JPS58189525A - スピ−カの検査装置 - Google Patents
スピ−カの検査装置Info
- Publication number
- JPS58189525A JPS58189525A JP57072276A JP7227682A JPS58189525A JP S58189525 A JPS58189525 A JP S58189525A JP 57072276 A JP57072276 A JP 57072276A JP 7227682 A JP7227682 A JP 7227682A JP S58189525 A JPS58189525 A JP S58189525A
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- Japan
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- speaker
- loudspeaker
- signal
- pressure level
- frequency
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H3/00—Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
- G01H3/005—Testing or calibrating of detectors covered by the subgroups of G01H3/00
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04R—LOUDSPEAKERS, MICROPHONES, GRAMOPHONE PICK-UPS OR LIKE ACOUSTIC ELECTROMECHANICAL TRANSDUCERS; DEAF-AID SETS; PUBLIC ADDRESS SYSTEMS
- H04R29/00—Monitoring arrangements; Testing arrangements
- H04R29/001—Monitoring arrangements; Testing arrangements for loudspeakers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Otolaryngology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スピーカが正常に動作するかどうかを検査す
るスピーカの検査装置に関する。
るスピーカの検査装置に関する。
スピーカの製造後には、スピーカが正常に動作するかど
うかを検査する必要がある。スピーカが屯営に動作しな
い異常原因としては、（ａ）コーンの伽鯛時にボイスコ
イルが永久磁石等に接触すること、（ｂ）ボイスコイル
内に異物たとえば鉄粉が混入していること、および（０
）コーン紙ののりづけ不良などによって部分共振が生じ
ることがある。
うかを検査する必要がある。スピーカが屯営に動作しな
い異常原因としては、（ａ）コーンの伽鯛時にボイスコ
イルが永久磁石等に接触すること、（ｂ）ボイスコイル
内に異物たとえば鉄粉が混入していること、および（０
）コーン紙ののりづけ不良などによって部分共振が生じ
ることがある。
従来では、スピーカが正常に動作するかどうかを検査す
るために、スピーカに５０Ｈｚから２０ｋＨｚまでの周
波数範囲にわたって正弦波信号を与えて掃引し、これに
よって得られるスピーカからの音會を検査者が耳で聞い
て判断している。異常の検出のためには、スピーカのコ
ーンを大きく振動させる必要があり為したがってスピー
カは定格′磁力で駆動される。このため大きな騒音とな
り、検査者の作業環境は恋い。またこの検査のためにか
なりの熟練を必要とする。
るために、スピーカに５０Ｈｚから２０ｋＨｚまでの周
波数範囲にわたって正弦波信号を与えて掃引し、これに
よって得られるスピーカからの音會を検査者が耳で聞い
て判断している。異常の検出のためには、スピーカのコ
ーンを大きく振動させる必要があり為したがってスピー
カは定格′磁力で駆動される。このため大きな騒音とな
り、検査者の作業環境は恋い。またこの検査のためにか
なりの熟練を必要とする。
このようなスピーカの異常状態は、オーディオ製品の特
性を表わす代表的な方法として用いられている周波数伝
