JPH1195182A - Method for inspecting image quality of liquid crystal display panel - Google Patents
Method for inspecting image quality of liquid crystal display panelInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル
（ＬＣＤパネル）の画質検査方法に関し、特に、パネル
表面に付着したゴミを画素欠陥として認識しない画質検
査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image quality inspection method for a liquid crystal display panel (LCD panel), and more particularly to an image quality inspection method that does not recognize dust adhering to a panel surface as a pixel defect.
【０００２】[0002]
【従来の技術】液晶表示パネルの製造に際しては、完成
した液晶表示パネルが所期の表示特性を有するかどう
か、特に、パネルに画素欠陥がないかどうかを検査する
必要があり、この検査は画質検査と呼ばれる。液晶表示
パネルの画質検査は、一般に、自動化されて実行され
る。具体的には、テスターを使用し、液晶表示パネルを
駆動して画質検査用の画像パターンを表示させ、表示さ
れた画像をビデオカメラなどで撮像し、得られた画像デ
ータに対して画像処理を施すことによって、実行され
る。2. Description of the Related Art In manufacturing a liquid crystal display panel, it is necessary to inspect whether a completed liquid crystal display panel has desired display characteristics, in particular, whether or not the panel has a pixel defect. Called inspection. Generally, the image quality inspection of the liquid crystal display panel is performed in an automated manner. Specifically, using a tester, the liquid crystal display panel is driven to display an image pattern for image quality inspection, the displayed image is captured by a video camera or the like, and image processing is performed on the obtained image data. It is performed by applying.
【０００３】上述したような液晶表示パネルの画質検査
は、必ずしも空気清浄度が高いクリーンルーム内で実行
されるとは限られない。そのため、テスターのプローバ
の可動部から発生するゴミや空中に浮遊するゴミなど
が、液晶表示パネルの表面やバックライト部に付着する
ことがある。このように付着したゴミは、テスターによ
る画質検査の際、暗点欠陥として検出されることにな
る。[0003] The image quality inspection of the liquid crystal display panel as described above is not always performed in a clean room having a high air cleanliness. Therefore, dust generated from the movable part of the prober of the tester or dust floating in the air may adhere to the surface of the liquid crystal display panel or the backlight. The dust adhering in this manner is detected as a dark spot defect during an image quality inspection by a tester.
【０００４】ところで画質検査の目的は、液晶表示パネ
ル自体に画素の欠陥があるかなどを検査することであ
り、液晶表示パネルにゴミが付着しているかどうかを調
べることではない。そのため従来は、エアーガンで吹き
飛ばすかアルコールで拭くなどして液晶表示パネルに付
着したゴミを除去し、しかる後に、液晶表示パネルの画
質検査を行うようにしていた。そして、ゴミが完全に除
去されたものとして、画質検査での処理を行っていた。The purpose of the image quality inspection is to inspect the liquid crystal display panel itself for a pixel defect or the like, but not to check whether dust is attached to the liquid crystal display panel. Therefore, conventionally, dust adhering to the liquid crystal display panel has been removed by blowing it off with an air gun or wiping it with alcohol, and then an image quality test of the liquid crystal display panel has been performed. Then, the image quality inspection is performed on the assumption that the dust is completely removed.
【０００５】しかしながら実際には、エアーガンによっ
て全てのゴミが吹き飛ばされるものでもないし、アルコ
ールで拭いた場合には拭き残しが生じたりするし、ま
た、プローバ内での搬送中に液晶表示パネルに付着する
ゴミもある。これらのゴミは全て暗点欠陥として処理さ
れるので、画質検査の後、別途、目視によって再確認を
行っていた。However, in practice, all dust is not blown off by an air gun, and when wiped with alcohol, unwiped residue may be generated. In addition, the dust adheres to a liquid crystal display panel during transportation in a prober. There is garbage. Since all of these dusts are treated as dark spot defects, they are separately visually re-confirmed after the image quality inspection.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
画質検査方法は、液晶表示パネルの表面から完全にゴミ
を除去した状態で検査することができないので、付着し
ているゴミが暗点欠陥として処理され、画質検査後に目
視による再確認を必要とするという問題点がある。As described above, the conventional image quality inspection method cannot inspect a liquid crystal display panel in a state where dust is completely removed from the surface of the liquid crystal display panel. And it is necessary to visually confirm the image quality after the image quality inspection.
