JPS58134529A - Fault detecting system of transistor - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To prevent a circuit from breaking down if a short circuit is formed between an emitter and a collector and an open state is caused between a base and the emitter by monitoring a base potential and stopping voltage supply to the collector in case of a fault. CONSTITUTION:When base potentials of power transistors (TR) are at a level ''H'', currents flow through coils 7 and 8 to drive printing pins. If the power TRs 1 and 2 are short-circuited between emitters and collectors and open between bases and emitters, base potentials rise. At this time, the potential between both terminals of a resistance 11 also rises, so an iut voltage to a voltage comparator 12 exceeds a reference voltage. Therefore, the output of the voltage comparator 12 goes up to the level ''H'' and consequently while a fuse 14 with a contact is burned out, the contact is opened to stop the power supply to the power TRs.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔発明の技術分野〕 本発明◆Ｌ　／＜クー・トランジスタな含むと共に、電
源投入時に電源電圧が確立するまでパワー・トランジス
タのべ一諷讐低−位としてパワー・トランジス−をオフ
するよう□に構成されたモー−やコイル等０）高電圧、
大電流のドライブ回路置 コ１／／　ａ−ヘ−ｘｆｌｌＪシ曹−トで且つベース−
エン７１間オープンσ）故障′Ｖ□確実に検゛出できる
よう和したトランジス−一）異常検出方式に関するも＃
１である。 〔従来゛技術と問題点〕 第１図は従来σ）ドツト・プリンタ装置におけるドライ
ブ回路の１ｆＩｌを示す図であり[Technical Field of the Invention] The present invention includes a low-power transistor and a power transistor that turns off the power transistor until the power supply voltage is established when the power is turned on. 0) High voltage, such as configured motors and coils,
High current drive circuit installation 1//a-head xfllj sheet and base
71 open σ) Fault 'V□ Transistor summed to ensure reliable detection - 1) Regarding the abnormality detection method#
It is 1. [Prior Art and Problems] Figure 1 is a diagram showing 1fIl of a drive circuit in a conventional σ) dot printer.

【、１と２はダーリン
トン厘のパワー〇トランジス４１．３と４は抵抗、５と
６はダイオード、７と８は印字ビンを駆動するための駆
動マグネット、９はリレー接点、１０と１１）：！抵抗
、ｖＨとｖＬは電源、Ｉｌトｉ麿は入力信号をそれぞれ
示している。電源■は例えば３６ボルトであり、電源Ｖ
Ｌは例えば５ボルトである。入力信号１１が低レベルで
あると、パワー・トランジスタｌはオフ状１！ｌＡｌ１
′保つ、入力信号１１か高レベルになると、パワー−ト
ランジスタ１はオンし、駆動マグネット７に電流が流れ
る。これにより、駆動マグネツ）７に対応する印字ビン
（図示せず）が駆動される。パワー・トランジスタ２側
も同様な動作を行う。電・１源投入時には、図示しない
リレーが付勢され、すニレ−接点９が閉じる。 リレー接点９は電源電圧が所望の電圧値になると、１１ オフする。リレー接点が閉じ【いると、パワー・トラン
ジスタ１．２はオンすることはない、電源電圧が不安定
の期間、リレー接点９を閉じることにより、電源投入／
切断時の動作が保証される。 ところで、トランジスタは所定の故障率で故障する。パ
ワー・トランジスタのコレクターエ擢ツタ間のシ環−ト
が生ずると、大電流が流れるので、この故障は比較的に
簡単ＫＩＩｌｉ出することが出来る。 しかし、パワー拳トランジスＩＫ；レクーーベース間シ
薗−トで且つベースーエζツー間オープンの故障が生じ
ても、流れる電流は小さいので、この程の故障は検出で
きない、しかし、この種の故障が生ずると、抵抗３又は
４などが焼損するおそれがある。 〔発明の目的〕 本発明は、上記の考察に基づくもＣ）であり【、パワー
