52074292A JP7429277A JPS5826245B2 JP S5826245 B2 JPS5826245 B2 JP S5826245B2 JP 52074292 A JP52074292 A JP 52074292A JP 7429277 A JP7429277 A JP 7429277A JP S5826245 B2 JPS5826245 B2 JP S5826245B2
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equipment
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Expired
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JP52074292A
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JPS52156350A (en
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ウオルフガング・ブツシユ
デイートリツヒ・フイツシヤー
ベルンハルト・ゲオルク・アルント
ロタール・ハスホツフ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JPS52156350A publication Critical patent/JPS52156350A/ja
Publication of JPS5826245B2 publication Critical patent/JPS5826245B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02BBOARDS, SUBSTATIONS OR SWITCHING ARRANGEMENTS FOR THE SUPPLY OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02B13/00Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle
    • H02B13/02Arrangement of switchgear in which switches are enclosed in, or structurally associated with, a casing, e.g. cubicle with metal casing
    • H02B13/035Gas-insulated switchgear
    • H02B13/065Means for detecting or reacting to mechanical or electrical defects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/333Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
    • G01R31/3333Apparatus, systems or circuits therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Testing Relating To Insulation (AREA)
  • Gas-Insulated Switchgears (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、3相−補形の密閉形開閉設備において、試
験すべき相導体の切換を・・ウジングの外部から自由に
行える絶縁耐力試験装置に関する。
密閉形開閉設備は運転に先立ち絶縁耐力試験が行われる
各相分離方式の開閉設備においては、試験・・ウジング
が開閉設備にフランジ接続され、この・・ウジング内に
高圧導体と接地導体とが収容される。
高圧導体はブッシングに接続されこれに高圧が印加され
る。
3相−補力式の密閉形開閉設備の場合には3本のブッシ
ングが設けられ、これらのブッシングに順次に、あるい
は同時に高圧が印加される。
空気中で必要な間隔を確保するためにはブッシングは傾
斜させた星形配置としなければならず、それに応じて試
験に要する空間も入きくなる。
この発明は、3相−補力式の密閉形開閉設備の絶縁耐力
試験を容易に行うことができ、しかも所要空間が少くて
すむ試験装置を提供することを目的とするものである。
以下、図示実施例に基づいてこの発明を説明する。
第1図には、密閉形開閉設備2の絶縁耐力試験装置が示
されている、開閉設備2は管状の金属カプセル3を備え
て釦り、その内部空間4には、六弗化硫黄SF’ ガス
の如きガス状絶縁媒体、ならびに図示しない支持絶縁体
でカプセル3に対して支持された3相高圧導体5,6釦
よび7が収容されている。
3相導体5,6および7は第2図に示すように正3角形
の頂点にそれぞれ位置している。
試験装置1は試験・・フランジ8を備えており、このハ
ウジングはフランジ9で試験されるべき設備のフランジ
10に連結され、その結果ハウジング8とカプセル3と
は相互に気密に結合される。
試験ハウジング8は3相導体5,6および7で被試験設
備2に結合可能な高圧導体11および接地導体12を包
囲している。
図から明らかなように、フランジ9,10の近傍に、3
相の固定高圧導体が配置されているが、これらの導体に
順次に高圧を導き得るように可動接触子11が設けられ
ている。
接触子11は・・フランジ8の外側に置かれた操作器に
よって軸13を介して操作されるようになっている。
高圧を導く接触子11は金属リング14に取り付けられ
ているが、このリングは支持絶縁体15を介して軸13
に強固に結合されるとともに、試験ハウジング8内に導