【０００７】本発明の目的は、付着しているゴミの影響
をなくし、目視による再確認を必要としない、液晶表示
パネルの画質検査方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide an image quality inspection method for a liquid crystal display panel which eliminates the influence of attached dust and does not require visual reconfirmation.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示パネル
の画質検査方法は、検査対象の液晶表示パネルにおける
欠陥部分を検出する画質検査方法において、液晶表示パ
ネルを非駆動状態として撮像し、撮像によって得られた
画像データに対して欠陥検出処理を実行し、液晶表示パ
ネルに付着したゴミの位置を検出する第１の工程と、液
晶表示パネルを駆動状態として撮像し、撮像によって得
られた画像データに対して欠陥検出処理を実行して欠陥
の位置を検出する第２の工程と、第２の工程で検出され
た欠陥の位置のうち、第１の工程で得られたゴミの位置
に対応するものを除去する第３の工程と、を有すること
を特徴とする。The image quality inspection method for a liquid crystal display panel according to the present invention is an image quality inspection method for detecting a defective portion in a liquid crystal display panel to be inspected. Performing a defect detection process on the image data obtained by the first step to detect the position of dust adhering to the liquid crystal display panel, and taking an image with the liquid crystal display panel being driven, A second step of performing a defect detection process on the data to detect the position of the defect, and corresponding to the position of the dust obtained in the first step among the positions of the defect detected in the second step. And a third step of removing an object to be removed.
【０００９】具体的には本発明の液晶表示パネルの画質
検査方法は、液晶表示パネルを非駆動状態として撮像
し、撮像によって得られた画像データに対して欠陥検出
処理を実行し、検出された欠陥に対応する位置の画素値
を第１の値としその他の画素の値を第２の値として液晶
表示パネルを表現する２値ビットマップデータである第
１の欠陥ビットマップを生成する工程と、第１の欠陥ビ
ットマップにおいて、値が第１の値である画素の近傍の
画素の値を第１の値に変化させ、ゴミリジェクト用ビッ
トマップを生成する工程と、液晶表示パネルを駆動状態
として撮像し、撮像によって得られた画像データに対し
て欠陥検出処理を実行し、検出された欠陥に対応する位
置の画素値を第１の値としその他の画素の値を第２の値
として液晶表示パネルを表現する２値ビットマップデー
タである第２の欠陥ビットマップを生成する工程と、ゴ
ミリジェクト用ビットマップと第２の欠陥ビットマップ
とを比較し、第２の欠陥ビットマップにおいて画素値が
第１の値となっている画素のうち、ゴミリジェクト用ビ
ットマップでの対応する画素の値が第１の値となってい
るものにつき、画素値を第２の値とする工程と、を有す
る。ゴミリジェクト用ビットマップを生成する際には、
第１の欠陥ビットマップにおいて値が第１の値である画
素の近傍の画素として、当該値が第１の値である画素に
対して周辺各方向に１画素分拡大した範囲内にある８つ
の画素、すなわち、上下左右の４方向と斜め方向の４方
向でそれぞれ隣接する１画素ずつを用いるようにするこ
とが好ましい。More specifically, in the image quality inspection method for a liquid crystal display panel according to the present invention, an image is taken with the liquid crystal display panel in a non-driving state, a defect detection process is performed on image data obtained by the imaging, and the defect is detected. Generating a first defect bitmap, which is binary bitmap data representing a liquid crystal display panel, with a pixel value at a position corresponding to a defect as a first value and other pixel values as a second value; Changing a value of a pixel in the vicinity of a pixel having a first value in the first defective bitmap to a first value to generate a dust reject bitmap; and setting the liquid crystal display panel to a driving state. An image is taken, a defect detection process is performed on the image data obtained by the image pickup, and a pixel value at a position corresponding to the detected defect is set as a first value and other pixel values are set as a second value. Panel Generating a second defect bitmap, which is binary bitmap data representing the following, and comparing the dust rejection bitmap with the second defect bitmap, and determining whether the pixel value in the second defect bitmap is the second defect bitmap. And setting the pixel value to a second value if the value of the corresponding pixel in the dust reject bitmap is a first value among the pixels having a value of 1. When generating a garbage reject bitmap,
In the first defect bitmap, eight pixels within a range that is one pixel larger in each peripheral direction than the pixel whose value is the first value as pixels near the pixel whose value is the first value. It is preferable to use pixels, that is, one pixel that is adjacent to each of the four directions of up, down, left, and right and the four directions of oblique directions.
