JPS58191084A - 図形認識装置 - Google Patents
図形認識装置Info
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- JPS58191084A JPS58191084A JP57073334A JP7333482A JPS58191084A JP S58191084 A JPS58191084 A JP S58191084A JP 57073334 A JP57073334 A JP 57073334A JP 7333482 A JP7333482 A JP 7333482A JP S58191084 A JPS58191084 A JP S58191084A
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- G—PHYSICS
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- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
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- G06V10/24—Aligning, centring, orientation detection or correction of the image
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は図形認識装置、特に孤立図形の中心点座標の検
出に関するものである。本発明は印鑑の自動照合におけ
る印影の中心点座標の検出に応用することが出来る。
出に関するものである。本発明は印鑑の自動照合におけ
る印影の中心点座標の検出に応用することが出来る。
（背景技術）
従来、図形の中心点座標の検出は、第１図（Ａｌに示し
た如（２値化図形パターンをＸ軸方向を主走査方向、Ｙ
軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行ない各
主走査線上に存在する２値化図形パターンの黒点（論理
「１」の点）のうちＸ座標値が最小である黒点のＸ座標
値Ｘ８１〜Ｘｓｎと、最大である黒点のＸ座標値ＸＥ□
〜ＸＥｎを検出してゆき、図形パターン全域の副走査が
完了した後、Ｘ座標値Ｘ８□〜Ｘ８ｎの最小値をＸ６と
し、Ｘ座標値ＸＥＩ〜ＸＥｎの最大値をＸＥとする。次
いで第１図（Ｂ）に示した如（、Ｙ軸方向を主走査方向
、Ｘ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行な
って、前記と同様な操作により最小Ｘ座標値Ｙｓと最大
Ｙ座標値ＹＥとを得る。
た如（２値化図形パターンをＸ軸方向を主走査方向、Ｙ
軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行ない各
主走査線上に存在する２値化図形パターンの黒点（論理
「１」の点）のうちＸ座標値が最小である黒点のＸ座標
値Ｘ８１〜Ｘｓｎと、最大である黒点のＸ座標値ＸＥ□
〜ＸＥｎを検出してゆき、図形パターン全域の副走査が
完了した後、Ｘ座標値Ｘ８□〜Ｘ８ｎの最小値をＸ６と
し、Ｘ座標値ＸＥＩ〜ＸＥｎの最大値をＸＥとする。次
いで第１図（Ｂ）に示した如（、Ｙ軸方向を主走査方向
、Ｘ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行な
って、前記と同様な操作により最小Ｘ座標値Ｙｓと最大
Ｙ座標値ＹＥとを得る。
次いでＸＯ−（Ｘ３ ＋ＸＥ ）／２ ｔ ｙｏ＝ （
ＹＳ ＋ ＹＥ）／２を計算することにより、中心点座
標ｃ（ｘｏ、、ｙｏ）を得ていた。この中心点座標の検
出方法は、図形パターンにカスレや輪郭線外部のノイズ
点がない場合には、簡略な処理にて正確な中心点座標を
検出しうるのであるが、第１図（Ｃ）や第１図（Ｄ）の
如く、図形パターンにカスレや輪郭線外部のノイズ点（
いわゆるヨゴレ）があると、その影響が顕著に中心点座
標の検出誤差として反映されてしまうという欠点があっ
た〔以後この方法を枠中上法と略称する〕。
ＹＳ ＋ ＹＥ）／２を計算することにより、中心点座
