JPS58196185A - 抵抗溶接用制御方法及び装置 - Google Patents

抵抗溶接用制御方法及び装置

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JPS58196185A
JPS58196185A JP7924682A JP7924682A JPS58196185A JP S58196185 A JPS58196185 A JP S58196185A JP 7924682 A JP7924682 A JP 7924682A JP 7924682 A JP7924682 A JP 7924682A JP S58196185 A JPS58196185 A JP S58196185A
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JP
Japan
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max
resistance
welding
nugget
voltage
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JP7924682A
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English (en)
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JPS622917B2 (ja
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Masahiro Kato
正弘 加藤
Katsuo Yoshimura
吉村 勝夫
Nobusuke Horikawa
堀川 円佐
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Dengensha Toa Co Ltd
Original Assignee
Dengensha Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K11/00Resistance welding; Severing by resistance heating
    • B23K11/24Electric supply or control circuits therefor
    • B23K11/25Monitoring devices
    • B23K11/252Monitoring devices using digital means
    • B23K11/256Monitoring devices using digital means the measured parameter being the inter-electrode electrical resistance

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Resistance Welding (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、スポット溶接等重ね抵抗溶接における溶接ナ
ゲツト制御のため電極チップ間抵抗又は電圧の評価方法
およびその装置に関するものである。
近年、スポット溶接等のナゲツト品質の監視ないしは制
御のために電極チップ間の溶接通電時における電圧降下
を測定し、ナゲツト生成に伴うチップ間電圧の変化、又
はその値を溶接電流で処理してチップ間抵抗の変化とし
て掴える方式が多数発表されている。
j蓼 これらチップ間抵抗又は電圧の変化の形態l第2図(−
)に示されるようになる。
即ち、溶接通電の極(初期においてチップ先端やワーク
間等の接触抵抗が消えると、ワーク(導鋼板が主体)の
温度上昇によりチップ間抵抗は増加する。次にワーク間
に溶接ナゲツトが生成するとその部分のワーク間抵抗が
減少するため、ナゲツトの生育に伴いチップ間抵抗は減
少し、曲線は局部的な最大値を持つことになる。
この局部的最大値、即ち第2図(a)の(イ)maxの
値と同曲線(イ)との間の抵抗(又は電圧)の差(a)
の値又は(a)を含む三角形の面積Σ((イ)max−
(イ))の値は前述した理由からナゲツトの面積と相関
があり、ナゲツト大きさの監視ないしは制御のパラメー
タとして実用されている。
、1・L しかし、ナゲツト面積との相関特収に関し、第2図(8
)の(a)の値、即ち(イ)max−(イ)の値をその
ま1ジツ ま使用すると不具合が生ずることが一明して来た。
それは、第2図(a)のパターンが得られる溶接条件の
もとて溶接電流値を除々に減少してゆくと、やがてい(
ら通電時間を延長しても溶接ナゲツトが生成しなくなる
状態が発生する。
これは溶接電流とワーク接触部抵抗とによるジュール発
熱量と水冷電極チップやワーク横方向への熱伝導放散量
とがバランスするためであることは古くから知られてい
る。
しかし、問題はこのときのチップ間抵抗(又は電圧)の
変化の状態である。第2図(b)はspc。
1、□mmtX2枚■ね状態におけるこの状態の特性曲
線を示す。
溶接電流が小さいため発生時期がおそ(、且つ第2図(
a)に比して変化量は小さくなるが、やはり局部的最大
値(ロ)maxが存在し、丁度小さなナゲツトが生成し
たのと類似したパターンを示している。
このときのワーク間接合部の様子は、spc板の場合は
白変部が発生し、強力な電極チップ間の加圧力のため仮
同志が軽く圧接された状態になっている。
即ち、ナゲツトは生成していないため、いわゆる溶接強
さはほとんどないが、電極チップ間の抵抗(又は電圧)
としては前述した局部的最大値以降通電時間と供に除々
に減少してゆ(特性をもっている。
第1図はスポット溶接のナゲツト部断面を示すが、適正
な溶接電流によりナゲツトが生成している状態において
も、その周辺のいわゆるコロナポンド部や更にその外周
部は電流密度が偏(なり前述した溶接強度には無効であ
るが、電極チップ間抵抗(又は電圧)の減少には影響を
与える部分が存在している。又、溶接電流が少ない条件
のもとでは、第2図(b)の(ロ)max−(ロ)の無
効分は第2図(a)の(イ)max −(イ)の制御量
に対し無視できない値となることは実験的に確かめられ
ている。
本発明はこのチップ間抵抗(又は電圧)減少分の評価に
関する欠点を教養し、ナゲツトの監視ないしは制御に関
する不合理性を一挙に解消する方式を提供するものであ
る。
第2図(C)は本発明の概念を示すもので、第2図(a
)ノ(()ma!−(()ニ含まれる第2図(b)(7