【００１０】本発明では、ノーマリホワイト状態などの
非駆動状態の液晶表示パネルを撮像した画像データか
ら、欠陥検出処理により、その液晶表示パネル上に付着
したゴミの位置を検出する。そして、液晶表示パネルを
駆動状態にし例えば欠陥検出用のパターンを表示させ、
その状態で撮像した画像データに基づき欠陥検出処理を
行う。駆動状態での欠陥検出処理では、液晶表示パネル
の画素等の欠陥のほかに液晶表示パネルに付着したゴミ
も検出されるが、非駆動状態で検出したゴミの位置によ
り駆動状態での欠陥検出結果からゴミ情報をリジェクト
するので、結局、本発明によれば、ゴミの付着の有無に
関わらず、液晶表示パネルでの画素等の欠陥のみを検出
することができる。In the present invention, the position of dust adhering to the liquid crystal display panel is detected by defect detection processing from image data obtained by imaging the liquid crystal display panel in a non-driving state such as a normally white state. Then, the liquid crystal display panel is driven to display, for example, a pattern for defect detection,
A defect detection process is performed based on the image data captured in that state. In the defect detection processing in the driving state, dust adhering to the liquid crystal display panel is detected in addition to the defect of the pixels of the liquid crystal display panel, etc. Therefore, according to the present invention, only defects such as pixels on the liquid crystal display panel can be detected regardless of the presence or absence of dust.
【００１１】[0011]
【発明の実施の形態】次に、本発明の好ましい実施の形
態について、図面を参照して説明する。図１(a)は本発
明の実施の一形態の画質検査方法の手順を示すフローチ
ャートであり、図１(b)はこの画質検査方法での欠陥検
出処理の手順を示すフローチャートである。本実施形態
の画質検査方法は、大きく分けて、ゴミリジェクト用ビ
ットマップの作成処理４１と、通常の欠陥検査工程４２
と、ゴミリジェクト用ビットマップの作成処理４１で得
られた結果と通常の検査結果工程４２で得られた結果と
を比較して液晶表示パネル上のゴミによる影響を排除す
る工程とによって、構成されている。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1A is a flowchart illustrating a procedure of an image quality inspection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a flowchart illustrating a procedure of a defect detection process in the image quality inspection method. The image quality inspection method of this embodiment is roughly divided into a dust rejection bitmap creation process 41 and a normal defect inspection process 42.
And a step of comparing the result obtained in the dust rejection bitmap creation processing 41 with the result obtained in the normal inspection result step 42 to eliminate the influence of dust on the liquid crystal display panel. ing.