入された高圧ブッシング16によって摺動接触子17を
介して給電されるようになっている。
高圧ブッシング16はケーブル端子として構成してもよ
い。
試験電圧は高圧ブッシング16の端子18に印加される
試験ノ・フランジ8の内部で、軸13はその自由端に弓
形集電子19を備えているが、この集電子はU字状でそ
の自由端は2つの極を電気的に橋絡して同時に接地する
第2図に示した状態では、高圧導体6が試験下にあり、
導体5および7は接地されている。
軸13を120°回転することにより、隣の導体7に高
圧が印加される。
さらに、軸13を120°回転することにより高圧は導
体5に印加され、その際導体6および7は集電子19で
電気的に橋絡されて接地される。
この試験装置は、特に導体5,6および7に属する接地
グラウンドがない高圧開閉設備に適している。
第1図訃よび第2図に示した実施例では、高圧を導く接
触子11に大地電位を導く第2の接触子19が直接付設
されており、接触子11および19は、共通の操作器で
操作されるようになっている。
さらに、図示実施例では、試験ハウジング8内に導入さ
れた操作器の軸13は接地導体を構成している。
操作器は試験ハウジング8のフランジ9と反対側の部分
に取り付けられている。
以下の他の実施例において、同一部分には同一の符号を
付しである。
第3図および第4図の実施例は、レール21内のローラ
20で試験ハウジングの取り付けられたリング22を有
する操作器を備えている。
リング22は接地されており、作用的に第1図の弓形集
電子19aおよび19bに相当する。
大地電位の2つの接触子19ahよび19bを支持して
いる。
リング22はさらに高圧を導く接触子11の支持絶縁体
23を支持している。
この接触子11に接続棒24を介して回転接触子25に
電気的に接続され接触子25はブッシング26あるいは
27に接続される一 同様の他の実施例が第5図および第6図に示されている
この場合は、試験ハウジング8の外側の操作器は絶縁体
28を介して太地電位釦よび高圧導体29に接続される
その際、電位は摺動接触子30を介して高圧に、捷た3
1を介して大地電位に等しくなる。
【図面の簡単な説明】
図はこの発明の装置の実施例を示すもので、第1図、第
3図および第5図はそれぞれ第1.第2および第3の実
施例の縦断面図、第2図、第4図および第6図はそれぞ
れ第1図、第3図および第5図の下部の平面図である。 5.6,7・・・・・・3相導体、8・・・・・・試験
ノ・フランジ、9,10・・・・・・フランジ、11・
・・・・・高圧用接触子、12・・・・・・接地用導体
、16・・・・・・高圧用導体、19・・・・・・接地
用接触子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試験されるべき3相−補形の密閉形開閉設備にフラ
    ンジ接続可能な試験ノ・ウジングを有し、このハウジン
    グ内に、ブッシングを介して挿通されその挿入端に摺接
    可能な端面を有する高圧導体と、ガス密シールを介して
    挿通されその挿入端が前記試験されるべき3相導体部の
    2相に同時に接触する分岐した接触子を形成するととも
    に3相導体の2相を順次選択的に接触しうるように回動
    自在に配設された接地用接触子とを備え、さらに前記接
    地用接触子に絶縁物を介して支持され一端部が前記2相
    以外の1相導体に接触する高圧用接触子を形成するとと
    もに該接地用接触子の回動時に常に前記高圧導体の端面
    と接する摺動部を形成する高圧導電部材を備えてなる密
    閉形開閉設備の絶縁耐力試験装置。
JP52074292A 1976-06-22 1977-06-22 密閉形開閉設備の絶縁耐力試験装置 Expired JPS5826245B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762628453 DE2628453A1 (de) 1976-06-22 1976-06-22 Vorrichtung zum pruefen des isoliervermoegens von gekapselten schaltanlagen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS52156350A JPS52156350A (en) 1977-12-26
JPS5826245B2 true JPS5826245B2 (ja) 1983-06-01

Family

ID=5981381

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP52074292A Expired JPS5826245B2 (ja) 1976-06-22 1977-06-22 密閉形開閉設備の絶縁耐力試験装置

Country Status (2)

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JP (1) JPS5826245B2 (ja)
DE (1) DE2628453A1 (ja)

Families Citing this family (7)

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CN111965396A (zh) * 2020-08-14 2020-11-20 广东电网有限责任公司广州供电局 三相端子快速连接结构及开关柜端口耐压试验装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS52156350A (en) 1977-12-26
DE2628453A1 (de) 1978-01-05

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