)to) ma x−io)の無効分を差引き、第2図
(C)の曲線(ロ)と(イ)の間の抵抗(又は電圧)の
偏差分又はその積分値等をナゲツト面積、即ち溶接強さ
に対する有効量として取扱うことを特長とした方式であ
る。
又、第3図は、本発明の一実施例を電気ブロック図とし
て示したもので、図の(イ)、(イ)max、(ロ)、
(ロ)max及び(a)、 (b)、 (C1等の符号
は第2図に示した符号と一致している。
溶接通電に対応したチップ間抵抗又は電圧(イ)はチッ
プ間抵抗(電圧)検出回路(1)により測定。
整形され、次段(イ)max*出嘩保出回保持回路によ
りその局部的最大値(イ)maxが検出されその値は保
持される。
一方、(イ)と同一条件で溶接ナゲツトが生成されない
状態での最大の溶接電流を流通したときのチップ間抵抗
又は電圧(ロ)は前もって測定記憶され、その(o)m
ax以降のパターンに相当する電圧信号は、第3図のパ
ターン電圧信号回路(3)により(イ)max検出と同
時に発信を開始する。
第3図の(イ1max−(イ)演算回路(4)と(ロ)
max−(ロ)演算回路(5)は時間的に全く同期して
、夫々の通電時間に対応した(イ)max−(イ)及び
(口1max−(ロ)を演算し、夫々函数電圧(a)及
び(b)として次段(a)−(b)演算回路(6)のf
c) −(a)−(b)演算器に入力を与える。
この演算結果(C)はナゲツト面積生育に関する有効量
として次段の溶接ナゲツト制御部(7)に供給される。
この制御は、例えば(イ)maxの値に対する(C)の
値の割合いが所定の一定値になるように通電時間を調節
したり、或いは第2図(C)における(イ)max、(
ロ)および(イ)が形作る三角形に似た部分の面積が所
定の一定値になるように通電時間を調節したりして所定
の溶接強さを持ったナゲツトの生成を制御することにな
る。
本発明の制御方法又は制御装置を採用することにより、
従来の偏差量(イ)max−(イ)、又はその積分値Σ
((イ)max=(イ))等無効分を含んだ電極チップ
間り 抵抗、又は電圧の変化を測定量とする誤差のない制御に
代り、真にナゲツトの生育に関係のある有効分のみを取
扱うことになり、高い精度の適応制御を実現することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、スポット溶接のナゲツト部断面、第2図は、
チップ間抵抗(又は電圧)の変化を示すグラフ、第3図
は本発明の実施例を示す電気ブロック図である。 (1)・−・チップ間抵抗(電圧)検出回路(2)・・
・(イ1max検出保持回路(3)・・・パターン電圧
信号回路 (4)・・・(イ)max−(イ)演算回路(5)−(
ol+nax −(ol演J1回路(6)・・・(al
−(bl演算回路 (7)・・・溶接ナゲツト制御部 発明者 加 藤 正 弘(外二名)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 通常の溶接通電を行った状態で通電時間に対する電
    極チップ間の抵抗(又は電圧)の変化曲線を測定し、該
    曲線の局部的最大値からの減少量を溶接ナゲツトの制御
    パラメータとして使用するに際し、同一条件で、溶接ナ
    ゲツトが生成されない範囲内での最大溶接電流を流通し
    た状態で同様の電極チップ間の抵抗(又は電圧)の変化
    曲線をあらかじめ測定しておき、両曲線の局部的最大値
    を重ね合せた状態にて両曲線の抵抗値(又は電圧炉)に
    関する差分をもって上記局部的最大値からの減少量とし
    て規定することを特徴とした重ね抵抗溶接におけるナゲ
    ツトの制御方法。 2 溶接通電に対応する電極チップ間の抵抗(又は電圧
    )の変化曲線(イ)を検出するための測定回路、および
    その局部的最大値(イ)max、を検出し、その値を保
    持する回路、前記(イ)と同一条件で、溶接ナゲツトが
    生成されない範囲内での最大溶接電流を流通した状態に
    おける該電極チップ間の抵抗(又は電圧)の変化曲線の
    うち、その局部的最大値(ロ)maw、以降のパターン
    と同等の函数電圧信号(ロ)の発信回路とを備え、変化
    曲線(イ)が局部的最大値(イ)max点に到達すると
    同時に、通電時間に対応して fa)−(イ)max −(イ) (b) −f口1max −(ロ) (C) −fa)−(b) を遂次演算し、この(C)をもって電極チップ間の抵抗
    (又は電圧)における局部的最大値からの減少量として
    取扱うことを特徴とした重ね抵抗溶接におけるナゲツト
    の制御装置。
JP7924682A 1982-05-13 1982-05-13 抵抗溶接用制御方法及び装置 Granted JPS58196185A (ja)

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JPS58196185A true JPS58196185A (ja) 1983-11-15
JPS622917B2 JPS622917B2 (ja) 1987-01-22

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6171189A (ja) * 1984-09-14 1986-04-12 Kanto Jidosha Kogyo Kk スポツト溶接による溶接部のモニタ方法
JPS6213277A (ja) * 1985-07-09 1987-01-22 Dengensha Mfg Co Ltd スポツト溶接におけるワ−ク板厚異常監視方法
JPS6457989A (en) * 1987-08-28 1989-03-06 Kinzoku Gijutsu Kenkyusho Kk Method for controlling electric resistance welding of metal

Cited By (4)

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JPH0372389B2 (ja) * 1987-08-28 1991-11-18 Kinzoku Gijutsu Kenkyusho Jugen

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Publication number Publication date
JPS622917B2 (ja) 1987-01-22

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