JPS58216963A - 光電圧計 - Google Patents

光電圧計

Info

Publication number
JPS58216963A
JPS58216963A JP57099818A JP9981882A JPS58216963A JP S58216963 A JPS58216963 A JP S58216963A JP 57099818 A JP57099818 A JP 57099818A JP 9981882 A JP9981882 A JP 9981882A JP S58216963 A JPS58216963 A JP S58216963A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
effect element
pockels effect
voltage
measured
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57099818A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Tsukada
敏秋 塚田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Yokogawa Hokushin Electric Corp
Yokogawa Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp, Yokogawa Hokushin Electric Corp, Yokogawa Electric Works Ltd filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP57099818A priority Critical patent/JPS58216963A/ja
Publication of JPS58216963A publication Critical patent/JPS58216963A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/241Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
    • G01R15/242Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption based on the Pockels effect, i.e. linear electro-optic effect
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/03Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on ceramics or electro-optical crystals, e.g. exhibiting Pockels effect or Kerr effect
    • G02F1/0327Operation of the cell; Circuit arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ポッケルス効果素子を用いた光電圧計に係り
、特に直流から高周波までの広帯域にわたる高電圧を測
定するのに好適な光電圧唱に関するものである。
ポッケルス効果素子を用いて構成される光電圧計の原理
図を第1図に示す。第1図において、10はポッケルス
効果素子、11.12はポッケルス効果素子10を介し
て互に対向して配置された電極、21゜22は被測定の
直流高電圧Exが印加される端子で、端子22は電極1
2と共に接地されている。31は固定電極で、測定端子
21に接続されている。被測定高電圧Exを端子21.
22間に印加すると、その高電圧Exにより電極31と
11間には空気コンデンサが形成される。第2図は第1
図の等価回路であるが、第2図において記号30はその
空気コンデンサを示すものである。被測定電圧Exはこ
の空気コンデンサ30によって分圧され、その分圧電圧
に対応して電極21.22間に生じる電界がポッケルス
効果素子10に垂直に印加される。第5図は第1図の機
構に用いられる光変調回路で、41けそのレーザ光源、
42は検光子、43は1/4人板、44は検光子、45
は受光器、46は指示計である。1/4人板43と検光
子44との間に第1図で示したポッケルス効果素子10
が配置されている。
このような構成の光電圧計の動作を簡単に説明すれば次
の如くなる。被測定電圧Exけ空気コンデンサ30で分
圧されて電極31.32の間に印加される。
一方、レーザ光源41からの光は検光子42を通過する
ことにより直線偏光となり、さらに1/4人板43を通
って円偏光となり、ポッケルス効果素子10に投入され
る。ポッケルス効果素子10には空気コンデンサ30に
よって分圧された被測定電圧Exに対応した電界が印加
されており、この素子を通過する光はこれに印加される
電界の強さおよび素子10の44に送り込まれる。検光
子44を通過した光の強さは被測定電圧Exに対応して
変化する。光検出器45によりこの通過光の強さは電気
信号に変換され、した元高電圧計は理論的には直流から
高周波に至る電圧の測定が可能であるが、直流電圧測定
の場(3) 合に実際上問題が生じる。すなわち、被測定端子21−
、22に印加した被測定の高電圧Exが直流の場合の第
1図の等価回路は前記した如く第2図で示される。第2
図において、30は空気コンデンサ、13はポッケルス
効果素子10の容量、14はポッケルス効果素子10の
リーケージ抵抗を示すものである。このような等価回路
で示される第1図の装置においては、空気コンデンサ3
0は絶縁抵抗が高いが、高電圧を測定する目的のために
ポッケルス効果素子10のリーケージ抵抗14で被測定
電圧Exの一部が消失し、その結果測定に誤差が生じる
からである。
本発明はこの点を改善して直流から高周波まで広帯域に
わたって高精度で高電圧測定ができるようにしたもので
、その実施例を第4図に示す。第4図において、第1図
と同一素子は第1図と同一符号を付してその再説明は省
略する。第4図において、31は分圧コンデンサ用電極
、51と52はポッケルス素子10の同一面上に固着さ
れた同じ大きさの一対のガード電極、81.62は交互
に切換えられるスイッチで、スイッチ61は電極51と
接地間を、(A 為 スイッチ62は電極52と接地間をそれぞれ接続する。
なお、第4図に用いられる光偏調回路は第3図のものと
同一回路構成のものが用いられ、また第4図装置の等価
回路は第2図と同一回路で示される。
このような構成の本発明の装置においては、既に述ぺた
如く、ポッケルス効果素子10の中を通る光は被測定電
圧ExK対応した電界強度と素子10の中を通る光の進
行路長に比例して変調される。ここて、スイッチ6:L
、 62を交互に駆動して電極51゜52を交互に接地
電位とすることにより、ポッケルス効果素子10に作用
する電気力線は第5図に示す如く交互に切換えられる。
この切換速度がjωC>>。
但L、R・・・ポッケルス素子10のリーケージ抵抗の
値。
C・・・ポッケルス効果素子10のキャパシタンス。
ω・・・スイッチ61.62の切換角速度となるように
スイッチ61.62の切換速度を選定す(4〕 抵抗14の影響は無くなり、被測定電圧源からみたイン
ピーダンスは交流でも直流でも変化しないものとなる。
すなわち、被測定電圧Exが直流であっても漏洩抵抗1
4に影響されることなくその値を測定することができる
。このようにして、本発明においては直流から高周波ま
で広範囲の被測定電圧Exを正確に測定することのでき
る光電圧計を得ることができる。
なお、上述した実施例では1つのポッケルス効果素子上
に2つの電極51.52を配置した場合を例示して説明
したが、第6図は2つのポッケルス効果素子10と10
1を直列に配置し、各ポッケルス効果素子10.10’
上に電極51.52をそれぞれ配置し、電極51.52
に接続されたスイッチ61.62を第(1)式で示した
如くの角速度で切換えるようにした本のぐいこのように
しても第4図と同一作用効果を有する光電圧計が得られ
る。なお、矢印は光の通過経路であるが、この第6図の
装置に用いられる光変調回路も第3図と同一回路が用い
られる。
第7図は本発明装置の他の実施例の構成説明図で、零位
法によってポッケルス効果素子10の感度変化に依存す
ることなく被測定電圧Exを測定できるようKしたもの
である。第7図において、第1図と同一素子は第1図と
同一符号を付してその再説明は省略する。第7図におい
て、70は増幅器、71はポッケルス効果素子10上に
配置された第3の電極である。増幅器70の一方の入力
端子には光検出器45の出力が与えられ、他方の入力端
子はコモンに接続されている。増幅器70の出力端は第
3の電極71に接続され、これにより帰還回路が構成さ
れている。
このような第7図の装置においてはスイッチ61゜62
を交互に切換えると第4図で説明した如く周波数特性が
改善される上に、増幅器71の出力が帰還されて零位法
に構成されている為にポッケルス効果素子10の感度変
化に依存しない装置を得ることができる。
以上説明したように、本発明によれば直流から高周波ま
で広い周波数帯域の高電圧を高精度で測定することので
きる光電圧計を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光電圧計の原理構成図、第2図は第1図の等何
回路、第3図は光変調回路、第4図は本発明の光電圧耐
の一実施例の構成図、第5図は第4図の動作波形図、第
6図および第7図は本発明の他の実施例の構成図である
。 10・・・ポッケルス効果素子、51.52・・・電極
、61゜62・・・切換スイッチ。 (l) 第11阿    盾Zl利 /θ    /2 (8) 第A帽 第 7 呵