達特性には有意な差としては表われない。また本件発明
者の実験によれば、異常の表われやすい共振点付近での
スピーカから発生される音−は大きな低次高調波企みを
有し、しだがつて企率の測定によってスピーカの異常を
検査することはできなかった。
性を表わす代表的な方法として用いられている周波数伝
達特性には有意な差としては表われない。また本件発明
者の実験によれば、異常の表われやすい共振点付近での
スピーカから発生される音−は大きな低次高調波企みを
有し、しだがつて企率の測定によってスピーカの異常を
検査することはできなかった。
本発明の目的は、スピーカが正常であるがどうかを簡易
に検査するスピーカの検査装置を提供することである。
に検査するスピーカの検査装置を提供することである。
第１図は、本発明の一実施例のブロック図である。発振
器ｌからの信号は、増幅回数２によって増幅され、スピ
ーカ３が駆動される。検査されるべきスピーカ３の共振
周波＠ｆｏ は、一般に、５０〜２００ Ｈｚの周波数
範囲にあり、発振器１はその周波数範囲の信号を発生す
る。スピーカ３がらの音響は、マイクロホン４によって
電気信号に変換される。マイクロホン４がらの電気信号
は、増幅回路５によって増幅され、アナログ／デジタル
変換器６によってデジタル信号に変換され、マイクロコ
ンピュータなどによって実現される処理装置７に入力さ
れる。マイクロコンピュータ７は、プログラムなどがス
トアされたリードオンリメモリ８と、入力された信号を
ストアするランダムアクセスメモリ９とを含む。処理装
Ｗｔ７には、人力される（１号を７−リエ変換して周波
数分析する周波数分析器１０が接続される。フーリエ変
換を、処１！ｌ！装ｄ７のプログラムの実行によって行
なわずに、処理装置７とは別個に設けられた周波数分析
１：＋） ｌ Ｏを用いて行なうようにしたので、スピ
ーカの異面を検出するために要する時向を短縮すること
かできる。処理装置ｆ７はつ６振器ｌの動作を制御−４
る〇 第２図は、第１図に示された実施例においてスピーカ３
の恢★をするための動作を説明するためのフローチャー
トである。ステップｎｌからステップｎ２に移り、処理
装置７は、発振器１を制御して周波数５０Ｈｚから２０
０ Ｈｚまでの信号を掃引出力する。スピーカ３は、共
振周波数ｆｏにＪ、ｊいて大きなｄ圧しベルを有する音
−を発生する。
器ｌからの信号は、増幅回数２によって増幅され、スピ
ーカ３が駆動される。検査されるべきスピーカ３の共振
周波＠ｆｏ は、一般に、５０〜２００ Ｈｚの周波数
範囲にあり、発振器１はその周波数範囲の信号を発生す
る。スピーカ３がらの音響は、マイクロホン４によって
電気信号に変換される。マイクロホン４がらの電気信号
は、増幅回路５によって増幅され、アナログ／デジタル
変換器６によってデジタル信号に変換され、マイクロコ
ンピュータなどによって実現される処理装置７に入力さ
れる。マイクロコンピュータ７は、プログラムなどがス
トアされたリードオンリメモリ８と、入力された信号を
ストアするランダムアクセスメモリ９とを含む。処理装
Ｗｔ７には、人力される（１号を７−リエ変換して周波
数分析する周波数分析器１０が接続される。フーリエ変
換を、処１！ｌ！装ｄ７のプログラムの実行によって行
なわずに、処理装置７とは別個に設けられた周波数分析
１：＋） ｌ Ｏを用いて行なうようにしたので、スピ
ーカの異面を検出するために要する時向を短縮すること
かできる。処理装置ｆ７はつ６振器ｌの動作を制御−４
る〇 第２図は、第１図に示された実施例においてスピーカ３
の恢★をするための動作を説明するためのフローチャー
トである。ステップｎｌからステップｎ２に移り、処理
装置７は、発振器１を制御して周波数５０Ｈｚから２０
０ Ｈｚまでの信号を掃引出力する。スピーカ３は、共
振周波数ｆｏにＪ、ｊいて大きなｄ圧しベルを有する音
−を発生する。
マイクロホン４によって受信されるスピーカ３がらの音
−は、処理装置７によって処理され、これによってスピ
ーカ３の共振周波数ｆ。が検出される。ステップｎ３で
は、発振器１は検査されるべきスピーカ３の共振周波数
ｆ。を有する信号を発生して、スピーカ３を駆動する０ 第３図は、本件発明者の実験結果を示すグラフである。
−は、処理装置７によって処理され、これによってスピ
ーカ３の共振周波数ｆ。が検出される。ステップｎ３で
は、発振器１は検査されるべきスピーカ３の共振周波数
ｆ。を有する信号を発生して、スピーカ３を駆動する０ 第３図は、本件発明者の実験結果を示すグラフである。