標ｃ（ｘｏ、、ｙｏ）を得ていた。この中心点座標の検
出方法は、図形パターンにカスレや輪郭線外部のノイズ
点がない場合には、簡略な処理にて正確な中心点座標を
検出しうるのであるが、第１図（Ｃ）や第１図（Ｄ）の
如く、図形パターンにカスレや輪郭線外部のノイズ点（
いわゆるヨゴレ）があると、その影響が顕著に中心点座
標の検出誤差として反映されてしまうという欠点があっ
た〔以後この方法を枠中上法と略称する〕。
また他の従来例として、図形パターンの全黒点の重心を
中心点座標とする方法がある。すなわち、第２図（Ａ）
に示す如くＸ座標がｉ、Ｘ座標が」（但し’＋Ｊは整数
）なる点をＰｉｊとし、Ｐｌｊが黒点のときＩＰ、；ｌ
＝１と定義し、Ｐｉｊが白点（論理「０」の点）のとき
ＩＰ、、ｌ＝０ と定義すると、中心点Ｇ（Ｘｏ、Ｙｏ
）は にて算出することができる。なお、ここでｍおよ ２０
びｎはそれぞれＹ軸およびＹ軸の図形パターンの存在を
許容する領域の最外殻座標である。この中心点座標の検
出方法は、第１図（Ｄ）の婬（、図形パターンに輪郭線
外部のノイズ点があっても、その影響は非常に薄められ
るた腔、枠中上法よりも検出精度が高いが、第２図（Ｂ
）の如く、印影パターンの場合など内部文字の画数など
の複雑さが均等でないと、検出中心点座標Ｃ（Ｘｏ、Ｙ
ｏ）が真の中心点よりも複雑な文字の方へ変位してしま
い検出精度が低下する。また、例えばテンプレート書き
図形の場合でも、第２図（Ｃ）の如（、線の太さにムラ
があると、検出中心点座標Ｃ（Ｘｏ＋ Ｙｏ ）は真の
中心亦まりも太線の方に変位してしまい検出精度が低下
するという欠点があった〔以後この方法を重心法と略称
する〕。
中心点座標とする方法がある。すなわち、第２図（Ａ）
に示す如くＸ座標がｉ、Ｘ座標が」（但し’＋Ｊは整数
）なる点をＰｉｊとし、Ｐｌｊが黒点のときＩＰ、；ｌ
＝１と定義し、Ｐｉｊが白点（論理「０」の点）のとき
ＩＰ、、ｌ＝０ と定義すると、中心点Ｇ（Ｘｏ、Ｙｏ
）は にて算出することができる。なお、ここでｍおよ ２０
びｎはそれぞれＹ軸およびＹ軸の図形パターンの存在を
許容する領域の最外殻座標である。この中心点座標の検
出方法は、第１図（Ｄ）の婬（、図形パターンに輪郭線
外部のノイズ点があっても、その影響は非常に薄められ
るた腔、枠中上法よりも検出精度が高いが、第２図（Ｂ
）の如く、印影パターンの場合など内部文字の画数など
の複雑さが均等でないと、検出中心点座標Ｃ（Ｘｏ、Ｙ
ｏ）が真の中心点よりも複雑な文字の方へ変位してしま
い検出精度が低下する。また、例えばテンプレート書き
図形の場合でも、第２図（Ｃ）の如（、線の太さにムラ
があると、検出中心点座標Ｃ（Ｘｏ＋ Ｙｏ ）は真の
中心亦まりも太線の方に変位してしまい検出精度が低下
するという欠点があった〔以後この方法を重心法と略称
する〕。
とａ ７）で、孤立図形パターンの中心点座標を正確に
検出することは、例えば登録印、影パターンと被照合印
影パターンとの位置整合を行なった後、両印影パターン
の一致照合を調べる印鑑照合用図形認識装置など、多（
の図形認識装置において不ロ丁欠な事項である。
検出することは、例えば登録印、影パターンと被照合印
影パターンとの位置整合を行なった後、両印影パターン
の一致照合を調べる印鑑照合用図形認識装置など、多（
の図形認識装置において不ロ丁欠な事項である。
（発明の課題）
本発明の目的はこれらの欠点を除去するため、外部ノイ
ズによる悪影響を低減するために重心法の考え方をとる
が、内部文字などの内部パターンの影響を受けないよう
にするため、重みづけによる塗りつぶしを施した図形パ
ターンの重心を中心点とする大うにしたものであり、そ
の特徴は、図ノｔ”ｚパターンをラスタースキャン方式
で読みとり、各座標の黒点及び白点に対応して２値電気
信号を与える読取部と、読取部により読取られた図形の
内部を塗りつぶす塗りつぶしパターン作成部と、塗りつ
ぶされたパターンの重みづけされた各点の重心座標を当
該図形パターンの中心点座標とする中心点座標検出部と
を有し、前記塗りつぶしパターン作成部は； （条件１）：Ｘ座標が着目点と等しいＹｊであり、Ｘ座
標がＸｉ以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつＸ座標が着目点と等しいＹ、であり、Ｘ座標がＸ