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ポッケルス効果素子の同一平面上に配置された一対の電
    極と、この一対の電極を交互に接地電位に切換えるスイ
    ッチと、前記一対の電極を介して前記ポッケルス効果素
    子に被測定電圧に応じた電界を垂直に印加する手段と、
    前記ポッケルス効果素子を透過する光を前記電界強度に
    応じて変調する光変調回路とを具備し、前記ポッケルス
    効果素子のリーケージ抵抗Rとポッケルス効果素子のキ
    ャパスタンスCと前記スイッチの切換角速度ωとをjω
    c >−Lの関係に選定してなる光電圧計。
JP57099818A 1982-06-10 1982-06-10 光電圧計 Pending JPS58216963A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57099818A JPS58216963A (ja) 1982-06-10 1982-06-10 光電圧計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57099818A JPS58216963A (ja) 1982-06-10 1982-06-10 光電圧計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS58216963A true JPS58216963A (ja) 1983-12-16

Family

ID=14257415

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57099818A Pending JPS58216963A (ja) 1982-06-10 1982-06-10 光電圧計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58216963A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989012831A1 (en) * 1988-06-22 1989-12-28 Anritsu Corporation Electrooptical effect element and device for measuring electric signal waveforms using said element
JP2018091782A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 三菱電機株式会社 電圧測定装置および電圧測定方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1989012831A1 (en) * 1988-06-22 1989-12-28 Anritsu Corporation Electrooptical effect element and device for measuring electric signal waveforms using said element
US5012183A (en) * 1988-06-22 1991-04-30 Anritsu Corporation Electrooptic effect element and electrical signal waveform measuring apparatus using the same
JP2018091782A (ja) * 2016-12-06 2018-06-14 三菱電機株式会社 電圧測定装置および電圧測定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wunsch et al. Kerr cell measuring system for high voltage pulses
US3866117A (en) Method and means for measuring the phase angle between current and voltage
JPS58216963A (ja) 光電圧計
JP2986503B2 (ja) 光方式直流電圧変成器
JPH06109710A (ja) 液体の特性を測定するための弾性表面波装置
US3754186A (en) Power factor measuring cell arrangement
US3304530A (en) Circular hall effect device
RU2029965C1 (ru) Устройство для измерения диэлектрических потерь конденсаторных датчиков
RU94012519A (ru) Устройство для поверки высоковольтных измерительных трансформаторов напряжения
SU563633A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени скорости электропроводных тел
RU2025820C1 (ru) Измеритель интенсивности ионообразования
SU1597777A1 (ru) Устройство дл измерени тангенса угла диэлектрических потерь и определени относительной диэлектрической проницаемости
SU1534411A2 (ru) Устройство дл измерени амплитудно-частотных характеристик
US3312899A (en) Device for measuring the transconductance and output conductance of a transistor
JPS58169063A (ja) 直流高電圧測定装置
JPH09251036A (ja) 光電界センサ及びこれを用いた光計器用変圧器
SU1215032A1 (ru) Устройство дл измерени электрической проводимости жидкости
SU679895A1 (ru) Устройство дл измерени составл ющих комплексной проводимости двухполюсников
JP2921367B2 (ja) 光学式電圧測定器
SU494707A1 (ru) Способ измерени коэффициента нелинейности электропроводности полупроводника
SU1020785A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности статических и квазистатических электрических полей
SU789898A1 (ru) Устройство дл измерени нелинейности линейных двухполюсников
RU1805369C (ru) Способ индукционного измерени электропроводности жидкости и устройство дл его осуществлени
Anis High-Voltage Measurements
SU397833A1 (ru) В п т б