スピーカ３が共振周波数ｆｏの正弦波で駆動されている
場合、そのスピーカ３が良品であるときには、マイクロ
ホン４によって第３図（１）で示される波形が検出され
る０ スピーカ３が、そのボイスコイルがコーンの振動時に永
久磁石等に接触する不良品であるときには、第３図（２
）で示される波形が検出される。このときには、各周期
Ｔ３．Ｔ４においてボイスコイルの接触に起因した波形
ａｌ、ａ２がそれらの周期Ｔ３ 、Ｔ４の働く一部分に
おいて重畳されており、各周期Ｔ３ 、Ｔ４の波形は同
一であることに注目されたい。
場合、そのスピーカ３が良品であるときには、マイクロ
ホン４によって第３図（１）で示される波形が検出され
る０ スピーカ３が、そのボイスコイルがコーンの振動時に永
久磁石等に接触する不良品であるときには、第３図（２
）で示される波形が検出される。このときには、各周期
Ｔ３．Ｔ４においてボイスコイルの接触に起因した波形
ａｌ、ａ２がそれらの周期Ｔ３ 、Ｔ４の働く一部分に
おいて重畳されており、各周期Ｔ３ 、Ｔ４の波形は同
一であることに注目されたい。
スピーカ３が、ボイスコイル内に鉄粉などが混入した不
良品であるときには、第３図（３）で示される波形が検
出される。このときには、各周期Ｔ５゜Ｔ６において鉄
粉の混入に起因した波形ａ３．ａ４が各周期Ｔ５．Ｔ６
の一部分に重畳されており、しかも各周期Ｔ５ 、Ｔ６
の波形は相互に異なっていることに注目されたい。
良品であるときには、第３図（３）で示される波形が検
出される。このときには、各周期Ｔ５゜Ｔ６において鉄
粉の混入に起因した波形ａ３．ａ４が各周期Ｔ５．Ｔ６
の一部分に重畳されており、しかも各周期Ｔ５ 、Ｔ６
の波形は相互に異なっていることに注目されたい。
スピーカ３のコーン紙にのりづけ不良があるときには、
マイクロホン４によって検出される共振周波数ｆ。の波
形の各周期の全てにわたってのつづけ不良に起因した高
次高調波が常時重畳されていており、その波形は第３図
（４）に示されているとおりである。各周期は、Ｔ７．
Ｔ８で示される。
マイクロホン４によって検出される共振周波数ｆ。の波
形の各周期の全てにわたってのつづけ不良に起因した高
次高調波が常時重畳されていており、その波形は第３図
（４）に示されているとおりである。各周期は、Ｔ７．
Ｔ８で示される。
ステップｎ ４では、処理装置７はアナログ／デジタル
変換器６からのデジタル値を読み込む。この読み込みに
あたっては、たとえば共振周波数ｆ。
変換器６からのデジタル値を読み込む。この読み込みに
あたっては、たとえば共振周波数ｆ。
の波形の複数周期ＴＩ−Ｔ８たとえば２〜６周期を約１
０００等分してサンプリングした値が読み込まれる。こ
の読み込まれた値は、ランダムアクセスメモリ９にスト
アされる。
０００等分してサンプリングした値が読み込まれる。こ
の読み込まれた値は、ランダムアクセスメモリ９にスト
アされる。
ステップｎ５では、処理装置７はランダムアクセスメモ
リ９にストアされた波形を周波数分析器１０を動作させ
てフーリエ変換する。このフーリエ変換によって得られ
る音圧レベルの周波数スペクトル分布は第４図に示され
るとおりである。第４図（１）は、第３図（りに対応し
、スピーカ３が良品であるときを示す。第４図（２）は
、第３図（２）に対応し、スピーカ３のボイスコイルが
接触する不良品であるときである。第４図（３）は、第
３図（３）に対応し、スピーカ３のボイスフィルに鉄粉
が混入している不良品であるときを示す。
リ９にストアされた波形を周波数分析器１０を動作させ
てフーリエ変換する。このフーリエ変換によって得られ
る音圧レベルの周波数スペクトル分布は第４図に示され
るとおりである。第４図（１）は、第３図（りに対応し
、スピーカ３が良品であるときを示す。第４図（２）は
、第３図（２）に対応し、スピーカ３のボイスコイルが
接触する不良品であるときである。第４図（３）は、第
３図（３）に対応し、スピーカ３のボイスフィルに鉄粉
が混入している不良品であるときを示す。
ステップｎ６において処理袋Ｗｔ７では、７−りエ変換
して得られた周波数スペクトル分布に高次高調波が予め
定めた値以上の音圧レベルで含まれ・ ているかどうか
が判別される。高次高調波の音圧レベルが小さければ、
検査されたスピーカ３は、ステップｎ７において、良品
として検出される。
して得られた周波数スペクトル分布に高次高調波が予め
定めた値以上の音圧レベルで含まれ・ ているかどうか