１以上の値を有する図形パターンの黒点が存在すること
； （条件２）；Ｘ座標が着目点と等しいＸｌであり、Ｘ座
標がＹｊ以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつ、Ｘ座標が着目点と等しいＸｉでありＸ座標がＹ
ｊ以上の値を有する図形パターンの黒点が存在すること
； ０２条件に従って、図形パターンが存在することを許容
する領域内の各着目点（Ｘｉ ＋ Ｙｊ ）を周囲の図
形パターン状況に応じて； （１）条件１を満足しかつ条件２を満足する着目点； （２）条件１あるいは条件２のいずれかを満足する着目
点； （３）条件１を満足せずかつ条件２を満足しない着目点
； ０３種類に分類し、前記中心点座標検出部における重み
づげが分類された着目点の種類毎に行なわれるごとき図
形認識装置にある。
ズによる悪影響を低減するために重心法の考え方をとる
が、内部文字などの内部パターンの影響を受けないよう
にするため、重みづけによる塗りつぶしを施した図形パ
ターンの重心を中心点とする大うにしたものであり、そ
の特徴は、図ノｔ”ｚパターンをラスタースキャン方式
で読みとり、各座標の黒点及び白点に対応して２値電気
信号を与える読取部と、読取部により読取られた図形の
内部を塗りつぶす塗りつぶしパターン作成部と、塗りつ
ぶされたパターンの重みづけされた各点の重心座標を当
該図形パターンの中心点座標とする中心点座標検出部と
を有し、前記塗りつぶしパターン作成部は； （条件１）：Ｘ座標が着目点と等しいＹｊであり、Ｘ座
標がＸｉ以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつＸ座標が着目点と等しいＹ、であり、Ｘ座標がＸ
１以上の値を有する図形パターンの黒点が存在すること
； （条件２）；Ｘ座標が着目点と等しいＸｌであり、Ｘ座
標がＹｊ以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつ、Ｘ座標が着目点と等しいＸｉでありＸ座標がＹ
ｊ以上の値を有する図形パターンの黒点が存在すること
； ０２条件に従って、図形パターンが存在することを許容
する領域内の各着目点（Ｘｉ ＋ Ｙｊ ）を周囲の図
形パターン状況に応じて； （１）条件１を満足しかつ条件２を満足する着目点； （２）条件１あるいは条件２のいずれかを満足する着目
点； （３）条件１を満足せずかつ条件２を満足しない着目点
； ０３種類に分類し、前記中心点座標検出部における重み
づげが分類された着目点の種類毎に行なわれるごとき図
形認識装置にある。
（発明の構成および作用）
第３図は本発明の第１の実施例であって、読取りつぶし
パターン作成部Ｉにおいて外枠内部の塗りつぶしを施し
た後、中心点座標検出部４０で塗りつぶしパターンの重
心を算出することにより中心点座標を検出するものであ
る。
パターン作成部Ｉにおいて外枠内部の塗りつぶしを施し
た後、中心点座標検出部４０で塗りつぶしパターンの重
心を算出することにより中心点座標を検出するものであ
る。
第４図を用いて、塗りつぶしパターン作成部３０につき
説明する。
説明する。
第４図（Ａ）に図示した如（、Ｘ座標がＸｉでＸ座標が
Ｙｊである点をＰ（Ｘ、、Ｙｊ）とし、点Ｐ（Ｘｌ、Ｙ
ｊ）の値をｖ＝ＩＰ（Ｘｌ、ＹＪ刈と定義する。なお第
４図は、説明の便宜上本来黒点で埋めつ（されているは
ずの図形パターンを輪郭線のみで表示したり、また主走
査間隔や副走査間隔を実際よりも極端に荒く表示したり
している。
Ｙｊである点をＰ（Ｘ、、Ｙｊ）とし、点Ｐ（Ｘｌ、Ｙ
ｊ）の値をｖ＝ＩＰ（Ｘｌ、ＹＪ刈と定義する。なお第
４図は、説明の便宜上本来黒点で埋めつ（されているは
ずの図形パターンを輪郭線のみで表示したり、また主走
査間隔や副走査間隔を実際よりも極端に荒く表示したり
している。
黒点の値が１、白点の値がＯなる２値化図形パターン２
０を、第４図（Ｂ）に図示した如（、Ｘ軸方向を主走査
方向、Ｙ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを
行ない、各主走査毎に、該主走査線上に存在する黒点の
うちＸ座標が最小である黒点のＸ座標値Ｘｓと、最大で
