JPS58124912A - 検出器の異常診断装置 - Google Patents
検出器の異常診断装置Info
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- JPS58124912A JPS58124912A JP57008560A JP856082A JPS58124912A JP S58124912 A JPS58124912 A JP S58124912A JP 57008560 A JP57008560 A JP 57008560A JP 856082 A JP856082 A JP 856082A JP S58124912 A JPS58124912 A JP S58124912A
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- Japan
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- detector
- spectrum
- time constant
- noise
- curve
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
常を診断する装置に関する。
火力発電プラントや原子力発電プラント等各種プラント
において,プラントの運転制御のため,圧力,温度,流
量等の状態量を検出する検出器が用いられる。設計時に
想定した理想状態で効率よく,かつ安全にプラントを運
転するだめである。そして状態量の異常が検知されれば
不具合もしくは故障個所を修復するため各種の処理がな
される。
において,プラントの運転制御のため,圧力,温度,流
量等の状態量を検出する検出器が用いられる。設計時に
想定した理想状態で効率よく,かつ安全にプラントを運
転するだめである。そして状態量の異常が検知されれば
不具合もしくは故障個所を修復するため各種の処理がな
される。
しかして、検出器は,運転制御に重要な情報をもたらす
ものであり,極めて重要なものであるが,検出器自身に
不具合があると,誤まった情報をもたらすこととなる。
ものであり,極めて重要なものであるが,検出器自身に
不具合があると,誤まった情報をもたらすこととなる。
従って,プラントの運転中宮に検出器自身の異常の有無
を監視することが高効率,かつ安全な運転状態を保持す
る上から重要と考えられている。
を監視することが高効率,かつ安全な運転状態を保持す
る上から重要と考えられている。
従来,検出器の異常を検知する手段として検出器が出す
雑音に着目し,雑音を分析して検出器特性の正常,異常
を診断していた。
雑音に着目し,雑音を分析して検出器特性の正常,異常
を診断していた。
すなわち、検出器入力雑音特性をホワイトと仮定し、更
に検出器の応答特性f:1次遅れ特性と仮定し、検出器
出力雑音のパワースペクトル又はリニアスペクトルを計
算する。その結果を最小2乗法を用いてカーブフィッテ
ィングを行ない、更に周波数OH4のパワースペクトル
又はリニアスペクトルの値から6dB又は3dBダウン
した点の周波数を求め、検出器応答時定数を推定する。
に検出器の応答特性f:1次遅れ特性と仮定し、検出器
出力雑音のパワースペクトル又はリニアスペクトルを計
算する。その結果を最小2乗法を用いてカーブフィッテ
ィングを行ない、更に周波数OH4のパワースペクトル
又はリニアスペクトルの値から6dB又は3dBダウン
した点の周波数を求め、検出器応答時定数を推定する。
そして予め保存されていた検出器の時定数値と前記推定
時定数とを対比照合し、その差から、正常か異常かを判
定していた。
時定数とを対比照合し、その差から、正常か異常かを判
定していた。
しかるに、前述の従来の方法では1種々仮定を用いるだ
め、信頼性に難があり、又検出器の出力側に変換器やア
イソレーダ等の機器があると、処理する出力雑音の特性
が変化し、どの部分に異常がちるのか判別しがたいとの
問題があった。
め、信頼性に難があり、又検出器の出力側に変換器やア
イソレーダ等の機器があると、処理する出力雑音の特性
が変化し、どの部分に異常がちるのか判別しがたいとの
問題があった。
本発明は、前記した事情に鑑みなされたもので、検出器
の応答特性及び入力雑音特性に何の仮定もせず、高い信
頼性で検出器の異常の有無を判別できる診断装置を提供
することを目的とする。
の応答特性及び入力雑音特性に何の仮定もせず、高い信
頼性で検出器の異常の有無を判別できる診断装置を提供
することを目的とする。
以下1本発明を図示の実施例に基づき説明する。
図において、1は検出器(図示しない)の出力雑音で原
子カプラントの温度、圧力、流量。
子カプラントの温度、圧力、流量。
水位、中性子束等の検出器に重量するものである。検出
器出力の定常値は事前に差し引かれており、定常値から
の変化分を増巾したものである。
器出力の定常値は事前に差し引かれており、定常値から
の変化分を増巾したものである。
雑音処理器2は、上記雑音データからフーリm’&換を
用いてパワースペクトル、リニアスペクトル等、検出器
時定数推定に必要な各種統計量を計算する。
用いてパワースペクトル、リニアスペクトル等、検出器
時定数推定に必要な各種統計量を計算する。
カーブ調整器3は、雑音処理器2で計算したスペクトル
カーブの中で、対象とする検出器周波数領域のスペクト
ル部分を最小2定法によってカーブフィツトしスペクト
ルをスムーズにする。
カーブの中で、対象とする検出器周波数領域のスペクト
ル部分を最小2定法によってカーブフィツトしスペクト
ルをスムーズにする。
時定数計算器4は、雑音処理器2で計算された各種統計
量を用い、検出器のステップ応答を計算し、最終整定値
632%よりオーバオールな検出器時定数を推定する。
量を用い、検出器のステップ応答を計算し、最終整定値
632%よりオーバオールな検出器時定数を推定する。
6は、格納装置で検出器特性f:1次遅れ、検出器入力
雑音をホワイトと仮定し、プラントに装架する前の検出
器時定数値及び前回のスペクトルより推定した時定数値
等を格納している。
雑音をホワイトと仮定し、プラントに装架する前の検出
器時定数値及び前回のスペクトルより推定した時定数値
等を格納している。
格納装置8は、検出器入力の各種雑音特性。
検出器から検出点捷での各種装置の組合せ(1次遅れか
ら高次遅れ及びむだ時間等の組合せ)と各装置の時定数
の組合せのスペクトル及びオーバオールな検出器時定数
を事前に計算し格納している。
ら高次遅れ及びむだ時間等の組合せ)と各装置の時定数
の組合せのスペクトル及びオーバオールな検出器時定数
を事前に計算し格納している。
判別器7は、カーブ調整器3によるスペクトル波形と、
計算器4によるオーバオールな検出器時定数に最も近い
スペクトル特性を、検出器入力雑音特性及び検出器から
検出点までの構成機器特性をパラメータとして格納器6
,8に格納されたスペクトルデータより選択する。この
結果検出器自身の時定数と設置時からの時定数変化が検
知される。
計算器4によるオーバオールな検出器時定数に最も近い
スペクトル特性を、検出器入力雑音特性及び検出器から
検出点までの構成機器特性をパラメータとして格納器6
,8に格納されたスペクトルデータより選択する。この
結果検出器自身の時定数と設置時からの時定数変化が検
知される。
出力装置5は9判別器7の出力すなわち推定時定数、従
来推定値からの変化量、傾向、検出器の正常、異常の判
断を出力し、プラントの運転員等に知らせる。
来推定値からの変化量、傾向、検出器の正常、異常の判
断を出力し、プラントの運転員等に知らせる。
前記した構成の本実施例において、検出器出力雑音1は
、雑音処理器2に入り、そのパワースペクトル又はリニ
アスペクトルが電気的に計算される。カーブ調整器3は
、雑音処理器2の計算結果を電気的に受は取り、それを
用いて対象とする周波数範囲のパワースペクトル又はリ
ニアスペクトルのデータ点を最小2乗法によってカーブ
フィッティングする。
、雑音処理器2に入り、そのパワースペクトル又はリニ
アスペクトルが電気的に計算される。カーブ調整器3は