【００１２】最初に、ゴミリジェクト用ビットマップの
作成処理４１を行う。ここではまず、検査対象の液晶表
示パネルを非駆動状態（ノーマリホワイト状態）とし
（ステップ５１）、この状態で液晶表示パネルをビデオ
カメラ等で撮像して、画像を取り込む（ステップ５
２）。このとき撮像による画像データの種類は、画素ご
とに濃淡（多段階での階調）を表現できるようなデータ
である濃淡画像とする。そして、取り込んだ画像データ
に対して欠陥検出処理（ステップ５３）を行って、欠陥
を検出する。First, a garbage reject bitmap creation process 41 is performed. Here, first, the liquid crystal display panel to be inspected is set in a non-driving state (normally white state) (step 51), and in this state, the liquid crystal display panel is imaged by a video camera or the like and an image is captured (step 5).
2). At this time, the type of image data obtained by imaging is a grayscale image that is data that can express grayscale (multi-level gradation) for each pixel. Then, a defect detection process (step 53) is performed on the captured image data to detect a defect.
【００１３】欠陥検出処理は、液晶表示パネルを撮像し
て得た濃淡画像データに対して画像処理を施し、欠陥部
分を特定する２値画像データを得る処理である。具体的
には、図１(b)に示すように、画像表示パネルを撮像し
て得た濃淡画像（以下、原画像という）に対して平均値
フィルタやメディアンフィルタなどのフィルタリング処
理を施し、原画像を平滑化した画像データであるフィル
タリング画像を得る（ステップ７１）。このフィルタリ
ング画像も濃淡画像である。次に、原画像からフィルタ
リング画像を差し引いた濃淡画像である差画像を計算す
る（ステップ７２）。差画像を得たら、これに対し所定
のしきい値によるスライス処理を行って２値画像を生成
し（ステップ７３）、この２値画像によって欠陥を検出
する（ステップ７４）。この処理により、原画像での画
素値とフィルタリング画像での画素値との差が上述のし
きい値以上である画素が、液晶表示パネルでの欠陥部分
を表す画素として検出されることになる。The defect detection process is a process of performing image processing on grayscale image data obtained by imaging a liquid crystal display panel to obtain binary image data for specifying a defective portion. Specifically, as shown in FIG. 1 (b), a gray-scale image (hereinafter, referred to as an original image) obtained by imaging the image display panel is subjected to filtering processing such as an average filter and a median filter to obtain an original image. A filtered image, which is image data obtained by smoothing the image, is obtained (step 71). This filtered image is also a grayscale image. Next, a difference image which is a gray-scale image obtained by subtracting the filtering image from the original image is calculated (step 72). When the difference image is obtained, a slicing process is performed on the difference image to generate a binary image (step 73), and a defect is detected from the binary image (step 74). By this processing, a pixel in which the difference between the pixel value in the original image and the pixel value in the filtered image is equal to or larger than the above-described threshold is detected as a pixel representing a defective portion in the liquid crystal display panel.
【００１４】上述した欠陥検出処理が終了したら、欠陥
検出結果に基づき、欠陥ビットマップを作成する（ステ
ップ５４）。欠陥ビットマップは、欠陥として検出され
た画素を“１”、それ以外の画素を“０”として各画素
をそれぞれ１ビットのデータで表したビットマップデー
タである。そしてこの欠陥ビットマップにおいて画素値
が“１”である画素の周辺の幅１画素分の範囲内にある
各画素の値を“１”とするようにビットマップ拡張処理
を実行し、ゴミリジェクト用ビットマップ画像を生成す
る（ステップ５５）。具体的には、ステップ５４で生成
した欠陥ビットマップにおいてある画素の値が“１”で
あったとすると、ゴミリジェクト用ビットマップ画像で
は、その画素と、その画素に対して上下左右の４方向の
それぞれにおいて隣接する画素（４画素）と、斜め方向
の４方向のそれぞれにおいて隣接する画素（４画素）の
合計９画素の値が“１”となっている。When the above-described defect detection processing is completed, a defect bit map is created based on the defect detection result (step 54). The defect bitmap is bitmap data in which each pixel is represented by 1-bit data, with a pixel detected as a defect being “1” and other pixels being “0”. Then, in this defective bitmap, a bitmap extension process is performed so that the value of each pixel within a range of one pixel in width around the pixel whose pixel value is “1” is set to “1”, and the dust rejection is performed. A bitmap image is generated (step 55). Specifically, assuming that the value of a pixel in the defective bitmap generated in step 54 is “1”, in the dust reject bitmap image, the pixel and its four The value of a total of nine adjacent pixels (four pixels) and four adjacent pixels (four pixels) in each of the four oblique directions is “1”.