ある黒点のＸ座標値ＸＥを検出し、該主走査線上のＸ５
−Ｘ８間の全点の値に例えば２を加える操作を行なう。
０を、第４図（Ｂ）に図示した如（、Ｘ軸方向を主走査
方向、Ｙ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを
行ない、各主走査毎に、該主走査線上に存在する黒点の
うちＸ座標が最小である黒点のＸ座標値Ｘｓと、最大で
ある黒点のＸ座標値ＸＥを検出し、該主走査線上のＸ５
−Ｘ８間の全点の値に例えば２を加える操作を行なう。
例えば主走査線ｌの場合、ＩＰ（Ｘ８．Ｙハｌ＋？ｌＰ
（Ｘｇ、Ｙ、） １〜ｌ Ｐ（ＸＥ−ＹＪ） ｌ＋２→
ｌ Ｐ （ＸＥ、ＹＪ） Ｉを行なうから、各点の値を
図に示すと第４図（Ｂ）の如くなる。このような処理を
、副走査方向の全域すなわちｎ＝１〜ｎまで行なってＸ
軸方向の塗りつぶしを終了する。
（Ｘｇ、Ｙ、） １〜ｌ Ｐ（ＸＥ−ＹＪ） ｌ＋２→
ｌ Ｐ （ＸＥ、ＹＪ） Ｉを行なうから、各点の値を
図に示すと第４図（Ｂ）の如くなる。このような処理を
、副走査方向の全域すなわちｎ＝１〜ｎまで行なってＸ
軸方向の塗りつぶしを終了する。
次いで、Ｘ軸方向の塗りつぶしを終えた図形パターンを
、第４図（Ｃ）に図示した如（、Ｙ軸方向を主走査方向
、Ｘ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行な
い、各主走査毎に、該主走査線上に存在する値が３であ
る点（２値化図形パターンにおける黒点は、値が必らず
３に書きかえられており、２値化図形パターンにおいて
は白点だったのに、Ｘ軸方向の塗りつぶしによって新規
に黒点になった点は値が必らず２である）のうちＸ座標
が最小である点のＹ座標値ＹＳと、最大である点のＹ座
標値ＹＥを検出し、該主走査線上のＹｓ−ＹＥ間の全点
の値に例えば４を加える操作を行なう。
、第４図（Ｃ）に図示した如（、Ｙ軸方向を主走査方向
、Ｘ軸方向を副走査方向とするラスタースキャンを行な
い、各主走査毎に、該主走査線上に存在する値が３であ
る点（２値化図形パターンにおける黒点は、値が必らず
３に書きかえられており、２値化図形パターンにおいて
は白点だったのに、Ｘ軸方向の塗りつぶしによって新規
に黒点になった点は値が必らず２である）のうちＸ座標
が最小である点のＹ座標値ＹＳと、最大である点のＹ座
標値ＹＥを検出し、該主走査線上のＹｓ−ＹＥ間の全点
の値に例えば４を加える操作を行なう。
例えば、主走査線にの場合、ＩＰ（Ｘｋ、Ｙｓ）ｌ−ｚ
−ＩＰ（Ｘｋ、 Ｙｓ）ｌ〜ＩＰ（Ｘｋ、Ｙｒ、）ｌ
＋４−＋１Ｐ（ｘｋ、 ＹＥＮを行なうから各点の値を
図に示すと、第４図（Ｃ）の如（なる。このような処理
を、副走査方向の全域すなわちに一１〜ｍ まで行なっ
てＸ−Ｙ両軸方向の塗りつぶしを完了する。
−ＩＰ（Ｘｋ、 Ｙｓ）ｌ〜ＩＰ（Ｘｋ、Ｙｒ、）ｌ
＋４−＋１Ｐ（ｘｋ、 ＹＥＮを行なうから各点の値を
図に示すと、第４図（Ｃ）の如（なる。このような処理
を、副走査方向の全域すなわちに一１〜ｍ まで行なっ
てＸ−Ｙ両軸方向の塗りつぶしを完了する。
こうして得られた塗りつぶしパターンの一例を、第４図
ＦＤＩに図示する。なお第４図（ＤＪにおいて゛十″の
ように描かれている点（例えばＱやＲ）はＸ−Ｙ両軸方
向とも塗りつぶされた点であり、その値は７あるいは６
であり、２値化図形パターンにおいて黒点だった点が７
（例えばＱ）で、２値化図形パターンにおいて白点だっ
た点が６（例えばＲ）となっている。−”のように描か
れている点（第４図（ＤＪにおいては該光点なし）はＸ
軸方向のみ塗りつぶされた点であり、その値は２となっ
ている。
ＦＤＩに図示する。なお第４図（ＤＪにおいて゛十″の
ように描かれている点（例えばＱやＲ）はＸ−Ｙ両軸方
向とも塗りつぶされた点であり、その値は７あるいは６
であり、２値化図形パターンにおいて黒点だった点が７
（例えばＱ）で、２値化図形パターンにおいて白点だっ
た点が６（例えばＲ）となっている。−”のように描か
れている点（第４図（ＤＪにおいては該光点なし）はＸ
軸方向のみ塗りつぶされた点であり、その値は２となっ
ている。
ＩＩＩＩ＋のように描かれている点（例えばＴ）は、Ｙ
軸方向のみ塗りつぶされた点であり、その値は４となっ
ている。