が判別される。高次高調波の音圧レベルが小さければ、
検査されたスピーカ３は、ステップｎ７において、良品
として検出される。
高次高調波の音圧レベルが大きければ、次のステップｎ
８に移る。
８に移る。
ステップｎ８において処理袋ｆｌｉ７では、共振周波数
ｆ。の波形の各周期７１〜丁８を複数に分割し、各部分
の全てに高次高調波があるかどうかを判別する。この実
施例では、各周期Ｔ１〜Ｔ８は時間間隔Ｗで示されるよ
うに４つに等分割される。
ｆ。の波形の各周期７１〜丁８を複数に分割し、各部分
の全てに高次高調波があるかどうかを判別する。この実
施例では、各周期Ｔ１〜Ｔ８は時間間隔Ｗで示されるよ
うに４つに等分割される。
この時間間隔Ｗで等分割された各部分の全てに高次高調
波が存在するときには、ステップｎ９に移り、スピーカ
３のコーン紙にのりづけ不良などによる部分共振が生じ
ていることが検出される。
波が存在するときには、ステップｎ９に移り、スピーカ
３のコーン紙にのりづけ不良などによる部分共振が生じ
ていることが検出される。
共振周波数ｆ。の波形の各周期Ｔ１〜Ｔ８において時間
間隔Ｗで等分割された各部分の１つまたはいくつかにだ
け高次高調波が重畳されており、残余のいくつかに高次
高調波が存在しないときには、ステップｎ８からステッ
プｎｔｏに移る。ステップｎｌＯでは、共振周波数ｆｏ
の波形の２つの各周期Ｔ３とＴ４との間の相互相関関数
が演算され、またＴ５とＴ６との間の相互相関関数が演
算される。この結果、相互相関関数の最大値が充分１に
近いときには、すなわち各周期において再現性のある波
形が得られたときには、ステップｎ１１に移り、スピー
カ３がボイスコイルの接触による不良品であることが検
出される。相互相関関数の最大値が１に比べて小さいと
きには、すなわち各周期Ｔ５ 、Ｔ５の波形が再現性の
ない波形であるときには、ステップｎ１２に移り、スピ
ーカ３はそのボイスコイル内に鉄粉などが混入している
不良品であるものとして検出される。
間隔Ｗで等分割された各部分の１つまたはいくつかにだ
け高次高調波が重畳されており、残余のいくつかに高次
高調波が存在しないときには、ステップｎ８からステッ
プｎｔｏに移る。ステップｎｌＯでは、共振周波数ｆｏ
の波形の２つの各周期Ｔ３とＴ４との間の相互相関関数
が演算され、またＴ５とＴ６との間の相互相関関数が演
算される。この結果、相互相関関数の最大値が充分１に
近いときには、すなわち各周期において再現性のある波
形が得られたときには、ステップｎ１１に移り、スピー
カ３がボイスコイルの接触による不良品であることが検
出される。相互相関関数の最大値が１に比べて小さいと
きには、すなわち各周期Ｔ５ 、Ｔ５の波形が再現性の
ない波形であるときには、ステップｎ１２に移り、スピ
ーカ３はそのボイスコイル内に鉄粉などが混入している
不良品であるものとして検出される。
上述のようにスピーカが異常であるときに得られるマイ
クロホン４からの電気信号には、共振周波数ｆｏの波形
にそれよりも小さい振幅を有する波形ａｌ、ａ２．ａ３
．ａ４が重畳されている。
クロホン４からの電気信号には、共振周波数ｆｏの波形
にそれよりも小さい振幅を有する波形ａｌ、ａ２．ａ３
．ａ４が重畳されている。
したがって第４図のように７−リエ変換を行なって周波
数スペクトル分布を求めたとき、５０〜２００Ｈｚの範
囲にある共振周波数ｆ。の音圧レベルに比べて、それ以
上のたとえば１〜１ＱｋＨｚ程度の周波数を有する高次
高調波の音圧レベルは小さい。したがってスピーカ３の
異常に起因して重畳されている波形ａ１〜ａ４の音圧レ
ベルをもっと大きくして検出することが望まれるところ
である０ この問題を解決するために、本発明の他の実施例が示さ
れる第５図では、マイクロホン４によって得られる電気
信号を、アナログ／デジタル変換器６に人力する前に、
微分回路１１によって微分している。こうすることによ
って、本件発明者の実験によれば第６図の周波数スペク
トル分布が得られた。第６図（１）はスピーカ３が良品
であるときご示し、第６図（２）はスピーカ３がボイス
コイルの接触による不良品であるときを示し、第６図（
３）はスピーカ３がボイスコイル内への鉄粉などの混入
による不良品であるときを示す。第６図（４）の特性ｅ
ｌは、スピーカ３がのつづけ不良などによって部分共振
を生じているときにおける音圧レベルの最大値を示し、
特性１２はスピーカ３が良品であるときの音圧レベルの
最大値を示す。微分回路ｌｌを設けることによって、ス