【００１５】以上の処理により、ゴミリジェクト用ビッ
トマップの作成処理４１が終了する。With the above processing, the garbage rejection bitmap creation processing 41 is completed.
【００１６】次に、通常の欠陥検査工程４２を実行す
る。通常の欠陥検査工程４２では、液晶表示パネルを駆
動して欠陥検出用のパターンを表示させ（ステップ５
６）、この状態で液晶表示パネルをビデオカメラ等で撮
像して、濃淡画像データとして取り込む（ステップ５
７）、取り込んだ濃淡画像データに対して上述と同様の
手順の欠陥検出処理を実行し（ステップ５８）、欠陥ビ
ットマップを作成する（ステップ５９）。この通常の欠
陥検査工程４２は、液晶表示パネルの画質検査を行う際
の標準的な工程である。Next, a normal defect inspection step 42 is performed. In the normal defect inspection step 42, the liquid crystal display panel is driven to display a defect detection pattern (step 5).
6) In this state, the liquid crystal display panel is imaged by a video camera or the like, and is captured as grayscale image data (step 5).
7) A defect detection process is performed on the captured grayscale image data in the same procedure as described above (step 58), and a defect bitmap is created (step 59). The normal defect inspection step 42 is a standard step for performing an image quality inspection of the liquid crystal display panel.
【００１７】次に、ステップ５５のビットマップ拡張処
理で得たゴミリジェクト用ビットマップと、通常の欠陥
検査工程４２で得た欠陥ビットマップを画素ごとに比較
し、マッチングをとる（ステップ６０）。そして、通常
の欠陥検査工程４２で得た欠陥ビットマップで値が
“１”である画素のうち、ゴミリジェクト用ビットマッ
プにおいて対応する画素の値が“１”であるものは、液
晶表示パネルに付着したゴミによるものとしてリジェク
トし、その画素の値を“０”とする（ステップ６１）。
そして、ステップ６１においてゴミ情報がリジェクトさ
れた欠陥ビットマップに基づいて、画質検査結果を出力
し（ステップ６２）、画質検査を終了する。Next, the bitmap for dust rejection obtained in the bitmap expansion process in step 55 is compared with the defect bitmap obtained in the normal defect inspection process 42 for each pixel, and matching is performed (step 60). Then, among the pixels having the value “1” in the defect bitmap obtained in the normal defect inspection process 42, those having the value “1” in the corresponding pixel in the dust rejection bitmap are displayed on the liquid crystal display panel. It is rejected as being due to the attached dust, and the value of the pixel is set to "0" (step 61).
Then, an image quality inspection result is output based on the defect bitmap from which dust information has been rejected in step 61 (step 62), and the image quality inspection ends.
【００１８】図２は、本実施形態の画質検査方法の各段
階での画像を説明する図である。ゴミリジェクト用ビッ
トマップの作成処理４１のステップ５４では、欠陥ビッ
トマップ１１が生成する。図２においては、各ビットマ
ップの画素のうち、値が“１”であるもののみが“１”
と表示され、値が“０”である画素は空白で示されてい
る。液晶表示パネルを非駆動状態とし、ノーマリホワイ
トの状態で撮像した濃淡画像においては、液晶表示パネ
ルに付着したゴミのみが黒く表現されているから、この
濃淡画像から得た欠陥ビットマップ１１においては、ゴ
ミに対応する画素の値が“１”であり、残りの画素の値
は“０”となっている。FIG. 2 is a diagram for explaining an image at each stage of the image quality inspection method according to the present embodiment. In step 54 of the dust rejection bitmap creation process 41, the defect bitmap 11 is generated. In FIG. 2, among the pixels of each bitmap, only the pixel whose value is “1” is “1”.
