JPS5810666A - 絶縁抵抗測定方法 - Google Patents
絶縁抵抗測定方法Info
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- JPS5810666A JPS5810666A JP10967081A JP10967081A JPS5810666A JP S5810666 A JPS5810666 A JP S5810666A JP 10967081 A JP10967081 A JP 10967081A JP 10967081 A JP10967081 A JP 10967081A JP S5810666 A JPS5810666 A JP S5810666A
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- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/025—Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は活線状態で電路等の絶縁抵抗ｔ−測定監視する
方法に関する。
方法に関する。
従来変圧器の第２種１［Ｉ地−をして測定用信号である
低周波電圧を発揚する発振トランスまた轢低周波電圧の
印加されたトランスの；アを買置する漏洩電ａｔ−零相
変流器勢で検出し、この漏洩電流中の低周波成分の有効
分（印加電圧と同相の成分） ｔｊＥａｓすることによ
り絶縁抵抗を測定する第１０掬定方法例、ま大変圧器の
第２種接地ＩＩを切断し、これに低周波電圧を印加する
発振器と共に接地線に帰還する電ａｔ検出する抵抗を直
列に挿入接続し、この両端に得られる漏洩電流中の低周
波成分の絶縁抵抗による有効分を算出することによｐ絶
縁抵抗を一定する第２０捌定方法例尋がある。
低周波電圧を発揚する発振トランスまた轢低周波電圧の
印加されたトランスの；アを買置する漏洩電ａｔ−零相
変流器勢で検出し、この漏洩電流中の低周波成分の有効
分（印加電圧と同相の成分） ｔｊＥａｓすることによ
り絶縁抵抗を測定する第１０掬定方法例、ま大変圧器の
第２種接地ＩＩを切断し、これに低周波電圧を印加する
発振器と共に接地線に帰還する電ａｔ検出する抵抗を直
列に挿入接続し、この両端に得られる漏洩電流中の低周
波成分の絶縁抵抗による有効分を算出することによｐ絶
縁抵抗を一定する第２０捌定方法例尋がある。
本発明は従来のこのような活線状態で絶縁抵抗！−橢定
する方法において漏洩電流中の低周波成分から絶縁抵抗
に逆比例した値會算出する方法上提案するものである。
する方法において漏洩電流中の低周波成分から絶縁抵抗
に逆比例した値會算出する方法上提案するものである。
第１図は上記第１の方法例の説明図であり、トランスＴ
の負荷１ｚとする。ζこでは説明を容易にするために電
路１．！？単相２１Ｉ式の場合で示しているが単相３＠
、３相３線岬の場合も以下にのぺる原ｊｌは同じである
。電路の絶縁抵抗ｔ−Ｒ，対地浮遊容量Ｖｃｃとする。
の負荷１ｚとする。ζこでは説明を容易にするために電
路１．！？単相２１Ｉ式の場合で示しているが単相３＠
、３相３線岬の場合も以下にのぺる原ｊｌは同じである
。電路の絶縁抵抗ｔ−Ｒ，対地浮遊容量Ｖｃｃとする。
接地１ＩＥＬＦｉ測定用信号である周波数ｆｔ＜商用周
波数ｆｏとは異なる。）′を発振する発振トランスＯＴ
または周波数ｆ１の印加されたトランスのコアを貫通し
ている。このとき接地＠ＢＬＫ誘起される周波数ｆ１の
