JPS58179323A - 光学的測定装置 - Google Patents

光学的測定装置

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Publication number
JPS58179323A
JPS58179323A JP57062674A JP6267482A JPS58179323A JP S58179323 A JPS58179323 A JP S58179323A JP 57062674 A JP57062674 A JP 57062674A JP 6267482 A JP6267482 A JP 6267482A JP S58179323 A JPS58179323 A JP S58179323A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
image sensor
sensitivity
circuit
integrator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP57062674A
Other languages
English (en)
Inventor
Kensaku Katayama
片山 憲作
Takao Shimizu
孝雄 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Chino Works Ltd filed Critical Chino Works Ltd
Priority to JP57062674A priority Critical patent/JPS58179323A/ja
Publication of JPS58179323A publication Critical patent/JPS58179323A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • H04N25/673Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources
    • H04N25/674Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction by using reference sources based on the scene itself, e.g. defocusing

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 α)発明の分野 この発明は、CCD等のイメージセンサを用いて測定物
体の温度パターン等の性状を測定する光学的測定装置に
関するものである。
伐)従来技術と着眼 測定物体からの放射エネルギーを受光する複数個の光電
素子を有し、各素子の出力を順次ビデオ信号として転送
するイメージセンナの出力は、各素子が独立ではなく素
子間に相互干渉があるため入射光の強度分布によシ、見
かけ上感度が変化してしまう問題点があった。
第1図で示すように、イメージセンサの素子位置と出力
との関係は9幅の広い入射光Aの方が。
同一強度の幅の狭い入射光Bよりも出力が廖めに出てし
まうものでありた。
ところで、実測によると、イメージセンサの一つまシ、
この関係〈着眼して、補正を行えばよいわけである。
(3)発明の目by この発明の目的は、前記の着眼点に基き、入射光の強度
分布の影響を除去した光学的測定装置を提供することで
ある。
(4)発明の実施例 第3図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
図において、1は測定物体、2は測定物体1からの放射
エネルギーを集光するレンズ、3はレンズ2によシ集光
された放射エネルギーを受光し。
その複数個の光電索子の出力を順次ビデオ信号として線
転送、あるいは面転送するイメージセンサ。
4はイメージセンサ3の出力を増幅する増幅器。
5は増幅器Aの帰還回路にコンデンサC,スイッチS等
を有し、増幅器4の出力を積分する積分器。
6は、積分器5の出力をサンプルホールドするサンプル
ホールド回路、7は関数発生器71.AGC回路72等
よりなシ増幅器4の出力の感度補正を行う補正回路、8
は出力端子、9は、イメージセンサ3.積分器5.サン
プルホールド回路6等のタイミングをとる制御回路であ
る。
あらかじめ、補正回路7の関数発生器71は、サンプル
ホールド回路6の出力信号、っまり第2図の積分値信号
に対し、常に所定の感度とするためのAGC信号を発生
してAGC回路72に供給し。
AGC回路72に入力するイメージセンサ3の出力の感
度補正を行うようになっている。
動作は次の通りである。
イメージセンサ3に測定物体1からの入射光を入射させ
、イメージセンサ3の少なくとも一走査分の出力を一増
幅器4を介して増幅し、積分器5のスイッチをこの間の
み開として積分し、その最終出力をサンプルホールド回
路6にサンプルホールドする。このサンプルホールド回
路6の出力は補正回路7の関数発生器71に供給され、
関数発aS71はAGC回路72に所定の感度とするた
めのAGC信号を供給する。
そして、イメージセンサ3の次の走査において。
イメージセンサ3の各素子の出力は、増幅器4を介して
補正回路7のAGC回路72に供給され、関数発生器7
1のAGC信号にょシ自動利得制御されて所定の感度と
なるよう補正された信号が、出方端子8よシ取シ出せる
。なお、この間2次の走査の補正のための積分動作が積
分器5によシ行われている。
以下、このような動作は順次くシ返される。このように
、積分器5ないしこれと同等の機能をもつ時定数回路等
によシ、少なくとも一走査による積分出力に基いて、入
力信号の感度の補正を行うようにしているので、常に正
しい感度の出力が得られる。なお、急激にイメージ七/
す3の出力が変化しないのであれば、1回毎に積分器5
の出力をサンプルホールド回路6でサンプルホールドす
ることなく、ビークキープ回路あるいは何回かのサンプ
ルホールド出力を用いて過去の平均的肴鱗に基いて補正
を行うようにしてもよい。
(5)発明の要約 この発明は、イメージセンナ出力を積分器にょシ積分し
、この積分値に応じてイメージセンサの出力の感度補正
を行うようにし走光学的測定装置である。
(6)発明の効果 入シ射光の強度分布による見かけ上の感度変化の影響を
大幅に少なくすることができ、入射光の強度の絶対値測
定の精度が向上し、放射温度計としての使用が可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
i@1図、第2図は、この発明に係る信号の関係を示す
関係図、第3図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。 1・・・測定物体、2・・・レンズ、3・・・イメージ
センサ、4・・・増幅器、5山積分器、6・・・サンプ
ルホールド回路、7・・・補正回路、8・・・出力端子
、9・・・制御回路、  71・・・関数発生器、72
・・・AGC回路特許出願人 株式会社 千野製作所

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 測定物体からの放射エネルギーを受光する複数個
    の光電素子を有し、各素子の出力を順次ビデオ信号とし
    て転送するイメージセンナと、このイメージセンサの少
    なくとも一走査毎の積分を行う積分器と、この積分器の
    積分値に応じて前記イメージセンサ出力の感度を補正す
    る補正回路とを備えたことを特徴とする光学的測定装置
    。 2 前記補正回路として、積分器の積分値に応じたAG
    C信号を発生する関数発生器と、この関数発生器のAG
    C信号にょシイメージセンサ出力の感度を補正するAG
    C回路とよりなるものを用いたことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の光学的測定装置。
JP57062674A 1982-04-14 1982-04-14 光学的測定装置 Pending JPS58179323A (ja)

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JP57062674A JPS58179323A (ja) 1982-04-14 1982-04-14 光学的測定装置

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JP57062674A JPS58179323A (ja) 1982-04-14 1982-04-14 光学的測定装置

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JPS58179323A true JPS58179323A (ja) 1983-10-20

Family

ID=13207061

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57062674A Pending JPS58179323A (ja) 1982-04-14 1982-04-14 光学的測定装置

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JP (1) JPS58179323A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2754606A1 (fr) * 1996-10-14 1998-04-17 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de collection et de codage de signaux issus de photodetecteurs

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2754606A1 (fr) * 1996-10-14 1998-04-17 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de collection et de codage de signaux issus de photodetecteurs
WO1998016851A1 (fr) * 1996-10-14 1998-04-23 Commissariat A L'energie Atomique Dispositif et procede de collection et de codage de signaux issus de photodetecteurs

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