軸方向のみ塗りつぶされた点であり、その値は４となっ
ている。
こうして得られた鎚りつぶしパターンの重心を中心点座
標検出部４０において算出し、それを中心点座標とする
わけである。重心の算出は、従来例の重心法と同様に塗
りつぶしパターンの黒点（塗りつぶし後の値が１以上の
点）のすべてにつき、その点の値を一律に「１」とみな
して単純に重心を算出してもよいが、図形パターンにカ
スレヤ輪郭線外部のノイズ点がある場合にもその影響を
なるべ（薄めることが出来るようにするため、実験的に
次のような重みをつける方が望ましいことが確認された
。すなわち点ｐ（ｘ、、ｙｊ）がＸ、Ｙ両軸方向に塗り
つぶされた点すなわち、ＩＰ（Ｘ、、、 Ｙ、）ｌ＝
７あるいは６である点はＩＰ（Ｘｔ−Ｙｊ）１＝２とし
、点Ｐ（Ｘ、１Ｙｊ）がＸ軸方向のみあるいはＹ軸方向
のみ塗りつぶされた点、すなわちＩＰ（Ｘ、、Ｙｊ］
＝４あるいは２である点はＩＰ（Ｘ、、Ｙｊ］ ＝１
とし、点Ｐ（Ｘ、 、 Ｙｊ）がＸ−Ｙ両軸方向とも塗
りつぶされていない点、すなわちＩＰ（Ｘ、、ｙ、）１
＝０である点は、そのままＩＰ（Ｘｔ、 Ｙｊ］ −＝
Ｏにしておくという重み付けをした上で、塗りつぶし
パターンの重心すなわち中心点Ｃｐ （Ｘ（）ｒ Ｙｏ
）を以下余白 によって算出する方法である。
標検出部４０において算出し、それを中心点座標とする
わけである。重心の算出は、従来例の重心法と同様に塗
りつぶしパターンの黒点（塗りつぶし後の値が１以上の
点）のすべてにつき、その点の値を一律に「１」とみな
して単純に重心を算出してもよいが、図形パターンにカ
スレヤ輪郭線外部のノイズ点がある場合にもその影響を
なるべ（薄めることが出来るようにするため、実験的に
次のような重みをつける方が望ましいことが確認された
。すなわち点ｐ（ｘ、、ｙｊ）がＸ、Ｙ両軸方向に塗り
つぶされた点すなわち、ＩＰ（Ｘ、、、 Ｙ、）ｌ＝
７あるいは６である点はＩＰ（Ｘｔ−Ｙｊ）１＝２とし
、点Ｐ（Ｘ、１Ｙｊ）がＸ軸方向のみあるいはＹ軸方向
のみ塗りつぶされた点、すなわちＩＰ（Ｘ、、Ｙｊ］
＝４あるいは２である点はＩＰ（Ｘ、、Ｙｊ］ ＝１
とし、点Ｐ（Ｘ、 、 Ｙｊ）がＸ−Ｙ両軸方向とも塗
りつぶされていない点、すなわちＩＰ（Ｘ、、ｙ、）１
＝０である点は、そのままＩＰ（Ｘｔ、 Ｙｊ］ −＝
Ｏにしておくという重み付けをした上で、塗りつぶし
パターンの重心すなわち中心点Ｃｐ （Ｘ（）ｒ Ｙｏ
）を以下余白 によって算出する方法である。
以上説明したように、第１の実施例では、重心算出とい
う考え方で中心点座標を検出するため、第１図（Ｃ）あ
るいは第１図（Ｄ＋の如（、図形パターンにカスレや輪
郭線外部のノイズ点があっても、枠中公法のようにその
影響が中心点検出誤差にいきなり反映することはなく（
枠中公法の場合は、座体値の誤差がΔｄであれば、中心
点の検出誤差は一般にΔｄ／２である）、多数の黒点の
うち一部分の黒点という反映の仕方しかしない。その上
、従来の重心法よりも、重心点算出のための対象となる
黒点数が塗りつぶしにより増加しているから一般にその
影響の度合がより低下する方向にあり、枠中公法よりも
優れていることは勿論、重心法よりも精度の高い中心点
検出を行なうことができる。
う考え方で中心点座標を検出するため、第１図（Ｃ）あ
るいは第１図（Ｄ＋の如（、図形パターンにカスレや輪
郭線外部のノイズ点があっても、枠中公法のようにその
影響が中心点検出誤差にいきなり反映することはなく（
枠中公法の場合は、座体値の誤差がΔｄであれば、中心
点の検出誤差は一般にΔｄ／２である）、多数の黒点の
うち一部分の黒点という反映の仕方しかしない。その上
、従来の重心法よりも、重心点算出のための対象となる
黒点数が塗りつぶしにより増加しているから一般にその
影響の度合がより低下する方向にあり、枠中公法よりも
優れていることは勿論、重心法よりも精度の高い中心点
検出を行なうことができる。
また、従来の重心法の欠点であった、第２図（Ｂｌある
いは第２図（Ｃ）の如く印影パターンの内部文字の複雑
さにムラがあったり、テンプレート書き図形の線の太さ
にムラがあったりする図形パターンの場合でも、内部を
塗りつぶしてしまうことにより、内部パターンの状況が
中心点検出に対して及ぼす影響を極端に薄めてしまうた