低周波電圧をＶｓ（ボルト〕とする。
波数ｆｏとは異なる。）′を発振する発振トランスＯＴ
または周波数ｆ１の印加されたトランスのコアを貫通し
ている。このとき接地＠ＢＬＫ誘起される周波数ｆ１の
低周波電圧をＶｓ（ボルト〕とする。
（８１１１定用信号は正弦波でも矩形波でもよいが、こ
こで拡止弦波として扱う。） 接電＠ＥＬを貫通する零相変流器ＺＣＴは、これにより
漏洩電流を検出するもので、検出した漏洩電流を周波数
ｆ！酸成分検出するフィルタＦＩＬＥ加え商用周波数ｆ
ｏ酸成分漏洩電流を除去すればフィルタＦＩＬの出力ｉ
ｆにか得られる。ここでωｌ＝２πｆ１である。
こで拡止弦波として扱う。） 接電＠ＥＬを貫通する零相変流器ＺＣＴは、これにより
漏洩電流を検出するもので、検出した漏洩電流を周波数
ｆ！酸成分検出するフィルタＦＩＬＥ加え商用周波数ｆ
ｏ酸成分漏洩電流を除去すればフィルタＦＩＬの出力ｉ
ｆにか得られる。ここでωｌ＝２πｆ１である。
発振回路０８Ｃの出力電圧ｔ−ｅｔ（ボルト〕としくか
け算器ＭＵＬＴまたは同期検波器を使って）ｉｐとｅｌ
の積をとれば、 ｉ ｙ Ｘ ＪＥ ｅ 、、４ω、ｔ＝シシ＋ ＪＶ１
ω１Ｃ１１ｉ１２ａｌｌ ｔを得る。したがってかけ算
器ＭＵＬＴの出力をローパスフィルタＬＰＰＫ通してｉ
ｔ ｘＡ ｅ ｔ ｓｉｒω１ｔの直流分を得るとロ
ーパスフィルタＬＰＦの出力ＯＵＴ即ち有効分は ０ＵＴ＝ヱ■Ｌ ■鳳 となり、ｅｓｅｖｌが一定ならばＯＵＴ’の値を知るこ
とにより絶縁抵抗ｔＩｌ定することができる。
け算器ＭＵＬＴまたは同期検波器を使って）ｉｐとｅｌ
の積をとれば、 ｉ ｙ Ｘ ＪＥ ｅ 、、４ω、ｔ＝シシ＋ ＪＶ１
ω１Ｃ１１ｉ１２ａｌｌ ｔを得る。したがってかけ算
器ＭＵＬＴの出力をローパスフィルタＬＰＰＫ通してｉ
ｔ ｘＡ ｅ ｔ ｓｉｒω１ｔの直流分を得るとロ
ーパスフィルタＬＰＦの出力ＯＵＴ即ち有効分は ０ＵＴ＝ヱ■Ｌ ■鳳 となり、ｅｓｅｖｌが一定ならばＯＵＴ’の値を知るこ
とにより絶縁抵抗ｔＩｌ定することができる。
ところで第１図からも明らかなように上記の１ｒＸＪｅ
ｓｓｔ呻Ｉｔの演算を行なって電路に誘起されている電
圧Ｊ２Ｖ１ｓｔａａ＋１１との同相成分を得るに当って
は、実際には零相変流器ＺＣＴ、フィルタＦＩＬ等によ
る位相ずれｔ−補償する移相器（第１図、第２ａｉ１で
は図示していない。）ｔフィルタＦＩＬとかけ算器ＭＯ
ＬＴ間また社発振器０８Ｃとかけ算器ＭＵＬ’Ｉ’間の
いずれかに少くとも挿入して、これらの位相ずれを打消
すことによってはじめて０式が得られる。 しかし、
これらの位相ずれ拡温度、経年変化等によっても変化す
るため正確に位相補償することは極めて曹緘な位相補償
回路を必要とし経済的で麦い。
ｓｓｔ呻Ｉｔの演算を行なって電路に誘起されている電
圧Ｊ２Ｖ１ｓｔａａ＋１１との同相成分を得るに当って
は、実際には零相変流器ＺＣＴ、フィルタＦＩＬ等によ
る位相ずれｔ−補償する移相器（第１図、第２ａｉ１で
は図示していない。）ｔフィルタＦＩＬとかけ算器ＭＯ
ＬＴ間また社発振器０８Ｃとかけ算器ＭＵＬ’Ｉ’間の
いずれかに少くとも挿入して、これらの位相ずれを打消
すことによってはじめて０式が得られる。 しかし、
これらの位相ずれ拡温度、経年変化等によっても変化す
るため正確に位相補償することは極めて曹緘な位相補償
回路を必要とし経済的で麦い。
本発明はこのような、位相ずれに無関係に絶縁抵抗に逆
比例した測定量を得る方法を提案するものである。
比例した測定量を得る方法を提案するものである。
