JPS5824722Y2 - 内径測定ヘッド - Google Patents
内径測定ヘッドInfo
- Publication number
- JPS5824722Y2 JPS5824722Y2 JP1978147612U JP14761278U JPS5824722Y2 JP S5824722 Y2 JPS5824722 Y2 JP S5824722Y2 JP 1978147612 U JP1978147612 U JP 1978147612U JP 14761278 U JP14761278 U JP 14761278U JP S5824722 Y2 JPS5824722 Y2 JP S5824722Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical body
- measuring head
- tip
- fixed
- contact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は内径を高精度に、かつ能率的に測定する測定
ヘッドに関するものである。
ヘッドに関するものである。
従来内径測定は孔に入る案内を差込んで、これに設けら
れた直径方向の接触子によって測定が行なわれていた。
れた直径方向の接触子によって測定が行なわれていた。
すなわち第1図において、孔1に案内2を差込み、接触
子3,4によって測定していた。
子3,4によって測定していた。
ところが誤差を少なくするためには孔の中心と案内の中
心とのずれbを少なくする必要がある。
心とのずれbを少なくする必要がある。
このために案内2の径を大きくして孔と案内との径の差
aを少なくすることが行なわれているが、その場合は案
内を差込むことが容易に出来なくなるだけでなく、差込
みに際しての接触のために連続測定においては案内が摩
耗し、変形して誤差が大きくなるという欠点があった。
aを少なくすることが行なわれているが、その場合は案
内を差込むことが容易に出来なくなるだけでなく、差込
みに際しての接触のために連続測定においては案内が摩
耗し、変形して誤差が大きくなるという欠点があった。
この考案は測定ヘッドの孔に対する姿勢誤差を少なくシ
、かつ摩耗を少なくすることにより高精度の測定を能率
的に行なえるようにしたものである。
、かつ摩耗を少なくすることにより高精度の測定を能率
的に行なえるようにしたものである。
第2図に示すように本考案の測定ヘッドの先端は直径方
向に十字形に接触子5,6,7.8が配置され、5,6
の接触子は中央の円柱体9に固定されており、円柱体の
中心より5,6の接触子の先端までの寸法は、被測定穴
の半径と等しい寸法に構成され、7,8の接触子はレバ
ーの先端外側に取付けられる。
向に十字形に接触子5,6,7.8が配置され、5,6
の接触子は中央の円柱体9に固定されており、円柱体の
中心より5,6の接触子の先端までの寸法は、被測定穴
の半径と等しい寸法に構成され、7,8の接触子はレバ
ーの先端外側に取付けられる。
第3,4図に示すように円柱体9は支持部10に対して
ユニバーサルジヨイント11によって取付けられて自在
に揺動可能となっている。
ユニバーサルジヨイント11によって取付けられて自在
に揺動可能となっている。
そして、スプリング12.13等の押圧機構によって円
柱体9は固定接触子5,6の方向に軽く押し付けられて
いる。
柱体9は固定接触子5,6の方向に軽く押し付けられて
いる。
固定接触子6に対して直径位置にある可動接触子8は、
円柱体9上の支点14に取付けられたレバー15の先端
外側に設けられ、レバー15はスプリング16によって
反時計方向に押し上げられている。
円柱体9上の支点14に取付けられたレバー15の先端
外側に設けられ、レバー15はスプリング16によって
反時計方向に押し上げられている。
またレバー15の左端には可動接触子8の変位量を検出
する電気マイクロメータ17が円柱体内に設けられる。
する電気マイクロメータ17が円柱体内に設けられる。
また、これと直角方向の二つの接触子5,7においても
上記と同様であって、固定接触子5は円柱体9に固定、
可動接触子7はレバー18の先端外側に取付けられてそ
の変位量は電気マイクロメータ19によって検出される
。
上記と同様であって、固定接触子5は円柱体9に固定、
可動接触子7はレバー18の先端外側に取付けられてそ
の変位量は電気マイクロメータ19によって検出される
。
なお、20.21は円柱体9が必要以上に固定接触子5
,6方向に回動することを規制するための調整可能なス
トッパーである。
,6方向に回動することを規制するための調整可能なス
トッパーである。
このような構造において、孔の中に測定ヘッドの先端を
差込むと、中央の円柱体は自由に揺動可能であり、かつ
レバーに取付けられた接触子も自由に変位するので、接
触子は孔の内面に沿って入る。
差込むと、中央の円柱体は自由に揺動可能であり、かつ
レバーに取付けられた接触子も自由に変位するので、接
触子は孔の内面に沿って入る。
この時、円柱体は圧縮ばね12,13によって付勢され
、被測定円孔内面に接する固定接触子5,6によってそ
の中心が被測定円孔中心にほぼ一致するように位置決め
され、先端に可動接触子を持つ二つのレバーによってそ
の直径方向の寸法が検出される。
、被測定円孔内面に接する固定接触子5,6によってそ
の中心が被測定円孔中心にほぼ一致するように位置決め
され、先端に可動接触子を持つ二つのレバーによってそ
の直径方向の寸法が検出される。
また接触子の先端には摩耗が殆んど生じない超硬、ダイ