めほとんど影響を受けることなく、精度の高い中心点検
出を行なうことができる。
いは第２図（Ｃ）の如く印影パターンの内部文字の複雑
さにムラがあったり、テンプレート書き図形の線の太さ
にムラがあったりする図形パターンの場合でも、内部を
塗りつぶしてしまうことにより、内部パターンの状況が
中心点検出に対して及ぼす影響を極端に薄めてしまうた
めほとんど影響を受けることなく、精度の高い中心点検
出を行なうことができる。
第１の実施例は、図形パターン２０として２値化した図
形パターンを用いて説明したが、図形パターン加として
は多値パターンを用い、塗りつぶしを行なう直前に２値
化することも可能であるし、また多値パターンのままで
塗りつぶしや中心点座標検出を行なうことも可能である
。すなわち多値パターンがＮ値である場合、例えばＸ軸
方向の塗りつぶしの際に点の値として加算する一定値を
第１の実施例では２としていたが、Ｎ ＋１以上の値と
しておけば元々の多値情報は保存したままで塗りつぶし
を行なえるわけであるから、このような配慮を施しつつ
Ｘ、Ｙ両軸方向の塗りつぶしパターンを作成し、多値情
報を利用した重みっけした重心を算出し、該重心を中心
点座標とすることもできろ。
形パターンを用いて説明したが、図形パターン加として
は多値パターンを用い、塗りつぶしを行なう直前に２値
化することも可能であるし、また多値パターンのままで
塗りつぶしや中心点座標検出を行なうことも可能である
。すなわち多値パターンがＮ値である場合、例えばＸ軸
方向の塗りつぶしの際に点の値として加算する一定値を
第１の実施例では２としていたが、Ｎ ＋１以上の値と
しておけば元々の多値情報は保存したままで塗りつぶし
を行なえるわけであるから、このような配慮を施しつつ
Ｘ、Ｙ両軸方向の塗りつぶしパターンを作成し、多値情
報を利用した重みっけした重心を算出し、該重心を中心
点座標とすることもできろ。
（発明の効果）
本発明は図形パターンを塗りつぶした後に重心？求める
ことにより、図形パターンの中心点を検出′ｆるから印
影パターンや図形パターンのカスレ・ヨゴレおよび内部
パターンのムラなどに起因する検出誤差が極めて低減す
るため、精度の高い中心点座標の検出が可能であり、図
形認識装置特に照合時の位置整合に高精度を要求する印
鑑照合用図形認識装置などに利用することができる。
ことにより、図形パターンの中心点を検出′ｆるから印
影パターンや図形パターンのカスレ・ヨゴレおよび内部
パターンのムラなどに起因する検出誤差が極めて低減す
るため、精度の高い中心点座標の検出が可能であり、図
形認識装置特に照合時の位置整合に高精度を要求する印
鑑照合用図形認識装置などに利用することができる。
第１図（ＡＪ〜（Ｄ）は従来の図形認識装置である枠中
公法の説明図、第２図（Ａ）〜（Ｃ１は従来の図形認識
装置である重心法の説明図、第３図は本発明の一実施例
のブロック図、第４図（Ａ）〜ＣＤ＋は本発明の一実施
例における塗りつぶしパターン作成部の説明図である。 １０・・・読取部 ２０・・・図形パターン ３０・・・塗りつぶしパターン作成部 ４０・・・中心点座標検出部 特許出願人 沖電気工業株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 − 秦１図 （Ａ） （ε）（Ｃ）
ω′ 、Ｘ５ １１／７１ Ｘ Ｙｓ Ｘａｔｌ
Ｊイパで１：で１ Ｙ。 ２Ｌ２図 （ＩＯ’Ｂ） （Ｃ） 亀３図
公法の説明図、第２図（Ａ）〜（Ｃ１は従来の図形認識
装置である重心法の説明図、第３図は本発明の一実施例
のブロック図、第４図（Ａ）〜ＣＤ＋は本発明の一実施
例における塗りつぶしパターン作成部の説明図である。 １０・・・読取部 ２０・・・図形パターン ３０・・・塗りつぶしパターン作成部 ４０・・・中心点座標検出部 特許出願人 沖電気工業株式会社 特許出願代理人 弁理士 山 本 恵 − 秦１図 （Ａ） （ε）（Ｃ）
ω′ 、Ｘ５ １１／７１ Ｘ Ｙｓ Ｘａｔｌ
Ｊイパで１：で１ Ｙ。 ２Ｌ２図 （ＩＯ’Ｂ） （Ｃ） 亀３図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 図形パターンをラスタースキャン方式で読みとり、各座
標の黒点及び白点に対応して２値電気信号を与える読取