・トッンジスｊ’ｌｔ’含むと共に電源投入時に電源電
圧が確立するまでパワー・トランジス−のべ−ｘｔ’低
レベルにしてパワー・トランジスｊＩｖオフするように
構成されたドライブ回路において、１１、ｌ：・。 ）ランジスタの＝し！−−エイツｐ間ショートかつベー
スーエ電ツＩ間オープンの故障な確実に検出できるよう
Ｋしたトランジスタの異常検出方式を提供することを目
的としている。 〔発明の構成〕 そしてそσ）ため１本発明のトランジス４の異常検出方
式は、ベースが低レベルのときオフしベースが高レベル
のときオンする複数のパワー、トランジスタと、それぞ
れか上記複数σ）パワー・トランジスタのコレクタに接
続された複数の負荷と、高電位σ）第１の電源と、上鮎
複数の負荷と上記第１の電源とσ）関に設けられた開閉
手段と、低電位の第２の電源と、上記各パワー・トラン
ジスタのベースと第２の電源との間に設けられた複数の
抵抗と、基準電位源と、上記各パワー・トランジスタの
エミツＩと上記基準電位源な接続する手段と、一端が抵
抗を介して上記基準電位源に接続された信号線と、上記
各パワー・トランジスタのベースに陽極が接続され且つ
上記信号線に陽極が接続された複数のダイオードと、電
源電圧が確立し【いないときは上記信号線の抵抗の両端
をショートし且つ電源電圧が確立しているときには該抵
終の両端をオープンする手段を備えるドライブ回路にお
いて、上記信号線上σ）電位を設定値と比較する比較回
路と、該比較回踏が信号線上の電位が設定値より大きい
ことを検出したとぎ上記開閉手段を動作させる手段とＹ
設けたことＶ特徴とするも＃）である。 〔発明の実施例〕 以下、本発明Ｖ図面Ｙ＃照しつつ説明する。 第２図は本発明σ１１貢施真の電気回路−である・第２
図において、１２は比較回路、１３はパワー・トランジ
スタ、１４は接点付きヒユーズ、１５と１６は抵抗をそ
れぞれ示している。なお、第１−と同一符号は同一物を
示している。 接点付きヒユーズ１４は、ヒユーズが切れていないとぎ
は接点を閉じ、ヒユーズが切断されると接点Ｖ開くも＃
）である、Ｗ！点付きヒユーズ１４のヒユーズが切れて
いないときは、電源電圧ｖＩＩがパワー・トランジスタ
１，２ｔＩ】コレクーに印澗される。いま仮りにパワー
・トランジス−ＩＫエミツー−＝レフ−関シ冒−トかつ
ベース−エイツー関オープンの故障が発生したとすると
、パワー・トランジスＪｌのペース電位は上昇し、これ
に応じて抵抗１１の上端の電位も上昇する・抵抗１１の
上端の電位も上昇する。抵抗１１の上端電圧は比較回路
１２の＋側人力趨子に印加され、この電圧が設定値より
も大きくなると、比較回路１２は高レベル信号ン出刃す
る。比較回路１２が高レベル備考を出力すると、パワー
・トランジスタ１３がオンし、接点付きヒユーズ１４の
ヒユーズか切断され、その接点か開く。なお、以上の実
施例では接点付きヒユーズＹ用いているが、コレクーー
エミツｐ間ショートかつベース・エミッタ間オープンの
故障が発生した時、これＹクリップ・フロップで配憶し
、７リツプ・フロップ＆Ｃよって電磁開閉器などｉ動作
させ、電源電圧ＶＨがパワー・トランジスＪ１．２σ）
コレクタに印加されないようにしても良い。 〔発明の効果］ 以上の説明から明らかなように、本発明によれば、既存
のドライブ回路に僅かな部品を追〃口するだけで、トラ
、ジ、１、工ｉ”　ｑ”　Ｊ−ヨレフタ間ショートかつ
ベース−エミッタ間オープンの故障ン高速でしかも１１
央に検出することができる。[, 1 and 2 are Darlington Power Transistors 41. 3 and 4 are resistors, 5 and 6 are diodes, 7 and 8 are drive magnets for driving the print bin, 9 is a relay contact, 10 and 11): ! Resistors, vH and vL represent power supplies, and I and I represent input signals, respectively. For example, the power supply ■ is 36 volts, and the power supply V
L is, for example, 5 volts. When the input signal 11 is low level, the power transistor l is in the off state 1! lAl1
When the input signal 11 is kept at a high level, the power transistor 1 is turned on and current flows through the drive magnet 7. As a result, a print bin (not shown) corresponding to the drive magnet 7 is driven. The power transistor 2 side also performs a similar operation. When the power source 1 is turned on, a relay (not shown) is energized, and the double contact 9 is closed. Relay contact 9 turns off when power supply voltage reaches a desired voltage value 11 . If the relay contact is closed, the power transistor 1.2 will not turn on. During periods of unstable supply voltage, closing the relay contact 9 will prevent power on/off.