ピーカ３の異常に起因して重畳される高調波の音圧レベ
ルは共振周波数ｆ。の音圧レベルに比べてそれと同程度
のレベルとして検出されることが確認された。このこと
によって、検査の精度を向上することができ、また処理
装置７に含まれているランダムアクセスメモリ９におけ
る信号の桁数を小さくすることができ、アナログ／デジ
タル変換器も小規模で可能となる。
数スペクトル分布を求めたとき、５０〜２００Ｈｚの範
囲にある共振周波数ｆ。の音圧レベルに比べて、それ以
上のたとえば１〜１ＱｋＨｚ程度の周波数を有する高次
高調波の音圧レベルは小さい。したがってスピーカ３の
異常に起因して重畳されている波形ａ１〜ａ４の音圧レ
ベルをもっと大きくして検出することが望まれるところ
である０ この問題を解決するために、本発明の他の実施例が示さ
れる第５図では、マイクロホン４によって得られる電気
信号を、アナログ／デジタル変換器６に人力する前に、
微分回路１１によって微分している。こうすることによ
って、本件発明者の実験によれば第６図の周波数スペク
トル分布が得られた。第６図（１）はスピーカ３が良品
であるときご示し、第６図（２）はスピーカ３がボイス
コイルの接触による不良品であるときを示し、第６図（
３）はスピーカ３がボイスコイル内への鉄粉などの混入
による不良品であるときを示す。第６図（４）の特性ｅ
ｌは、スピーカ３がのつづけ不良などによって部分共振
を生じているときにおける音圧レベルの最大値を示し、
特性１２はスピーカ３が良品であるときの音圧レベルの
最大値を示す。微分回路ｌｌを設けることによって、ス
ピーカ３の異常に起因して重畳される高調波の音圧レベ
ルは共振周波数ｆ。の音圧レベルに比べてそれと同程度
のレベルとして検出されることが確認された。このこと
によって、検査の精度を向上することができ、また処理
装置７に含まれているランダムアクセスメモリ９におけ
る信号の桁数を小さくすることができ、アナログ／デジ
タル変換器も小規模で可能となる。
本発明のさらに他の実施例として、第５図に関連して述
べた実施例において微分回路１１を設ける代りに、処理
装置７においてステップｎ４とステップｎ５との間で等
時間間隔でサンプリングされた電気信号の差を演算し、
これによって等価的な微分信号を得るようにしてもよく
、その他の手法によって微分信号を得るようにしてもよ
い。
べた実施例において微分回路１１を設ける代りに、処理
装置７においてステップｎ４とステップｎ５との間で等
時間間隔でサンプリングされた電気信号の差を演算し、
これによって等価的な微分信号を得るようにしてもよく
、その他の手法によって微分信号を得るようにしてもよ
い。
以上のように本発明によれば、スピーカをその共振周波
数付近で駆動して振動板を大きく振動させ、このとき得
られる音圧レベルを電気信号に変換し、この電気信号を
フーリエ変換して周波数スペクトル分析し、スピーカを
検査するようにしたので、スピーカの検査が自動化され
る。したがって検査者は大きな騒音のある悪い作業環境
から解放されるとともに、検査のための熟練を必要とし
なくなる。またスピーカの音圧レベルが変換された電気
信号は、微分されるので、スピーカの異常に起因した高
調波を大きい音圧レベルで検出することができるように
なり、これによって検査の精度を向上することができる
とともに、計算処理システムの規模を小さくすることが
できる。
数付近で駆動して振動板を大きく振動させ、このとき得
られる音圧レベルを電気信号に変換し、この電気信号を
フーリエ変換して周波数スペクトル分析し、スピーカを
検査するようにしたので、スピーカの検査が自動化され
る。したがって検査者は大きな騒音のある悪い作業環境
から解放されるとともに、検査のための熟練を必要とし
なくなる。またスピーカの音圧レベルが変換された電気
信号は、微分されるので、スピーカの異常に起因した高
調波を大きい音圧レベルで検出することができるように
なり、これによって検査の精度を向上することができる
とともに、計算処理システムの規模を小さくすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例のブロック図〜第２図は第１
図に示された実施例の動作を説明するためのフローチャ
ート、第３図はマイクロホン４によって得られる電気信
号の波形図、第４図は第１図示の実施例によって得られ
る周波数スペクトル分布図、第５図は本発明の他の実施