, And the pixel whose value is “0” is indicated by a blank. In a grayscale image captured in a normally white state with the liquid crystal display panel in a non-driving state, only dust adhering to the liquid crystal display panel is represented in black, so in the defect bitmap 11 obtained from this grayscale image, , The value of the pixel corresponding to dust is “1”, and the values of the remaining pixels are “0”.
【００１９】このような欠陥ビットマップ１１に対して
ステップ５５のビットマップ拡張処理を施すことによ
り、ゴミリジェクト用ビットマップ１２が得られる。ゴ
ミリジェクト用ビットマップ１２では、欠陥ビットマッ
プ１１において値が“１”となっている画素（付着した
ゴミに対応する画素）を各方向に１画素分拡大した領域
の画素の値が“１”に設定されている。なお、ビットマ
ップ拡張処理によって値が“１”である画素の領域を拡
大するのは、あとの処理において位置ずれの影響を受け
にくくするためである。By subjecting such a defective bitmap 11 to the bitmap extension processing of step 55, a dust reject bitmap 12 is obtained. In the dust reject bitmap 12, the value of a pixel in an area obtained by enlarging a pixel having a value of “1” in the defect bitmap 11 (a pixel corresponding to attached dust) by one pixel in each direction is “1”. Is set to The reason why the area of the pixel whose value is “1” is expanded by the bitmap expansion processing is to make the processing less susceptible to positional deviation in the subsequent processing.
【００２０】一方、通常の欠陥検査工程４２では、液晶
表示パネルを駆動状態とし、この液晶表示パネルに欠陥
検出用のパターンを表示させる。その結果、ステップ５
９で得られる駆動状態での欠陥ビットマップ１３では、
液晶表示パネルに付着したゴミに対応する画素と、液晶
表示パネルの欠陥画素に対応する画素とが、それぞれ値
“１”となっている。On the other hand, in the normal defect inspection step 42, the liquid crystal display panel is driven and a pattern for defect detection is displayed on the liquid crystal display panel. As a result, step 5
In the defect bitmap 13 in the driving state obtained in FIG.
Pixels corresponding to dust adhering to the liquid crystal display panel and pixels corresponding to defective pixels of the liquid crystal display panel each have a value of “1”.
【００２１】ステップ６０,６１において、ゴミリジェ
クト用ビットマップ１２と駆動状態での欠陥ビットマッ
プ１３を比較しゴミ情報のリジェクトを行うと、駆動状
態での欠陥ビットマップ１３における液晶表示パネルに
付着したゴミに対応する画素の値が“０”となり、実際
の画素欠陥に対応する画素のみが値“１”である欠陥ビ
ットマップ１４が得られる。以上のようにして、液晶表
示パネルに付着したゴミの情報がリジェクトされ、実際
の画素欠陥のみを表す欠陥ビットマップ１４が得られる
から、これをもって画質検査結果とする。At steps 60 and 61, the dust reject bitmap 12 is compared with the defective bitmap 13 in the driving state, and dust information is rejected. The value of the pixel corresponding to the dust becomes “0”, and the defect bitmap 14 in which only the pixel corresponding to the actual pixel defect has the value “1” is obtained. As described above, the information on dust adhering to the liquid crystal display panel is rejected, and a defect bitmap 14 representing only actual pixel defects is obtained.