Guaranteed operation when disconnected. By the way, transistors fail at a predetermined failure rate. If a circuit occurs between the collector electrode and the power transistor of the power transistor, a large current will flow, so this failure can be detected relatively easily. However, even if a fault occurs in the power transistor transistor IK; recorder-to-base sheet and an open circuit between the base and the , resistor 3 or 4 may burn out. [Object of the Invention] The present invention is based on the above considerations and includes a power transistor and a low level power transistor until the power supply voltage is established at power-on. In a drive circuit configured to turn off a power transistor jIv at 11,l:. ) Langister's = shi! It is an object of the present invention to provide a transistor abnormality detection method that can reliably detect failures such as short circuits between A and P and open circuits between B and I. [Structure of the Invention] And σ) Therefore, 1. The abnormality detection method of the transistor 4 of the present invention consists of a plurality of power transistors that are turned off when the base is at a low level and turned on when the base is at a high level, and each of the above-mentioned plurality of σ ) a plurality of loads connected to the collector of the power transistor, a high potential σ) a first power supply, a plurality of loads, the first power supply and σ) a switching means provided at the connection, and a low potential; a second power source, a plurality of resistors provided between the base of each of the power transistors and the second power source, a reference potential source, an emitter I of each of the power transistors, and the reference potential source. a signal line whose one end is connected to the reference potential source via a resistor; and a plurality of diodes whose anodes are connected to the base of each of the power transistors and whose anodes are connected to the signal line; In a drive circuit comprising means for shorting both ends of the resistor of the signal line when the power supply voltage is not established and for opening both ends of the resistor when the power supply voltage is established, a comparison circuit for comparing with a set value; a means for operating the opening/closing means when the comparison circuit detects that the potential on the signal line is greater than the set value;
It is also #) that is featured in V. [Embodiments of the Invention] The present invention will be described below with reference to drawings V and Y#. Figure 2 is the electrical circuit of the σ11 contribution of the present invention.
In the figure, 12 is a comparison circuit, 13 is a power transistor, 14 is a fuse with contacts, and 15 and 16 are resistors, respectively. Note that the same reference numerals as No. 1- indicate the same items. The fuse 14 with a contact closes the contact when the fuse is not blown, and opens the contact V when the fuse is broken.
), W! When the dotted fuse 14 is not blown, the power supply voltage vII is applied to the power transistors 1, 2tI. Assuming that a failure occurs in the power transistor IK EMI2 = REF - connection and the BASE A2 connection open, the pace potential of the power transistor Jl will rise, and the resistance of the resistor 11 will increase accordingly. The potential at the top end also rises.The potential at the top end of the resistor 11 also rises. The upper end voltage of the resistor 11 is applied to the + side human power terminal of the comparator circuit 12, and when this voltage becomes larger than a set value, the comparator circuit 12 outputs a high level signal. When comparator circuit 12 outputs a high level note, power transistor 13 is turned on, the fuse of contact fuse 14 is blown, and its contacts are opened. In the above embodiment, a fuse Y with a contact is used, but when a failure occurs such as a short circuit between the collector and the emitter and an open circuit between the base and the emitter, this fuse is stored in the Y clip-flop, and the fuse When the switch is operated, the power supply voltage VH is the power transistor J1.2σ)
The voltage may not be applied to the collector. [Effects of the Invention] As is clear from the above description, according to the present invention, by simply adding a few parts to the existing drive circuit, the Short-circuit between base and emitter and open between base and emitter.