部と、読取部により読取られた図形の内部を塗りつぶす
塗りつぶしパターン作成部と、塗りつぶされたパターン
の重み付けされた各点の重心座標を当該図形パターンの
中心点座標とする中心点座標検出部とを有し、前記塗り
つぶしパターン作成部は； （条件１）；Ｘ座標が着目点と等しいＹｊであり、Ｘ座
標がＸ１以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつＸ座標が着目点と等しいＹ、であり、Ｘ座標がＸ
１以上の値を有する図形パターンの黒点が存在するとと
； （条件２）；Ｘ座標が着目点と等しいＸｉであり、Ｘ座
標がＹｊ以下の値を有する図形パターンの黒点が存在し
、かつ、Ｘ座標が着目点と等しいＸｉでありＸ座標がＹ
ｊ以上の値を有する図形パターンの黒点が存在すること
； の２条件に従って、図形パターンが存在ｊろことを許容
ｆる領域内の各着目点（Ｘｉ ＋ Ｙ３ ）を周囲の図
形パターン状況に応じて； （１）条件１を満足しかつ条件２を満足する着目点； （２）条件１あるいは条件２のいずれかを満足する着目
点； （３）条件１を満足せずかつ条件２を満足しない着目点
； ０３種類に分類し、前記中心点座標検出部における重み
づけが分類された着目点の種類毎に行なわれることを特
徴とする図形認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57073334A JPS58191084A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 図形認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57073334A JPS58191084A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 図形認識装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58191084A true JPS58191084A (ja) | 1983-11-08 |
| JPH0122666B2 JPH0122666B2 (ja) | 1989-04-27 |
Family
ID=13515162
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57073334A Granted JPS58191084A (ja) | 1982-05-04 | 1982-05-04 | 図形認識装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58191084A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120179A (ja) * | 1984-07-05 | 1986-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 二次元視覚認識装置 |
| JPS6121578A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 二次元視覚認識装置 |
-
1982
- 1982-05-04 JP JP57073334A patent/JPS58191084A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120179A (ja) * | 1984-07-05 | 1986-01-28 | Omron Tateisi Electronics Co | 二次元視覚認識装置 |
| JPS6121578A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-30 | Omron Tateisi Electronics Co | 二次元視覚認識装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0122666B2 (ja) | 1989-04-27 |
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