JPS5819849A - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置

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Publication number
JPS5819849A
JPS5819849A JP56119917A JP11991781A JPS5819849A JP S5819849 A JPS5819849 A JP S5819849A JP 56119917 A JP56119917 A JP 56119917A JP 11991781 A JP11991781 A JP 11991781A JP S5819849 A JPS5819849 A JP S5819849A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion
opening plate
mass
sensitivity
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56119917A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsunezo Takeda
武田　常蔵
Kouzou Miishi
御石　浩三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS5819849A publication Critical patent/JPS5819849A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34—Dynamic spectrometers
    • H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は四重種型質量分析装置に関する。四重種型質量
分析装置では四重極（以後Ｑ、Ｐと略記する）間を安定
軌道を採って通過した特定質量のイオンもＱＰの端部に
形成されている端縁電場を通過する際イオンビームの断
面が拡がシ、このことは四重種型質量分析装置の感度の
低下、マスディスクリミネーション（質量が高くなるに
つれ感度が低下する）、質量スペクトルのピークのプロ
フィルの幅の拡り、質量選別作用の低下等の悪影響を与
えている。本発明はＱＰの端縁電場の上述した悪影響を
軽減することを目的としてなされた。
ＱＰの端縁場がイオンに及ぼす影響の大きさはイオンが
端縁場を通過するのに要する時間に依存しておシ、この
時間が長い程端縁場から受ける影響が大きい。イオンが
端縁場に滞在している時間ｔは、端縁場の長さをＬ１イ
オンの質量をＭ、イオンの運動エネルギーをＥとすると で表わされる。（１）式によればイオンの運動エネルギ
ーが太きければイオンの端縁場内滞在時間が減少して端
縁場の影響が軽減されることが予想される。通常イオン
の運動エネルギーはイオンをＱＰ電場内に入射させると
きの加速電圧によって定まっている。本発明はＱＰのイ
オン出射側の端に設けられているイオンビーム制限用の
開口板とＱＰの電極端との間に４オンを加速する方向の
電場を形成するように上記開口板に適当な電圧を印加す
るようにした質量分析装置を提供するものである。
このようにすることによってＱＰ電場にイオンを入射さ
せる際与えた運動エネルギーの上にＱＰ電極端と開口板
との間の電場による運動エネルギーの増加分を加えるこ
とにより上記（１）式の右辺のＥを大ならしめ端縁場の
影響が軽減される。
←図は本発明の一実施例の要部を示し、Ｒ１、Ｒ２はＱ
Ｐ電極棒の中の一対を示し、Ｐは開口板でＡがイオンビ
ーム制限用の開口であり、ＦＣはイオン検出器である。
開口板Ｐは可変電圧電源Ｖに接続されている。特定質量
のイオンが図矢印方向に進行し開口Ａを通過してイオン
検出器ＦＣに入射する。正イオンを扱っている場合開口
板Ｐに負電圧を印加するとＱＰ電極間を通過したイオン
は開口板Ｐに吸引されるため加速されてＱＰの端縁場を
通過することになる。このため開口板Ｐの電圧をアース
から負側に高くして行くに従い端縁場の影響が減少しイ
オン検出出力が増加して行く。下表は開口板Ｐをアース
したときと負電圧を印加したときとの質量分析装置全体
としてのイオン透過率の変化を２種の正イオンについて
比較したものである。
ｍ：質量　２：電荷量（電子単位） 上表から見ると開口板にイオン加速電圧を与えることの
効果は質量の犬なるイオンにおいて特に顕著であり、全
体的な感度向上と共に質量による感度差を縮少する効果
も得られる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例装置の要部側面図である。 Ｒ１，Ｒ２・・・Ｑ、Ｐ電極棒、Ｐ・・・開口板、Ａ・
・・イオンビーム制限用開口、ＦＣ・・・イオン検出器
、■・・・可変電圧電源。 代理人　弁理士　　縣　　　浩　　介

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 四重種型質量分析装置において四重極のイオン出射側の
    端においてイオンビームを制限する開口板に任意電圧を
    印加できるようにした質量分析装置。
JP56119917A 1981-07-30 1981-07-30 質量分析装置 Pending JPS5819849A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007095702A (ja) * 1995-08-11 2007-04-12 Mds Health Group Ltd 軸電界を有する分析計

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007095702A (ja) * 1995-08-11 2007-04-12 Mds Health Group Ltd 軸電界を有する分析計
JP4511505B2 (ja) * 1995-08-11 2010-07-28 エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ 軸電界を有する分析計

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