零相質流器ＺＣＴ 、フィルタＦＩＬによる位相ずれｔ
＃とすればフィルタＦＩＬＯ生の出力ゑｆ′□は ■ と表すことができる。
＃とすればフィルタＦＩＬＯ生の出力ゑｆ′□は ■ と表すことができる。
と仁ろで電路に誘起した低周波電圧ｖ／２Ｖ１ｓｕω１
ｔｔ固定値＃１だけ位相推移した電圧Ｊｅ １ｓｉ１１
（ωｔｔ＋６１） Ｆｉ発振器０８Ｃ出力に固定移相器
を付加して発生し、これとｌｆ′との積をかけ算器ＭＵ
ＬＴでとれば １、ｘ、／１ｖｌｓｉｎ（ω１１＋６１）偏（ω１ｔ＋
＃）＊５ｉｉ（ωｌｔ＋＄１）＝皿（＝（’ ｈ） Ｃ
０Ｂ（２ωｔｊ４Ｊ＋θ１））＋ω、ＣｅｌＶ１（３ｉ
１１（２ｍｍｔ−＋−ａ＋＄１）−＋−５ｉｌ（＃ｌ
＃））［Ｆ］ このトキのローパスフィルタＬＰＦ出力ｔυ。
ｔｔ固定値＃１だけ位相推移した電圧Ｊｅ １ｓｉ１１
（ωｔｔ＋６１） Ｆｉ発振器０８Ｃ出力に固定移相器
を付加して発生し、これとｌｆ′との積をかけ算器ＭＵ
ＬＴでとれば １、ｘ、／１ｖｌｓｉｎ（ω１１＋６１）偏（ω１ｔ＋
＃）＊５ｉｉ（ωｌｔ＋＄１）＝皿（＝（’ ｈ） Ｃ
０Ｂ（２ωｔｊ４Ｊ＋θ１））＋ω、ＣｅｌＶ１（３ｉ
１１（２ｍｍｔ−＋−ａ＋＄１）−＋−５ｉｌ（＃ｌ
＃））［Ｆ］ このトキのローパスフィルタＬＰＦ出力ｔυ。
とすると
となる。同様に固定移相器を用いて電圧ＪＥｅｌｓｉａ
（ωｌｔ＋’ｘ） （但しａｌｓｅｓ）を発生し、こ
れとｉ−′との積をとると、このとき得られるローパス
フィルタ出力υ３は となる。更に同様に電圧Ｊ２ ｅ ｔ ５ｉＩｌ（（ａ
ｌｌｔ ＋６３ ） ｆ発生して同様な処ｍ１行えば（
但しｏ１＼θ３゜０２＼０３） となる。
（ωｌｔ＋’ｘ） （但しａｌｓｅｓ）を発生し、こ
れとｉ−′との積をとると、このとき得られるローパス
フィルタ出力υ３は となる。更に同様に電圧Ｊ２ ｅ ｔ ５ｉＩｌ（（ａ
ｌｌｔ ＋６３ ） ｆ発生して同様な処ｍ１行えば（
但しｏ１＼θ３゜０２＼０３） となる。
ここでυ１と５ｉｎ（Ｆｌ−リ、υ２と５ｉＩ（ｅｌ−
＃） １２）積をとってその差を求めてみると （Ｊ ）ｓｉｓ （θｍ−＃）−ｕｌｓｘｉ（＃＞
＃） ■０）） ［相］ となる。
＃） １２）積をとってその差を求めてみると （Ｊ ）ｓｉｓ （θｍ−＃）−ｕｌｓｘｉ（＃＞
＃） ■０）） ［相］ となる。
同様にυ諺とｓｕ（＃ｓ ＃）ｅυ８と５ｉｌ（ｅ２
−＃）の積をとってその差を求めると ｕ ｇ ｓｉａ （θｘ ＃） ’ｘｓｕ（＃１−ｅ
） ＠となる。
−＃）の積をとってその差を求めると ｕ ｇ ｓｉａ （θｘ ＃） ’ｘｓｕ（＃１−ｅ
） ＠となる。
又、υＩａｉ朧（＃ｔ ｅ）−〇ｇｓｉｍ（＃ｔ−４
）＝Ａ として左辺を展開すると （ｕｌｓｉｎ＃２−ＩＪ１３ｉ１１１ｊｌ）Ｑ）Ｈｊ−
（ｕ、ｃｏｓ＃２ ｕ２ｃＸ）８６１）３ｉ＠１Ｉ＝
Ａ ここで’ １１１ｆｉ １１ ｍ ！ ！ ａｌａ ｅ
ｌ ”” ａ 、 ｕ １ ｃ０３σ２１Ｊ ２ Ｑ
）Ｓ ｅ １ ＝＝ ｌ）とおくと Ｂｃｎｓｅ−ｂｓｉｉ＃＝＝Ａ ＠となる。
）＝Ａ として左辺を展開すると （ｕｌｓｉｎ＃２−ＩＪ１３ｉ１１１ｊｌ）Ｑ）Ｈｊ−
（ｕ、ｃｏｓ＃２ ｕ２ｃＸ）８６１）３ｉ＠１Ｉ＝
Ａ ここで’ １１１ｆｉ １１ ｍ ！ ！ ａｌａ ｅ
ｌ ”” ａ 、 ｕ １ ｃ０３σ２１Ｊ ２ Ｑ
）Ｓ ｅ １ ＝＝ ｌ）とおくと Ｂｃｎｓｅ−ｂｓｉｉ＃＝＝Ａ ＠となる。
同様にａｇａｉｎ（＃ｓ ＃）−１Ｊｓｓｉ＠（＃ｚ
＃）＝Ｂとシテ左辺を展開すると （ｕ ｚ ｓｉ＠ｅ Ｂ＋ｕＢ ５ｉｌｌ ＃ ｚ ）