、雑音処理器2の計算結果を電気的に受は取り、それを
用いて対象とする周波数範囲のパワースペクトル又はリ
ニアスペクトルのデータ点を最小2乗法によってカーブ
フィッティングする。
時定数計算器4は、雑音処理器2から出力された統計量
よりステップ応答を計算し、オーバオールな検出器時定
数を計算する。
よりステップ応答を計算し、オーバオールな検出器時定
数を計算する。
判別器7は、事前に計算して格納されていた任意特性の
パワー又はリニアスペクトルを用いて、電気的に受は取
ったカーブ調整器3のスペクトル及び割算器4で推定し
た時定数と比較し。
パワー又はリニアスペクトルを用いて、電気的に受は取
ったカーブ調整器3のスペクトル及び割算器4で推定し
た時定数と比較し。
それに最も近いスペクトルを選定し、応答時定数を推定
する。
する。
詳述すれば1判別器7は1次、2次、それ以上の高次及
びむだ時間も含めた特性のパワースペクトル又はリニア
スペクトルを各種時定数で。
びむだ時間も含めた特性のパワースペクトル又はリニア
スペクトルを各種時定数で。
又、各種入力雑音に対しても事前に計算した結果を格納
している。これと電気的に受は取ったカーブ調整器3及
び計算器4の処理結果をベースにして、順に比較する。
している。これと電気的に受は取ったカーブ調整器3及
び計算器4の処理結果をベースにして、順に比較する。
そして調整器3及び計算器4.結果と最も誤差の少ない
スペクトル全選択する。このスペクトルを持つ検出器時
定数及び特性は既知のため、スペクトルを選択した段階
で即時時定数と特性が決定される。
スペクトル全選択する。このスペクトルを持つ検出器時
定数及び特性は既知のため、スペクトルを選択した段階
で即時時定数と特性が決定される。
前記した実施例によれば、事前にスペクトル結果を格納
しておくことにより、1次遅れ特性に限定されない高次
特性・むだ時間特性、まだ各種時定数のスペクトル及び
各種入力雑音に対するスペクトルを任意に作成できる。
しておくことにより、1次遅れ特性に限定されない高次
特性・むだ時間特性、まだ各種時定数のスペクトル及び
各種入力雑音に対するスペクトルを任意に作成できる。
これらの正常時の特性又は時定数及び入力雑音は、プラ
ント搬入前のオフライン試験結果を用いることで、試験
時の推定時定数の正常時からの偏差が定量的に把握でき
る。検出器と他計器のオーバオールな雑音が入力となる
場合は、その組合せと個々の特性が事前にわがっている
ことより。
ント搬入前のオフライン試験結果を用いることで、試験
時の推定時定数の正常時からの偏差が定量的に把握でき
る。検出器と他計器のオーバオールな雑音が入力となる
場合は、その組合せと個々の特性が事前にわがっている
ことより。
それぞれの正常時特性のスペクトル結合結果を保持して
おき、各々を比較することがらどの部分の応答時定数が
変化したかが分離把握できる。
おき、各々を比較することがらどの部分の応答時定数が
変化したかが分離把握できる。
図面は1本発明の実施例を示す系統図である。
1・・・出力雑音、2.雑音処理器、3・・・調整器。
Claims (1)
- プラントの状態量を検出する検出器の雑音出力を受けて
統計量を計算する雑音処理器、同処理器の統計量出力を
受けて統計量のカーブを円滑するカーブ調整器、前記処
理器の統計量出力を受ける時定数計算器、前記検出器の
時定数を予め格納する第八納器、前記検出器から前記処
理器の前までの時定数を格納する第2の格納器及び前記
カーブ調整器の出力と前記時定数計算器の出力を受けて
前記第1第2の格納器の記憶データと対比照合する判別
器を有してなることを特徴とする検出器の異常診断装置
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57008560A JPS58124912A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 検出器の異常診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57008560A JPS58124912A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 検出器の異常診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58124912A true JPS58124912A (ja) | 1983-07-25 |
JPS6319008B2 JPS6319008B2 (ja) | 1988-04-21 |
Family
ID=11696473
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57008560A Granted JPS58124912A (ja) | 1982-01-22 | 1982-01-22 | 検出器の異常診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58124912A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013099553A (ja) * | 2004-07-13 | 2013-05-23 | Dexcom Inc | センサデータを評価するための方法及びグルコースセンサからのデータを処理する方法 |
US8858434B2 (en) | 2004-07-13 | 2014-10-14 | Dexcom, Inc. | Transcutaneous analyte sensor |
US10610135B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-04-07 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10813577B2 (en) | 2005-06-21 | 2020-10-27 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
-
1982
- 1982-01-22 JP JP57008560A patent/JPS58124912A/ja active Granted
Cited By (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10709362B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-07-14 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US9078626B2 (en) | 2004-07-13 | 2015-07-14 | Dexcom, Inc. | Transcutaneous analyte sensor |
US10993642B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-05-04 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10524703B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-01-07 | Dexcom, Inc. | Transcutaneous analyte sensor |