【００２２】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、本発明は上述した実施形態に限定されるものでは
ない。例えば、投射型の液晶表示パネルでは、偏向板の
角度を変えることで、ノーマリブラックとノーマリホワ
イトとを切り換えることができる。そこで、投射型液晶
表示パネルの場合、ゴミリジェクト用ビットマップの作
成処理において、パネルをノーマリホワイトとして黒い
ゴミを検出し、ノーマリブラックとして白く光るゴミを
検出し、これらの検出結果の論理和（ＯＲ）に基づいて
ゴミリジェクト用ビットマップを作成するようにしても
よい。また、ゴミリジェクト用ビットマップを作成する
代わりに、液晶表示パネルを非駆動状態としてゴミを検
出し、検出されたゴミの実アドレスを用いて、駆動状態
での欠陥ビットマップでのゴミ情報のリジェクトを行う
ようにしてもよい。Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, in a projection type liquid crystal display panel, normally black and normally white can be switched by changing the angle of the deflecting plate. Therefore, in the case of a projection type liquid crystal display panel, in the process of creating a bitmap for dust rejection, black dust is detected by setting the panel to normally white, dust that shines white as normally black is detected, and the logical sum of these detection results is obtained. A bitmap for dust rejection may be created based on (OR). Also, instead of creating a bitmap for dust rejection, the liquid crystal display panel is set in the non-driving state to detect dust, and the real address of the detected dust is used to reject dust information in the defective bitmap in the driving state. May be performed.
【００２３】[0023]
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ゴミの位
置を調べてゴミ情報をリジェクトすることにより、液晶
表示パネルに付着しているゴミの影響を受けることなく
画質検査を行うことができ、目視による再確認が不要に
なるという効果がある。As described above, according to the present invention, by checking the position of dust and rejecting dust information, an image quality test can be performed without being affected by dust attached to the liquid crystal display panel. This has the effect that visual reconfirmation is not required.
【図１】(a)は本発明の実施の一形態の画質検査方法の
手順を示すフローチャートであり、(b)は欠陥検出処理
の手順を示すフローチャートである。FIG. 1A is a flowchart illustrating a procedure of an image quality inspection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a flowchart illustrating a procedure of a defect detection process.
【図２】図１に手順を示す画質検査方法における各段階
での画像を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing images at each stage in the image quality inspection method shown in FIG.
１１,１３,１４ 欠陥ビットマップ １２ ゴミリジェクト用ビットマップ ４１ ゴミリジェクト用ビットマップの作成処理 ４２ 通常の欠陥検査工程 ５１〜６２,７１〜７４ ステップ 11, 13, 14 Defect bitmap 12 Dust reject bitmap 41 Dust reject bitmap creation process 42 Normal defect inspection process 51 to 62, 71 to 74 steps
Claims (3)
部分を検出する画質検査方法において、 前記液晶表示パネルを非駆動状態として撮像し、撮像に
よって得られた画像データに対して欠陥検出処理を実行
し、前記液晶表示パネルに付着したゴミの位置を検出す
る第１の工程と、 前記液晶表示パネルを駆動状態として撮像し、撮像によ
って得られた画像データに対して欠陥検出処理を実行し
て欠陥の位置を検出する第２の工程と、 前記第２の工程で検出された欠陥の位置のうち、前記第
１の工程で得られたゴミの位置に対応するものを除去す
る第３の工程と、を有することを特徴とする液晶表示パ
ネルの画質検査方法。An image quality inspection method for detecting a defective portion in a liquid crystal display panel to be inspected, wherein the liquid crystal display panel is imaged in a non-driving state, and a defect detection process is performed on image data obtained by the imaging. A first step of detecting a position of dust adhering to the liquid crystal display panel; capturing an image of the liquid crystal display panel in a driving state; performing a defect detection process on image data obtained by the imaging; A second step of detecting a position; a third step of removing a defect corresponding to the position of the dust obtained in the first step from the positions of the defects detected in the second step; An image quality inspection method for a liquid crystal display panel, comprising:
部分を検出する画質検査方法において、 前記液晶表示パネルを非駆動状態として撮像し、撮像に
よって得られた画像データに対して欠陥検出処理を実行
し、検出された欠陥に対応する位置の画素値を第１の値
としその他の画素の値を第２の値として前記液晶表示パ
ネルを表現する２値ビットマップデータである第１の欠
陥ビットマップを生成する工程と、 前記第１の欠陥ビットマップにおいて、値が第１の値で
ある画素の近傍の画素の値を第１の値に変化させ、ゴミ
リジェクト用ビットマップを生成する工程と、 前記液晶表示パネルを駆動状態として撮像し、撮像によ
って得られた画像データに対して欠陥検出処理を実行
し、検出された欠陥に対応する位置の画素値を第１の値
としその他の画素の値を第２の値として前記液晶表示パ
ネルを表現する２値ビットマップデータである第２の欠