ヤモンド等のチップが用いられるので位置決め誤差はほ
とんど起らない。
ヤモンド等のチップが用いられるので位置決め誤差はほ
とんど起らない。
このように被測定円孔に測定ヘッドを差し込むと、円柱
体の中心は常に被測定円孔の中心に一致するので左右方
向においても、前後方向においても面接触孔(5゜7ま
たは6,8)の接触点を結ぶ線と正しい直径方向とのず
れ、すなわち第1図のbがほとんど零となり、このずれ
に起因する誤差は無視できる程に解消され、高精度の測
定が可能となり、かつ二つの直径の差、平均をも同時に
測定検出することができる。
体の中心は常に被測定円孔の中心に一致するので左右方
向においても、前後方向においても面接触孔(5゜7ま
たは6,8)の接触点を結ぶ線と正しい直径方向とのず
れ、すなわち第1図のbがほとんど零となり、このずれ
に起因する誤差は無視できる程に解消され、高精度の測
定が可能となり、かつ二つの直径の差、平均をも同時に
測定検出することができる。
なお支持部10と円柱体9との関係は自由に揺動すれば
よいので、二段の平行ばね、ボールジヨイント等の機構
を使うことができる。
よいので、二段の平行ばね、ボールジヨイント等の機構
を使うことができる。
第1図は従来の内径測定方法の説明図、第2図は本測定
ヘッドの先端正面図、第3図、第4図は第2図のIII
およびIVの方向から見た側面図である。 1・・・・・・円孔、2・・・・・・案内、3,4・・
・・・・接触子、5,6・・・・・・固定接触子、7,
8・・・・・・可動接触子、9・・・・・・円柱体、1
0・・・・・・支持部、11・・・・・・ユニバーサル
ジヨイント、12.13・・・・・・スプリング、14
.14’・・・・・・支点、15.18・・・・・・レ
バー、16.16′・・・・・・スプリング、17.1
9・・・・・・電気マイクロメータ検出器。
ヘッドの先端正面図、第3図、第4図は第2図のIII
およびIVの方向から見た側面図である。 1・・・・・・円孔、2・・・・・・案内、3,4・・
・・・・接触子、5,6・・・・・・固定接触子、7,
8・・・・・・可動接触子、9・・・・・・円柱体、1
0・・・・・・支持部、11・・・・・・ユニバーサル
ジヨイント、12.13・・・・・・スプリング、14
.14’・・・・・・支点、15.18・・・・・・レ
バー、16.16′・・・・・・スプリング、17.1
9・・・・・・電気マイクロメータ検出器。
Claims (1)
- 支持部に揺動自在に取付けられた円柱体と前記円柱体先
端の相互に直角をなす位置に固定された固定接触子と、
前記固定接触子を被測定物に押圧する押圧機構と、前記
固定接触子のそれぞれに対して直径方向に位置しその先
端に可動接触子を、他端に前記可動接触子の変位を検出
する検出部を有するレバーとよりなる内径測定ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1978147612U JPS5824722Y2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 内径測定ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1978147612U JPS5824722Y2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 内径測定ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5564703U JPS5564703U (ja) | 1980-05-02 |
JPS5824722Y2 true JPS5824722Y2 (ja) | 1983-05-27 |
Family
ID=29129234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1978147612U Expired JPS5824722Y2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 内径測定ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5824722Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5430206B2 (ja) * | 2009-04-07 | 2014-02-26 | 日本分光株式会社 | 測定器、および、自動調心機構の性能を検査する方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51103463A (ja) * | 1975-03-10 | 1976-09-13 | Toyoda Machine Works Ltd | Anasokuteisochi |
-
1978
- 1978-10-26 JP JP1978147612U patent/JPS5824722Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51103463A (ja) * | 1975-03-10 | 1976-09-13 | Toyoda Machine Works Ltd | Anasokuteisochi |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5564703U (ja) | 1980-05-02 |
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