US11883164B2 (en) | 2004-07-13 | 2024-01-30 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US11064917B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-07-20 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US11045120B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-06-29 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US11026605B1 (en) | 2004-07-13 | 2021-06-08 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10722152B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-07-28 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
JP2013099553A (ja) * | 2004-07-13 | 2013-05-23 | Dexcom Inc | センサデータを評価するための方法及びグルコースセンサからのデータを処理する方法 |
US10918315B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US8858434B2 (en) | 2004-07-13 | 2014-10-14 | Dexcom, Inc. | Transcutaneous analyte sensor |
US10709363B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-07-14 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10993641B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-05-04 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10799158B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-10-13 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10799159B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-10-13 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10813576B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-10-27 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10980452B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-04-20 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10827956B2 (en) | 2004-07-13 | 2020-11-10 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10932700B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-03-02 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10918314B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10918313B2 (en) | 2004-07-13 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
US10709364B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-07-14 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US11000213B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-05-11 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10918316B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10918317B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10898114B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-01-26 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10925524B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-02-23 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10856787B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-12-08 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10610135B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-04-07 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10743801B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-08-18 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10716498B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-07-21 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10918318B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-02-16 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10617336B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-04-14 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10610136B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-04-07 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US11051726B2 (en) | 2005-03-10 | 2021-07-06 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10610137B2 (en) | 2005-03-10 | 2020-04-07 | Dexcom, Inc. | System and methods for processing analyte sensor data for sensor calibration |
US10813577B2 (en) | 2005-06-21 | 2020-10-27 | Dexcom, Inc. | Analyte sensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6319008B2 (ja) | 1988-04-21 |
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