陥ビットマップを生成する工程と、 前記ゴミリジェクト用ビットマップと前記第２の欠陥ビ
ットマップとを比較し、前記第２の欠陥ビットマップに
おいて画素値が第１の値となっている画素のうち、前記
ゴミリジェクト用ビットマップでの対応する画素の値が
第１の値となっているものにつき、画素値を第２の値と
する工程と、を有することを特徴とする液晶表示パネル
の画質検査方法。2. An image quality inspection method for detecting a defective portion in a liquid crystal display panel to be inspected, wherein the liquid crystal display panel is imaged in a non-driving state, and a defect detection process is performed on image data obtained by the imaging. A first defect bitmap, which is binary bitmap data representing the liquid crystal display panel, with the pixel value at the position corresponding to the detected defect as the first value and the other pixel values as the second value. Generating the first defective bitmap, changing a value of a pixel near a pixel having a first value to a first value, and generating a dust reject bitmap; An image is taken with the liquid crystal display panel in a driving state, a defect detection process is performed on image data obtained by the imaging, and a pixel value at a position corresponding to the detected defect is set as a first value. Generating a second defect bitmap, which is binary bitmap data representing the liquid crystal display panel, using the value of another pixel as a second value; the bitmap for dust rejection and the second defect bit; Compared with the map, the value of the corresponding pixel in the dust rejection bitmap becomes the first value among the pixels whose pixel value is the first value in the second defective bitmap. Setting the pixel value to a second value for each of the image quality inspection methods.
記値が第１の値である画素の近傍の画素が、当該値が第
１の値である画素に対して周辺各方向に１画素分拡大し
た範囲内にある８つの画素である、請求項２に記載の液
晶表示パネルの画質検査方法。3. A pixel in the vicinity of a pixel whose value is the first value in the first defect bitmap is enlarged by one pixel in each of peripheral directions with respect to a pixel whose value is the first value. The image quality inspection method for a liquid crystal display panel according to claim 2, wherein the number of pixels is eight within a predetermined range.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25353697A JPH1195182A (en) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | Method for inspecting image quality of liquid crystal display panel |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25353697A JPH1195182A (en) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | Method for inspecting image quality of liquid crystal display panel |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1195182A true JPH1195182A (en) | 1999-04-09 |
Family
ID=17252742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25353697A Withdrawn JPH1195182A (en) | 1997-09-18 | 1997-09-18 | Method for inspecting image quality of liquid crystal display panel |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1195182A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2368635A (en) * | 2000-11-01 | 2002-05-08 | Nokia Mobile Phones Ltd | Testing an image display device |
| JP2008020588A (en) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Micronics Japan Co Ltd | Liquid crystal panel inspection method and image processor |
| CN110880171A (en) * | 2019-10-30 | 2020-03-13 | 联想(北京)有限公司 | Detection method of display device and electronic equipment |
| JP2021015035A (en) * | 2019-07-11 | 2021-02-12 | キヤノン株式会社 | Image inspection method and image inspection device for image display device |
-
1997
- 1997-09-18 JP JP25353697A patent/JPH1195182A/en not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| GB2368635A (en) * | 2000-11-01 | 2002-05-08 | Nokia Mobile Phones Ltd | Testing an image display device |
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| US6983067B2 (en) | 2000-11-01 | 2006-01-03 | Nokia Corporation | Testing an image display device |
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