It can be detected in the center.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１１！Ｊは従来σ）ドツト・プリンＪ装置におけるド
ライブ回路の１９１１Ｖ示す図、第２−は本発明の１実
施例の電気回路である。 ｌと２・・・ダーリントン瀝−）パワー・トランジス４
．３と４・・・抵抗、５と６・・・ダイオード、７と８
・・・印字ピンを駆動するための駆動マグネット、９・
・・リレー接点、１０と１１・・・抵抗、■とＶＬ・・
・電源、　Ｊｌと■２・・・入力信号、１２・・・比較
回踏、１３・・・パワーやトランジス−，１４・・・接
点付きヒユーズ、１５と１６・・・抵抗。 特許出願人　　ニーザック電子工業株式会社代坤人弁増
士　京　谷　四　部　外１名：、。11th! J is a diagram showing 1911V of a drive circuit in a conventional σ) dot printer J device, and No. 2- is an electric circuit of an embodiment of the present invention. l and 2...Darlington -) Power Transis 4
．． 3 and 4...Resistor, 5 and 6...Diode, 7 and 8
...Driving magnet for driving the printing pin, 9.
...Relay contacts, 10 and 11...Resistance, ■ and VL...
- Power supply, Jl and ■2... Input signal, 12... Comparison circuit, 13... Power and transistor, 14... Fuse with contact, 15 and 16... Resistor. Patent Applicant: Nizak Electronics Industry Co., Ltd. Representative: Yotsube Kyotani and 1 other person: .

Claims (1)

【特許請求の範囲】 ヘースカ低レベルのときオフしペースカ高レベルのとき
オンする複数のパワー・トランジスタと、それぞれが上
記複数のパワー・トランジスタのコレクーに接続された
複数の負□荷と、高電位の第１の電源と、上記複数の負
荷と上記第１の電源との間に設けられた開閉手段と、低
□電位の第２の電源と、上記各パワー・トランジスタの
ベースと第２の電源との間に設けられた複数の抵抗と、
基準電位源と、上記各パワー・トランジスＩのエミッタ
と上記基準電位源を接続する手段と、−ｉが抵抗を介し
て上記基準電位源に！＆続された信号線と、上記各パワ
−１トランジスタのベースに陽極か接続され且つ上記信
号線に陰極が接続された複数のダイオードと、電源電圧
が確立していないときは上記信号線の抵抗の両端ｌショ
ートし且つ電源電圧が確立し【いるときには皺抵抗の両
端ｌオーブンする手段Ｙ備えるドライブ回路において、
上記信号線上電位！設定値と比較する比較回路と、該比
［囲路が信号線上の電位が設定値より大きいことｖＩＩ
ＩＬ出したとき上記開閉手段を動作させる手段とケ設け
たこｉｌｌ特色するトランジス４　＃）異常検出方式・[Claims] A plurality of power transistors that are turned off when the pacer is at a low level and turned on when the pacer is at a high level, a plurality of loads each connected to a collector of the plurality of power transistors, and a high potential. a first power source, a switching means provided between the plurality of loads and the first power source, a second power source with a low potential, a base of each of the power transistors, and a second power source. multiple resistors provided between the
A reference potential source, means for connecting the emitter of each of the power transistors I to the reference potential source, and -i connected to the reference potential source via a resistor! & a connected signal line, a plurality of diodes whose anodes are connected to the base of each of the power 1 transistors and whose cathodes are connected to the signal line, and the resistance of the signal line when the power supply voltage is not established. In a drive circuit comprising means Y for short-circuiting both ends of the resistor and short-circuiting both ends of the resistor when the supply voltage is established,
Potential on the above signal line! A comparator circuit that compares the set value with the set value, and a comparator circuit that compares the ratio
4) Abnormality detection method・