例のブロック図、第６図は第５図の実施例によって得ら
れる微分波形の周波数スペクトル分布図である。 １・・・発振器、２，５・・・増幅回路、３・・・スピ
ーカ、４・・・マイクロホン、６・・・アナログ／デジ
タル変換器、７・・・処理装置、１０・・・周波数分析
器、１１・・・微分回路 代理人 弁理士 西教圭一部 ／Ｓ
／”’〜、−（’Ｎ
図に示された実施例の動作を説明するためのフローチャ
ート、第３図はマイクロホン４によって得られる電気信
号の波形図、第４図は第１図示の実施例によって得られ
る周波数スペクトル分布図、第５図は本発明の他の実施
例のブロック図、第６図は第５図の実施例によって得ら
れる微分波形の周波数スペクトル分布図である。 １・・・発振器、２，５・・・増幅回路、３・・・スピ
ーカ、４・・・マイクロホン、６・・・アナログ／デジ
タル変換器、７・・・処理装置、１０・・・周波数分析
器、１１・・・微分回路 代理人 弁理士 西教圭一部 ／Ｓ
／”’〜、−（’Ｎ
Claims (2)
- （１）スピーカをその共振周波数付近で駆動し、これに
よって得られる音圧レベルを電気信号に変換し、この電
気信号を７−リエ変換して周波数スペクトル分析し、ス
ピーカを検査することを特徴とするスピーカの検査装置
。 - （２）スピーカをその共振周波数付近で駆動し為これに
よって得られる音圧レベルを電気信号に変換し、この電
気信号を微分し、微分出力を７−リエ変換して周波数ス
ペクトル分析し１スピーカを検査することを特徴とする
スピーカの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57072276A JPS58189525A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | スピ−カの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57072276A JPS58189525A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | スピ−カの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58189525A true JPS58189525A (ja) | 1983-11-05 |
Family
ID=13484595
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57072276A Pending JPS58189525A (ja) | 1982-04-28 | 1982-04-28 | スピ−カの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58189525A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60254994A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-16 | Foster Denki Kk | スピ−カの異常音検査装置 |
| EP0212060A2 (de) * | 1985-08-20 | 1987-03-04 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren elektroakustischer Messgeräte |
| JP2013207689A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Pioneer Electronic Corp | 音響装置、共振音減衰方法、共振音低減プログラム及び共振音低減プログラムを記録した媒体 |
-
1982
- 1982-04-28 JP JP57072276A patent/JPS58189525A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| EP0212060A2 (de) * | 1985-08-20 | 1987-03-04 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren elektroakustischer Messgeräte |
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