ＣｏＳａ （ｕ ２ ＣＯ３ａ ｇ−（Ｉ Ｂ Ｃｏ
ｇ ｅ ２ ）３ｉ１１θ＝Ｂ ココアＬ）２Ｓｉｌｒｅ＠ （ｊｊｓｉ！’！＝ｅ
、 ｌ）２Ｃｍθｓ ＩＪ Ｈｃｏｓ ａ ２＝＝
４とおくと ６ ｃｏｓ ｅ −ｄ ｓｉｎ １９ ＝ Ｂ
Ｑとなる。
＃）＝Ｂとシテ左辺を展開すると （ｕ ｚ ｓｉ＠ｅ Ｂ＋ｕＢ ５ｉｌｌ ＃ ｚ ）
ＣｏＳａ （ｕ ２ ＣＯ３ａ ｇ−（Ｉ Ｂ Ｃｏ
ｇ ｅ ２ ）３ｉ１１θ＝Ｂ ココアＬ）２Ｓｉｌｒｅ＠ （ｊｊｓｉ！’！＝ｅ
、 ｌ）２Ｃｍθｓ ＩＪ Ｈｃｏｓ ａ ２＝＝
４とおくと ６ ｃｏｓ ｅ −ｄ ｓｉｎ １９ ＝ Ｂ
Ｑとなる。
０式及び０式よ〕
（ａｄ −ｂｅ ） ｓｊｓθ＝Ａｅ−Ｂａ Ｏ
（ａｄ−ｂｅ ）ｃｏｓθ＝Ａｄ−Ｂｂ ＠［相
］、［相］式より （Ａｅ−Ｂａ）＋（Ａｄ−Ｂｂ）＝（ａｄ−ｂｅ）
＠となる。
（ａｄ−ｂｅ ）ｃｏｓθ＝Ａｄ−Ｂｂ ＠［相
］、［相］式より （Ａｅ−Ｂａ）＋（Ａｄ−Ｂｂ）＝（ａｄ−ｂｅ）
＠となる。
ζこで０式、［相］式に於て
ｌＶ１
α＝ ＳＵ （ａ鵞−０１）、βｚｓｉｍ（１ｍ ＃り
＊ ｓ＝−［相］凰 とおけばＯ弐社次の様になる。
＊ ｓ＝−［相］凰 とおけばＯ弐社次の様になる。
、１（αｅ−βａ）”＋ｓ”（ａｄ−βｂ）” ＝ （
ａｄ−ｂｅ ） ”０式の右辺は全て零相変流器ＺＣＴ
、フィルタＰＩＬＫよって生ずる位相ずれのＣとは無
関係な値であり、 １ＶＩ Ｓ＝□であるので 鼠 上記演算を行えなえば−に左右されない絶縁抵抗値を求
める事が出来る。
ａｄ−ｂｅ ） ”０式の右辺は全て零相変流器ＺＣＴ
、フィルタＰＩＬＫよって生ずる位相ずれのＣとは無
関係な値であり、 １ＶＩ Ｓ＝□であるので 鼠 上記演算を行えなえば−に左右されない絶縁抵抗値を求
める事が出来る。
本発明ｔ−第２図を用いてまとめて説明すると発振回路
Ｏ８Ｃの発振局波数をｆｌとすれば、ＦＩＬの出力には
０式の１ｔ′が得られる。このｔ 、Ｉと低周波電圧を
制御回路Ｃ０ＮＴと移相器Ｐ８に導いて互に異なる固定
値’Ｉｔ’意ｓ’ｌだけ夫々位相のずれた電圧Ｊｅ１ｓ
ｉｍ（ωｔｔ＋ｌｔ） 、 Ｊ２ｓｉｉ（ω１ ｔ＋＃
ｇ） ｙ Ｊａｉｌ（ω１ ｔ＋ｉｔｍ） を作り、夫
々との積を掛算器ＭＵＬＴにてとりローパスフィルター
ＬＰＰにて夫々の直流分を求めれば■式、■式、０式の
ｖｉｓυ２．ｕ３電圧が得られる。
Ｏ８Ｃの発振局波数をｆｌとすれば、ＦＩＬの出力には
０式の１ｔ′が得られる。このｔ 、Ｉと低周波電圧を
制御回路Ｃ０ＮＴと移相器Ｐ８に導いて互に異なる固定
値’Ｉｔ’意ｓ’ｌだけ夫々位相のずれた電圧Ｊｅ１ｓ
ｉｍ（ωｔｔ＋ｌｔ） 、 Ｊ２ｓｉｉ（ω１ ｔ＋＃
ｇ） ｙ Ｊａｉｌ（ω１ ｔ＋ｉｔｍ） を作り、夫
々との積を掛算器ＭＵＬＴにてとりローパスフィルター
ＬＰＰにて夫々の直流分を求めれば■式、■式、０式の
ｖｉｓυ２．ｕ３電圧が得られる。
この得られた電圧υ１＊’！＊’３と制御回路Ｃ０ＮＴ
にて得られる固定値ｅ、、ａ、、ｅｓとで演算器ＡＵに
よシａ ＠ ｂ １ ｃ ｅ ｄ ｅα、βの演算を行
い０式に代入すれば座 であるＳがもとまる。
にて得られる固定値ｅ、、ａ、、ｅｓとで演算器ＡＵに
よシａ ＠ ｂ １ ｃ ｅ ｄ ｅα、βの演算を行
い０式に代入すれば座 であるＳがもとまる。
０式により求められた絶縁抵抗に反比例した量は［相］
式でも明らかな様に零相質流器ＺＣＴ、フィルタＦＩＬ
による位相ずれ＃に全く無関係であシ、これらによる温
度、経年変化等にかかわる−のずれを無視することがで
きる。
式でも明らかな様に零相質流器ＺＣＴ、フィルタＦＩＬ
による位相ずれ＃に全く無関係であシ、これらによる温
度、経年変化等にかかわる−のずれを無視することがで
きる。
なお、温度等の影４Ｉｌｔ受けずに固定値’Ｉｓ’！、
−３だけ位相のずれ九電圧を発生する方法としては次の
４のがある。即ち発振回路Ｏ８Ｃの出力を隼振周波数よ
シ十分分高く且つ安定な周波数でサンプリングし、サン
プリングして得たパルスをディジタルカウンターで計数
する等の方法管とるものであゐ。この方法によって、そ
れらの電圧が容易に実現できることは明らかである。
−３だけ位相のずれ九電圧を発生する方法としては次の
４のがある。即ち発振回路Ｏ８Ｃの出力を隼振周波数よ
シ十分分高く且つ安定な周波数でサンプリングし、サン
プリングして得たパルスをディジタルカウンターで計数
する等の方法管とるものであゐ。この方法によって、そ
れらの電圧が容易に実現できることは明らかである。
本発明の方法は従来の方法に比べ、複雑な位相補償回路
が不要となっ九ことで、安定度の向上がはかられ、その
工業的価値は大なるものである。
が不要となっ九ことで、安定度の向上がはかられ、その
工業的価値は大なるものである。
第１図は従来の絶縁測定方法を説明する同第２図は本発
明の実施例を示す図 Ｔ ニドランス ＯＴ ：発振トランスコア ＺＣＴ ：零相変流器 ０８Ｃ：発振回路 ＦＩＬ ：フィルタ ＭＵＬＴ ：かけ算器 ＬＰＦ ：ローパスフィルタ ＰＳ ：移相器 Ｃ０ＮＴ ：制御回路 ＡＵ ：演算回路 ＥＬ ：接地線 Ｒ：絶縁抵抗 Ｃ；対地浮遊容量 ２ ：負荷機器 特許出願人 東洋通信機株式会社
明の実施例を示す図 Ｔ ニドランス ＯＴ ：発振トランスコア ＺＣＴ ：零相変流器 ０８Ｃ：発振回路 ＦＩＬ ：フィルタ ＭＵＬＴ ：かけ算器 ＬＰＦ ：ローパスフィルタ ＰＳ ：移相器 Ｃ０ＮＴ ：制御回路 ＡＵ ：演算回路 ＥＬ ：接地線 Ｒ：絶縁抵抗 Ｃ；対地浮遊容量 ２ ：負荷機器 特許出願人 東洋通信機株式会社
Claims (1)
- 変圧器のＩＩＩ！勤Ｓｔ通じて電路に掬定信号である低
周波の電圧ｖａｉｌ誘導または直列〆結合によって印加
し、諌接地−に帰還する該低周波の漏洩電流を検出して
活線状態で骸電路の絶縁抵抗ｔＩ１１定する方法におい
て、印加した低周波電圧と同−周波数でありて且、互に
位相の異なる三つの低周波電圧を用意しその夫々と、該
低周波の漏洩電流との積を求め、この積で得られる三つ
の直流分と誼互に異なる三つの位相値と管用いて、所定
の算式により、諌電路の絶縁抵抗ｔｌｌｊ定すること１
０黴とする絶縁抵抗測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10967081A JPH0247708B2 (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | Zetsuenteikosokuteihoho |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10967081A JPH0247708B2 (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | Zetsuenteikosokuteihoho |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5810666A true JPS5810666A (ja) | 1983-01-21 |
| JPH0247708B2 JPH0247708B2 (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=14516189
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10967081A Expired - Lifetime JPH0247708B2 (ja) | 1981-07-13 | 1981-07-13 | Zetsuenteikosokuteihoho |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0247708B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4851761A (en) * | 1988-11-03 | 1989-07-25 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for measuring insulation resistance of electric line |
| US4857855A (en) * | 1988-11-03 | 1989-08-15 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for compensating for phase of insulation resistance measuring circuit |
| US4857830A (en) * | 1988-11-03 | 1989-08-15 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for measuring insulation resistance of electric line |
-
1981
- 1981-07-13 JP JP10967081A patent/JPH0247708B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4851761A (en) * | 1988-11-03 | 1989-07-25 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for measuring insulation resistance of electric line |
| US4857855A (en) * | 1988-11-03 | 1989-08-15 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for compensating for phase of insulation resistance measuring circuit |
| US4857830A (en) * | 1988-11-03 | 1989-08-15 | Toyo Communication Equipment Co., Ltd. | Method for measuring insulation resistance of electric line |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0247708B2 (ja) | 1990-10-22 |
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